JPH01277768A - カウンタ装置 - Google Patents

カウンタ装置

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JPH01277768A
JPH01277768A JP10811188A JP10811188A JPH01277768A JP H01277768 A JPH01277768 A JP H01277768A JP 10811188 A JP10811188 A JP 10811188A JP 10811188 A JP10811188 A JP 10811188A JP H01277768 A JPH01277768 A JP H01277768A
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pulse
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Akihiko Wakimoto
昭彦 脇本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、パルス幅を測定するために用いられるカウ
ンタ装置に関する。
〔従来の技術〕
第3図はパルス幅を測定するために従来から用いられて
いるカウンタ装置を示すブロック図である。図において
、1はAND回路であり、一方入力には被測定パルスA
がインバータ2を介し与えられ、他方入力には被測定パ
ルスへのパルス幅を測定するためのクロックφが図示し
ないクロック源から与えられている。AND回路1は被
測定パルスAの“H”に応答して“0″を出力し、“L
″に応答して、クロックφを出力する。3はAND回路
1からのクロックφをカウントするカウンタである。
次に動作について第4図を用いながら説明する。
例として、被測定パルスAのL 11レベルのパルス幅
を測定する場合を考える。インバータ2に第4図に示す
ような被測定パルスAが入力されたとする。被測定パル
スAが11 Hl+レベルであるとインバータ2の出力
はOIIとなり、ANDlの出力は“0゛′となる。そ
のためカウンタ3への入力は“0′°のままなのでカウ
ンタ3はカウントしない。
次に、被測定パルスAの“°Lパレベルがインバータ2
に入力されると、インバータ2の出力は“1nとなり、
AND回路1の出力にはクロックφが出力される。AN
D回路1の出力に出力されたクロックφはカウンタ3へ
入力される。そして、カウンタ3は、クロックφをカウ
ントする。再び被測定パルス△が“HITレベルになる
と、インバータ2の出力は“OIIとなり、AND回路
1の出力は“0″となりカウンタ3はカウントを止める
この被測定パルスAとAND回路1の出力の関係を4図
に示す。
このようにしで、カウンタ3は、被測定パルスAが“し
”レベルの間だけクロックφをカウントしたことになり
、このカウント値を読み出して、カウントする前のカウ
ンタ埴との差をとることにより、被測定パルスAの゛L
″Loルの幅を測定することができる。
被測定パルスへの゛H″レベルの幅を測定する場合は、
被測定パルスAの極性を反転して、インバータ2の入力
に入力することで、上記II L I+レベルの幅を測
定する場合と同様な動作で、# H11レベルの幅を測
定することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のカウンタ装置は以上のように構成されているので
、被測定パルスへのパルス幅は、カウンタ3の力1クン
ト後とカウント面との差によって求めなければならず、
特にコンピュータによりパルス幅を検出する場合、その
ソフトウェアがmlになるという問題点があった。また
、被測定パルスへの°゛L″L″レベル測定するのか、
“ト(″レベルの幅を測定するのかを考慮し回路構成を
行わなけれならないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たらので、被測定パルスのパルス幅を直読でき、同一の
回路構成で、被測定パルスの“Lo。
レベルの幅、“ト1″レベルの幅を測定することができ
るカウンタ装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るカウンタ装置は、りOツクをカウントす
るカウンタと、前記カウンタのカウント値を保持するレ
ジスタと、被測定パルスの立上りエツジおよび立上りエ
ツジの少なくとも一方に応答してエツジ検出信号を発生
するエツジ検出手段と、前記エツジ検出e号に応答して
、前記カウンタを初期化するクリア信号を発生するクリ
ア信号発生手段と、前記エツジ検出信号に応答して前記
カウンタが初期化される直前に前記カウンタのカウント
値を前記レジスタに転送するカウント値転送手段とを備
えた構成としている。
〔作用〕
この発明におけるエツジ検出手段は、被測定パルスの立
上りエツジおよび/あるいは立下りエツジに応答してエ
ツジ検出信号を発生し、この信号に応答してクリア信号
発生手段はカウンタを初期化するためのクリア信号を発
生する。カウンタはクリア信号に応答して、すなわち被
測定パルスの立上りエツジおよび/あるいは立下りエツ
ジごとに初期化される。一方、カウント値転送手段は、
カウンタが初期化される直前にカウンタのカウント値を
レジスタに転送する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、4は被測定パルスAの立下りあるいは立上
りのエツジを検出するためのエツジ検出回路である。エ
ツジ検出回路4は被測定パルスAのエツジを検出すると
エツジ検出パルスBを発生する。
エツジ検出パルス8は転送信号発生回路5およびクリア
信号発生回路8に与えられる。゛転送信号発生回路5は
エツジ検出パルスBに応答して、転送パルスEを発生し
、スイッチ6および転送完了信号発生回路9に与える。
転送信号発生回路5は、例えばエツジ検出パルスBによ
りトリガされるワンショットマルチバイブレータ及びそ
の出力を遅延させる遅延回路により構成されている。
スイッチ6、は転送パルスEのハイレベル期間中ONし
、クロックφをカウントするカウンタ3のカウント値り
をレジスタ7に転送する。レジスタ7はカウント値りを
保持する。
クリア信号発生回路8はエツジ検出パルスBに応答し、
カウント値りがレジスタ7に転送された後にカウンタ3
を初期化するためのクリアパルスCを発生する。クリア
信号発生回路8は、例えばエツジ検出パルスBによりト
リガされるワンショットマルチバイブレータ及びその出
力を遅延させる遅延回路により構成されている。
転送完了信号発生回路9は、転送パルスEに応答し、カ
ウンタ3のカウント値りをレジスタ8に転送完了したこ
とを示す転送完了信号Fを発生する。
次に第2図を用いながら動作について説明する。
第2図に示すような被測定パルスAをエツジ検出回路4
に入力する。エツジ検出回路4は、最初の立下りエツジ
に応答してエツジ検出信号Bを出力する。エツジ検出信
号Bに応答しクリア信号発生回路8及び転送信号発生回
路5は各々第2図に示寸ようなタイミングでクリアパル
スC1転送パルスEを発生ずる。ここで、クリアパルス
Cのタイミングを転送パルスEのパルス幅分遅らせてい
るのは、カウンタ3のカウント値りがレジスタ7に転送
される前にカウンタ3が初期化されないにうにするため
である。なお、この場合クリアパルスC及び転送パルス
Eのパルス幅はクロックφのパルス幅より小さく設定し
ている。
クリアパルスCのハイレベルの期間において、カウンタ
3が例えば°゛0”に初期化されたとする。
り[1ツクφはカウンタ3に常に入力されているので、
カウンタ3は初期化された後、II OP+よりクロッ
クφのカウントを開始する。この場合、前述したように
クリアパルスCのパルス幅は、クロックφのパルス幅よ
り小さいので、カウント値りにはFEWを与えていない
。そして、パルスAの最初の立上りエツジに応答し、エ
ツジ検出回路4はエツジ検、出パルスBを出力する。転
送信号発生回路5はエツジ検出パルスBの立下りエツジ
に応答し、転送パルスEを発生する。スイッチ6は転送
パルスEのハイレベル期間ONL、パルスAの立下りか
ら立上りまでのカウンタ3のカウント値りをレジスタ7
に転送する。この場合、前述したように転送パルスEの
パルス幅はクロックφのパルス幅より小さく設定してい
るので、転送中に、カウント値りが変化することはない
。レジスタ7は゛このカウント値りを保持する。また、
転送完了信号発生回路9は、転送パルスEに応答して、
転送完了信P3 Fを発生する。この転送完了信号Fが
発生したことを確認してレジスタ7の値を読み出す。そ
の読み出した値は被測定パルスAの立下りから立上りま
での“L IIレベルの幅をそのまま示している。
また、被測定パルスAの最初の立上りエツジに応答して
発生したエツジ検出パルスBに応答して、発生するクリ
アパルスCにより前述したのと同様にカウンタ3は°′
O″に初期化され、その後II OIIからクロックφ
のカラン1〜を開始する。そして被測定パルスAの次の
立下りエツジに応答し、エツジ検出回路4よりエツジ検
出信号Bが出力される。
このエツジ検出パルスBに応答して前述したように、転
送パルスEが発生し、これに応答し、その時点でのカウ
ンタ3のカウント値りがレジスタ7に転送され、レジス
タ7はこのカウント値りを保持する。そして、前述した
ように転送パルスEに応答し発生する転送完了信号Fの
存在を確認して、レジスタ7の値を読み出す。この読み
出した値は、被測定パルスAの立上りから立下りまでの
“I−ドルベルの幅をそのまま示している。
なお、上記実施例では、カウンタ3の初期化を“0″と
したが、110 IIでなくてもある定めた値に設定す
ればよい。
また、被測定パルスAのエツジを検出することでL”レ
ベルあるいは“1」”レベルの幅をカウントすることを
説明したが、このエツジ検出を立下りエツジのみあるい
は立上りエツジのみを検出するようにすることで、被測
定パルスAの立下りから次の立下りまで、あるいは立上
りから次の立上りまで、つまり被測定パルスへの周期も
全く同様の方法で測定できる。つまり、被測定パルスA
の立下りエツジから次の立下りエツジまで、あるいは立
上りエツジから次の立上りエツジまでにおいて、カウン
タ3は初期化された後カウントをするので、レジスタ7
の値を読み出すだけで被測定パルスAの周期を直読する
ことができる。
また、上記実施例では、転送パルスE及びクリアパルス
Cのパルス幅をクロックφのパルス幅より小さく設定し
たが、関係が逆である場合には、そのパルス幅内でのク
ロックφのカウント値を考慮し、それに伴う誤差をあら
かじめレジスタ7に初期値として入力しておくことによ
り上記実施例を同様の効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、被測定パルスの立下り
エツジおよび立上りエツジの少なくとも一方に応答して
エツジ検出信号を発生するエツジ検出手段と、エツジ検
出信号に応答してカウンタを初期化するクリア信号を発
生するクリア信号発生手段と、エツジ検出信号に応答し
てカウンタのカウント値をカウンタが初期化される直前
にレジスタに転送するカウント値転送手段とを設け、レ
ジスタに保持されているカウント値を読み出すことによ
り被測定パルスのパルス幅が直読できるようにしたので
、特にコンピュータによりパルス幅を検出する場合、従
来に比し、そのソフトウェアが容易となるという効果が
ある。また、被測定パルスのL I+レベルの幅を測定
するのか、“H″レベル幅を測定するのかを考慮するこ
となくどちらのレベルの幅も同一の回路構成で自動釣に
測定できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は第1図に示す装置の動作を説明するだめの波形図、第
3図は従来のカウンタ装置を示t lf4成図、第4図
は第3図に示すカウンタ装置の動作を説明するための波
形図である。 図において、3はカウンタ、4はエツジ検出回路、5は
転送信号発生回路、6は転送スイッチ、7はレジスタ、
8はクリア信号発生回路である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人   大  岩  増  雄 第1図 6−−−−転述エスイ・y″y 第2図 第3図 第4図 手続補正書く自発) 1、事件の表示   特願昭63−.108111号2
、発明の名称 力・ンンク装置 3、補正をする者 代表者 志 岐 守 哉 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲の欄」及び「発明の詳細な説
明の欄」 6、補正の内容 (1)  特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 (2)  明細書第5頁第6行の「被測定パルスの立上
り」を、「被測定パルスの立下り」に訂正する。 (3)  明細書第8頁第4行の「のパルス幅分」を、
Uより」に訂正する。 以上 2、特許請求の範囲 (1)  クロックが与えられ、前記クロックをカラン
1〜するカウンタと、 前記カウンタのカウント値を保持するレジスタと、 被測定パルスが入力され、前記被測定パルスの立エリエ
ツジおよび立上りエツジの少なくとも1つに応答してエ
ツジ検出信号を発生するエツジ検出手段と、 前記エツジ検出信号を受け、前記エツジ検出信号に応答
して、前記カウンタを初期化するクリア信号を発生する
クリア信号発生手段と、前記エツジ検出信号を受け、前
記エツジ検出信号に応答して、前記カウンタが初期化さ
れる直前に前記カウンタの力「クント値を前記レジスタ
に転送するカウント値転送手段とを備えたカウンタ装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)クロックが与えられ、前記クロックをカウントす
    るカウンタと、 前記カウンタのカウント値を保持するレジスタと、 被測定パルスが入力され、前記被測定パルスの立上りエ
    ッジおよび立上りエッジの少なくとも1つに応答してエ
    ッジ検出信号を発生するエッジ検出手段と、 前記エッジ検出信号を受け、前記エッジ検出信号に応答
    して、前記カウンタを初期化するクリア信号を発生する
    クリア信号発生手段と、 前記エッジ検出信号を受け、前記エッジ検出信号に応答
    して、前記カウンタが初期化される直前に前記カウンタ
    のカウント値を前記レジスタに転送するカウント値転送
    手段とを備えたカウンタ装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04116785U (ja) * 1991-03-29 1992-10-20 アンリツ株式会社 ジツタ測定器
JPH04310874A (ja) * 1991-04-09 1992-11-02 Fujitsu Ltd パルス幅カウンタ回路
JP2010133781A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Toshiba Corp 二次監視レーダ

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JP2010133781A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Toshiba Corp 二次監視レーダ

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