JPH0127101Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案は、接触プローブの先端をIC，LSI等の
回路基板の検査点に接触させて電気的試験、検査
などを行なう検査装置に関する。

〔考案の技術的背景とその問題点〕

検査すべき回路基板に対向して移動自在に設け
られた支持板に、筒状の外部導体の内部に中心導
体を絶縁状態で設けた同軸型可動接触プローブを
回路基板に向かつて貫通状態で支持し、支持板の
移動により接触プローブの先端を回路基板の検査
点に接触させて電気的な測定検査を行なう回路基
板等の検査装置は、例えば特公昭58−175273号公
報に記載されているように公知である。

この種の同軸型可動接触プローブは、その同軸
構造のために、インピーダンス整合がよい、信号
の漏洩、信号レベルの減衰が少ない等の利点があ
り、電気的に良好な測定、検査を行なうことがで
きる。

ところで、支持板に装着された同軸型可動接触
プローブの基端側は、測定器へ同軸ケーブルを介
して接続する関係上、コネクタに接続する必要が
ある。ところが、コネクタは通常ねじ式のものが
多く、締付け用ナツトなどの関係上、外径寸法が
必然的に大きくなり、コネクタの外径寸法が障害
となつて接触プローブの装着密度を高くすること
ができなくなる。また、故障などのために接触プ
ローブを交換する時にはコネクタを外す必要があ
り不便である。一方、接触プローブの基端をコネ
クタによらずに同軸ケーブルにはんだ付けする方
法もあるが、これでは故障時等における接触プロ
ーブの交換は事実上困難となる。

〔考案の目的〕

本考案は、以上のような現状に鑑みなされたも
ので、その目的は、従来形式の着脱に時間のかか
るコネクタを廃し、コネクタの外径寸法による接
触プローブ装着密度の問題を解消し、瞬時にして
接触プローブと測定器側の脱着を行なうことので
きる回路基板等の検査装置を提供することにあ
る。

〔考案の概要〕

本考案では、上記目的を達成する手段として、
同軸型可動接触プローブの外部導体の先端および
基端に、弾力に抗して後退可能に接触部材として
の先端可動部材および基端可動部材を電気的接続
状態で装着し、中心導体の先端および基端にも、
弾力に抗して後退可能に接触部材としての先端ピ
ンおよび基端ピンを同軸的に装着し、同軸型可動
接触プローブの基端側には支持板と一定の距離を
おいて、外部導体の基端可動部材の先端に接する
第１の接続導体および中心導体の基端ピンの先端
に接する第２の接続導体を設け、両接続導体によ
り測定器への接続装置を構成する。

〔考案の実施例〕

第１図は回路基板等の検査装置の一実施例を示
すもので、同図において、１は平行に例えば４本
設けられるガイドポストであり、検査装置の四隅
等に固設されている。

ガイドポスト１の上端部には回路基板等の支承
フレーム２が固定されており、これに、検査すべ
きIC回路基板Ｂが支持される。

支承フレーム２の下方には、ガイドポスト１に
より案内されて上下方向に移動する接触プローブ
装着基板としての支持板３が設けられている。こ
の支持板３には同軸型可動接触プローブＰが上下
方向に多数支持されている。各プローブＰは先端
（上端）に接触部を有し、支持板３が支承フレー
ム２上の回路基板Ｂに向かつて上昇すると、各プ
ローブＰの先端が回路基板Ｂの下面の回路パター
ンに電気的に接触して測定検査が行なわれるよう
になつている。なお、支持板３を固定し、支承フ
レーム２を上下動させるようにしてもよい。

支持板３の下方には、支持板３と一緒にガイド
ポスト１に沿つて上下動するコネクタ保持板４が
設けられており、この保持板４に測定器（図示し
ない）へ到る同軸ケーブル５に各プローブＰを電
気的に接続するコネクタ６が保持されている。

支持板３に対する同軸型可動接触プローブＰの
支持の詳細、および接触プローブＰの構造の詳細
は第２図に示す。同図において、１０は同軸型可
動接触プローブＰの中心導体であり、１１はその
外周に同軸的に設けられた筒状の外部導体であ
る。外部導体１１の内面には、電気絶縁材からな
る絶縁筒１２が固定されている。絶縁筒１２はそ
の中心部に中心導体挿入用貫通孔１３を有してお
り、これに中心導体１０が挿入されている。

外部導体１１の外側には外筒１４が一体的には
めてある。外筒１４は金属等の導体により形成し
てもよいし、不導体の合成樹脂などにより形成し
てもよい。外筒１４は、支持板３の挿通孔１７内
に抜き取り可能に圧入される。

外筒１４の先端（上端）部の内側には凹入部１
９が形成されて外部導体１１との間に環状空間が
形成され、この環状空間に、外部導体１１の先端
可動部２０を構成する導体からなる筒体の大径基
部２０ａが摺動自在に挿入されている。先端可動
部２０は、背後からコイルばね２１により外方へ
弾圧され、その脱出は外筒１４の先端の内折りフ
ランジ２２により阻止されている。

外筒１４の基端（下端）部にも、先端可動部２
０と同じ構造の基端可動部２０′が装着され、先
端側とまつたく同じように、基端可動部２０′は
その背後から、凹入部１９内のコイルばね２１に
より外方へ弾圧され、その脱出は内折りフランジ
２２により阻止されている。

中心導体１０は、筒状の主体２４とその先端ピ
ン２５とを有し、先端ピン２４の基部２４ａは主
体２４内に抜け止め状態で挿入され、主体内のコ
イルばね２７によつて先端ピン２４はボール２６
を介して外方へ弾圧されている。コイルばね２７
の奥端は、主体２４の内側へ向かつて変形させた
ビード２８に受け止めされている。同様に、中心
導体１０はその基端側にも先端ピン２５とまつた
く同じ構造の基端ピン２５′を有し、基端ピン２
５′も図示しないばねによつて外方へ弾圧されて
いる。

主体２４の貫通孔１３の軸線方向での位置決め
は位置決めフランジ３０によりなされている。こ
のフランジ３０が絶縁筒１２の先端面に当たるま
で中心導体１０を貫通孔１３内に挿入すると、中
心導体１０の位置決めがなされる。

中心導体１０が貫通孔１３から簡単に抜けない
ようにするために、中心導体１０は貫通孔１３に
摩擦的に挿入する。摩擦力を発生させる手段とし
ては、貫通孔１３を中心導体１０より幾分大き目
にするとともに、中心導体１０の主体２４を若干
湾曲させ、貫通孔１３内への挿入時に直線状に撓
ませるようにすることが考えられる。主体２４の
湾曲加工は、主体素材に予め塑性変形を与えるこ
とにより行なつてもよいし、主体２４に先端ピン
２５を組み込んでから主体に湾曲を与えることに
より行なつてもよい。また、湾曲を与える代り
に、湾曲のない主体２４の内側から外側へ向かつ
て打出し突起を形成し、この突起を幾分弾性のあ
る絶縁筒１２に当接させることにより摩擦保持機
能を与えてもよい。

以上に説明した接触プローブは、第３図に示す
ようなコネクタ６により、図示しない測定器に連
なる同軸ケーブル５に接続することができる。同
軸ケーブル５は、芯線４０、外側の網線４１、そ
れらの間の絶縁体４２、および外被４３を有し、
外被４３は先端側で剥離されて網線４１が露出さ
れている。露出した網線４１の外周には第１の接
続導体としての筒状導体５０が絞りかしめ部５１
により取り付けられる。一方、筒状導体５０の内
側には絶縁体５３を介して第２の接続導体として
の芯導体５４がはめ込まれており、この芯導体５
４の中央孔内に芯線４０の先端部が挿入され、そ
の先端がはんだ付け５５されている。また、筒状
導体５０、芯導体５４および絶縁体５３の先端面
は同じ平面に形成され、芯導体５４の先端面に
は、基端ピン２５′の先端が係合する凹所５８が
形成されている。そして、以上のようなコネクタ
６の筒状導体５０はコネクタ保持板４の孔に圧入
により装着され、段部５６により位置決めされて
いる。

このような構成により、支持板３の挿通孔１７
に接触プローブＰを装着すると、第３図に示すよ
うに基端ピン２５′および基端可動部２０′はそれ
らの背後のばね２７および２１を圧縮して幾分か
後退し、それぞれ芯導体５４および筒状導体５０
の表面に圧接されて電気的接続状態が得られる。

以上のようにして構成された本考案の回路基板
等の検査装置は、その接触プローブ支持板３およ
びコネクタ保持板４を、支承フレーム２に取り付
けられた回路基板Ｂの回路パターンに向かつて相
対的に上昇させることにより検査を行なうもので
あり、各接触プローブＰの中心導体１０および外
部導体１１の先端にある先端ピン２５および先端
可動部２０が回路パターンの所定点に背後のばね
２７および２１の力により圧接され、電気的接続
状態が得られる。そして、各接触プローブＰ、コ
ネクタ６および同軸ケーブル５を経て図示しない
測定器に信号が送られ、測定検査が行なわれる。
なお、外部導体１１の側はアース側となる。

この際、接触プローブの中心導体１０と外部導
体１１の間が絶縁体１２により満たされているの
でインピーダンスの変化が生じることがなく、測
定システムから被測定物までのインピーダンスの
乱れもなく信号を送ることができる。

なお、接触プローブＰが細径のものである場合
には、外筒１４を省略し、外部導体１１の一部に
内側から外側に打ち出された突起を形成し、この
突起を支持板３の挿通孔１７の内面に摩擦接触さ
せることにより接触プローブＰの支持板３への装
着を行なつてもよい。

第４図には同軸ケーブルによる接続の必要をな
くした例を示す。この例では、保持板４に、第１
接続導体６０および第２接続導体６１をプリント
回路などの形で形成してある。そして、第１接続
導体６０は第３図の場合の筒状導体５０および網
線４１の機能を果たし、第２接続導体６１は第３
図の場合の芯導体５４および芯線４０の機能を果
たしており、したがつて、同軸ケーブルばかり
か、コネクタ状の部材も省略することができる。
なお、すべての接触プローブのアース側を構成す
る第１接続導体６０は１つにまとめて保持板の１
個所から導出するのが有利である。

なお、本考案は回路基板のみならず、それと類
似のものの測定、検査にも利用できるものであ
る。

〔考案の効果〕

以上のように、本考案では、各同軸型接触プロ
ーブの両端に弾力に抗して後退可能の先端、基端
可動部材および先端、基端ピンを設けたことによ
つて、基端側可動部材および基端側ピンを用い
て、測定器側への脱着を瞬時に行なうことがで
き、またコネクタは省略するかまたは用いても小
型なものですみ、配線を省略することも可能とな
る。また、コネクタは使用したにしても、同軸ケ
ーブルに端部接点を施した程度のものであるため
細くでき、接触プローブの装着密度を高めること
ができ、さらに接触プローブの交換時の電気的接
続も簡単確実となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の回路基板等の検査装置の正面
図、第２図は第１図の同軸型可動接触プローブの
部分の拡大縦断面図、第３図は第２図に示す接触
プローブの基端部と同軸ケーブルとの接続の詳細
を示す縦断面図、第４図は接触プローブの基端部
の他の接続態様を示す縦断面図である。 ２……回路基板支承フレーム、３……接触プロ
ーブ支持板、４……コネクタ保持板、６……コネ
クタ、５……同軸ケーブル、Ｂ……回路基板、Ｐ
……同軸型可動接触プローブ、１０……中心導
体、１１……外部導体、１２……絶縁筒、１３…
…貫通孔、１４……外筒、１９……凹入部、１７
……挿通孔、２０……外部導体先端可動部、２
０′……基端可動部、２１……コイルばね、２４
……中心導体主体、２５……先端ピン、２５′…
…基端ピン、４０……芯線、４１……網線、４３
……外被、５０，６０……第１接続導体、５４，
６１……第２接続導体。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 検査すべき回路基板に対向して相対的に移動
   自在に設けられた支持板に、筒状の外部導体の
   内部に中心導体を絶縁状態で設けた同軸型可動
   接触プローブを回路基板に向かつて貫通状態で
   支持し、支持板の回路基板に対する相対移動に
   より接触プローブの先端を回路基板の検査点に
   接触させて電気的な測定検査を行なう回路基板
   等の検査装置であつて、前記同軸型可動接触プ
   ローブの外部導体の先端および基端に、弾力に
   抗して後退可能に接触部材としての先端可動部
   材および基端可動部材を電気的接続状態で装着
   し、中心導体の先端および基端にも、弾力に抗
   して後退可能に接触部材としての先端ピンおよ
   び基端ピンを同軸的に装着し、同軸型可動接触
   プローブの基端側には支持板と一定の距離をお
   いて、外部導体の基端可動部材の先端に接する
   第１の接続導体および中心導体の基端ピンの先
   端に接する第２の接続導体を設け、両接続導体
   により測定器への接続装置を構成してなる回路
   基板等の検査装置。 (2) 第１の接続導体を平たんな接触端面を有する
   筒状導体とし、第２の接続導体を筒状導体の内
   側に同軸的に配した芯導体とし、筒状導体と芯
   導体の間に絶縁体を配してコネクタを構成して
   なる実用新案登録請求の範囲第１項記載の回路
   基板等の検査装置。 (3) 第１の接続導体を複数の同軸型可動接触プロ
   ーブの外部導体の基端可動部材について共通の
   導体として形成してなる実用新案登録請求の範
   囲第１項記載の回路基板等の検査装置。