KR20220146818A - 인쇄회로기판 테스트용 커넥터 - Google Patents

인쇄회로기판 테스트용 커넥터 Download PDF

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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판의 정상작동 여부를 테스트하기 위한 커넥터이며, 인쇄회로기판의 여러 개의 단자에 다수의 프로브를 동시에 연결시켜 한번에 테스트를 수행할 수 있도록 하는 인쇄회로기판 테스트용 커넥터에 관한 것이다.
이와 같은 목적을 해결하기 위해 본 발명은; 프로브(200)가 조립되는 다수의 조립부(111)가 마련된 모듈(100)과; 상기 다수의 조립부(111)에 하나 또는 그 이상 조립되는데, 인쇄회로기판(10)의 단자에 접속되어 상기 인쇄회로기판(10)의 정상 작동 여부를 테스트 하기 위한 전기적 신호를 제공하는 프로브(200);를 포함하여 구성된다.

Description

인쇄회로기판 테스트용 커넥터 {Printed circuit board test connector}
본 발명은 인쇄회로기판의 정상작동 여부를 테스트하기 위한 커넥터이며, 인쇄회로기판의 여러 개의 단자에 다수의 프로브를 동시에 연결시켜 한번에 테스트를 수행할 수 있도록 하는 인쇄회로기판 테스트용 커넥터에 관한 것이다.
일반적으로, 인쇄회로기판의 개발이나 생산시 인쇄회로기판의 성능을 측정하거나, 인쇄회로기판의 고장 수리시 고장 원인을 찾기 위해 인쇄회로기판의 단자에 흐르는 전류, 전압 등을 측정하여 인쇄회로기판의 정상작동 여부를 테스트하고 있다.
이러한 인쇄회로기판의 테스트는 검출기에 연결된 테스트 프로브를 인쇄회로기판의 단자에 연결시켜 상기 프로브를 통해 인쇄회로기판의 단자에 흐르는 전류, 전압 및 각종 신호 등을 검출기에서 측정되게 하는 프로브 테스트 방식을 널리 사용하고 있다.
예를 들면, 종래 국내등록특허공보 국내등록실용신안공보 제20-0378587호를 살펴보면, PCB 테스트 장치의 테스트 프로브 장치는 제1 베이스보드와; 제2 베이스보드와; 다수의 전도성 와이어와; 및 바늘을 포함한다. 상기 제1 베이스보드는 제1 베이스보드로부터 통과하는 전도성 와이어를 통과시키기 위한 다수의 작은 관통구를 구비한다. 상기 전도성 와이어의 각 전도중심은 제1 베이스보드의 상면에 노출된다; 상기 전도성 와이어의 각 전도중심은 제1 신축요소를 갖는다. 제2 베이스보드는 PCB를 운반하고 제1 베이스보드의 상면에 구비된다; 제2 베이스보드는 PCB 연결핀과 일치하는 다수의 관통구를 갖는다; 바늘은 관통구 내측에 구비되고 제1 베이스보드의 작은 관통구 내측의 전도성 와이어와 연결된다. 제2 신축요소는 전도성 와이어와 연결하는 바늘의 말단에 구비된다. PCB가 제2 베이스보드로부터 제거될 때 제2신축요소와 결합하는 제1신축요소는 바늘을 밀어 뒤로 밀리게 하고 제2베이스보드의 관통구의 외부에 노출되는 구조가 제시되어 있다.
그러나 종래에는 인쇄회로기판에 테스트를 수행하기 위한 지점인 단자가 하나 이상 구비되는 경우 이에 대응하여 다수의 프로브를 구비해야 하는 번거로움이 있고, 다수의 프로브를 동시에 여러 개의 단자에 접촉시킬 수 없기 때문에 다수의 단자에 대한 테스트를 동시에 수행하지 못해 테스트 시간이 오래 걸리는 문제점이 있었다.
국내등록실용신안공보 제20-0378587호가 제시되어 있다.
본 발명은 종래의 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 하나 또는 그 이상의 프로브를 조립할 수 있는 모듈을 마련하여 인쇄회로기판에 테스트를 수행하기 위한 지점인 단자가 하나 이상 구비되는 경우 그 수에 대응하여 모듈에 하나 이상의 프로브를 조립시켜 고정되게 하고, 모듈을 이용해 여러 개의 단자에 다수의 프로브를 한번에 접촉시켜 여러 개의 단자에 대한 테스트를 동시에 수행하면서 테스트 시간을 대폭 줄이도록 하는데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 해결하기 위해 본 발명은;
프로브가 조립되는 다수의 조립부가 마련된 모듈과;
상기 다수의 조립부에 하나 또는 그 이상 조립되는데, 인쇄회로기판의 단자에 접속되어 상기 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 테스트 하기 위한 전기적 신호를 제공하는 프로브;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 테스트용 커넥터를 제공한다.
이러한 본 발명에 따르면, 인쇄회로기판의 테스트 지점에 대응하여 하나 이상의 프로브가 모듈에 선택적 조립됨에 따라 여러 개의 단자에 다수의 프로브를 한번에 접촉시켜 여러 개의 단자에 대한 테스트를 동시에 수행하면서 테스트 시간을 대폭 줄일 수 있는 효과가 있다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 인쇄회로기판 테스트용 커넥터의 구성도.
본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트용 커넥터를 첨부된 도면을 참고로 하여 이하 상세히 기술되는 실시 예들에 의해 그 특징들을 이해할 수 있을 것이다.
한편, 실시 예를 설명함에 있어 본 발명이 속하거나 속하지 아니한 기술분야에서 광범위하게 널리 알려져 사용되고 있는 구성요소에 대해서는 이에 대한 상세한 설명은 생략하도록 하며, 이는 불필요한 설명을 생략함과 더불어 이에 따른 본 발명의 요지를 더욱 명확하게 전달하기 위함이다.
이하, 본 발명의 기본 구성으로서, 일 실시 예에 따른 인쇄회로기판 테스트용 커넥에 대한 각부 구성을 도 1 내지 도 3을 참고로 구체적으로 설명한다. 도 1은 테스트용 커넥터의 사시도, 도 2는 테스트용 커넥터의 측단면도, 도 3은 테스트용 커넥터의 실시도이다.
이에 따른 인쇄회로기판 테스트용 커넥터(1)를 개략적으로 살펴보면, 다수의 조립부(111)가 마련된 모듈(100); 다수의 조립부(111)에 하나 또는 그 이상 조립되어 인쇄회로기판(10)의 정상 작동 여부를 테스트 하기 위한 전기적 신호를 제공하는 프로브(200);를 포함하여 구성된다.
이와 같은 구성으로 이루어진 인쇄회로기판 테스트용 커넥터(1)의 세부 구성을 첨부된 도면을 참고로 상세하게 살펴보면 다음과 같다.
먼저, 상기 모듈(100)은;
프로브(200)가 조립되는 다수의 조립부(111)가 마련되며, 상기 프로브(200)를 인쇄회리기판을 테스트하기 위해 지지하기 위한 것이다.
예를 들면, 상기 모듈(100)은, 다수의 조립부(111)가 일정간격 형성되는 몸체(110);를 더 포함한다.
상기 몸체(110)는, 사각 박스 형태로 이루어지는데, 몸체(110)의 전방 내측에 프로브(200)가 끼워질 수 있는 관통 구멍 형태로 조립부(111)가 몸체(110)의 길이방향으로 형성되며, 상기 조립부(111)는 몸체(110)의 폭 방향으로 일정간격 형성되어 하나 또는 그 이상의 프로브(200)를 선택적으로 조립될 수 있게 한다.
한편, 상기 몸체(110)의 후방으로 조립부(111)에 조립된 프로브(200)의 후단부가 일부 노출되면서 인쇄회로기판의 테스트용 검출기(검사기)에 연결되게 브래킷부(112)가 형성되고, 상기 브래킷부(112)는 몸체(110)의 후방 일단에 돌출된 판 형태로 이루어진다.
이때, 상기 몸체(110)는 프로브(200)를 이용해 인쇄회로기판(10)을 테스트 하는 과정에서 프로브(200)를 지지하는 기능을 한다.
그리고, 상기 프로브(200)는;
상기 다수의 조립부(111)에 하나 또는 그 이상 조립되는데, 인쇄회로기판(10)의 단자에 접속되어 상기 인쇄회로기판(10)의 정상 작동 여부를 테스트 하기 위한 전기적 신호를 제공하기 위한 것이다.
한편, 상기 프로브(200)는 인쇄회로기판(10)에 테스트를 수행하기 위한 지점인 단자가 하나 이상 구비되는 경우 그 수에 대응하여 모듈(100)에 하나 이상의 프로브(200)를 조립시켜 사용하고, 상기 모듈(100)을 통해 인쇄회로기판(10)의 여러 개의 단자에 다수의 프로브(200)를 동시에 접촉시킬 수 있다.
이때, 상기 모듈(100)에는 4개의 조립부(111)가 형성된 상태를 기본으로 도시하였는바 사용자의 선택에 따라 1 ~ 4개의 프로브(200)를 사용할 수 있으며, 상기 조립부(111)의 수를 자유롭게 늘리거나 줄여 프로브(200)의 사용 개수를 조절할 수 있다.
예를 들면, 상기 프로브(200)는, 제1중심도체(211)를 갖고, 상기 제1중심도체(211)의 선단으로 인쇄회로기판(10)의 단자에 접속되는 접점(231)이 마련된 제1통체(210); 및
상기 제1중심도체(211)에 접속되는 제2중심도체(221)를 갖고, 상기 접점(231)을 통해 제공되는 인쇄회로기판(10)의 전기적 신호를 테스트를 위해 제공하는 제2통체(220);를 더 포함한다.
한편, 상기 제1통체(210)는, 내측 중앙에 길이방향으로 제1중심도체(211)가 끼워져 지지되게 하는 중공의 관체로 이루어지며, 상기 제1통체(210)의 전방 개구 측으로 제1중심도체(211)에 마련되는 접점부(230)가 일부 노출되도록 하고, 상기 제1통체(210)는 모듈(100)의 조립부(111)에 삽입되어 지지되면서 프로브(200)를 모듈(100)에 조립되게 한다.
이때, 상기 제1통체(210)는 후방 내측으로 제2통체(220)의 제1끼움돌부(222)가 끼워지는 제1끼움부(212)가 관 형태로 형성되고, 상기 제1통체(210)의 후방 외주 일측에는 제2탄성체(241)가 끼워져 지지되는 단턱을 갖는다.
상기 제2통체(220)는, 내측 중앙에 길이방향으로 제2중심도체(221)가 끼워져 지지되게 하는 중공의 관체로 이루어지며, 상기 제2통체(220)의 전방에 돌출된 제1끼움돌부(222)가 상기 제1통체(210)의 내측에 형성된 제1끼움부(212)에 끼워져 상기 제2통체(220)를 제1통체(210)에 지지되게 하고, 상기 제2통체(220)의 전방 외주 부분으로 제1통체(210)의 후방 내주 부분이 끼워지면서 이들을 고정한다.
이때, 상기 제1끼움돌부(222)는 길이방향으로 절개된 홈을 갖으면서 상기 제1끼움돌부(222)가 상기 제1끼움부(212)에 끼워지는 과정에서 억지 끼움을 위한 유격을 갖도록 한다.
한편, 상기 제1중심도체(211)는 제2중심도체(221)의 제2끼움돌부(221a)에 끼워지는 제2끼움부(211a)가 형성되고, 상기 제2중심도체(221)는 상기 제2끼움부(211a)에 끼워지는 제2끼움돌부(221a)가 형성되며, 상기 제2끼움돌부(221a)가 상기 제2끼움부(211a)에 끼워지면서 상기 제1중심도체(211)의 후단에 상기 제2중심도체(221)가 끼워져 전기접속되게 연결되고, 상기 제2끼움부(211a)의 길이방향으로 절대홈을 갖음으로 상기 제2끼움돌부(221a)가 상기 제2끼움부(211a)에 끼워지는 과정에서 억지 끼움을 위한 유격을 갖도록 한다.
이때, 상기 제1중심도체(211)는 접점부(230)를 통해 인쇄회로기판(10)의 단자에 접속되게 하고, 상기 제2중심도체(221)는 인쇄회로기판(10)의 테스트를 위한 검출기(검사기)에 연결되면서 상기 제1중심도체(211)를 통해 접속된 인쇄회로기판(10)의 단자에서 전송되는 신호를 검출기에 제공되게 하여 상기 검출기를 이용해 인쇄회로기판의 테스트를 수행되게 한다.
또한, 상기 프로브(200)는, 제1통체(210)와 제1중심도체(211) 사이에 끼워지는 제1절연체(213);를 더 포함한다.
상기 제1절연체(213)는 제1중심도체(211)와 제1통체(210) 사이에 위치되도록 상기 제1통체(210)의 내측에 마련된 홈에 끼워져 고정되며, 상기 제1절연체(213)의 중앙으로 제1중심도체(211)가 관통되어 지지되면서 절연 기능을 수행한다.
또한, 상기 프로브(200)는. 제1중심도체(211)의 선단에 접점(231)을 결합되게 하는데, 상기 접점(231)을 제1탄성체(232)를 이용해 탄성 지지되게 하는 접점부(230);를 더 포함한다.
상기 접점부(230)는 중공의 관체로 상기 제1중심도체(211)에 전기접속되게 끼워져 고정되고, 상기 접점부(230)의 선단 내측으로 돌기 형태의 접점(231)이 끼워져 지지되게 하며, 상기 접점(231)은 상기 접점부(230)의 중공을 따라서 전후 이동가능하게 위치되는데, 상기 접점(231)의 후단에 구비되는 제1탄성체(232)에 탄성 지지되면서 접점부(230)의 선단에 돌출된 형태로 탄성 지지되게 된다.
이때, 상기 제1탄성체(232)는 코일스프링으로 이루어져 상기 접점부(230)의 내측에 삽입되어 제1중심도체(211)와 접점(231) 사이에 탄성 지지되게 하며, 상기 제1중심도체(211)의 선단은 접점(231)의 이탈을 방지하기 위해 내주에 단턱이 형성된다.
한편, 상기 접점(231)은 인쇄회로기판(10)의 단자에 접촉되면 상기 접촉되는 힘에 의해 뒤로 밀리는데 상기 제1탄성체(232)가 접점(231)을 탄성 지지하면서 상기 접점(231)에 전달되는 하중을 완충시켜 접점(231) 및 인쇄회로기판(10)의 단자가 접촉되는 힘에 의해 변형되지 않도록 한다.
또한, 상기 프로브(200)는, 제2통체(220)와 제2중심도체(221) 사이에 끼워지는 제2절연체(223) 및 제3절연체(224);를 더 포함한다.
상기 제2절연체(223) 및 제3절연체(224)는 각각 제2중심도체(221)의 선단과 후단에 제2중심도체(221)와 제2통체(220) 사이에 위치되도록 상기 제2통체(220)의 내측에 마련된 홈에 끼워져 고정되며, 상기 제2절연체(223) 및 제3절연체(224)의 중앙으로 제2중심도체(221)가 관통되어 지지되면서 절연 기능을 수행한다.
또한, 상기 프로브(200)는, 조립부(111)에 탄성 지지되게 하는 제2탄성체(241);를 더 포함한다.
상기 제2탄성체(241)는 코일 스프링으로 이루어져 상기 제1통체(210)의 외주 후단부에 마련된 단턱에 밀착되게 끼움 결합되는데, 상기 제2탄성체(241)는 프로브(200)가 모듈(100)의 조립부(111)에 결합되면 상기 조립부(111)의 안쪽면과 제1통체(210)의 단턱 사이에서 탄성 지지되면서 상기 프로브(200)가 탄성력에 의해 완충되면서 뒤로 밀릴 수 있게 하고, 이를 통해 인쇄회로기판(10)에 서로 높낮이가 다른 다수의 단자에 대응하여 다수의 프로브(200)가 높이를 맞출 수 있도록 한다.
한편, 전술한 구성으로 이루어진 인쇄회로기판 테스트용 커넥터(1)에 대한 사용 상태의 실시 예를 첨부된 도면을 참고로 상세하게 살펴보면 다음과 같다.
먼저, 도 4에 도시된 테스트용 커넥터(1)에 의하면, 인쇄회로기판(10)의 단자에 흐르는 전기신호를 측정하여 인쇄회로기판(10)의 정상작동 여부를 테스트하는데, 인쇄회로기판(10)에 마련된 단자의 수에 대응하여 하나 또는 그 이상의 프로브(200)를 모듈(100)의 조립부(111)에 선택적으로 조립시킨다.
이때, 상기 모듈(100)에 조립된 프로브(200)의 접점(231)이 인쇄회로기판(10)의 단자에 접촉되게 하고, 상기 인쇄회로기판(10)의 단자에서 전송되는 전기신호를 제1중심도체(211) 및 제2중심도체(221)를 통해 검출기에 제공하여 상기 검출기에서 인쇄회로기판(10)의 테스트를 수행되게 한다.
특징적으로 본 발명은 하나 또는 그 이상의 프로브(200)를 조립할 수 있는 모듈(100)을 마련하여 인쇄회로기판(10)에 테스트를 수행하기 위한 지점인 단자가 하나 이상 구비되는 겨웅 그 수에 대응하여 모듈(100)에 하나 이상의 프로브(200)를 조립시켜 고정되게 하고, 모듈(100)을 이용해 여러 개의 단자에 다수의 프로브(200)를 접촉시켜 여러 개의 인쇄회로기판(10)의 테스트를 동시에 수행하면서 테스트 시간을 대폭 줄일 수 있게 된다.
이상 설명한 바와 같이. 본 발명은 특정의 바람직한 실시 예를 예시한 설명과 도면으로 표현하였으나, 여기서 사용하는 용어들은 본 발명을 용이하게 설명하기 위함이며, 이 용어들에 대한 의미 한정이나, 특허청구범위에 기재된 범위를 제한하기 위함이 아니며,
본 발명은 상기한 실시 예에 따른 특허청구범위에 의해 나타난 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경 및 개조, 수정 등이 가능할 수 있음을 누구나 쉽게 알 수 있을 것이다.
1; 테스트용 커넥터 100; 모듈
110; 110 200; 프로브
210; 제1통체 220; 제2통체
230; 접점부

Claims (5)

  1. 프로브(200)가 조립되는 다수의 조립부(111)가 마련된 모듈(100)과;
    상기 다수의 조립부(111)에 하나 또는 그 이상 조립되는데, 인쇄회로기판(10)의 단자에 접속되어 상기 인쇄회로기판(10)의 정상 작동 여부를 테스트 하기 위한 전기적 신호를 제공하는 프로브(200);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 테스트용 커넥터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 모듈(100)은 다수의 조립부(111)가 일정간격 형성되는 몸체(110);를 더 포함한 인쇄회로기판 테스트용 커넥터.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 프로브(200)는 제1중심도체(211)를 갖고, 상기 제1중심도체(211)의 선단으로 인쇄회로기판(10)의 단자 접속되는 접점(231)이 마련된 제1통체(210); 및
    상기 제1중심도체(211)에 접속되는 제2중심도체(221)가 마련된 제2통체(220);를 더 포함한 인쇄회로기판 테스트용 커넥터.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 프로브(200)는 제1중심도체(211)의 선단에 접점(231)을 결합되게 하는데, 상기 접점(231)을 제1탄성체(232)를 이용해 탄성 지지되게 하는 접점부(230);를 더 포함한 인쇄회로기판 테스트용 커넥터.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 프로브(200)는 조립부(111)에 탄성 지지되게 하는 제2탄성체(241);를 더 포함한 인쇄회로기판 테스트용 커넥터.
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Citations (10)

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