JP2007503591A - 同軸プローブインタフェース - Google Patents

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Abstract

同軸プローブ相互接続システム100は、キャリアアセンブリ200と、プローブホルダ300と、を含む。キャリアアセンブリ200は、第1同軸コネクタ半体210を有する。各第1同軸コネクタ半体210は、関連する同軸ケーブル212に終端される。プローブホルダ300アセンブリは、同軸プローブコネクタ306を有する。各同軸プローブコネクタ306は、第1端にスプリングプローブを有し、第2端に第2同軸コネクタ半体310を有する。各第2同軸コネクタ半体は、キャリアアセンブリ200の対応する第1同軸コネクタ半体に摺動可能に嵌合する。

Description

本発明は、一般に、自動試験装置で使用される種類のスプリングプローブアセンブリに関し、特に、スプリングプローブアセンブリで使用する相互接続システムに関する。
スプリングプローブは、集積回路または他の電子装置と自動試験装置との間の一時的なスプリング接触インタフェースを提供するために使用される。スプリングプローブは、この目的で多種多様の異なるアセンブリにおいて使用される。ギガヘルツ範囲の信号速度で試験する場合、スプリングプローブは同軸プローブコネクタに設けられることが多く、複数の同軸プローブコネクタは、規則正しいスプリングプローブアセンブリを形成するようにプローブホルダに配置される。プローブホルダは、たとえば、プローブブロックまたはプローブプレートであってもよい。プローブコネクタシールド本体とプローブホルダとの間の低電気抵抗を保証にするように、かつホルダ内のスプリングプローブの正確な位置を保証にするように、同軸プローブコネクタは、プローブホルダによって、同軸プローブコネクタをプローブホルダに圧入すること等により確実に保持される。同軸プローブコネクタがプローブホルダに固定される前に、それら同軸プローブコネクタの各々は、プローブホルダに圧入される前に一端において同軸ケーブルに個々に終端される。
集積回路および他の電子装置がより高速かつ小型になることによって進化し続けるに従い、自動試験装置および関連スプリングプローブアセンブリもまた進化しなければならない。特に、スプリングプローブアセンブリの電気的性能要求(システムのインピーダンス制御に関し)が高まっており、プローブホルダにおける同軸プローブコネクタの密度が増大している。電気的性能要求が高いことにより、スプリングプローブアセンブリにおけるわずかにでも欠陥がありまたは損傷した部品がほとんど許容できなくなる。その結果、スプリングプローブアセンブリの部品を容易にかつ迅速に交換しまたは修理することができることが望ましい。しかしながら、スプリングプローブアセンブリにおける同軸プローブコネクタ(およびそれらの関連する同軸ケーブル)の密度が増大することにより、アセンブリの他の部品を損傷させることなく部品を修理または交換することがますます困難になる。その結果、スプリングプローブアセンブリを製造し保守するのに非常にコストがかかる。
スプリングプローブアセンブリ全体の大規模な再加工または解体さえも必要とすることなく、同軸プローブコネクタ、それらの部品および関連する同軸ケーブルの組立て、修理および交換を容易にするスプリングプローブアセンブリが必要とされている。特に、スプリングプローブアセンブリを保守している時に同軸プローブコネクタおよび同軸ケーブルに対し損傷を与える可能性を低減するスプリングプローブアセンブリが必要である。
本発明に係る同軸プローブ相互接続システムは、相互接続システムの任意の部分を、その相互接続システムの他の部品に対する損傷の可能性を低減しながら、迅速かつ容易に組み立て、修理し、または交換することができるようにする。
本発明に係る一実施形態では、同軸プローブ相互接続システムは、キャリアアセンブリと、プローブホルダと、を含む。キャリアアセンブリは、1組の第1同軸コネクタ半体を有し、各第1同軸コネクタ半体は、関連する同軸ケーブルに終端される。プローブホルダアセンブリは、少なくとも1組の同軸プローブコネクタを有する。各同軸プローブコネクタは、第1端にスプリングプローブを含み、第2端に第2同軸コネクタ半体を含む。各第2同軸コネクタ半体は、キャリアアセンブリの対応する第1同軸コネクタ半体に摺動可能に嵌合する。
本発明に係る別の実施形態では、同軸プローブ相互接続システムは、各プローブホルダに対し複数のキャリアアセンブリを含む。複数のキャリアアセンブリの各々は、プローブホルダに収容される複数組の同軸プローブコネクタのうちの1つに係合する1組の第1同軸コネクタ半体を有する。
本発明に係るさらに別の実施形態では、キャリアアセンブリの第1同軸コネクタ半体は、コネクタ嵌合方向に対して横切る方向でキャリアアセンブリ内に挿入される。
本発明の上記概要は、本発明の開示された実施形態各々またはすべての実装例を説明するようには意図されていない。図面および以下の詳細な説明は、例示的な実施形態をさらに詳細に例証する。
好ましい実施形態の以下の詳細な説明では、その一部を形成し、本発明を実施してもよい特定の実施形態が例として示されている添付図面を参照する。他の実施形態を利用してもよく、かつ本発明の範囲から逸脱することなく構造的または論理的変更を行ってもよい、ということを理解しなければならない。したがって、以下の詳細な説明は、限定する意味でとられるべきではなく、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲によって規定される。
図1Aおよび図1Bは、本発明に係る同軸プローブ相互接続システム100の一実施形態の斜視図を提供する。同軸プローブ相互接続システム100は、少なくとも1つのキャリアアセンブリ200と、プローブホルダアセンブリ300と、を含む。本発明の一実施形態では、同軸プローブ相互接続システム100は、複数のキャリアアセンブリ200を含む。各キャリアアセンブリ200は、プローブホルダアセンブリ300に独立して係合しまたはそこから外れることができる。
図2に示すように、各キャリアアセンブリ200は、1組の第1同軸コネクタ半体210を有する。各第1コネクタ半体210は、関連する同軸ケーブル212に終端される。そして、同軸ケーブル212は、試験または測定システム(図示せず)に接続される。プローブホルダアセンブリ300は、複数の同軸プローブコネクタ306を有する。各同軸プローブコネクタ306の一端には、第2同軸コネクタ半体310がある。第1および第2同軸コネクタ半体210、310は、それらの夫々のキャリアアセンブリ200およびプローブホルダアセンブリ300において、各第1同軸コネクタ半体210が対応する第2同軸コネクタ半体310と摺動可能に係合し嵌合するように配置される。本明細書で例示するように、第1同軸コネクタ半体210は雌同軸コネクタであり、第2同軸コネクタ半体310は雄同軸コネクタである。しかしながら、本発明に係る他の実施形態では、第1同軸コネクタ半体210は雄同軸コネクタであり、第2同軸コネクタ半体310は雌同軸コネクタである。
図3Aおよび図3Bを参照して、1つのキャリアアセンブリ200についてより詳細に説明する。キャリアアセンブリ200は、キャリア本体220と、キャリアリテーナ222と、を含む。キャリア本体220の側面224には、複数の長手方向の溝226がある。各溝226は、1つの第1同軸コネクタ半体210を受け入れ収容するようにサイズおよび位置が決められている。
図2に最もよく示すように、各第1同軸コネクタ半体210は、一端に、嵌合する第2同軸コネクタ半体310の信号ピン330を受け入れるソケット接点216がある、信号導体214を含む。絶縁体218が、長手方向の接地管230内で信号導体214およびソケット接点216を軸方向に配置し保持する。接地管230の長手方向軸は、同軸コネクタ半体210の係合または嵌合方向を画定する。
本発明に係る一実施形態では、絶縁体218は、円周方向に配置されかつ信号導体214から間隔が空けられる構造誘電材料である。絶縁体218は、信号導体214との接触が限られており、それにより絶縁体218の構造誘電材料が可能な限り信号導体214から離れて配置される。特に、絶縁体218は、導電性の接地管230内に信号導体214を軸方向に配置し保持するための必要に応じてのみ、信号導体214と接触する。空気誘電体が信号導体214に直接隣接し、第1同軸コネクタ半体210の有効誘電定数が、絶縁体218の寸法の製造変動の影響を受け難くなるように、誘電絶縁体材料の大部分を信号導体214から離れるように(たとえば、信号導体214より導電性の接地管230の近くに)配置する。このように、相互接続システムの特徴的なインピーダンスがより正確に制御される。
各接地管230は、横方向に延在するフランジ232を含む。フランジ232は、キャリア本体220の嵌合スロット234と係合する形状を有する。キャリアアセンブリ200の組立て中、各第1同軸コネクタ半体210は、コネクタ半体210の係合または嵌合方向に対して横切る方向でキャリア本体220の溝226内に挿入される。同軸コネクタ半体が溝226内に挿入されると、フランジ232はスロット234に係合し、それにより、その溝226内における接地管230(および故に第1同軸コネクタ半体210)の長手方向の移動が抑制される。第1同軸コネクタ半体210が各溝226に挿入された後、キャリアリテーナ222がキャリア本体220と解放可能に係合されることにより、キャリア本体220の溝226内に第1同軸コネクタ半体210が保持される。キャリア本体220およびキャリアリテーナ222が係合される場合、各第1同軸コネクタ半体210を収容する穴は、第2同軸コネクタ半体310の外側にたわんだ接地接点322の外径よりわずかに広い。密接嵌合することにより、部品が嵌合する時の方向案内が提供され、本発明に係る実施形態によっては、嵌合する同軸コネクタ半体210、310間で引抜き(stubbing)状態が生じる場合に過大応力抑制手段が提供される。
接地管230(および故に第1同軸コネクタ半体210)の、接地管230の長手方向軸に対して横切る方向の移動は、キャリアリテーナ222によって制限される。一実施形態では、第1同軸コネクタ半体230は、それらの長手方向軸を中心に自由に回転することにより、同軸ケーブル212のよじれを防止する。本発明に係る実施形態によっては、第1および第2同軸コネクタ半体210、310が係合される際に整列するように、各第1同軸コネクタ半体210の横方向の移動が制限されることが好ましい。本発明に係る一実施形態では、キャリアアセンブリ200内における各第1同軸コネクタ半体210の横方向の移動の範囲は、各第1同軸コネクタ半体210の長手方向の移動の範囲より大きい。一実施形態では、各第1同軸コネクタ半体210は、係合または嵌合方向に対して横方向に0.005乃至0.025インチの範囲で移動することができる。本発明に係る別の実施形態では、第1同軸コネクタ半体210は、0.001乃至0.010インチの範囲で軸方向に移動することができる。
本発明に係る一実施形態では、キャリアリテーナ222は、キャリアアセンブリ200とプローブホルダアセンブリ300との位置合せを支援しかつ促進するように構成される。たとえば、キャリアリテーナ222は、キャリアアセンブリ200とプローブホルダアセンブリ300との嵌合中に第2同軸コネクタ半体310を第1同軸コネクタ半体210に向かって案内するテーパ状開口240を含む。本発明に係る一実施形態では、キャリアリテーナ222は、リテーナ222がキャリア本体220に対して移動可能であるようにキャリア本体220に係合され、それにより、キャリアリテーナは、キャリアアセンブリ200とプローブホルダアセンブリ300との間のより広い範囲のずれ(直線的および角度的の両方)に適応しそれを補正することができる。キャリアリテーナ222は、キャリア本体220に対し、直線的に移動可能であっても、角度的に移動可能であっても、または両方であってもよい。
図1Aおよび図1Bに示すように、各キャリアアセンブリ200を、プリント面基板等の電子アセンブリ400に取り付けてもよい。本発明に係る一実施形態では、各キャリアアセンブリ200は、電子アセンブリに対して直線的にかつ/または角度的に移動可能であるように、取付けブラケット260を介して電子アセンブリ400に取り付けられる。このように、キャリアアセンブリ200がプローブホルダアセンブリ300に係合するように移動すると、キャリアアセンブリ200は、第1同軸コネクタ半体210および第2同軸コネクタ半体310の位置合せを保証するように粗移動することができる。
部品に対し粗位置合せおよび/またはキーイング機構を提供するために、キャリアアセンブリ200およびプローブホルダアセンブリ300に夫々、位置合せ穴240および位置合せピン340等のさらなる位置合せ機構を任意に含めてもよい。
図1Aおよび図1Bに示すようなプローブホルダアセンブリ300は、単一プレート314を使用して、同軸プローブコネクタ306のすべてを保持する。しかしながら、代替実施形態では、プレート314を1つまたは複数のプローブブロックに置き換えてもよく、その場合、複数のプローブブロックを組み立ててより大きいユニットにしてもよい。使用されるプローブホルダの種類にかかわりなく、本明細書で説明する本発明に係る原理が適用可能である。
図2および図4を参照して、プローブホルダアセンブリ300およびその関連する同軸プローブコネクタ306を最もよく示す。各同軸プローブコネクタ306は、プレート314の嵌合側316に隣接して配置される第2同軸コネクタ半体310と、プレート314の反対側318に隣接して配置されるスプリングプローブ312と、を含む。
各同軸プローブコネクタ306は、導電性外側本体320と、その導電性外側本体320内の中心に置かれた信号導体324と、を含む。絶縁体328が、信号導体324を導電性外側本体320から分離する。導電性外側本体320のプレート314の嵌合側316に隣接する部分は、対応する第1同軸コネクタ半体210の接地管230内に電気接地接触をさせる接地接点322を形成する。
本発明に係る一実施形態では、信号導体324は、その第1端にスプリングプローブ312を取外し可能に保持し、反対端に信号ピン330を形成する管状部材である。信号ピン330は、関連するキャリアアセンブリ200における第1同軸コネクタ半体210のうちの1つの信号ソケット接点216と嵌合するように構成される。信号ピン330を、たとえば管状の信号導体324の端部に引込み線を形成することにより、かつ任意に、嵌合接点216を受け入れる長さに亙って管径を低減することにより、製作してもよい。
本発明に係る一実施形態では、絶縁体328は、円周方向に配置されかつ信号導体324から間隔が空けられた構造誘電材料である。空気誘電体が信号導体324に直接隣接し、同軸プローブコネクタ306の有効誘電定数が絶縁体328の寸法の製造変動の影響を受け難くなるように、誘電絶縁体材料の大部分を、信号導体324から離れるように(たとえば、信号導体324より導電性外側本体320の近くに)配置する。このように、相互接続システムの特徴的なインピーダンスがより正確に制御される。
本発明に係る一実施形態では、絶縁体328は、信号導体324との接触が限られており、それにより絶縁体328の誘電材料が可能な限り信号導体324から離れて配置される。特に、絶縁体328は、導電性外側本体320内に信号導体324を軸方向に配置し保持するための必要に応じてのみ、信号導体324と接触する。絶縁体328は、くぼみ、内側に延びるカラー、ランスまたはそれらの組合せ等、任意の保持機構により導電性外側本体320内に保持される。絶縁体328の内面に位置決め要素332を設けることにより、絶縁体328は、絶縁体328内で信号導体324を軸方向に配置し保持する。位置決め要素332は、信号導体324の外面の相互位置決め要素334に係合する。絶縁体328の位置決め要素332および信号導体324の相互位置決め要素334は、隆起したまたはへこんだ形状である。
図5A乃至図5Cに、本発明に係る絶縁体の例示的な実施形態を示す。図5Aでは、図4の絶縁体328を、2つの嵌合する半体350として示し、各半体350は信号導体324の長さに沿って長手方向に延在する。絶縁体328の各半体350を、図5Aに示すように別々に形成してもよい。別法として、成形または機械加工を容易にするため、かつ信号導体絶縁を容易にするため、絶縁体半体350をクラムシェルのように一体的に蝶番式に取り付けてもよい。信号導体324を絶縁体328内に配置した後、組み立てられた信号導体324および絶縁体328を、導電性外側本体320内に挿入する。図5Aを、同軸プローブコネクタ306の絶縁体に関して説明するが、第1同軸コネクタ半体210の絶縁体218を同様に構成してもよい。
図5Bに、代替絶縁体実施形態を示す。絶縁体328’は、2つの嵌合する半体350’を含み、雄雌同体であり得る各半体350’は、信号導体324の長さの半分を包囲する。絶縁体328’は、信号導体324を軸方向に配置し保持する絶縁体328と同様の位置決め要素(図示せず)を含むことが好ましい。図5Bを、同軸プローブコネクタ306の絶縁体に関して説明するが、第1同軸コネクタ半体210の絶縁体218を同様に構成してもよい。
図5Cに、さらに別の代替絶縁体実施形態を示す。絶縁体328”は、信号導体324の長さに沿って長手方向に延在する一体構造として形成される。絶縁体328”を、信号導体324を包囲する空気誘電体を最大化するようにスケルトン化する。絶縁体328”は、信号導体324を軸方向に配置し保持する絶縁体328と同様の位置決め要素(図示せず)を含むことが好ましい。図5Cを、同軸プローブコネクタ306の絶縁体に関して説明するが、第1同軸コネクタ半体210の絶縁体218を同様に構成してもよい。
上述したように、同軸プローブコネクタ306をプレート314内に圧入する。同軸プローブコネクタ306のホルダ314内への挿入および長手方向位置決めを支援するために、導電性外側本体320に、任意に、その外面に放射状に延在するリッジまたはカラー336を備える。カラー336は、同軸プローブコネクタ306をプレート314内に圧入するベアリング面を提供し(同軸プローブコネクタ306または第2コネクタ半体310を損傷する可能性を低減する)、さらにコネクタ306をプレート314内に正確に配置する挿入「止め」を提供する。
図6Aに示す本発明に係る一実施形態では、第2同軸コネクタ半体310は、プレート314の嵌合側316の上方に延在する。図6Bに示す別の実施形態では、第2同軸コネクタ半体310を、プレート314によって覆われるように、穴338内で嵌合面316より下に「皿もみ」する。図6Bの実施形態では、第2同軸コネクタ半体310は、コネクタ半体310の引抜き等による損傷から保護される。さらに、本発明に係る実施形態によっては、プレート314の壁339は、過大応力抑制手段として作用し、第2同軸コネクタ半体310の接地接点322が永久歪点までたわまないようにする。
本明細書で説明する同軸プローブ相互接続システム100は、システムの任意の部分を、システムの他の部品に対する損傷の可能性を低減しながら、迅速かつ容易に組み立て、修理し、または取り替えることができるようにする。特に、複数のキャリアアセンブリ200がプローブホルダアセンブリ300に係合される場合、損傷した部品(同軸ケーブル212または第1同軸コネクタ半体210)を含む単一のキャリアアセンブリ200を、プローブホルダアセンブリ300から容易に外して取り除くことができる。プローブホルダアセンブリ300から分離されている間、外されたキャリアアセンブリのキャリアリテーナ222は、キャリア本体220から容易に外れ、それにより、単一の第1同軸コネクタ半体210および関連する同軸ケーブル212を、たとえば同軸ケーブル212または第1同軸コネクタ半体210を取り替えるためにシステムの残りの部分からさらに分離することができる。部品をそのキャリア200に対し強く押すかまたは引く必要はない。
同様に、同軸プローブコネクタ306を修理または交換する必要がある場合、キャリアアセンブリ200を、プローブホルダアセンブリ300から容易に取り除くことができ(同軸ケーブル212およびそれらの関連する接続を損傷しないように)、欠陥のあるかまたは損傷した同軸プローブコネクタ306を、プローブホルダ300から押し出すことができる。プローブホルダアセンブリ300に対して作業が完了した後、キャリアアセンブリ200をプローブホルダアセンブリに再嵌合させることができ、システムの使用を再開することができる。
好ましい実施形態を説明する目的で、本明細書では特定の実施形態を例示し説明したが、当業者には、本発明の範囲から逸脱することなく、示し説明した特定の実施形態の代りに多種多様の代替および/または等価実装例を用いてもよい、ということが理解されよう。化学、機械、電気機械、電気およびコンピュータ技術分野における当業者は、本発明を多種多様な実施形態において実施してもよい、ということを容易に理解するであろう。本出願は、本明細書で論考される好ましい実施形態の任意の適応または変形を包含するように意図されている。したがって、本発明は、特許請求の範囲とその等価物とによってのみ限定される、ということが明示的に意図されている。
分離状態での本発明に係るキャリアアセンブリおよびプローブホルダアセンブリの斜視図である。 嵌合状態での図1Aのキャリアアセンブリおよびプローブホルダアセンブリの斜視図である。 図1Aの線2−2に沿って取り出されたキャリアアセンブリおよびプローブホルダアセンブリの断面図である。 図1Aおよび図1Bのキャリアアセンブリの部分分解組立斜視図である。 組立状態での図2Aのキャリアアセンブリの斜視図である。 同軸プローブコネクタの拡大分解組立図である。 本発明に係る代替絶縁体実施形態の斜視図である。 本発明に係る代替絶縁体実施形態の斜視図である。 本発明に係る代替絶縁体実施形態の斜視図である。 本発明に係るプローブホルダアセンブリの代替実施形態の断面図である。 本発明に係るプローブホルダアセンブリの代替実施形態の断面図である。

Claims (39)

  1. 1組の第1同軸コネクタ半体を含み、各第1同軸コネクタ半体が関連する同軸ケーブルに終端される、キャリアアセンブリと、
    少なくとも1組の同軸プローブコネクタを含み、各同軸プローブコネクタが、第1端にスプリングプローブを備え、第2端に第2同軸コネクタ半体を備え、各第2同軸コネクタ半体が対応する第1同軸コネクタ半体と摺動可能に嵌合するように構成される、プローブホルダと、
    を備える同軸プローブ相互接続システム。
  2. 各々が1組の第1同軸コネクタ半体を備える、複数のキャリアアセンブリと、
    前記プローブホルダ内に収容される複数組の同軸プローブコネクタと、
    をさらに備える、請求項1に記載のシステム。
  3. 各第1同軸コネクタ半体が、嵌合方向を有し、各第1同軸コネクタ半体が、該嵌合方向に対して横切る方向で前記キャリアアセンブリ内に挿入される、請求項1に記載のシステム。
  4. 前記キャリアアセンブリは、
    複数の溝を有し、各溝が前記1組の第1同軸コネクタ半体のうちの1つを収容する、キャリア本体と、
    該キャリア本体に係合し、かつ該キャリア本体の該溝内に該第1同軸コネクタ半体を保持するキャリアリテーナと、
    を備える、請求項1に記載のシステム。
  5. 各第1同軸コネクタ半体が、前記キャリア本体内の嵌合スロットに係合する横方向に延在するフランジを有する長手方向接地管を備える、請求項4に記載のシステム。
  6. 各接地管の前記キャリア本体内での長手方向の移動が、該キャリア本体の前記嵌合スロットに係合する前記横方向に延在するフランジによって抑制される、請求項5に記載のシステム。
  7. 前記キャリアアセンブリ内における各接地管の横方向の移動が、前記キャリアリテーナによって制限される、請求項4に記載のシステム。
  8. 前記キャリアアセンブリ内における各接地管の横方向の移動の範囲が、該キャリアアセンブリ内における各接地管の長手方向の移動の範囲より大きい、請求項7に記載のシステム。
  9. 各接地管の横方向の移動が、0.005乃至0.025インチの範囲である、請求項8に記載のシステム。
  10. 各接地管の長手方向の移動が、0.001乃至0.010インチの範囲である、請求項8に記載のシステム。
  11. 前記キャリアリテーナが、前記第2同軸コネクタ半体を前記第1同軸コネクタ半体と位置合せされるように案内するテーパ状開口を備える、請求項4に記載のシステム。
  12. 前記キャリアリテーナが、前記第1同軸コネクタ半体および前記第2同軸コネクタ半体の嵌合中に該第2同軸コネクタ半体と整列するように前記キャリア本体に対して移動可能である、請求項4に記載のシステム。
  13. 前記キャリアリテーナが、前記キャリア本体に対して直線的に移動可能である、請求項12に記載のシステム。
  14. 前記キャリアリテーナが、前記キャリア本体に対して角度的に移動可能である、請求項12に記載のシステム。
  15. 前記第1同軸コネクタ半体が雌コネクタ半体を含み、前記第2同軸コネクタ半体が雄コネクタ半体を含む、請求項1に記載のシステム。
  16. 各スプリングプローブが前記プローブホルダの第1面に隣接して配置され、各第2同軸コネクタ半体が、該第1面の反対側の該プローブホルダの第2面に隣接して配置される、請求項1に記載のシステム。
  17. 前記同軸プローブコネクタの各々が、
    導電性外側本体と、
    該導電性外側本体内の中心に置かれる信号導体と、
    該導電性外側本体から該信号導体を分離する絶縁体と、
    をさらに備える、請求項1に記載のシステム。
  18. 各同軸プローブコネクタの前記信号導体が、管状部材を備え、該管状部材が、第1端において前記スプリングプローブを取外し可能に保持し、第2端において前記第1同軸コネクタ半体のうちの1つの信号ソケット接点と嵌合する信号ピンを形成する、請求項17に記載のシステム。
  19. 前記信号ピンの少なくとも一部が、前記管状部材の直径より小さい直径を有し、前記嵌合する信号ソケット接点が、該管状部材の直径と実質的に等しいかまたはそれより小さい直径を有する、請求項18に記載のシステム。
  20. 前記絶縁体の大部分が、前記信号導体より前記導電性外側本体の近くに配置される、請求項17に記載のシステム。
  21. 前記絶縁体が、前記信号導体から円周方向に間隔を空けて配置された管状シェルを含む、請求項17に記載のシステム。
  22. 前記絶縁体が、構造誘電材料を含み、前記円周方向に配置された誘電材料の厚さが、当該相互接続システムの特徴的なインピーダンスを制御する所望の有効誘電定数を提供する、請求項21に記載のシステム。
  23. 前記絶縁体の内面が、前記信号導体の外面の相互位置決め要素に係合する位置決め要素を含む、請求項21に記載のシステム。
  24. 前記絶縁体の位置決め要素と前記信号導体の相互位置決め要素とが、該絶縁体内で該信号導体を軸方向に配置し保持する、請求項23に記載のシステム。
  25. プローブホルダに固定され、各々が、該プローブホルダの第1側に隣接して配置されたスプリングプローブと該プローブホルダの第2側に隣接して配置された雄同軸コネクタとを備える、複数の同軸プローブコネクタと、
    各々が、該雄同軸コネクタの対応するものに係合し、関連する同軸ケーブルに終端される複数の雌同軸コネクタと、
    を備える装置。
  26. 脱着可能キャリアをさらに備え、該脱着可能キャリアが、前記複数の雌同軸コネクタの一部を、前記複数の雄同軸コネクタの一部のパターンに一致するパターンで保持する、請求項25に記載の装置。
  27. (なし)
  28. 前記脱着可能キャリアに保持される前記複数の雌同軸コネクタの各々が、該脱着可能キャリア内においてそれらの長手方向軸を中心に回転可能である、請求項26に記載の装置。
  29. 前記脱着可能キャリアが、該脱着可能キャリアに保持される前記雌同軸コネクタをそれらの対応する雄同軸コネクタに選択的に嵌合させるように嵌合方向に移動可能である、請求項26に記載の装置。
  30. 前記脱着可能キャリアに保持される前記複数の雌同軸コネクタの各々が、前記嵌合方向に対して横切る方向で該脱着可能キャリア内に挿入される、請求項29に記載の装置。
  31. 前記脱着可能キャリアに保持される前記複数の雌同軸コネクタの各々が、前記嵌合方向に対して横切る方向に移動可能である、請求項30に記載の装置。
  32. 前記脱着可能キャリアに取外し可能に固定されるキャリアリテーナをさらに備え、該キャリアリテーナが、前記係合方向に対して横切る方向において前記保持された雌同軸コネクタの移動を制限する、請求項30に記載の装置。
  33. 複数の脱着可能キャリアをさらに備え、各脱着可能キャリアが、前記複数の雌同軸コネクタの一部を、前記複数の雄同軸コネクタの一部のパターンに一致するパターンで保持し、該複数の脱着可能キャリアの各々が、該脱着可能キャリアに保持される該雌同軸コネクタをそれらの対応する雄同軸コネクタから外すように、前記プローブホルダの前記第2側から離れる方向に独立して移動可能である、請求項25に記載の装置。
  34. 前記雄同軸コネクタが、
    前記複数の雌同軸コネクタのうちの1つの遮蔽部材に係合するように前記同軸プローブコネクタの導電性外側本体から延在する接地接点と、
    該導電性外側本体内に軸方向に整列され、第1端において前記スプリングプローブを取外し可能に保持し、第2端において該複数の雌同軸コネクタのうちの1つと嵌合する信号ピンを形成する、信号導体と、
    を備える、請求項25に記載の装置。
  35. 前記導電性外側本体と前記信号導体との間に絶縁体をさらに備え、該絶縁体が、インピーダンスを制御する関係で該信号導体の長さの大部分に沿って該信号導体から離れて配置される、請求項34に記載の装置。
  36. 前記脱着可能キャリアに取り付けられる電子アセンブリをさらに備える、請求項26に記載の装置。
  37. 前記脱着可能キャリアが、前記電子アセンブリに対して角度的に移動可能である、請求項36に記載の装置。
  38. 前記脱着可能キャリアが、前記電子アセンブリに対して直線的に移動可能である、請求項36に記載の装置。
  39. 前記雄同軸コネクタが、前記プローブホルダによって覆われる、請求項25に記載の装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011517038A (ja) * 2008-04-08 2011-05-26 フーバー + スーナー アーゲー マルチプル同軸コネクタ
KR20220146818A (ko) * 2021-04-26 2022-11-02 주식회사 에이플러스알에프 인쇄회로기판 테스트용 커넥터

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6951482B1 (en) * 2004-03-16 2005-10-04 Credence Systems Corporation Controlled-impedance coaxial cable interconnect system
US7292059B2 (en) * 2005-03-31 2007-11-06 Credence Systems Corporation Power supply assembly for a semiconductor circuit tester
US7189103B1 (en) * 2005-12-07 2007-03-13 Avocent Corporation Wire comb overlying spark gap
US7731528B2 (en) * 2006-01-31 2010-06-08 3M Innovative Properties Company Electrical termination device
US7553187B2 (en) * 2006-01-31 2009-06-30 3M Innovative Properties Company Electrical connector assembly
US7651355B2 (en) * 2006-06-30 2010-01-26 3M Innovative Properties Company Floating panel mount connection system
US8007308B2 (en) * 2007-10-17 2011-08-30 3M Innovative Properties Company Electrical connector assembly
US7722394B2 (en) 2008-02-21 2010-05-25 3M Innovative Properties Company Electrical termination device
CH702048B1 (de) * 2008-03-14 2011-04-29 Huber+Suhner Ag Mehrfach-Koaxialkabel-Steckverbindung sowie Verfahren zum Montieren einer solchen Mehrfach-Koaxialkabel-Steckverbindung.
US7740508B2 (en) * 2008-09-08 2010-06-22 3M Innovative Properties Company Probe block assembly
USRE47459E1 (en) 2011-10-24 2019-06-25 Ardent Concepts, Inc. Controlled-impedance cable termination using compliant interconnect elements
USRE46958E1 (en) 2011-10-24 2018-07-17 Ardent Concepts, Inc. Controlled-impedance cable termination using compliant interconnect elements
USRE46936E1 (en) 2011-10-24 2018-07-03 Ardent Concepts, Inc. Controlled-impedance cable termination using compliant interconnect elements
US9293874B2 (en) * 2014-06-17 2016-03-22 Tyco Electronics Corporation High speed radio frequency connector
TWM512225U (zh) * 2015-07-01 2015-11-11 Cooler Master Technology Inc 電源供應器連接器及其導電端子
US10938139B2 (en) * 2018-08-21 2021-03-02 Te Connectivity Corporation Electrical connector with retractable contacts
CN116243033A (zh) * 2021-12-07 2023-06-09 中兴通讯股份有限公司 一种电接触探针装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60123666U (ja) * 1984-01-30 1985-08-20 株式会社ヨコオ 回路基板等の検査装置
JPS6177286A (ja) * 1984-09-21 1986-04-19 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 同軸ケーブル用インターフェース装置
JPH0750324A (ja) * 1993-08-03 1995-02-21 Tokyo Electron Ltd プローブ装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3852700A (en) * 1969-04-18 1974-12-03 Breston M Grounding base for connector
US4296990A (en) * 1980-02-22 1981-10-27 Virginia Panel Corporation Electrical connector having insulated locking shell for use on panel having metal ground plane
US4606603A (en) * 1983-04-07 1986-08-19 Lockheed Corporation Underwater connector including integral bladder and seal with a set of constricting means
US4632485A (en) * 1985-06-06 1986-12-30 Brown Kenneth C Electrical circuit testing apparatus
US4729752A (en) * 1985-07-26 1988-03-08 Amp Incorporated Transient suppression device
DE3630548A1 (de) * 1986-09-08 1988-03-10 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
US4931726A (en) * 1987-06-22 1990-06-05 Hitachi, Ltd. Apparatus for testing semiconductor device
JPH0178029U (ja) 1987-11-13 1989-05-25
FR2685553A1 (fr) * 1991-12-18 1993-06-25 Radiall Sa Element de connecteur coaxial coude apte a etre fixe a une carte imprimee.
US5227718A (en) * 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
US6066957A (en) * 1997-09-11 2000-05-23 Delaware Capital Formation, Inc. Floating spring probe wireless test fixture
US6053777A (en) * 1998-01-05 2000-04-25 Rika Electronics International, Inc. Coaxial contact assembly apparatus
US6184460B1 (en) * 1998-02-27 2001-02-06 Berg Technology, Inc. Modular box shield for forming a coaxial header
US6037787A (en) * 1998-03-24 2000-03-14 Teradyne, Inc. High performance probe interface for automatic test equipment
US6275054B1 (en) * 1998-11-25 2001-08-14 Rika Electronics International, Inc. Electrical contact system
US6409550B1 (en) * 1999-11-15 2002-06-25 Mce/Weinschel Corporation Planar blind-mate connectors
US6491545B1 (en) * 2000-05-05 2002-12-10 Molex Incorporated Modular shielded coaxial cable connector
US6447328B1 (en) * 2001-03-13 2002-09-10 3M Innovative Properties Company Method and apparatus for retaining a spring probe
US6551126B1 (en) * 2001-03-13 2003-04-22 3M Innovative Properties Company High bandwidth probe assembly

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60123666U (ja) * 1984-01-30 1985-08-20 株式会社ヨコオ 回路基板等の検査装置
JPS6177286A (ja) * 1984-09-21 1986-04-19 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 同軸ケーブル用インターフェース装置
JPH0750324A (ja) * 1993-08-03 1995-02-21 Tokyo Electron Ltd プローブ装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011517038A (ja) * 2008-04-08 2011-05-26 フーバー + スーナー アーゲー マルチプル同軸コネクタ
KR20220146818A (ko) * 2021-04-26 2022-11-02 주식회사 에이플러스알에프 인쇄회로기판 테스트용 커넥터
KR102503437B1 (ko) 2021-04-26 2023-02-24 주식회사 에이플러스알에프 인쇄회로기판 테스트용 커넥터

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