JPH0127100Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案は、接触プローブの先端をIC，LSI等の
回路基板の検査点に接触させて電気的試験検査な
どを行なう検査装置等に用いる同軸型接触プロー
ブと同軸ケーブルとの接続装置に関する。

〔考案の技術的背景とその問題点〕

検査すべき回路基板に対向して移動自在に設け
られた支持板に、筒状の外部導体の内部に中心導
体を絶縁状態で設けた同軸型可動接触プローブを
回路基板に向かつて貫通状態で支持し、支持板の
移動により接触プローブの先端を回路基板の検査
点に接触させて電気的測定検査を行なう回路基板
等の検査装置は、例えば特公昭58−175273号公報
に記載されているように公知である。

この種の同軸型可動接触プローブは、その同軸
構造のために、インピーダンス整合がよい、信号
の漏洩、信号レベルの減衰が少ない等の利点があ
り、電気的に良好な測定、検査を行なうことがで
きる。

ところで、同軸型接触プローブは、回路基板等
の被試験物に接する先端と反対の端、すなわち基
端で、測定器に連なる同軸ケーブルに電気的に接
続しなければならない。このための従来のコネク
タとしては、ねじ込み方式のものがあるが、ねじ
込み方式では接触プローブ基端にねじ山を形成し
たり、それに螺合するナツトを設けたりしなけれ
ばならず、必然的にコネクタ部分の径が大にな
る。この結果、接触プローブを近接して配置し、
プローブ密度を高くすることは、コネクタ同士が
近接しすぎるため不可能になる。一方、ねじ込み
方式コネクタの操作によつて同軸ケーブルがねじ
れるという問題が生じる。また、ねじ込み方式以
外のコネクタにおいても、従来の構造では径が接
触プローブより大きくなつてしまうので、プロー
ブの装着密度の増大に限度がある。さらにまた、
従来のコネクタは着脱に手間がかかるという問題
もある。

〔考案の目的〕

本考案は、上述の問題に鑑みなされたもので、
その目的は、外径寸法を接触プローブより小さく
することも可能で、同軸ケーブルとほぼ同じ太さ
にすることができ、着脱が容易で、接続の際の接
触が安定している、同軸型接触プローブと同軸ケ
ーブルとの接続装置を提供することにある。

〔考案の概要〕

本考案では、筒状の外部導体の内部に絶縁材を
介して中心導体を配設した同軸型接触プローブの
基端側において、外部導体の基端部を筒状に突出
させ、同様に中心導体の基端部を外部導体基端部
の内側において筒状に突出させ、接続すべき同軸
ケーブルの外側導体である網線を露出させてその
外側の外被の外面に折り返し、折り返された網線
の外周に接続プラグ金具の基端の筒状取付け部を
被せて同軸ケーブル外周面に固定し、接続プラグ
金具の筒状取付け部に続いてその先端側に筒状の
大径プラグを形成し、この大径プラグの外側寸法
を前記外部導体基端部の内側に接触状態ではめ込
まれうる寸法とし、大径プラグの内側には絶縁部
材を介して同心的に小径プラグを固設し、この小
径プラグの外側寸法は前記中心導体の筒状基端部
の内側に接触状態ではめ込まれうる寸法とし、小
径プラグの背後の突出部に同軸ケーブルの芯線の
先端を固定し、前記大径プラグおよび小径プラグ
を外部導体基端部および中心導体基端部に離脱可
能にはめ込むことによつて、回路基板検査装置等
の同軸型接触プローブの同軸ケーブルへの接続装
置が構成される。

〔考案の実施例〕

第１図は回路基板等の検査装置の一実施例を示
すもので、同図において、１は平行に例えば４本
設けられるガイドポストであり、検査装置の四隅
等に固設されている。

ガイドポスト１の上端部には回路基板等の支承
フレーム２が固定されており、これに、検査すべ
きIC回路基板Ｂが支持される。

支承フレーム２の下方には、ガイドポスト１に
より案内されて上下方向に移動する接触プローブ
装着基板としての支持板３が設けられている。こ
の支持板３には同軸型可動接触プローブＰが上下
方向に多数支持されている。各プローブＰは先端
（上端）に接触部を有し、支持板３が支承フレー
ム２上の回路基板Ｂに向かつて上昇すると、各プ
ローブＰの先端が回路基板Ｂの下面の回路パター
ンに電気的に接触して測定検査が行なわれるよう
になつている。なお、支持板３を固定し、支承フ
レーム２を上下動させるようにしてもよい。

支持板３の下方には、支持板３と一緒にガイド
ポスト１に沿つて上下動するコネクタ保持板４が
設けられており、この保持板４に測定器（図示し
ない）へ到る同軸ケーブル５に各プローブＰを電
気的に接続するコネクタ６が保持されている。

支持板３に対する同軸型可動接触プローブＰの
支持の詳細、および接触プローブＰの構造の詳細
は第２図に示す。同図において、１０は同軸型可
動接触プローブＰの中心導体であり、１１はその
外周に同軸的に設けられた筒状の外部導体であ
る。外部導体１１の内面には、電気絶縁材からな
る絶縁筒１２が固定されている。絶縁筒１２はそ
の中心部に中心導体挿入用貫通孔１３を有してお
り、これに中心導体１０が挿入されている。

外部導体１１の外側には外筒１４が一体的には
めてあり、その外周面には突出部１５が形成され
ている。外筒１４は金属等の導体により形成して
もよいし、不導体の合成樹脂などにより形成して
もよい。外筒１４は、その突出部１５が支持板３
の挿通孔１７の内面に圧接された状態で挿通孔１
７内に支持されており、その挿入位置は段部１８
の支持板３への当接により決められる。

外筒１４の先端（上端）部の内側には凹入部１
９が形成されて外部導体１１との間に環状空間が
形成され、この環状空間に、外部導体１１の先端
可動部２０を構成する導体からなる筒体の大径基
部２０ａが摺動自在に挿入されている。先端可動
部２０は、背後からコイルばね２１により外方へ
弾圧され、その脱出は外筒１４の先端の内折りフ
ランジ２２により阻止されている。

中心導体１０は、筒状の主体２４とその先端ピ
ン２５とを有し、先端ピン２４の基部２４ａは主
体２４内に抜け止め状態で挿入され、主体内のコ
イルばね２７によつて先端ピン２４はボール２６
を介して外方へ弾圧されている。コイルばね２７
の奥端は、主体２４の内側へ向かつて変形させた
ビード２８に受け止めされている。主体２４の貫
通孔１３の軸線方向での位置決めは位置決めフラ
ンジ３０によりなされており、このフランジ３０
が絶縁筒１２の先端面に当たるまで中心導体１０
を貫通孔１３内に挿入すると、中心導体１０の位
置決めがなされる。

中心導体１０が貫通孔１３から簡単に抜けない
ようにするために、中心導体１０は貫通孔１３に
摩擦的に挿入する。摩擦力を発生させる手段とし
ては、貫通孔１３を中心導体１０より幾分大き目
にするとともに、中心導体１０の主体２４を若干
湾曲させ、貫通孔１３内への挿入時に直線状に撓
ませるようにすることが考えられる。主体２４の
湾曲加工は、主体素材に予め塑性変形を与えるこ
とにより行なつてもよいし、主体２４に先端ピン
２５を組み込んでから主体に湾曲を与えることに
より行なつてもよい。また、湾曲を与える代り
に、湾曲のない主体２４の内側から外側へ向かつ
て打出し突起を形成し、この突起を幾分弾性のあ
る絶縁筒１２に当接させることにより摩擦保持機
能を与えてもよい。

接触プローブＰの基端部に本考案の要部をなす
コネクタ６（第１図）を接続するために、中心導
体１０の基端１０ａを第２図に示すように開放す
るとともに、外部導体１１の基端に第３図にも示
すように切割り３２を形成して外部導体１１基端
に拡開弾性を与えておく。

コネクタ６による同軸ケーブル５との接続の詳
細は第４図に示す通りである。同軸ケーブル５
は、芯線４０と、網線４１と、それらの間に介在
する絶縁体４２と、外被４３とからなつている。
網線４１の先端部は図示のように外被４３の外側
に折り返され、それにコネクタの接続プラグ金具
４４が取り付けられる。

接続プラグ金具４４は、第５図に示すように、
基端側の筒状取付け部４５と先端側の筒状大径プ
ラグ４６とを備え、それらの境界部の外側に環状
溝４７が形成されている。４９は、切割り４８お
よびフランジ５０を有する小径プラグで、その背
後の突出部５１は、大径プラグ４６の内側にはめ
込まれた環状の絶縁部材５２の中心の孔にはめ込
まれている。この際、フランジ５０は絶縁部材５
２の先端面に当接する。突出部５１は筒状をな
し、孔５３を有している。

以上のような構成をもつ接続プラグ金具４４の
取付け部４５は、同軸ケーブル５の先端部に第４
図に示すように被せられて、５４で示すように絞
りかしめにより同軸ケーブル５に取りつけられ
る。また、同軸ケーブル芯線４０の先端は、突出
部５１の孔５３内に差し込まれて５５で示すよう
にはんだ付けされる。

このように同軸ケーブル５に接続された接続プ
ラグ金具４４は、その大径プラグ４６が外部導体
１１の基端部内にはめ込まれ、かつ小径プラグ４
９が中心導体主体２４の基端部１０ａにはめ込ま
れることにより第４図に示すように接触プローブ
Ｐに電気的に接続される。はめ込みの際、外部導
体１１は切込み３２の存在により弾性的に拡開
し、その先端の内側屈曲部６０は、接続プラグ金
具４４の環状溝４７（第５図）内に係合して不意
の脱出を防ぐ。一方、はめ込みの際、小径プラグ
４９は弾性的に収縮し、接続後は小径プラグ４９
は中心導体主体２４の基端部１０ａの内面に圧接
される。かくして、外部導体１１は大径プラグ４
６および取付け部４５を介して同軸ケーブル５の
網線４１に、また中心導体１０は小径プラグ４９
および突出部５１を介して同軸ケーブル５の芯線
４０にそれぞれ接続される。

接続プラグ金具４４により構成されるコネクタ
６は、第１図に示すようにコネクタ保持板４に取
りつけられ、第２図に示す所定位置にまで接触プ
ローブＰを支持板３の挿通孔１７に挿入すると、
その下方に位置している接続プラグ金具４４に対
し接触プローブＰが接続される。

コネクタ６は図示のような構造のため、接触プ
ローブＰと同じ程度またはそれより小さく、同軸
ケーブル５とほぼ同じ径を有するものにすること
ができ、コネクタ６が接触プローブＰより太くな
ることがないため、接触プローブ装着密度を大き
くすることができる。すなわち、接続プラグ金具
４４の取付け部４５は同軸ケーブル５の外径より
僅かに大きい程度であり、また大径プラグ４６は
接触プローブＰの外部導体１１の内側へはめ込ま
れるからそれより明らかに小さく小径である。よ
つて、接続プラグ金具４４からなるコネクタ６は
最大径部でも同軸ケーブル５より僅かに太い程度
である。そして、このコネクタは、接触プローブ
Ｐの支持板３への装着により自動的に接続され、
接触プローブの引抜きにより自動的に接続が断た
れ、しかも中心導体１０のみの前述のような交換
の際にも小径プラグ４９と中心導体基端部１０ａ
の脱着は自動的かつ確実になされる。

以上のようにして構成された回路基板等の検査
装置は、その接触プローブ支持板３およびコネク
タ保持板４を、支承フレーム２に取り付けられた
回路基板Ｂの回路パターンに向かつて相対的に上
昇させることにより検査を行なうものであり、各
接触プローブＰの中心導体１０および外部導体１
１の先端にある先端ピン２５および先端可動部２
０が回路パターンの所定点に背後のばね２７およ
び２１の力により圧接され、電気的接続状態が得
られる。そして、各接触プローブＰ、コネクタ６
および同軸ケーブル５を経て図示しない測定器に
信号が送られ、測定検査が行なわれる。

この際、接触プローブの中心導体１０と外部導
体１１の間が絶縁体１２により満たされているの
でインピーダンスの変化が生じることがなく、測
定システムから被測定物までのインピーダンスの
乱れもなく信号を送ることができる。

なお、接触プローブＰが細径のものである場合
には、外筒１４を省略し、外部導体１１の一部に
内側から外側に打ち出された突起を形成し、この
突起を支持板３の挿通孔１７の内面に摩擦接触さ
せることにより接触プローブＰの支持板３への装
着を行なつてもよい。

外部導体１１の側はアース側であり、アースは
外部導体１１から図示しない導体を介してとるこ
ともできる。

〔考案の効果〕

以上のように、本考案によれば、同軸型接触プ
ローブと同軸ケーブルの接続装置を可及的に細く
することができ、また、その着脱を瞬時に行なう
ことが可能となり、その接続状態を安定させるこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案を施すことのできる回路基板等
の検査装置の正面図、第２図は第１図の同軸型可
動接触プローブの部分の拡大縦断面図、第３図は
第２図の−線断面図、第４図は第２図に示す
接触プローブの基端部と同軸ケーブルの接続装置
を示す縦断面図、第５図は第４図に示す接続装置
の接続プラグ金具のみの拡大縦断面図である。 ２……回路基板支承フレーム、３……接触プロ
ーブ支持板、４……コネクタ保持板、６，６′…
…コネクタ、５……同軸ケーブル、Ｂ……回路基
板、Ｐ……同軸型可動接触プローブ、１０……中
心導体、１１……外部導体、１２……絶縁筒、１
３……貫通孔、１４……外筒、１９……凹入部、
１７……挿通孔、２０……外部導体先端可動部、
２１……コイルばね、２４……中心導体主体、２
５……先端ピン、４０……芯線、４１……網線、
４３……外被、４４……接続プラグ金具、４５…
…取付け部、４６……大径プラグ、４９……小径
プラグ、５０……突出部、５１……絶縁部材、５
４……絞りかしめ部、５５……はんだ付け部。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 筒状の外部導体の内部に絶縁材を介して中心
   導体を配設した同軸型接触プローブの基端側に
   おいて、外部導体の基端部を筒状に突出させ、
   同様に中心導体の基端部を外部導体基端部の内
   側において筒状に突出させ、接続すべき同軸ケ
   ーブルの外側導体である網線を露出させてその
   外側の外被の外面に折り返し、折り返された網
   線の外周に接続プラグ金具の基端の筒状取付け
   部を被せて同軸ケーブル外周面に固定し、接続
   プラグ金具の筒状取付け部に続いてその先端側
   に筒状の大径プラグを形成し、この大径プラグ
   の外側寸法を前記外部導体基端部の内側に接触
   状態ではめ込まれうる寸法とし、大径プラグの
   内側には絶縁部材を介して同心的に小径プラグ
   を固設し、この小径プラグの外側寸法は前記中
   心導体の筒状基端部の内側に接触状態ではめ込
   まれうる寸法とし、小径プラグの背後の突出部
   に同軸ケーブルの芯線の先端を固定し、前記大
   径プラグおよび小径プラグを外部導体基端部お
   よび中心導体基端部に離脱可能にはめ込んでな
   る、回路基板検査装置等の同軸型接触プローブ
   と同軸ケーブルとの接続装置。 (2) 接触プローブの外部導体基端部に切割りを軸
   線方向に切り込んでなる実用新案登録請求の範
   囲第１項記載の接続装置。 (3) 小径プラグに軸方向の切割りを形成してなる
   実用新案登録請求の範囲第１項記載の接続装
   置。 (4) 接触プローブの外部導体基端部の突出先端縁
   に内側への屈曲部を形成するとともに、接続プ
   ラグ金具の筒状取付け部と大径プラグの境界部
   の外面に環状溝を形成し、この環状溝内に前記
   屈曲部を係脱可能にはめ込んでなる実用新案登
   録請求の範囲第１項、第２項または第３項記載
   の接続装置。