JPH01222488A - 高Tc酸化物超伝導体のパターン化層の形成方法 - Google Patents
高Tc酸化物超伝導体のパターン化層の形成方法Info
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- JPH01222488A JPH01222488A JP63233846A JP23384688A JPH01222488A JP H01222488 A JPH01222488 A JP H01222488A JP 63233846 A JP63233846 A JP 63233846A JP 23384688 A JP23384688 A JP 23384688A JP H01222488 A JPH01222488 A JP H01222488A
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- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
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- Y10S505/725—Process of making or treating high tc, above 30 k, superconducting shaped material, article, or device
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- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、パターン化された高Tc超伝導体層を形成す
る方法に関する0本発明の方法では高T0相の形成の前
にパターン描画が行われ、あらゆる形態のパターンの書
き込みが可能である。
る方法に関する0本発明の方法では高T0相の形成の前
にパターン描画が行われ、あらゆる形態のパターンの書
き込みが可能である。
B、従来技術
高Tc酸化物超伝導体は、J、G、ベドノーツとに、A
、ミューラーによって最初に発見され彼らによってZ、
Phys、 B、 8土、189(1986年)の中で
報告されたタイプの物質である。これらの物質は、典型
的には1以上の希土類元素、アルカリ土類元素、銅並び
に酵素の組み合わせを含み、遷移温度が30によりも大
きい超伝導酸化物である。典型的な高Tc超伝導酸化物
は、La、Sr、Cu、並びに0、あるいはY%Ha、
Cu。
、ミューラーによって最初に発見され彼らによってZ、
Phys、 B、 8土、189(1986年)の中で
報告されたタイプの物質である。これらの物質は、典型
的には1以上の希土類元素、アルカリ土類元素、銅並び
に酵素の組み合わせを含み、遷移温度が30によりも大
きい超伝導酸化物である。典型的な高Tc超伝導酸化物
は、La、Sr、Cu、並びに0、あるいはY%Ha、
Cu。
並びに0の化合物から作られる酸化物である。これらの
物質の1つであるY −B a −C−OB化物超伝導
体は77Kt−越す臨界遷移温度を示した。
物質の1つであるY −B a −C−OB化物超伝導
体は77Kt−越す臨界遷移温度を示した。
この物質の特に好適な単相構造は
YIBa2Cu30yであり、これはよ<rl−2−3
」超伝導相と言われる。
」超伝導相と言われる。
エレクトロニクス産業において、様々な厚みの膜を作る
ことは重要なことである。特に、YBa2cu307−
yの超伝導の薄膜の蒸着はスパッタリング、蒸着、プラ
ズマ・スプレー・コーティングを含む様々な技術によっ
て実現された。高Tc超伝導酸化物の蒸気輸送塗布及び
プラズマスプレー塗布を説明する文献は本出願人による
1987年3月18日に出願の米国特許出願第0275
84号並びに1987年4月28日に出願の米国特許出
願第043523号である。更に、同様に超伝導膜の蒸
着を説明する技術雑誌記事には以下のものがある。
ことは重要なことである。特に、YBa2cu307−
yの超伝導の薄膜の蒸着はスパッタリング、蒸着、プラ
ズマ・スプレー・コーティングを含む様々な技術によっ
て実現された。高Tc超伝導酸化物の蒸気輸送塗布及び
プラズマスプレー塗布を説明する文献は本出願人による
1987年3月18日に出願の米国特許出願第0275
84号並びに1987年4月28日に出願の米国特許出
願第043523号である。更に、同様に超伝導膜の蒸
着を説明する技術雑誌記事には以下のものがある。
1、R,B、レイボーウイツ他、「フィジックス・レビ
ュー」、B、■、8821 (1987年)。
ュー」、B、■、8821 (1987年)。
2、P、チョーダリ他、「フィジックス・レビュー・レ
ターJ、58,2684(1987年)。
ターJ、58,2684(1987年)。
3、J、J、クオモ他、「アメリカン・セラミックス・
ブレティン」に寄稿されたもの。
ブレティン」に寄稿されたもの。
11fli形成分野において、電子装置、内部接続、並
びにパッケージを組み立てなければならない時には薄膜
をパターン化することが必要である。薄膜が高Tc酸化
物超伝導体であ゛る場合には、そのパターン化は容易な
ことではないということが当該技術分野において明らか
になった。−船釣に、高Tc酸化物超伝導体は容易にパ
ターンがつけられないペロブスカイト型類似構造を持つ
セラミック銅物質である。湿式リソグラフィ一方法はセ
ラミック物質に対して様々な影響を及ぼすような化学薬
品を使用するので、超伝導特性の変更につながる。更に
、酸化物高T0超伝導体が多孔性になりがちであり、ま
た化学薬品の使用は塗布されたレジスト・マスクの下に
ある部分をエツチングし、それにより解像度が低くなり
、また、アンダーカッティングが生じる。
びにパッケージを組み立てなければならない時には薄膜
をパターン化することが必要である。薄膜が高Tc酸化
物超伝導体であ゛る場合には、そのパターン化は容易な
ことではないということが当該技術分野において明らか
になった。−船釣に、高Tc酸化物超伝導体は容易にパ
ターンがつけられないペロブスカイト型類似構造を持つ
セラミック銅物質である。湿式リソグラフィ一方法はセ
ラミック物質に対して様々な影響を及ぼすような化学薬
品を使用するので、超伝導特性の変更につながる。更に
、酸化物高T0超伝導体が多孔性になりがちであり、ま
た化学薬品の使用は塗布されたレジスト・マスクの下に
ある部分をエツチングし、それにより解像度が低くなり
、また、アンダーカッティングが生じる。
高Tc超伝導体薄膜の陰画パターンの形成方法は、「ア
プライド・フィジックス・レター」、11.139(1
987年)においてG、C,クラーク他によって説明さ
れた如きイオン注入方法によって行うことができる。こ
の方法は、イオン注入がしきい値線量を越す場合に被照
射領域の超伝導性を破壊させるためにイオンを利用して
いる。超伝導量子干渉デバイス(SQU I D )は
この方法を作製され、「アプライド・フィジックス・レ
ビュー」、i土、200(1987年)の中でRoH,
コツホ他によって説明された。更に、このような5QU
IDとその作製方法は、本出願人により1987年4月
13日に出願された米国特許出願第037912号の中
でも説明されている。しかしながら、イオン注入方法は
、約1から約2マイクロメートルまでの非常に薄い層に
限定されており、また超伝導体の膜から酸素を激減させ
がちな高真空度をも伴う、従って、アニール・ステップ
がイオン注入後に必要となる。このことは、膜の超伝導
特性に影響を及ぼしつる注入イオンの拡散に結びつく可
能性がある。
プライド・フィジックス・レター」、11.139(1
987年)においてG、C,クラーク他によって説明さ
れた如きイオン注入方法によって行うことができる。こ
の方法は、イオン注入がしきい値線量を越す場合に被照
射領域の超伝導性を破壊させるためにイオンを利用して
いる。超伝導量子干渉デバイス(SQU I D )は
この方法を作製され、「アプライド・フィジックス・レ
ビュー」、i土、200(1987年)の中でRoH,
コツホ他によって説明された。更に、このような5QU
IDとその作製方法は、本出願人により1987年4月
13日に出願された米国特許出願第037912号の中
でも説明されている。しかしながら、イオン注入方法は
、約1から約2マイクロメートルまでの非常に薄い層に
限定されており、また超伝導体の膜から酸素を激減させ
がちな高真空度をも伴う、従って、アニール・ステップ
がイオン注入後に必要となる。このことは、膜の超伝導
特性に影響を及ぼしつる注入イオンの拡散に結びつく可
能性がある。
高Tc超伝導体層のパターン化の別のアプローチは、膜
に接触しているか又は投影による適当なマスクを利用す
るレーザを用いた除去方法である。
に接触しているか又は投影による適当なマスクを利用す
るレーザを用いた除去方法である。
この種の方法は「アプライド・フィジックス・レター」
に寄稿された記事の中でM、シュア−マン他によっても
説明されている。この方法では、パターン化は紫外波長
のエキシマレーザを用いた直接除去によって膜の不要部
分を除去している。この従来技術は、マスクの形成が必
要であり且つプロセス自体が何らかの方法で除去しなけ
ればならない異物を作り出すという欠点がある。−〇0
発明が解決しようとする問題点 高T0超伝導体の層のパターン化をより行い易くするた
めに、本発明は超伝導体薄膜の形成より前のステップに
おいてパターン化を行う0本発明はマスクの利用を必要
とせず、任意の形状のバターニングを実現するためにエ
ネルギー線を用いた直接描画を可能にしている。
に寄稿された記事の中でM、シュア−マン他によっても
説明されている。この方法では、パターン化は紫外波長
のエキシマレーザを用いた直接除去によって膜の不要部
分を除去している。この従来技術は、マスクの形成が必
要であり且つプロセス自体が何らかの方法で除去しなけ
ればならない異物を作り出すという欠点がある。−〇0
発明が解決しようとする問題点 高T0超伝導体の層のパターン化をより行い易くするた
めに、本発明は超伝導体薄膜の形成より前のステップに
おいてパターン化を行う0本発明はマスクの利用を必要
とせず、任意の形状のバターニングを実現するためにエ
ネルギー線を用いた直接描画を可能にしている。
従って、本発明の目的は高Tc超伝導体層のパターンを
作るための改良技術を提供することである。
作るための改良技術を提供することである。
本発明の目的は、高Tc超伝導体層にパターンをつける
ための、層が超伝導状態になった後でパターンをつける
ことを必要としない方法を提供することである。
ための、層が超伝導状態になった後でパターンをつける
ことを必要としない方法を提供することである。
本発明の目的は、所望のパターンを形成するためにエネ
ルギー線を用いた直接描画を行うことができる方法を提
供することである。
ルギー線を用いた直接描画を行うことができる方法を提
供することである。
高Tc超伝導体層のパターンを作るための方法を提供す
ることが本発明の目的であり、本発明の方法は超伝導物
質の物理的あるいは化学的性質によって制約されない。
ることが本発明の目的であり、本発明の方法は超伝導物
質の物理的あるいは化学的性質によって制約されない。
D9問題点を解決するための手段
本発明は、高To超伝導体のパターン化した層を形成す
る方法である0本発明は超伝導物質の層を作り、その後
にこの層にパターンをつけるのではなく、本発明は前駆
物質が高Tc超伝導体層態に変換される前に前駆物質層
にパターンをつける。
る方法である0本発明は超伝導物質の層を作り、その後
にこの層にパターンをつけるのではなく、本発明は前駆
物質が高Tc超伝導体層態に変換される前に前駆物質層
にパターンをつける。
このような方法により、酸化物超伝導体にパターンをつ
けようとした場合の上述した不利を除いている。
けようとした場合の上述した不利を除いている。
概略的に述べると、本発明の方法は形成しようとする超
伝導体膜な構成する各成分を化学量論的に適切な割合で
含む溶液を調整するステップ、吹付けの如き技術を用い
たこの溶液の基板上への塗布ステップ、及び被照射部分
を酸化物状態のような中間物状態(超伝導体には至って
いない中間物の状態)に転換するための前記溶液から成
る塗布層(被覆層)の選択部分への(レーザビームのよ
うな)エネルギー線の照射ステップを含む、この酸化物
状態は非超伝導性であるが、エネルギー線ムによって照
射されなかった被覆層の部分とは物理的・化学的性質が
異なる0次のステップは、非照射部分を適当な溶剤に溶
かすことによって除去するという点で「現像」ステップ
に類似している。
伝導体膜な構成する各成分を化学量論的に適切な割合で
含む溶液を調整するステップ、吹付けの如き技術を用い
たこの溶液の基板上への塗布ステップ、及び被照射部分
を酸化物状態のような中間物状態(超伝導体には至って
いない中間物の状態)に転換するための前記溶液から成
る塗布層(被覆層)の選択部分への(レーザビームのよ
うな)エネルギー線の照射ステップを含む、この酸化物
状態は非超伝導性であるが、エネルギー線ムによって照
射されなかった被覆層の部分とは物理的・化学的性質が
異なる0次のステップは、非照射部分を適当な溶剤に溶
かすことによって除去するという点で「現像」ステップ
に類似している。
照射された被覆層の部分はこのステップにおいてはその
ままである。この後、残存した酸化物部分は酸素のある
環境でのアニール処理によって超伝導性に変換される。
ままである。この後、残存した酸化物部分は酸素のある
環境でのアニール処理によって超伝導性に変換される。
一実施例において、最終的な超伝導膜に存在することに
なる成分の硝酸塩を用いる。これらの硝酸塩は適当な化
学量論的な割合に混合され、これらの硝酸塩の溶液が作
られる。この溶液は、好ましくは少し高い温度に保った
基板に吹きつけられる。吹きつけられた基板から溶剤が
蒸発した後、非照射部分を硝酸塩の状態のままにし、吹
きつけられた層の照射部分を熱により中間の酸化物状態
に変えるためにレーザビームを用いる。レーザビームに
よる描画が完了した後、層の非照射硝酸塩部分は適当な
アルコール系溶剤に溶かして除去する。
なる成分の硝酸塩を用いる。これらの硝酸塩は適当な化
学量論的な割合に混合され、これらの硝酸塩の溶液が作
られる。この溶液は、好ましくは少し高い温度に保った
基板に吹きつけられる。吹きつけられた基板から溶剤が
蒸発した後、非照射部分を硝酸塩の状態のままにし、吹
きつけられた層の照射部分を熱により中間の酸化物状態
に変えるためにレーザビームを用いる。レーザビームに
よる描画が完了した後、層の非照射硝酸塩部分は適当な
アルコール系溶剤に溶かして除去する。
残存した酸化膜はその後、酸素のある環境において適当
な温度でアニール処理され、高Tc超伝導体層態を完成
させるために冷却される。
な温度でアニール処理され、高Tc超伝導体層態を完成
させるために冷却される。
後述するように、いかなる基板も利用できる。
また、エネルギー線を用いて熱的にあるいは光化学的に
非照射部分を所望の中間的な酸化物状態に変えることに
よってパターン描画プロセスを実現することができる。
非照射部分を所望の中間的な酸化物状態に変えることに
よってパターン描画プロセスを実現することができる。
更に、前駆物質は硝酸塩以外のもの、例えば酢酸塩のよ
うなものであってもよい。銅を主体とする何れの高Tc
酸化物超伝導体も、パターンをつけた層として本発明に
より提供することができる。
うなものであってもよい。銅を主体とする何れの高Tc
酸化物超伝導体も、パターンをつけた層として本発明に
より提供することができる。
E、実施例
本発明の一般的な手順は、最終的な高Tc超伝導体層に
存在することになる各成分を化学量論的に適当な割合で
含む溶液の調整、高Tc超伝導体層が形成されることに
なる基板への吹付は又はスピンコードによる溶液の塗布
、被゛照射部分を中間物である酸化物状態に変えるため
の前記層のパターン化された部分へのエネルギー線の照
射、非照射部分の除去、並びに残存酸化物部分の高Tc
超伝導体層態への変換を含む。
存在することになる各成分を化学量論的に適当な割合で
含む溶液の調整、高Tc超伝導体層が形成されることに
なる基板への吹付は又はスピンコードによる溶液の塗布
、被゛照射部分を中間物である酸化物状態に変えるため
の前記層のパターン化された部分へのエネルギー線の照
射、非照射部分の除去、並びに残存酸化物部分の高Tc
超伝導体層態への変換を含む。
第1図において、微細空気吹付は又は超音波噴霧器を用
いた吹付けによって層10が基板12に塗布される。溶
液の吹付けは、エアブラシ16から発散する溶液の線1
4によって示される。溶液の別の例が後でより詳細に説
明されるが、最終的にYBa2Cu3O7−x超伝導膜
を提供するための溶液の代表例は、Y、Ba、Cuの硝
酸塩前駆物質をY:Ba:Cu=1:2:3の化学量論
的比率で含む水溶液である。この溶液は基板12に塗布
され、基板12は好ましくは約180から約200℃の
温度に加熱される。吹きつけられた層/基板の結合体は
、水平x −y移動台の上の加熱板(約180から約2
00℃)の上に置かれる。
いた吹付けによって層10が基板12に塗布される。溶
液の吹付けは、エアブラシ16から発散する溶液の線1
4によって示される。溶液の別の例が後でより詳細に説
明されるが、最終的にYBa2Cu3O7−x超伝導膜
を提供するための溶液の代表例は、Y、Ba、Cuの硝
酸塩前駆物質をY:Ba:Cu=1:2:3の化学量論
的比率で含む水溶液である。この溶液は基板12に塗布
され、基板12は好ましくは約180から約200℃の
温度に加熱される。吹きつけられた層/基板の結合体は
、水平x −y移動台の上の加熱板(約180から約2
00℃)の上に置かれる。
第2図は、エネルギー線18が被吹付層10の選択部分
(照射部分)20を照射するビーム描画ステップを示し
ている0代表的エネルギー線は、Ar+イオンレーザ2
2によって作られる0例えば514.5nmの波長のレ
ーザビームである。
(照射部分)20を照射するビーム描画ステップを示し
ている0代表的エネルギー線は、Ar+イオンレーザ2
2によって作られる0例えば514.5nmの波長のレ
ーザビームである。
上記レーザビームは約300mWの典型的エネルギーを
持ち、適当な光学素子によって層10上に焦点を合わさ
れる0層/基板の結合体はx −y平面上で走査され希
望するパターンを描画される。
持ち、適当な光学素子によって層10上に焦点を合わさ
れる0層/基板の結合体はx −y平面上で走査され希
望するパターンを描画される。
エネルギー線は、パターン化されて限定された被照射部
分を硝酸塩主体の構成から中間物である酸化物主体の構
成に変える。この酸化物は、この状態では非超伝導性で
ある。
分を硝酸塩主体の構成から中間物である酸化物主体の構
成に変える。この酸化物は、この状態では非超伝導性で
ある。
エキシマレーザによって、もしくはアルゴンイオンレー
ザ、He −Cdレーザ等によって作られる紫外線範囲
の波長のエネルギー線は光化学的作用により硝酸塩の酸
化物への転換をもたらし、−方400nmを越す波長の
エネルギー線は熱的作用によって硝酸塩の酸化物への転
換をもたらす。
ザ、He −Cdレーザ等によって作られる紫外線範囲
の波長のエネルギー線は光化学的作用により硝酸塩の酸
化物への転換をもたらし、−方400nmを越す波長の
エネルギー線は熱的作用によって硝酸塩の酸化物への転
換をもたらす。
吹きつけられた硝酸塩層への514.5nmの波長の吸
収は極めて弱いものである。しかしながら、このことは
、−旦黒色の酸化物質が作られれば、可視レーザ光線の
強力な吸収を示し、約1cm/Sの速度での迅速な描画
プロセスの継続を可能にする。紫外線範囲のエキシマ波
長は硝酸塩によって被吹付層に良く吸収され、また酸化
物への迅速な転換のために利用できる。
収は極めて弱いものである。しかしながら、このことは
、−旦黒色の酸化物質が作られれば、可視レーザ光線の
強力な吸収を示し、約1cm/Sの速度での迅速な描画
プロセスの継続を可能にする。紫外線範囲のエキシマ波
長は硝酸塩によって被吹付層に良く吸収され、また酸化
物への迅速な転換のために利用できる。
基板が約180から約200℃のような少し高い温度に
保たれる場合、層の基板への密着性は高められる。また
、高い基板温度は、−旦スプレーミストが基板に当たれ
ば溶液溶剤の速やかな蒸発を可能にすることとなる。更
に、描画プロセスの間に基板が高い温度に保たれる場合
、硝酸塩の分解及び中間物である酸化物状態への転換の
ために必要となるビームエネルギーが減少する。しかし
ながら、本発明の方法は室温でも有効に作用する。
保たれる場合、層の基板への密着性は高められる。また
、高い基板温度は、−旦スプレーミストが基板に当たれ
ば溶液溶剤の速やかな蒸発を可能にすることとなる。更
に、描画プロセスの間に基板が高い温度に保たれる場合
、硝酸塩の分解及び中間物である酸化物状態への転換の
ために必要となるビームエネルギーが減少する。しかし
ながら、本発明の方法は室温でも有効に作用する。
硝酸塩層の場合においては、基板温度が200℃を越す
と吹きつけられた層全体が中間物である酸化物状態に転
換しやすくなるので好ましくない。
と吹きつけられた層全体が中間物である酸化物状態に転
換しやすくなるので好ましくない。
第3図は、吹きつけられた層の非照射部分が超音波洗浄
器を用いてエタノールあるいはメタノールの如きアルコ
ール溶液に溶かして除去された状態を示している。この
ステップは、中間物である酸化物部分20を残す。−船
釣に水は非照射硝酸塩を除去するだけ賛なく、BaOを
被照射部分から除去し、それによって超伝導層を提供す
るのに必要となる各成分の化学量論的比率に影響を及ぼ
すので、この実施例については用いられない、照射及び
現像の後、領域20は伝導性というより高度の絶縁性に
なる。
器を用いてエタノールあるいはメタノールの如きアルコ
ール溶液に溶かして除去された状態を示している。この
ステップは、中間物である酸化物部分20を残す。−船
釣に水は非照射硝酸塩を除去するだけ賛なく、BaOを
被照射部分から除去し、それによって超伝導層を提供す
るのに必要となる各成分の化学量論的比率に影響を及ぼ
すので、この実施例については用いられない、照射及び
現像の後、領域20は伝導性というより高度の絶縁性に
なる。
第4図において、パターン化された層20と基板12と
の結合体はヘリウムを流している(約1リツトル/分)
加熱炉24(約925から約950℃)中に入れられる
。ヘリウムの流れは後に、酸素の流れ(約1リツトル/
分)によって置き換えられ、加熱炉24は密閉される。
の結合体はヘリウムを流している(約1リツトル/分)
加熱炉24(約925から約950℃)中に入れられる
。ヘリウムの流れは後に、酸素の流れ(約1リツトル/
分)によって置き換えられ、加熱炉24は密閉される。
冷却が約200℃まで2.3時間の間隔に亘って継続さ
れ、試料が加熱炉から取り除かれる。この状態において
、高Tc超伝導体のために必要な各成分の化学量論的比
率が確立されており、超伝導体の線のパターン20が基
板12に形成される。
れ、試料が加熱炉から取り除かれる。この状態において
、高Tc超伝導体のために必要な各成分の化学量論的比
率が確立されており、超伝導体の線のパターン20が基
板12に形成される。
このプロセスにおいて、前駆物質の層が前述の「現像」
ステップを利用できるように層の性質を選択的に変える
ために利用された。この後、層の残存部分は超伝導体状
態に変えられた。このように、本発明のパターン化方法
は、この種の超伝導体をパターン化しようとする際の遭
遇する困難を除去するために、超伝導体状態の形成の前
にパターン化を行う、更に本発明によれば、広い範囲の
塗布を迅速且つ最小の費用で実現できる。これらの塗布
は広い範囲の厚さに亘って提供することができ、またパ
ターンをつけた綿の最終的な分解能は被照射部分のスポ
ットサイズに依存する。パターンをつけた線の電流容量
は用いられる特定のア二一ル処理、及び磁束渦に対する
ピンニング・サイトの形成のために溶液中へ意図的に混
ぜられる不純物に影響される。また、層が基板表面に垂
直なC軸に沿って基板上でエピタキシャル成長をした場
合、より高い臨界電流密度が実現されることとなる。
ステップを利用できるように層の性質を選択的に変える
ために利用された。この後、層の残存部分は超伝導体状
態に変えられた。このように、本発明のパターン化方法
は、この種の超伝導体をパターン化しようとする際の遭
遇する困難を除去するために、超伝導体状態の形成の前
にパターン化を行う、更に本発明によれば、広い範囲の
塗布を迅速且つ最小の費用で実現できる。これらの塗布
は広い範囲の厚さに亘って提供することができ、またパ
ターンをつけた綿の最終的な分解能は被照射部分のスポ
ットサイズに依存する。パターンをつけた線の電流容量
は用いられる特定のア二一ル処理、及び磁束渦に対する
ピンニング・サイトの形成のために溶液中へ意図的に混
ぜられる不純物に影響される。また、層が基板表面に垂
直なC軸に沿って基板上でエピタキシャル成長をした場
合、より高い臨界電流密度が実現されることとなる。
YBa2Cu3O7−x超伝導体層に対して、最適な基
板はイツトリア安定化酸化ジルコニアであるが、他のい
かなるタイプの基板も利用できる。他の基板の例は、5
rTIO3、MgO,サファイア等を含む。
板はイツトリア安定化酸化ジルコニアであるが、他のい
かなるタイプの基板も利用できる。他の基板の例は、5
rTIO3、MgO,サファイア等を含む。
エネルギー線18としてはし−ザビームが好ましいが、
電子ビームあるいはイオンビームも利用できる。紫外線
の範囲にあるレーザ波長については、中間物である酸化
物への転換は光化学的効果によって生じつるが、一方そ
の他の波長については熱的効果が用いられる。これらの
ビームで分解された層は酸化物の混合体、即ち中間物相
でありうる。
電子ビームあるいはイオンビームも利用できる。紫外線
の範囲にあるレーザ波長については、中間物である酸化
物への転換は光化学的効果によって生じつるが、一方そ
の他の波長については熱的効果が用いられる。これらの
ビームで分解された層は酸化物の混合体、即ち中間物相
でありうる。
本発明の方法は全ての酸化銅を主成分とする高Tc超伝
導体のパターン化した層を形成するのに利用できる。前
駆物質溶液は硝酸塩溶液として例示されているが、酢酸
塩、アセチルアセトン溶液、もしくはアルコキシド溶液
その他を含む別の種類の溶液でもよい、前駆物質である
硝酸塩溶液を用いることは、超伝導体層に含まれること
になる各成分の比率を、より良く制御する上で有利であ
る。
導体のパターン化した層を形成するのに利用できる。前
駆物質溶液は硝酸塩溶液として例示されているが、酢酸
塩、アセチルアセトン溶液、もしくはアルコキシド溶液
その他を含む別の種類の溶液でもよい、前駆物質である
硝酸塩溶液を用いることは、超伝導体層に含まれること
になる各成分の比率を、より良く制御する上で有利であ
る。
その他の例は、比較的低い温度で分解するこれらの化合
物のアルコキシド及び又はせつけん(例えばネオデカノ
エイト、ナフテン酸等)である、前駆物質を注意深く選
択することによって、分解温度とアニール温度をかなり
低くして分解熱に対して敏感な基板も利用できるように
することが可能である。
物のアルコキシド及び又はせつけん(例えばネオデカノ
エイト、ナフテン酸等)である、前駆物質を注意深く選
択することによって、分解温度とアニール温度をかなり
低くして分解熱に対して敏感な基板も利用できるように
することが可能である。
言及したように、炭酸ガスレーザ、アルブンイオンレー
ザ、及びHa −Cdレーザを含む別の幾つかの種々の
レーザを利用できる。連続波レーザ及びパルスレーザの
いずれも用いることができる。
ザ、及びHa −Cdレーザを含む別の幾つかの種々の
レーザを利用できる。連続波レーザ及びパルスレーザの
いずれも用いることができる。
典型的には、514nmで2.3百mWの出力が約lX
105から約5 X 10 ’W/ c m2を提供す
るために用いられる。レーザ出力が高すぎれば、転換さ
れた酸化物層のBaの化学量論的比率は損なわれ、YB
aCu酸化物の層における超伝導体・状態を実現するこ
とを困難にする。レーザ出力の上限値は、少量のL a
−B a −Cu −0及びLa−5r−Cu−0構
成のような他の種類の酸化銅超伝導層によって変動する
。゛ 均一な厚さの層を作るためにはスラリーよりも最初の状
態の溶液をそのまま利用することが望ましい、更に、ス
ラリーは容易に溶解できないので、容易に現像できない
。
105から約5 X 10 ’W/ c m2を提供す
るために用いられる。レーザ出力が高すぎれば、転換さ
れた酸化物層のBaの化学量論的比率は損なわれ、YB
aCu酸化物の層における超伝導体・状態を実現するこ
とを困難にする。レーザ出力の上限値は、少量のL a
−B a −Cu −0及びLa−5r−Cu−0構
成のような他の種類の酸化銅超伝導層によって変動する
。゛ 均一な厚さの層を作るためにはスラリーよりも最初の状
態の溶液をそのまま利用することが望ましい、更に、ス
ラリーは容易に溶解できないので、容易に現像できない
。
以下の例は、本発明によるパターン化された高Tc超伝
導体層の形成の具体例である。
導体層の形成の具体例である。
例1:
本例では、簡単な吹付は蒸着方法を前駆物質溶液を基板
上に形成するために用いた。最終目標は、(100)単
結晶Mg0,9%のY2O3を加えたZr02(イツト
リア安定化酸化ジルコニア、即ちYSZ )及び5rT
IO3上へのパターン°化したYBa2Cu3O7−x
の高Tc超伝導体層の形成である。
上に形成するために用いた。最終目標は、(100)単
結晶Mg0,9%のY2O3を加えたZr02(イツト
リア安定化酸化ジルコニア、即ちYSZ )及び5rT
IO3上へのパターン°化したYBa2Cu3O7−x
の高Tc超伝導体層の形成である。
最初のステップにおいて、Y、Ba、Cuの混合された
硝酸塩粉末がY:Ba:Cu=1:2:3の比率が達成
きれるようにY2O3、BaCO3、及びCuOの化学
量論的な量を硝酸と混合することによって作り、その後
轄燥させ余分な酸を除く。
硝酸塩粉末がY:Ba:Cu=1:2:3の比率が達成
きれるようにY2O3、BaCO3、及びCuOの化学
量論的な量を硝酸と混合することによって作り、その後
轄燥させ余分な酸を除く。
このプロセスは、硝酸塩前駆物質を直接利用するよりも
、硝酸塩の未知の水分による化学量論における不確かさ
を避けることができ°る。それから前記硝酸塩前駆物質
に水を加えて混合硝酸塩の約1から約2wt%の希薄溶
液を作る。この溶液を、精密エアブラシを用いて窒素を
キャリヤーガスとして、選択した基板に吹きつける。基
板は、−旦スプレーミストが基板に当たれば溶剤の速や
かな蒸着を可能にするために約180から約250℃の
高い温度に保たれる。溶液への25%までのエタノール
の添加によって、低温での蒸着が可能になる。この例に
おける蒸着された硝酸塩層は典型的には、約6から約8
マイクロメートルの厚さである。
、硝酸塩の未知の水分による化学量論における不確かさ
を避けることができ°る。それから前記硝酸塩前駆物質
に水を加えて混合硝酸塩の約1から約2wt%の希薄溶
液を作る。この溶液を、精密エアブラシを用いて窒素を
キャリヤーガスとして、選択した基板に吹きつける。基
板は、−旦スプレーミストが基板に当たれば溶剤の速や
かな蒸着を可能にするために約180から約250℃の
高い温度に保たれる。溶液への25%までのエタノール
の添加によって、低温での蒸着が可能になる。この例に
おける蒸着された硝酸塩層は典型的には、約6から約8
マイクロメートルの厚さである。
蒸着された層のX線回折パターンは、硝酸バリウムBa
(NO3)2、並びに塩基性硝酸銅Cu2(OH)aN
Oaに起因する大きなピークを示している。硝酸イツト
リウムの回折ピークは観察されなかったけれども、この
物質は恐らくアモルファス相として存在した。塩基性硝
酸銅は、加熱した基板に吹きつけられている間の硝酸塩
の部分的な分解のために形成される。
(NO3)2、並びに塩基性硝酸銅Cu2(OH)aN
Oaに起因する大きなピークを示している。硝酸イツト
リウムの回折ピークは観察されなかったけれども、この
物質は恐らくアモルファス相として存在した。塩基性硝
酸銅は、加熱した基板に吹きつけられている間の硝酸塩
の部分的な分解のために形成される。
硝酸塩を、514.5層mのレーザ波長を照射すること
によって酸化物に分解した。この描画ステップは、層/
基板の結合体を約180から約200℃に保っている間
に行った。レーザビームのスポットサイズは約5から約
10ミクロンであり、出力は典型的には300mWであ
った0層にこのエネルギー線を用いて希望するパターン
を描くためにx −y平面において走査した。
によって酸化物に分解した。この描画ステップは、層/
基板の結合体を約180から約200℃に保っている間
に行った。レーザビームのスポットサイズは約5から約
10ミクロンであり、出力は典型的には300mWであ
った0層にこのエネルギー線を用いて希望するパターン
を描くためにx −y平面において走査した。
希望するパターンを描いた後、奔照射硝酸塩領域を超音
波洗浄器を用いてエタノールあるいはメタノール′のよ
うなアルコール溶液に溶かして除去した。この目的上適
当な溶剤は、イソプロパツールの他に、直鎖状及び分枝
鎖状アルコールを含む。
波洗浄器を用いてエタノールあるいはメタノール′のよ
うなアルコール溶液に溶かして除去した。この目的上適
当な溶剤は、イソプロパツールの他に、直鎖状及び分枝
鎖状アルコールを含む。
水は現像ステップのためには利用しなかった。
基板上に残された酸化物の線を検査したところ、超伝導
性というより寧ろ高度な絶縁性であることが分かった。
性というより寧ろ高度な絶縁性であることが分かった。
パターン化した酸化物層を、ヘリウムの流れの中で5か
ら10分間、925から950℃の加熱炉に入れ、その
後ヘリウムの流れを1リットル/分の酸素の流れに取り
替え、加熱炉を密閉した。加熱した環境で酸素へさらし
たのは、約1分間であった。その後、2から3時間冷却
して200℃まで温度を下げ、それから試料を炉から取
り出し、超伝導性について検査した。
ら10分間、925から950℃の加熱炉に入れ、その
後ヘリウムの流れを1リットル/分の酸素の流れに取り
替え、加熱炉を密閉した。加熱した環境で酸素へさらし
たのは、約1分間であった。その後、2から3時間冷却
して200℃まで温度を下げ、それから試料を炉から取
り出し、超伝導性について検査した。
82にの開始温度を持つ超伝導酸化物でMgO上に線を
描いた。完全な、即ちゼロ電気固有抵抗収態は、レーザ
描画した後の超伝導体線よりもパターン化前の一様層に
ついて、より高い温度で発生した。これは、恐らくレー
ザ描画線の照射中の基板への反応が大きいこと、及び現
像プロセス中でレーザ描画線の1以上の成分が除去した
可能性によるものである。他の理由は、最適ではなかっ
たアニール条件の使用でありうる。イツトリア安定化ジ
ルコニア基板は、より高い温度のゼロ抵抗状態を持つ層
を提供できることが分かった0例えば、87にでのゼロ
抵抗状態をYSZ基板に形成した超伝導層について測定
した。YSZ基板に書かれた他の線は、92にの開始温
度、並びに85にでの超伝導遷移の完了を示した。
描いた。完全な、即ちゼロ電気固有抵抗収態は、レーザ
描画した後の超伝導体線よりもパターン化前の一様層に
ついて、より高い温度で発生した。これは、恐らくレー
ザ描画線の照射中の基板への反応が大きいこと、及び現
像プロセス中でレーザ描画線の1以上の成分が除去した
可能性によるものである。他の理由は、最適ではなかっ
たアニール条件の使用でありうる。イツトリア安定化ジ
ルコニア基板は、より高い温度のゼロ抵抗状態を持つ層
を提供できることが分かった0例えば、87にでのゼロ
抵抗状態をYSZ基板に形成した超伝導層について測定
した。YSZ基板に書かれた他の線は、92にの開始温
度、並びに85にでの超伝導遷移の完了を示した。
例2:
この例においては、例1と同様の基板を用いた。
YBa20u3o7−X超伝導体層のパターンを前駆物
質溶液として酢酸塩を用いて形成した。Y2O2、・B
aC0a、及びCuOの粉末の化学量論的な量を酢酸と
混合し、余分な酸を除去するために乾燥した。混合した
酢酸塩の1から2wt%の希薄溶液を水あるいは水とエ
タノールとの混合液を添加して作った。この溶液を基板
(MgO。
質溶液として酢酸塩を用いて形成した。Y2O2、・B
aC0a、及びCuOの粉末の化学量論的な量を酢酸と
混合し、余分な酸を除去するために乾燥した。混合した
酢酸塩の1から2wt%の希薄溶液を水あるいは水とエ
タノールとの混合液を添加して作った。この溶液を基板
(MgO。
5rT1.03、ysz、サファイア)に吹きつけた。
残りのステップは例1と同様である。
前駆物質溶液を幾分変えることによって通常は必要とさ
れるアニール・ステップを行わずに超伝導状態を示す適
当な化学量論的成分比率の酸化物に直接転換することが
できるかもしれない、ビーム描画ステップ中に酸素を流
すことにより、被照射領域が照射ステップ後に超伝導性
になるように充分な量の酸素を提供することができる。
れるアニール・ステップを行わずに超伝導状態を示す適
当な化学量論的成分比率の酸化物に直接転換することが
できるかもしれない、ビーム描画ステップ中に酸素を流
すことにより、被照射領域が照射ステップ後に超伝導性
になるように充分な量の酸素を提供することができる。
こうして、エネルギー線描画後の現像によってパターン
化を実現することを可能にし、また低温プロセスでパタ
ーン化された高Tc超伝導酸化層を達成できることにな
る。高温のアニールを除くことによって、パターン化さ
れた超伝導体層の形成を低温の形成温度が望ましい他の
プロセスと一層良く調和させることができる。
化を実現することを可能にし、また低温プロセスでパタ
ーン化された高Tc超伝導酸化層を達成できることにな
る。高温のアニールを除くことによって、パターン化さ
れた超伝導体層の形成を低温の形成温度が望ましい他の
プロセスと一層良く調和させることができる。
本発明によれば、被照射領域とは物理的及び化学的性質
の異なる領域を層−の中に形成するためにエネルギー線
によって層が照射され、それによって、高Tc超伝導酸
化層に転換しう、る物質を残すための2つの領域を区別
する除去ステップが可能になる0本発明では、吹付けの
利用はその容易さ及び低コストの点で好ましいが、他の
技術も利用できる。
の異なる領域を層−の中に形成するためにエネルギー線
によって層が照射され、それによって、高Tc超伝導酸
化層に転換しう、る物質を残すための2つの領域を区別
する除去ステップが可能になる0本発明では、吹付けの
利用はその容易さ及び低コストの点で好ましいが、他の
技術も利用できる。
第1図乃至第4図は夫々、本発明に係る高TC酸化物超
伝導体のパターン化された層を形成する方法の一実施例
の互いに異なる工程を示す断面図である。 10・・・被覆層、12・・・基板、 14・・・溶液線、16・・・溶液吹付は器、18・・
・エネルギー線、20・・・照射部分、22・・・エネ
ルギー線発振器、 24・・・加熱炉 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁護士 山 本 仁 朗(外1名)
伝導体のパターン化された層を形成する方法の一実施例
の互いに異なる工程を示す断面図である。 10・・・被覆層、12・・・基板、 14・・・溶液線、16・・・溶液吹付は器、18・・
・エネルギー線、20・・・照射部分、22・・・エネ
ルギー線発振器、 24・・・加熱炉 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁護士 山 本 仁 朗(外1名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 高Tc酸化物超伝導体のパターン化された層を形成す
る方法であつて、 前記高Tc酸化物超伝導体の各成分を化学量論的割合で
含む溶液を調整し、 高Tc酸化物超伝導体のパターン化された層を形成しよ
うとする基板上に前記溶液を被覆して被覆層を形成し、 前記被覆層のパターン化された領域にエネルギー線を照
射して照射領域を非超伝導体状態の酸化物に変換させ、 前記被覆層の非照射領域を前記基板上から除去して前記
非超伝導体状態の酸化物を前記基板上に残在させ、 残在させた前記非超伝導体状態の酸化物を高Tc酸化物
超伝導体に変換する、 高Tc酸化物超伝導体のパターン化層の形成方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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US121982 | 1987-11-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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JPH0682869B2 JPH0682869B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=22399870
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP (1) | JPH0682869B2 (ja) |
CA (1) | CA1335438C (ja) |
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Cited By (1)
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- 1987-11-18 US US07/121,982 patent/US4997809A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-08-19 CA CA000575255A patent/CA1335438C/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-01 DE DE3853263T patent/DE3853263T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-01 EP EP88810600A patent/EP0317495B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-09-20 JP JP63233846A patent/JPH0682869B2/ja not_active Expired - Fee Related
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CA1335438C (en) | 1995-05-02 |
DE3853263T2 (de) | 1995-09-14 |
EP0317495A3 (en) | 1990-11-28 |
EP0317495A2 (en) | 1989-05-24 |
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