JPH0121593Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はIC試験装置のマガジンエスケープ
機構に関し、特に設置床面積を狭くすることがで
きるIC試験装置を構成した場合に必要となるマ
ガジンエスケープ機構を提供しようとするもので
ある。

〈考案の背景〉 IC試験装置は大別してICの電気的な機能を試
験する電気試験手段と、ICをこの電気試験手段
との接続部に順次自動的に供給するハンドラとに
より構成される。

この考案は特にハンドラの改良に関するもので
あり、その目的とするところは取扱が容易である
こと及び小形化を達することができる構造とした
場合に必要となるマガジンエスケープ機構を提案
するものである。

〈従来の説明〉 第１図及び第２図に従来のIC試験装置におけ
るハンドラの概要を示す。従来のハンドラにおい
ては傾斜して支持された基板１０１が設けられ、
この基板１０１に横行自在に移動台１０２が支持
される。この移動台１０２は基板１０１に対して
取外しできる構造とされ、取外した状態でICを
収納した複数のマガジン１０３を装着し、マガジ
ン１０３を装着した状態で移動台１０２を基板１
０１に取付ける。

移動台１０２の下側、つまりマガジン１０３の
下端と対向する位置に各マガジン１０３の下端を
閉塞状態に保持するシヤツタ機構が設けられ、こ
のシヤツタ機構によりマガジン１０３に収納した
ICが落下しないようにしている。つまりマガジ
ン１０３は第３図に示すような断面形状を持つ筒
状体によつて構成され、この筒状体によりICが
一列に整列され、またパツケージの前後関係を方
向付けして収納される。マガジン１０３はICを
収納した状態において取扱が容易にできるように
一端が閉塞される。このため移動台１０２に装着
する場合マガジン１０３はその閉塞端が上向とな
るように移動台１０２に装着される。従つて移動
台１０２の下側にシヤツタ機構を設け、このシヤ
ツタ機構によりICの落下を阻止するようにして
いる。

一方移動台１０２の下側に電気試験手段（特に
図示しない）との接続部１０４が設けられる。こ
の接続部１０４には接点駆動機構が設けられ、
ICが供給される毎に接点駆動機構が駆動されて
ICの端子ピンに接点を接触させ、被試験ICを電
気試験手段に接続する。

移動台１０２は間欠駆動機構によりマガジン１
０３の配列ピツチ相当量ずつ間欠送りされる。こ
の間欠送りにより移動台１０２に装着したマガジ
ン１０３の下端が接続部１０４のガイドレールと
対向する位置に運ばれるとシヤツタが開きマガジ
ン１０３からICが自重により落下する。

接続部１０４の接点駆動機構の上流側にはIC
エスケープ機構が設けられマガジン１０３から落
下するICを受け止めながらその最下端のICを一
個ずつ接点駆動機構に送給する。このICエスケ
ープ機構の送給動作は電気試験手段が試験を終了
し、接続部１０４からICを解放する毎に行なわ
れる。このようにして順次一個ずつICの試験が
行なわれる。

接続部１０４の下流側には選別手段１０５が設
けられる。この選別手段１０５はICを案内する
レール１０６に形成した複数のスリツト１０７
ａ，１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄと、このスリ
ツト１０７ａ〜１０７ｄと対向して設けられたノ
ズル１０８ａ〜１０８ｄと、スリツト１０７ａ〜
１０７ｄの下側に配置した受側マガジン１０３と
により構成される。

ノズル１０７ａ〜１０７ｄはレール１０６に沿
つて落下して来るICの判定結果によりその中の
一つが選択されてICの先端に向つて空気を射出
し、良品と不良品及び不良の種類別にマガジンに
落下させ、良品と不良品及び不良の種類別にIC
を選別してマガジンに収納する。

〈従来の欠点〉 上記したように従来のハンドラでは接続部１０
４にICを供給する側において移動台１０２に複
数のマガジン１０３を装着し、移動台１０２に装
着したマガジン１０３からICを供給している。
従つて移動台１０２に装着したマガジン１０３が
全て空になると、移動台１０２を基板１０１から
取外し、ICを収納したマガジンに交換する作業
を必要とする。従つてマガジンを交換している間
は試験を中断しなければならないため、時間が無
駄になる欠点がある。また移動台１０２を取外し
てマガジンを装着する作業には力を必要とし面倒
である。更に移動台１０２に装着するマガジンの
数を多く採ると移動台１０２の形状が大きくな
り、然もこの移動台が横行するためハンドラの設
置床面積を広く必要とし、多くの試験装置を並設
する場合には大きな建物が必要となり不経済であ
る。

〈考案の目的〉 この考案の目的は試験動作を中断することなく
連続して試験を行なうことができる構造とした場
合のマガジンエスケープ機構を供しようとするも
のである。

〈考案の概要〉 この考案ではICを収納したマガジンを水平な
状態で積み重ねて支持し、この積み重ねて支持し
た状態にあるマガジンを下から順に一本乃至複数
本ずつマガジンを取出すことができるマガジンエ
スケープ機構を提供するものである。

従つてこの考案によれば水平な状態で積み重ね
られたマガジンの上に新たにICを収納したマガ
ジンを一本ずつ積み重ねて供給することができる
ため、ICを収納したマガジンが無くなることは
ない。

また複数のマガジンを積み重ねてストツクする
構造にしたからストツクするマガジンの数を大き
く採つてもストツク部の床面積が大きくなること
はなく設置床面積を小さくできる利点が得られ
る。

〈考案の実施例〉 第４図にこの考案によるマガジンエスケープ機
構を用いたIC試験装置の全体構造を示す。第４
図において４０１はICを収納したマガジン１０
３をストツクするマガジンストツカを示す。この
マガジンストツカ４０１は例えば天井板４０２か
ら突出した規制ピン４０３によつて構成すること
ができ、規制ピン４０３によつて積み重ねられた
複数のマガジン１０３がくずれ落ちないように支
持している。

マガジンストツカ４０１の下部にこの考案によ
るマガジンエスケープ機構が設けられる。この考
案によるマガジンエスケープ機構は第５図に示す
ように積み重ねたマガジン１０３の全体を上下動
させるリフタ５０１，５０２と、リフタ５０１，
５０２によつて積み重ねられたマガジンを降下さ
せるとき下から２番目のマガジンの両端と係合し
てそれより上側のマガジンを支持し、最下端のマ
ガジンだけをリフタ５０１，５０２に乗せた状態
にするフツク５０３，５０４とにより構成するこ
とができる。

フツク５０３，５０４は軸５０３ａ，５０４ａ
によつて回動自在に支持され駆動機構（ここでは
特に図示しない）により第５図に示す状態と、第
６図に示す状態の二つの状態に制御される。５０
５はマガジン１０３を所定の位置に搬送する搬送
台を示す。この搬送台５０５の上に一本のマガジ
ンを取出す動作は次のようにして行なわれる。

リフタ５０１，５０２が第５図に示すように最
上位まで上昇した状態から下降する。このときフ
ツク５０３，５０４は第６図に示すように開いた
状態に制御される。従つて最下端のマガジンはフ
ツク５０３，５０４に引掛ることなくフツクの位
置より下側に通過する。最下端のマガジンがフツ
ク５０３，５０４の位置より下側に通過するとリ
フタ５０１，５０２が降下を中断し停止する（第
６図の状態）。この状態でフツク５０３，５０４
を回動制御し、フツク５０３，５０４の先端を下
から２番目のマガジンの両端に係合させる（第７
図の状態）。フツク５０３，５０４が下から２番
目のマガジンの両端に係合するとリフタ５０１，
５０２は再び下降動作を始め最下端のマガジンだ
けを搬送台５０５の上に乗せる（第８図）。

搬送台５０５にマガジン１０３が乗せられると
搬送台５０５は走行を開始し、マガジンストツカ
４０１の下部から最下端のマガジンを送出する。
最下端のマガジン１０３が無くなるとリフタ５０
１，５０２は再び上昇しマガジン１０３の全体を
支持し、第６図の状態に戻る。リフタ５０１，５
０２によつてマガジン１０３の全体が受け止めら
れるとフツク５０３，５０４が第６図に示すよう
に開き、このとき最下端に位置するマガジンがフ
ツク５０３，５０４の位置より下側に通過できる
ように制御され、最下端のマガジンがフツク５０
３，５０４の位置より下側に通過するとリフタ５
０１，５０２が停止し、フツク５０３，５０４を
下から２番目のマガジンの両端に係合させる（第
７図の状態）。このようにしてリフタ５０１，５
０２と、フツク５０３，５０４の協動により積み
重ねられたマガジンの中から最下端のマガジンを
一本ずつ取出し、搬送台５０５にマガジンを一本
ずつ供給する。

搬送台５０５は第４図に示すレール４０４に案
内されてマガジンストツカ４０１の位置から後述
する回動手段４０５の位置までマガジン１０３を
搬送する。この搬送のための駆動手段としては例
えば直線駆動形のパルスモータ、或はその他の駆
動手段を用いることができる。

搬送台５０５はマガジンストツカ４０１から供
給されるマガジンを受ける凹溝５０５ａと、回動
手段４０５から空になつたマガジンを受け取る平
坦部５０５ｂを有する。

回動手段４０５はマガジン１０３を把持するチ
ヤツク４０５ａと、このチヤツク４０５ａを回動
させる例えばパルスモータ４０５ｂとにより構成
される。チヤツク４０５ａは一方の板４０５ｃが
可動板とされ、この可動板４０５ｃが例えばエア
シリンダ４０５ｄにより可動され、締付状態と非
締付状態とに制御される。チヤツク４０５ａが水
平状態に回動した状態でチヤツク４０５ａを非締
付状態に制御すると可動板４０５ｃは搬送台５０
５の高さより低い位置まで偏寄される。従つてチ
ヤツク４０５ａを水平状態に制御した状態におい
て可動板４０５ｃを下げた状態にしておくことに
より搬送台５０５によつて運ばれて来たマガジン
はチヤツク本体４０５ａと可動板４０５ｃの間に
挿入され、その位置で停止する。

ここで可動板４０５ｃを締付状態に操作するこ
とによりマガジン１０３の端部、つまり開放端側
を把持することができる。この状態でパルスモー
タ４０５ｂが起動されチヤツク４０５ａを回動さ
せることによりマガジン１０３を傾むけることが
できる。この例ではマガジン１０３を垂直に立て
るように構成した場合を示す。チヤツク４０５ａ
にはシヤツタ機構が設けられ、マガジン１０３が
垂直に立つまでの間はこのシヤツタ機構が閉じら
れて居り、マガジン１０３が所定の位置に回動す
るとシヤツタ機構が開かれ、マガジン１０３に収
納されているICが自重により落下する。

４０６は恒温槽である。この恒温槽４０６とマ
ガジン１０３との間にマガジン１０３から１個ず
つICを送り込むICエスケープ機構が設けられ、
マガジン１０３からICを１個ずつ恒温槽４０６
に送給する。

チヤツク１０３によつて垂直に立てられたマガ
ジンが空になるとチヤツク４０５ａは水平状態に
戻される。このとき搬送台５０５はマガジンスト
ツカ４０１から次のマガジンを搬送して来てお
り、その停止位置はチヤツク４０５ａが平坦部５
０５ｂと対向する位置で停止している。従つて空
のマガジンは搬送台５０５の平坦部５０５ｂに乗
せられる。空のマガジンが搬送台５０５の平坦部
５０５ｂに乗せられると搬送台５０５はマガジン
ストツカ４０１の方向に少し移動し、搬送して来
た次のマガジンをチヤツク４０５ａと対向させ
る。ここでチヤツク４０５ｂは可動板４０５ｃが
締付位置に操作され次のマガジンを把持する。マ
ガジンがチヤツク４０５ａに把持されると再びパ
ルスモータ４０５ｂが起動されマガジンを垂直位
置まで立てる。

チヤツク４０５ａが回動を始め次のマガジンを
垂直に立て始めると搬送台５０５はマガジンスト
ツカ４０１側に移動を始める。搬送台５０５の凹
溝５０５ａの位置がストツカ４０１に積まれてマ
ガジンの下部に達すると搬送台５０５は停止す
る。ここで空のマガジンは棚部４０７に乗せられ
る。棚部４０７は第５図に示すように搬送台５０
５の幅より外側に立てられた板によつて構成され
第９図に示すように搬送台５０５の平坦面５０５
ｂの高さよりわずかに高い高さを持ち、更に搬送
台５０５を迎える側及びその反対側にテーパ４０
７ａ，４０７ｂが形成され、テーパ４０７ａによ
つて搬送台５０５の平坦面５０５ｂに乗せられて
来た空のマガジンを棚部４０７の上に乗り上げさ
せる。従つて次々に空のマガジンが運ばれて来る
毎に棚部４０７の上に空のマガジンが乗せられる
から先端側のマガジンは順次棚部４０７から落下
し、第９図に示す収納箱９０１に収納される。

一方チヤツク４０５ａによつて垂直に立てられ
たマガジンと恒温槽４０６との間には上から落下
して来るICを１個ずつ恒温槽４０６に落し込む
エスケープ機構が設けられる。

恒温槽４０６の内部には電気試験器にICを接
続する接点駆動機構が設けられ、所定の温度下に
おけるICの動作試験が行なわれる。

４０８は恒温槽４０６の出口を示し、試験済の
ICがこの出口４０８から排出される。出口４０
８と対向してエンドレス搬送手段４０９によつて
支持された複数のマガジン１０３が用意され、試
験の結果に応じてマガジンが選択され、良品と不
良品の別及び不良の種類別に別々のマガジンに
ICが投入される。

〈考案の効果〉 上記したようにこの考案によればマガジンスト
ツカ４０１においてマガジン１０３を積み重ねて
ストツクするようにしたからストツクするマガジ
ンの数に関係なく占有面積は一定であり、狭い場
所に多くのマガジンをストツクすることができ
る。

更にICを収納したマガジンを順次上に乗せて
供給することができるからICを収納したマガジ
ンが跡切れることがなく、試験を中断する必要は
全くない。よつて連続して試験を行なうことがで
きる。

またストツカ４０１にICを収納したマガジン
を供給する場合マガジンを一本ずつ供給すればよ
い。つまりマガジン一本の重量は軽いためマガジ
ンの供給作業を簡単に行なうことができる。

またマガジンストツカ４０１からリフタ５０
１，５０２とフツク５０３，５０４によつて構成
したマガジンエスケープ機構によつてマガジンを
取出すようにしたから、マガジンに衝撃を与える
ことなく、つまりICに衝撃を与えることなくマ
ガジンを取り出すことができる。よつて試験を行
なうためにICを不良に至らしめる事故が起きる
ことはない。

尚上述ではマガジンストツカ４０１に一列だけ
マガジン１０３を積み重ねたが、これを二列積み
重ね、双方の列から各一本ずつ合計で二本のマガ
ジンを搬送台５０５に取出し、この二本のマガジ
ンをチヤツク４０５ａに同時に把持して二本のマ
ガジンからICを恒温槽に供給するように構成す
ることもできる。また上記したようにマガジン１
０３を一列だけ積み重ね、この一列の積み重ねか
ら同時に２本乃至３本程度ずつマガジンを取り出
し、この取出したマガジンを同時にチヤツク４０
５ａに把持させて恒温槽に供給するようにしても
よい。このようにすれば試験の処理量を高めるこ
とができる利点が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のIC試験装置に用いられている
ハンドラの概要を説明するための側面図、第２図
はその要部の構造を説明するための斜視図、第３
図はICを収納するマガジンの形状を説明するた
めの斜視図、第４図はこの考案の一実施例を示す
斜視図、第５図はこの考案の要部の構造を説明す
るための側面図、第６図乃至第８図はこの考案の
要部の動作を説明するための側面図、第９図はこ
の考案によるIC試験装置に用いた空マガジンの
回収構造を説明するための側面図である。 １０３：マガジン、４０１：マガジンストツ
カ、５０５：搬送台、４０５：回動手段。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ ICを収納したマガジンを水平な状曜に保つ
   て複数段に積み重ねて保持するマガジンストツ
   カと、 Ｂ このマガジンストツカに積み重ねられてスト
   ツクされたマガジンの全体を上下動させるリフ
   タと、 Ｃ 上記積み重ねられたマガジンの両側端面に対
   向して設けられ、上記リフタが降下して上記積
   み重ねられたマガジンが降下した状態で下から
   所定個目のマガジンの両側端面に係合してそれ
   より上側のマガジンを支える一対のフツクと、 Ｄ この一対のフツクによつて下から所定個目よ
   り上側のマガジンが支えられている状態で上記
   リフタに取出されたマガジンをリフタの降下動
   作によつて受け取り、このマガジンをマガジン
   の長手方向と直交する方向に搬送する搬送台
   と、 を具備して成るIC試験装置のマガジンエスケー
   プ機構。