JPS6362248A - 部品のハンドラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、部品の自動検査装置に組込まれて順次横着
対象の部品を測定部に供給し、検査線Ｔ後の部品を検査
結果に応じて排出する部品のハンドラに関し、特に、ジ
ャムとか、ピンの曲がりの発生が少ないＩＣハンドラに
関する。

［従来の技術］ 第７図は、従来のＩＣハンドラの基本的な構成を示すＷ
１１部である。

図中、Ａは、未検査のＩＣを収納して順次送り出すロー
ダ部であり、一般に、ＩＣマガジン１が積層されている
。このＩＣマガジンの１の内部には、連続的に、個々の
ＩＣが配列されている。

ＩＣマガジン１の中のＩＣは、Ｆ熱処理品Ｂに順次自重
にてガイドレールにより案内されて滑降しつつ所定の検
査条件に適合する２部度に予備処理される。この場合の
予備処理としては、予熱と予冷等がある。

ｆ・熱処理部Ｂを通過したＩＣは、同様にガイドレール
により案内されて測定部Ｃを順次東向ド方に自重降下し
つつ、自動測定器（検査ヘッド、図示せず）によって検
査される。

そして、検査を終えたＩＣは、アンローダ部１）に自重
滑降することになるが、その途中で、検査結果に応じて
分類部Ｅによって分類されて振分られ、平杼に設けられ
た複数のレーンを自重滑降して、アンローダ部１）にセ
ットされている複数列のマガジｙｌａｔ　　ｌｂ、ｌｅ
ｔ　　ｌｅｔ　　ＩＬ　　Ｉｇ。

１ｈのいずれか１つに収納される。

［解決しようとする問題点］ このようにガイドレール１−を０市により／１′１降し
、降ドして行く自然落ド方式のものにあっては、加熱処
理及び測定処理等のためにＩＣ自体を押さえてその流れ
を市めたり、落下方向に合わせてＩＣ自体の方向を転換
することが必要となるため、ＩＣピンの曲がりとかジャ
１１が発生し易いという欠点がある。また、ガイドレー
ルによるために複数のＩＣを並列に検査する場合には、
その数に対応するガイドレールを（１ｒ設しけなければ
ならず、並列に流れるＩＣ相ｒｊ、の制御タイミングが
難しくなるとともに、装置が大型化する欠点がある。

このような欠点を解消する方式として、強制搬送する方
式が考えられるが、この場合、ローダ部から強制搬送機
構に部品を載置するためにローダ部側にピックアップア
ーノ・等の部品取出し機構を設けることが必要となる。

ピックアップアームは、−・般に、部品収納容器の−に
側から部品を把持するものであるので、容器の上側が開
放状態にあることが必要となる。しかし、多くの部品を
連続的に収納する容器の１−１部が開放状態になってい
ると、部品がきっちり配列されて収納されなかったり、
収納容器の内部でジャムが発生したりし、さらには収納
容器からこぼれ落ちる危険性がある。

しかし、このようなことを回避するために容器の１−、
？；Ｉ＜を塞ぐと部品のピックアップができなくなると
いう問題点を生じる。

［発明の目的コ この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、−Ｌ部が塞がれた容器であっても、そこか
ら容易に部品を取出すことができ、しかも連続的に多数
の部品を供給することができる部品のハンドラを提供す
ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段コ このような目的を達成するためのこの発明の部品のハン
ドラは、個々の部品を連続的に収納する溝を多段に有す
るラックと、このラックの両端部において最上段の溝の
上側から縦に最下段の溝又は最下段の溝を塞がないとこ
ろまで貫通する引抜き可能な第１及び第２のピンと、ラ
ックが装着されるローダ部と、部品の測定部と、ローダ
部から供給された部品を載置して測定部まで搬送する搬
送機構ｍくとを備えていて、ローダ部は、溝に沿って溝
の一方の側から部品を押して溝の他方の側から部品を外
へと押出す部品押出機構と、第１及び第２のピンをラッ
クの１一部において保持する保持機構と、多段の溝の段
のピッチに対応してランクを下の方向に移動させる下降
移動機構と、多段の溝の１つに対応して配置されかつ対
応する１つの溝に挿入されて溝に沿って移動する爪を汀
する押出機構とを打していて、下降移動機構により爪に
対応する位置に多段の溝の１が位置付けられるというも
のである。

［作用コ このように多段に市ねた溝を有するう、７りをローダ部
に装着して、ラックの両端部において引抜き可能な第１
及び第２のピンを装着して、最上段の溝の、ヒ側から縦
に最下段の溝又は最下段の溝を塞がないところまでｌ！
ｊ通させることで、内部の部品がこぼれないようにし、
下降機構によりう・ンクをドげてド側の溝からその両側
を開放して押出機構によりその溝に沿って溝の−・方の
側から部品を押して溝の他方の側から部品を外へと押出
すことができるので、多くの部品をこぼれることなく連
続的に搬送機構側に提供することができる。

その結果、ガイドレール等による落ド搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

また、溝の他方の部品ｉＪｌ：　；ｔ＋　ｎ側に隣接し
てリニアフィーダを設ければ、リニアフィーダによりり
［出された部品を受けることにより部品を簡り１４に１
個だけ分離して取り出すことも容易となる。

［実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第１図は、この発明を適用した一実施例のＩＣハンドラ
の上部取外し平面図、第２図はその側面断面図、第３図
（ａ）及び（ｂ）はそのＩＣ収納ラックの説明図、第４
図（ａ）及び（ｂ）はそのローダ部の説明図、第４図（
ｃ）、（ｄ）＋　　（ｅ）及び（ｆ）はラックに装着さ
れる都晶抜は落ち防雨ピンの支持機構の説明図、第５図
は、ローダ部からバケット搬送部へＩＣを供給するノ・
ンドリング操作の説明図、第６図（ａ）及び（１））は
、ノくケラト搬送機構の側面断面図及びＩＦ而面面図で
ある。

なお、これら各図において同一のものは同一の符吋で示
す。

第１図〜第２図において、ｌＯは、ＩＣハンドラであり
、２はそのＩＣローダ部、３はＩＣローダ部からＩＣの
供給を愛け、ＩＣを収納して搬送するバケット搬送機横
部、４はバケｙ）搬送機構部３の搬送路を包み込む恒温
槽、５は、バケット搬送機構部３から部品の供給を受け
て、その部品を検査する測定部、６は、検査後のＩＣを
バケット搬送機構部３から受けてほぼ水平搬送し、検査
結果に対応して収納部７のラックに収納する分類部、８
はローダ部２及び収納部７に装着され、検査部品（ここ
ではＩＣ）を収納するラック、そして５ａは、測定部５
に設けられ、ＩＣの電気的特性等を測定するテストヘッ
ドである。

ここで、ローダ部２は、第１図及び第４図（ａ）に見る
ようにラック載置テーブル２１と、リニアフィーダ２２
、ピンクアップアーム２３（第５図参！（４）、う・、
り載置テーブル２１のドに設けられ、ラック載置テーブ
ル２１を一１１下移動させるエレベータ機構２４とを備
えたＩＣロード機構２０が複ｆｉ並設（図では３個）さ
れていて、各ＩＣロード機構２０のそれぞれのう１．り
載置テーブル２１にはラック８がそれぞれ装着されてい
る。

ラック８は、第３図（ａ）、（ｂ）に見るように、」ニ
ド方向に複数段積みｌ−げられた複数のＩＣ収納溝ｓｔ
、ｓｔ、　　・・Ｏが連続的に形成されていて、谷溝８
１に個々のＩＣ（ここではその例としてＰＧＡタイプの
ＩＣ，ハイブリ・ントＩＣ）９をそのピンが」―側とな
るようにして溝方向及び１−下方向に連続的に配列した
形態で収納している。

しかも、谷溝８１の天井面は、各ＩＣが飛び出したり、
前側に配列されたＩＣと競合しないような１１６さ位置
にある。すなわち、その高さは、収納されるＩＣの高さ
の２倍より小さいものとなっている。

そして、第４図（ｂ）の断面図に見る押出し爪８２が爪
送り機構８３により溝８１に挿入され、この溝８１に沿
って部品・個の福相当分だけのピノチで水平方向に移動
して、最後部に配列されるＩＣ９を押して、ＩＣ９を１
個分だけ図面左側へと送り移動させる。ここで押出し爪
８２と爪送り機構８３とは、溝８１からＩＣ９を押出す
押出機構を構成していて、ｒ／／；８１に沿って溝の一
方の側（図面左側）からＩＣ９を押してＩＣ９を溝の他
力の側（図面右側）から外へと押出すものである。

この爪８２が移動する溝８１は、リニアフィーダ２２の
レール２２ａの送り而に一致する位置に位置付けられた
溝である。

なお、押出し爪８２の１ピッチ分の移動制御は、制御部
（図示せず）からの制御信号によりその送出の都度行わ
れる。また、爪送り機構８３は、第４図（ｂ）に見るよ
うに、クランク状の押出し爪８２を挟持していて、第４
図（ａ）に見るよに、ベルト８５を介してプーリ８６に
より駆動され、水甲軸８４！−をスライドして水型移動
する。

ここで、リニアフィーダ２２のレール２２ａは、ラック
８の押出し爪８２が挿入される溝８１のＲＢ晶送出１１
に隣接して設けられている。そしてラック８の溝８１か
ら押出されたＩＣ９をレール２２２Ｌで受けて、これを
レール２２ａの他端のピックアラファーム位置Ｐまで移
送する。このリニアフィーダ２２は、菱形をしていて、
その柱が板ばねにより形成され、所定の周波数、例えば
数七Ｈｚ　　　　−〜数白ｉＨｚで斜め方向に振動する
。

そこで、バケット搬送部３側に供給されるＩＣ９は、押
出し爪８２の１ピンチ分の移動に従って先端側の１つが
、リニアフィーダ２２のレール２２ａ上に押出され、こ
のリニアフィーダ２２により、その先端のピックアップ
位置Ｐまで移送される。このことにより送出されたＩＣ
９が先端の部品ピックアップ待機位置にセットされる。

ここで、ラック８は、ラック載置テーブル２１に着脱Ｉ
′ＩＩ能に装着され、ラック載置テーブル２１がエレベ
ータ機構２４によりトド移動されることに・よりラック
８が１−下移動して、＋４８１のＩＣ９がすべてＩＪ＋
、出されるとその１−の週８１へと順次ド側の溝８１か
らその底面がリニアフィーダ２２のレール２２ａの送り
面に＝−・致する位置に次々に位置決めされる。なお、
２５．２５は、ラック８の両力１１を縦に＋７通してい
る部品数は落ち防止ピンであって、吊り＋げ保持されて
いて、その先端側がリニアフィーダ２２のレール２２ａ
の而に一致スる位置に位置付けられた溝８１を塞がない
状態（部品数は落ち防止ピン２５の長さがそれに対応し
ている）となっている。

この部品数は落ち防＋ｔ−，ピン２５．２５の吊り下げ
保持機構を示すのが第４図（Ｃ）〜（ｆ）であり、第４
図（Ｃ）は、同図（ａ）の裏面側から見たリニアフィー
ダ２２側の６分の部分正面図であり、同図（ｄ）はその
部分＼［面図、同図（ｅ）はその縦断面図、同図（ｆ）
はフック部が嵌合した状態の部分断面説明図である。

部品数は落ち防１１４ピン２５は、ラック８がＩＣロー
ド機構２０に装着された状態のときには、第４図（ｅ）
に見るような関係にあって、フックプレート２７のフッ
ク部２７０に設けられた１）旧−１部２７０ａに嵌合し
てラックプレート２７に引っ掛けられて保持される。ラ
ックプレート２７は、台座２７２に固定されたロータリ
アクチュエータ２９の軸２９ａに固定されていて、通常
は、ラック８と（１４行な状態（第４図（ｄ）の点線部
分参照）に位置し、制御部からの制御イ、）号に応じて
、はぼ２５度程度時計方向に回動してラック８の１而と
ド側の鍔２５２との間に挿入されて開１−１部２７０ａ
が部品数は落ち防止ビン２５のフック受部２５１に嵌合
する。

その結果、鍔２５２が開口部２７０ａの周囲に係合し、
落下しない状態きなり、部品数は落ち防止ピン２５が保
持される。そしてラック８が降下したときに、第４図（
ｆ）に見るように鍔２５２がフック部２７０の開［１部
２７０ａの１−面周囲に設けられた円形溝２５３に嵌合
して部品数は落ち防止ピン２５の中心が開口部２７０ａ
の中心に位置付けられ、このことによりラック８のピン
貫通孔８ａの中心に位置付けられる。このようにするこ
とで部品数は落ち防止ピン２５の長さが長くなっても、
最下段の溝までｉ’ｌ’通孔８ａの中心に８１≦品抜は
落ち防１１−ピン２５の中心を−・致させて保持でき、
その抜き、差しが容易なものとなる。

一方、制御部からの制御信号が停＋ｌ−したときには、
ロータリアクチュエータ２９の駆動が停止してフックプ
レート２７は元のラック８と平行状態まて回動して戻る
。ことのきには、鍔２５２が開口部２７０ａから外れて
部都政は落ち防１１；ピン２５は、ラック８の最１ユ而
まで落ちて、すべての溝８１を貫通することになり、第
４図（ｅ）に見る状態となる。

ところで、台座２７２には、フックプレート２７をガイ
ドするガイドプレート２７３が固定されていて、ガイド
プレート２７３の先端部がフックプレート２７のほぼ中
間部分に当てられ、フックプレート２７の回動をガイド
する構成となっている。また、台座２７２は、ベースフ
レーム２８に固定された２本の支柱２７１，２７１に支
持されている。そしてこれは、ラック８の１・、端より
少し低い位置にあって、第４図（Ｃ）では、ラック８が
溝高さ分に相当する１ピツ千下がった状態にある。なお
、第４図（ａ）及び（ｃ）に見る２６１゜２６２は、ラ
ック８をＩＣロード機構２０に装７ｆする際の位置決め
ガイドローラである。

ところで、第４図（Ｃ）に見るようにフックプレート２
７のフック部２７０は、Ｌ下に２段設けられていて、１
−側のフック部２７０は、穴なる溝高さのラックが装着
されたときに使用されるものである。これは、部都政は
落ち防１１−ピン２５を現在とは異なる高さに保持する
ものであり、部都政は落ち防止ピン２５の−Ｌ側の鍔２
５２ａのフック受部２５１ａに上側のフック部２７０が
嵌合して部都政は落ち防止ピン２５が保持されることに
なる。

ＩＣロード機構２０は、このようなラック８及びそのエ
レベータ機構２４、爪送り機構８３、そしてラック装着
状態検出／位置決めガイド機構２６等からなり、ここで
はローダ部２に３個並設Δれている。初期状態では、Ｉ
Ｃロード機構２０のラック８は、−・番下の溝８１の底
面がレール２２ａの１−面に一致していて、この溝８１
からＩＣが送出されて、そのｆ１■８１が空になると、
溝８１の積み［ユげピッチ（１ピツチ）分だけ下げられ
る。

すなわち、あるラック８の溝８１のＩＣが空になった時
点で、ラック８は、エレベータ機構２４によりドへと移
動してそのヒにある溝８１の底面がレール２２ａの１−
而の位置に位置付けられる。

さて、ラック８から送出されてリニアフィーダ２２のレ
ール２２ａの先端で待機しているＩＣ９は、第５図及び
第６図（ａ）に見るようにピックアップアーム２３の爪
２３１が開かれた状態で降ドし、閉じられることにより
把持され、バケット搬送機構部３のバケット３１の各収
納位置までレール２２ａ上を移動して順次運ばれる。そ
して爪２３１が開かれてＩＣ９がそれぞれの収納量Ｉ］
部３２にセントされる。ここで収納開口部３２は、１つ
のバケット３１に４つ設けられていて、第６図（ａ）に
示すようにバケット３１の端から順次４個のＩＣ９が収
納量１−１部３２に収納されて行く。

したがって、ピンクアップアーム２３のハンドリング時
間に合わせたタイミングでラック８から４個のＩＣ９が
一個−・個間欠的に送出され、リニアフィーダ２２の先
端の待機位置Ｐに搬送されて、ピックアップアーム２３
により順次リニアフィーダ２２から４個のＩＣ９が〜・
個−・個取り−Ｌげられてバケット３１に個々に搬送さ
れる。

なお、２３２は、ピックアップアーム２３の爪２３１を
閉じる方向に付勢するばねであり、２３３．２３３及び
２３４，２３４は、爪２３１を開く方向に回動させるカ
ム面及びローラ、そして２３５．２３５は、爪２３１の
２つの各爪片の回動支点である。

このようして１つのバケット３１にＩＣ４個がセットさ
れると、バケット３１が１つ前へと進み、次の空のバケ
ット３１がリニアフィーダ２２に対応するＩＣ供給位置
に位置付けられる。ここで、あるＩＣロード機構２０の
ラック８のＩＣがすべて空になると、制御部からの制御
信号に応じてエレベータ機構２４が１５／制御されてラ
ック８が１・。

へと移動して元の初期状態に戻り、ピックアップアーム
２３が次のＩＣロード機構２０の位置へと移動してその
ＩＣロード機構２０のランク８からＩＣが供給され、空
になったラック８は、取り外される。そしてＩＣが一杯
詰まった新しいラック８が、取り外されたＩＣロード機
構２０に新たに装着される。

ところで、このバケット３１は、第６図（ａ）。

（ｂ）に見るように、複数個が所定間隔をおいて両端で
無端のチェーン３２ａ、３２ｂにより連結されている。

そして第２図に見るように、このチェーン３２ａ、３２
ｂがバケット搬送機構部３の両端に設けられたスプロケ
ット３３　ａ、　　３３　ｂに咬み合って送られること
で順次搬送される。すなわち、これらはチェーン伝動機
構を構成している。

したがって、バケット３１は、チェーン３２ａ。

３２ｂに架は渡されて支持され、＋１’Ｉ側のスプロケ
フト３３ａが間欠的にモータ３４によりタイミングベル
ト３５を介して駆動され、各バケット３１が所定のピッ
チで間欠送りされる。ここで、バケット３１は、熱伝導
性のよい金属等の部材、例えばアルミニウム等で構成さ
れている。

さて、第１図、第２図に見るようにバケット搬送機構部
３は、チェーン３２　ａ、　３２　ｂも含めてバケット
が恒温槽４の中に収納され、恒温槽４の底部に設けられ
たヒータ４１により加熱される。

したがって、バケット３１に収納されたＩＣ９は、この
送り過程で所定の温度まで加熱される。

そして、第６図（ｂ）に見るように、測定部５の下まで
送られ、測定部５にバケット３１が位置したときに、間
欠送りの停止ｈ　した状態に一致したスプロケフト３３
ａの駆動の停止ｈ状態において、この停止Ｅ期間中の初
期に測定部５に対応するバケット３１の下側に配置され
たｒｅ、ｒ動カム３６ａによるビン押上機構３６により
チャ、ツク付き押さえビン３７がロヘ駆動されて、各収
納量［１部３２を貫通して測定部５側へとＩＣ９を把持
して押にげ押付ける。なお、このピン押−１−機構３６
及び押さえビン３７はそれぞれ各収納１）旧１部３２の
下側に位置して４つ・１ｒ設されていて、押さえビン３
７の先Ａ４　ノ＋ヤック部分はビンクアソブア−１、の
爪２３と同様な形状をしている。

ここで、測定部５には、その大片側からド側に向けて固
定されたコンタクトユニット５１（又はソケｙ　）５１
）が各収納開口部３２の位置に対応するように設けられ
ていて、第１図（ｂ）の点線でｔＪ〈すように前記押さ
えビン３７により押上られたＩＣ９かこのコンタクトユ
ニットのコンタクトに接触して電気的に接続される。そ
してコンタクトユニ・ント５１に摩１１１合されたテス
トへ・ソド５ａにより押１−られ接触したＩＣ９の測定
処理がなされる。

このようにして、測定部５にＩＣ９が供給され、測定部
５により各ＩＣ９の測定が行われ、測定が終Ｙした時点
でピン押」二機構３６が駆動カム３６ａの戻り移動によ
りド降作動して押さえビン３７が降ドして、コンタクト
ユニット５１との接続が解かれる。そして各ＩＣ９がバ
ケット３１の元の収納量１−１部３２に戻される。なお
、この時点では、押さえビン３７の先端部のチャックは
、バケット３１の底面よりド側に位置している。

その後、間欠送りの停止期間が終ｒして、次の送り状態
に入り、バケット３１がチェーン３２ａ。

３２ｂを介して次に送られる。そして次のバケット３１
が測定部５の下に位置してコンタクトユニット５１のコ
ンタクトに次のＩＣ９の端子を接触させて、同様な測定
する。このようにしてＩＣの測定部５に対する供給処理
がなされる。

次に、測定の終了したＩＣ９は、ｒｌｌ：びバケット３
１に収納されて４つのＩＣがともに搬送され、前側のス
プロケット３３ａの近傍にある部品ピックアップ位置に
来たときに、第２図及び第６図（ｂ）に見るように、分
類部６のピックアップアーム６１によりそれぞれの４個
のＩＣ９がバケット３１から取出されて、ベル）８２ａ
　ｌ−に搬送される。なお、ピックアップアーム６１は
、ピックアップアーム２３と同様な構成をしていて、６
１１は、その爪である。

ここで、前記分類部のピンクアップ６１がバヶｙ　ｌ・
３１の各収納量１１部３２に４つの各ＩＣをセットする
作業時間及びここでのバケット３１の各収納１）旧１部
３２から４つの各ＩＣ９を取り出す作業時間は、前記測
定部５のＩＣ測定時間より短い時間であり、ＩＣ９の測
定中であってバケット３１の送りが停止ヒシている間に
行われる。

分Ｍ　ｉ’ｌ＜　８は、ピックアップアー１．ｅｉと、
ベルト搬送機構６２、分類数に対応する複数のＩＣ押出
機構６３とからなり、第１図に見るように、ベルト搬送
機構６２は、搬送方向に対して直角となる横方向に横断
する溝６２ｂの付いた溝付きのベルト６２ａを有してい
る。そしてこのベルト６２ａの溝６２ｂにＩＣ９を収納
し、ＩＣ９を対応するラック８の位置において、分類に
対応するＩＣ押出機構６３を作動してその押込みピン８
３ａを伸張させることでベルトの溝８２ｂを案内として
ラック８の溝８１にＩＣ９を押込む。このことによりＩ
Ｃ９が検査結果に応じて分類される。この場合、この溝
付きのベルト６２ａに代えて、バケット３１の収納間Ｌ
１部３２の溝に対応するような横断溝を持ったバケット
を用いて搬送してもよい。

この場合のバケソｔ・は、バケット３１と同様にチェー
ンにより連結しても、また、ベルト七に直接固定しても
よい。

なお、先のエレベータ機構２４のエレベータ機構の１−
ド動の作動制御及びそのタイミング、ピックアップアー
ム２３の爪２３１及びピックアップア−１・の爪の開閉
作動の制御及びそのタイミング、そして分類部のＩＣ押
込み機構の押込みピンの進退作動制御及びそのタイミン
グ、そしてピン押１・。

機構３６の直動カム３６ａの往復作動制御及びそのタイ
ミングとは、それぞれマイクロプロセッサを内蔵した制
御部からの電気信号により決定され、制御されるもので
ある。

ところで、リニアフィーダ２２のレール２２ａの溝は、
バケット３１の縦断面を示す第７図（Ｃ）と同様な段付
きの溝形状をしていて、その１゛段の溝がハイブリ：／
）ＩＣ等の部品に対応した開１１幅となっており、ド段
の溝がＳＧＯ形Ｉ　Ｃ”５・の部品に対応した開１１幅
となっている。したがって、ランク８をＩＣロード機構
２０に差し換えるたけで、バケフト３１に異なる部品を
供給することかでき、穴なる部品を０合することかｉＩ
■能である。なお、この場合、測定部のコンタクトユニ
ット５１は、これら異なる部品が接続できるようなもの
となっているか、コンタクトユニット５１をその都度測
定部品に合わせて差し換える。

以上説明してきたが、バケントｌ送機構部の搬送機構は
、チェーンに限定されるものではなく、ベルト等による
、いわゆる無端巻掛は伝動機構を使用することができる
。また、このような巻掛は伝動機構の他、平行四辺形の
リンクを使用して水下のレールＬに載置してバケットを
爪送りする間欠送り機構でもよい。また、ベルトに爪を
設けてバケット又は■く品を直接間欠送りするものであ
ってもよい。

さらに、実施例では、爪送り機構によりランクから部品
を外へと送り出しているが、これは、ピンを出［１の反
対側から溝に沿って挿入し、反対の出１″１側から押ｌ
ｊすようにしてもよく、爪による送り機構に限定される
ものではない。いわゆる溝から部品を押出す押出機構な
らばよい。

また、実施例では、多段に溝を打するラックを使用して
いるが、段は１段のものであってもよ（、いわゆる上部
が塞さがれているような溝を持ち、容器から部品がこぼ
れ落ちたり、不整列となったりし難いもので、部品が容
器から直接ピックア。

ブすることが難しいような部品容器であればどのような
ものでも適用できる。

さらに、この発明では、取り扱う部品がＩＣに限定され
るものではないことはもちろんである。

［発明の効果］ 以１ユの説明から理解できるように、この発明にあって
は、多段に重ねた溝を有するラックをローダ都に装着し
て、ランクの両端部において引抜き可能な第１及び第２
のピンを装Ｚｔシて、最り段の溝の−１−側から縦に最
下段の溝又は最下段の溝を塞がないところまで１１通さ
せることで、内部の部品がこぼれないようにし、ド降機
構によりラックをドげてド側の溝からその両側を開放し
て押出機構によりその溝に沿って溝の　ノＪの側から部
品を押して溝の他方の側から部品を外へと押出すことが
できるので、多（の部品をこぼれることなく連続的に搬
送機構側に提供することができる。

その結果、ガイドレール簿による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

また、溝の他方の部品排出ｌ二１側に隣接してリニアフ
ィーダを設ければ、リニアフィーダにより排出された部
品を受けることにより部品を部用に１個だけ分離して取
り出すことも容易となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明を適用した一実施例のＩＣハンドラ
の」一部数外し甲面図、第２図はその側面断面図、第３
図（ａ）及び（ｂ）はそのＩＣ収納ラックの説明図、第
４図（ａ）及び（ｂ）はそのローダ部の説明図、第４図
（ｃ）、（ｄ）＋　　（ｅ）及び（ｆ）はラックに装召
される部都政は落ち防止ビンの支持機構の説明図、第５
図は、ローダ部からバケット搬送部へＩＣを供給するノ
＼ンドリング操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）は
バケットに送機構の側面断面図及び正面断面図、第７図
は、従来のＩＣハンドラの外観図である。 １・・・ＩＣハンドラ、２・・・ＩＣロータＦ’Ｊ＜、
３・・・バケット搬送機構部、４・・・恒温槽、５・・
・測定部、６・・・分類部、 ７・・・収納部、８・・・ランク、 ９・・・ＩＣ１１０・・・ＩＣハンドラ、２０・・・Ｉ
Ｃロード機構、 ２１・・・ラック載置テーブル、 ２２・・・リニアフィーダ、２３・・・ピックアップア
ーム、２４・・・エレベータ機構、 ２５・・・部都政は落ち防止ピン、 ２７・・・フックプレート、２８・・・ベースプレート
、２９・・・ロークリアクチュエータ、 ３１・・・バケット、３２・・・収納開口部、８１・・
・溝、２７０・・・フック部、２７０ａ・・・開［１都
、２７２・・・台座。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）個々の部品を連続的に収納する溝を多段に有する
   ラックと、このラックの両端部において最上段の溝の上
   側から縦に最下段の溝又は最下段の溝を塞がないところ
   まで貫通する引抜き可能な第１及び第２のピンと、前記
   ラックが装着されるローダ部と、前記部品の測定部と、
   前記ローダ部から供給された部品を載置して前記測定部
   まで搬送する搬送機構部とを備え、前記ローダ部は、前
   記溝に沿って溝の一方の側から部品を押して溝の他方の
   側から部品を外へと押出す部品押出機構と、第１及び第
   ２のピンを前記ラックの上部において保持する機構と、
   多段の前記溝の段のピッチに対応して前記ラックを下の
   方向に移動させる下降移動機構と、前記多段の溝の１つ
   に対応して配置されかつ対応する１つの溝に挿入されて
   溝に沿って移動する爪を有する押出機構とを有し、前記
   下降移動機構により前記爪に対応する位置に多段の溝の
   １が位置付けられることを特徴とする部品のハンドラ。
2. （２）ローダ部は、さらに、ラックの溝の部品排出口に
   隣接しそのレールが設けられたリニアフィーダと、この
   リニアフィーダの前記レール上から前記部品をピックア
   ップして搬送機構に供給するピックアップアームとを備
   えていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   部品のハンドラ。
3. （３）押出部材は、多段の溝の１つに対応して配置され
   かつ対応する１つの溝に挿入されて溝に沿って移動する
   爪であり、搬送機構部は、ローダ部から供給された部品
   を収納するバケットを有しほぼ水平にこのバケットを移
   動して測定部まで前記部品を搬送するものであり、ピッ
   クアップアームは、リニアフィーダのレール上から前記
   部品をピックアップして前記バケットに収納することを
   特徴とする特許請求の範囲第２項記載の部品のハンドラ
   。
4. （４）搬送機構部は無端巻掛け伝動機構を備えていて、
   バケットはこの無端巻掛け伝動機構の無端巻掛け部材に
   固定されかつ複数の部品が収納されることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項乃至第３項のうちから選択された
   １項記載の部品のハンドラ。