JPS6367280A

JPS6367280A - 部品収納容器

Info

Publication number: JPS6367280A
Application number: JP61206145A
Authority: JP
Inventors: 広川　英夫; 一郎桑原
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1986-09-02
Filing date: 1986-09-02
Publication date: 1988-03-26

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コ本発明は部品の自動検査装置に組込まれて順次検査対象
の部品を検査部に供給し、検査終了後の部品を検査結果
に応じて排出する部品のハンドラにおいて使用される部
品収納容器に関する。更に詳細には、本発明はジャムと
か、ピンの曲がりの発生が少ない、部品を水平方向に移
動させる方式の自動検査装置で使用される部品収納容器
に関する。

［従来の技術］第７図は、従来のＩＣハンドラの基本的な構成を示す概
要図である。

図中、Ａは、未検査のＩＣを収納して順次送り出すロー
ダ部であり、一般に、ＩＣマガジン１が積層されている
。このＩＣマガジンの１の内部には、連続的に、個々の
ＩＣが配列されている。

ＩＣマガジンｌの中のＩＣは、予熱処理部Ｂに順次自重
にてガイドレールにより案内されて滑降しつつ所定の検
査条件に適合する温度に予備処理される。この場合のｒ
備処理としては、ｒ熱と予冷等がある。

ｐ熱処理品Ｂを通過したＩＣは、同様にガイドレールに
より案内されて測定部Ｃを順次手直下刃に自重降ドしつ
つ、自動測定器（検査ヘッド、図示せず）によって検査
される。

そして、検査を終えたＩＣは、アンローダ部りに自重滑
降することになるが、その途中で、検査結果に応じて分
類部Ｅによって分類されて振分られ、平行に設けられた
複数のレーンを自重滑降して、アンローダ部りにセット
されている複数列のマガジン１ａ＋　　ｌｂ、１ｃ＋　
　ｌｅ、ｌｆｔ　　Ｉｇ＊１ｈのいずれか１つに収納さ
れる。

［解決しようとする問題点］このようにガイドレールヒを自重により滑降し、降ドし
て行く自然落下方式のものにあっては、加熱処理及び測
定処理等のためにＩＣ自体を押さえてその流れを止めた
り、落−ド方向に合わせてＩＣ自体の方向を転換するこ
とが必要となるため、ＩＣピンの曲がりとかジャムが発
生し易いという欠点がある。

また、ガイドレールによるために複数のＩＣを並列に検
査する場合には、その数に対応するガイドレールを並設
しけなければならず、並列に流れるＩＣ相互の制御タイ
ミングが難しくなるとともに、装置が大型化する欠点が
ある。

しかも、ガイドレールのレール幅が固定式なので、サイ
ズの異なるＩＣを同時に検査することは不可能である。

ＩＣのサイズが変化する場合には、ガイドレールをＩＣ
のサイズに合ったものに交換しなければならなかった。

このような欠点を解消する方式として、強制搬送する方
式が考えられるが、この場合、ローダ部から強制搬送機
構に部品を載置するためにローダ部側にピックアップア
ーム等の部品取出し機構を設けることが必要となる。

ピックアップアームは、一般に、部品収納容器の＋、側
から部品を把持するものであるので、容器の−Ｌ側が開
放状態にあることが必要となる。しかし、多くの部品を
連続的に収納する容器の上部が開放状態になっていると
、部品がきっちり配列されて収納されなかったり、収納
容器の内部でジャムが発生したりし、さらには収納容器
からこぼれ落ちる危険性がある。

しかし、このようなことを回避するために容器の［・８
部を塞ぐと部品のピックアップができなくなるという問
題点を生じる。

［発明の目的コ従って、本発明の目的は、このような従来技術の問題点
を解決するものであって、上部が塞がれた容器であって
も、そこから容易に部品を取出すことができる、部品取
扱装置用の部品収納容器を提供することである。

［問題点を解決するための手段コ前記の問題点を解決し、あわせて本発明の］目的を達成
するための手段として、この発明は、部品収納容器が装
？１されるローダ部と、前記部品の処理部と、前記ロー
ダ部から供給された部品を載置して前記処理部まで搬送
する搬送機構部とを備えた部品取扱装置において、前記
部品収納容器は、個々の部品を連続的に永く［状態で収
納する、上部が塞がれた溝を複数段有し、この溝は少な
くとも両端部が開放されていて、前記溝に沿って溝の一
方の側から部品を押して溝の他方の側から部品を溝外へ
押し出すことができ、前記容器の両端部において最上段
の溝の上側から縦に最下段の溝まで貫通する着脱可能な
第１．第２のピンを有する部品収納容器を提供する。

［作用コ前記のように、本発明の部品収納容器は１一部は塞がれ
ているが、溝の少なくとも両端側が開放されている。

このように上部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの
部品収納容器を設けて、多くの部品を連続的に水平状態
で溝に収納するとともに、溝の一方の開しコ側から押出
機構により溝の他方の開［１側へ部品を押出ことができ
る。そして、この押出側開口部に隣接して、例えば、リ
ニアフィーダを設けることにより、排出された部品を受
けることができる。

か（して、部品収納容器から部品を面ｊｌｊに１個だけ
分離して取り出すことができ、リニアフィーダにより取
出された部品をピックアップし易い位置まで移送できる
。しかも、リニアフィーダを用いることにより搬送機構
に部品を供給する部品供給機構全体を小型なものとする
ことができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ラック＋リニアフィーダにより大量の部品を
順次比較的短時間の内に供給でき、部品自体を強制的に
押さえてその流れを止めたりする必要がなくなる。

その結果、ガイドレール等による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

しかも、前記ラック＋リニアフィーダに加えて、搬送機
構側にパケットを用いてほぼ水平に搬送するようにして
かつ部品を複数個並列にパケットに収納すれば、［１ｉ
ｌｔに、複数個の部品を同時に検査処理でき、装置自体
の大きさもあまり人きくせずに済む。

またパケットをサイズの異なる部品も同時に載置できる
ようにに夫すれば、装置自体は全く変更することなくサ
イズの異なる部品がランダムに混合されたロフトについ
て迅速に検査することができる。

被検査部品を水平状態でラックの溝に多数個収容した場
合、このラックを取り扱う際に傾けたりすると、溝内の
部品が落下する恐れがある。特にラックの移動搬送中に
部品が溝外へ落下する危険性が高い。また、ローダ部に
ラックを装架する場合にラックが傾くこともある。また
アンローダｍ≦からラックを脱果する際にも同様な問題
が起こる。

このようにラックの取扱中にラック溝内の部品が構外へ
落下してしまうことを防止するため、溝の両端を塞ぐピ
ンをラックに配設する。

このピンは必要に応じて着脱することができるので、部
品をラックツーラック方式で取り扱うことが可能となる
。その結果、部品の処理あるいは取扱の迅速化が図られ
、工程全体のスループットを向上させることができる。

［実施例コ以−ド、この発明の一実施例について図面を用いて詳細
に説明する。

第１図（ａ）は本発明の部品収納容器の一実施例の説明
図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）におけるＢ−Ｂ線に沿
った断面図であり、第２図は本発明の部品収納容器が使
用される部品取扱装置の一例であるＩＣハンドラの上部
取外し平面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ）
及び（ｂ）はそのローダ部の説明図、第５図はローダ部
からパケット搬送部へＩＣを供給するハンドリング操作
の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）はパケット搬送機構
の側面断面図及びｉＥ而面面図である。

なお、これら各図において同一・のちのは同一の符号で
７バす。

本発明の部品収納容器８は、第１図（ａ）および（ｂ）
に示されるように、上下方向に複数段積み七げられた複
数の部品（例えば、ＩＣ）収納溝８１．８１．　　・・
・が連続的に形成されていて、谷溝８１に個々のＩＣ（
ここではその例としてＰＧＡタイプのＩＣ，ハイブリッ
トＩＣ）９をそのピンが上側となるようにして一ヒを方
向に連続的に水平状態で配列した形態で収納している。

図示のように、本発明の部品収納容器８は、いわゆるラ
ックと呼ばれる形状の構造体である。このラックは脚部
８１２．背面壁８１３．複数の棚板８１４および天板８
１５から構成されている。

棚板８１４は部品が前方に落下することを防止するため
の側壁８１６を有する。この側壁の高さは溝内に収納さ
れる電子部品の高さよりも低い。

しかも、谷溝８１の天井面は、各ＩＣが飛び出したり、
前側に配列されたＩＣと競合しないような高さ位置にあ
る。すなわち、その高さは、収納されるＩＣの高さの２
倍より小さいものとなっている。

第１図（ａ）に示されるように、本発明のラッりは、両
端部において最−に段の溝の上側から縦に最下段の溝ま
で貫通する着脱可能な第１のピン２５および第２のピン
２５を有する。ピンの−［一部には係１Ｆ・、用のヘッ
ド２５０が配設されている。

第１図（ｂ）に示されるように、ラックの天板８１５の
Ｌ面から脚部８１２まで、各棚板８１４を通る貫通孔３
００が穿設されている。ピン２５はこの貫通孔内に遊嵌
している。ピンの長さは天板の上面から脚部の上面に達
する長さであればよい。

このピンは手で引き抜くこともできるし、あるいは、ヘ
ッドの部分に適当な機械的係止手段を嵌合させることに
より自動的に、しかも、段階的に引き抜くこともできる
。

ラックの溝にＩＣ等の電子部品を入れた状態でラックを
持ち運びする場合には、運搬中に溝内の部品がラックか
ら脱落する恐れがあるのでピンを差して部品の脱落を防
止する。

次に、本発明の部品収納容器の使用される部品取扱装置
の一例としてＩＣハンドラを挙げて、部品収納容器の具
体的な使用方法または使用態様について詳細に説明する
。

第２図〜第３図において、１０は、ＩＣハンドラであり
、２はそのＩＣローダ部、３はＩＣローダ部からＩＣの
供給を受け、ＩＣを収納して搬送するパケット搬送機構
部、４はパケット搬送機構部３の搬送路を包み込む恒温
槽、５は、パケット搬送機構部３から部品の供給を受け
て、その部品を検査する測定部、６は、検査後のＩＣを
パケット搬送機構部３から受けてほぼ水平搬送し、検査
結果に対応して収納部７のラックに収納する分類部、８
はローダ部２及び収納部７に装着され、検査部品（ここ
ではＩＣ）を収納するラック、そして５ａは、測定部５
に設けられ、ＩＣの電気的特性等を測定するテストヘッ
ドである。

ここで、ローダ部２は、第２図及び第４図（ａ）に見る
ようにラック！Ｒｔ？ｊテーブル２１と、リニアフィー
ダ２２、ピックアップアーム２３（第５図参照）、ラッ
ク載置テーブル２１の下に設けられ、ラック載置テーブ
ル２１を」−ド移動させるエレベータ機構２４とを備え
たロード機構２０が複数並設（図では３個）されていて
、各ロード機構２０のそれぞれのラック載置テーブル２
１にはラック８がそれぞれ装着されている。

そして、第４図（ｂ）の断面図に見る押出し爪８２が爪
送り機構８３により溝８１に挿入され、この溝８１に沿
って部品−個の福相当分だけのピッチで水平方向に移動
して、最後部に配列されるＩＣ９を押して、ＩＣ９を１
個分だけ図面左側へと送り移動させる。ここで押出し爪
８２と爪送り機構８３とは、溝８１からＩＣ９を押出す
押出機構を構成していて、溝８１に沿って溝の一方の側
（図面左側）からＩＣ９を押してＩＣ９を溝の他方の側
（図面右側）から外へと押出すものである。

この爪８２が移動する溝８１は、リニアフィーダ２２の
レール２２ａの送り面に一致する位置に位置付けられた
溝である。

なお、押出し爪８２の１ピッチ分の移動制御は制御部（
図示せず）からの制御信号によりその送出の都度杼われ
る。また、爪送り機構８３は、第４図（ｂ）に見るよう
に、クランク状の押出し爪８２を挟持していて、第４図
（ａ）に見るように、ベルト８５を介してプーリ８６に
より駆動され、水Ｃ１１−軸８４１−をスライドして水
・Ｉｉ、移動する。

ここで、リニアフィーダ２２のレール２２ａは、ラック
８の押出し爪８２が挿入される溝８１の部品送出１」に
隣接して設けられている。そしてラック８の溝８１から
押出されたＩＣ９をレール２２ａで受けて、これをレー
ル２２ａの他端のピックアップアーム位置Ｐまで移送す
る。このリニアフィーダ２２は、菱形をしていて、その
柱が板ばねにより形成され、所定の周波数、例えば数十
Ｈｚ〜数百Ｈｚで斜め方向に振動する。

そこで、パケット搬送部３側に供給されるＩＣ９は、押
出し爪８２の１ピッチ分の移動に従って先端（ｎｌｌの
１つが、リニアフィーダ２２のレール２２ａ１−に押出
され、このリニアフィーダ２２により、その先端のピッ
クアップ位置Ｐまで移送される。このことにより送出さ
れたＩＣ９が先端の部品ピックアップ待機位置にセット
される。

ここで、ラック８は、ラック装置テーブル２１に着脱可
能に装着され、ラック載置テーブル２１がエレベータ機
構２４により上下移動されることによりラック８が上下
移動して、順次下側の溝８１からその底面がリニアフィ
ーダ２２のレール２２ａの送り面に一致する位置に次々
に位置決めされる。

２５．２５は、ラック８の両端を縦方向に貫通している
部品脱落防止用のピンであって、ヘッド２５０の部分で
吊り下げ固定（固定手段は図示せず）されていて、その
先端側がリニアフィーダ２２のレール２２ａの面に一致
する位置に位置付けられた溝８１を塞がない長さとなっ
ている。

ＩＣロード機構２０は、このようなラック８及びそのエ
レベータ機構２４、爪送り機構８３、そしてラック装若
杖態検出／位置決めガイド機構２６等からなり、ここで
はローダ部２に３個並設されている。初期状態では、Ｉ
Ｃロード機構２０のラック８は、一番下の溝８１の底面
がレール２２ａの上面に一致していて、この溝８１から
ＩＣが送出されて、その溝８１が空になると、溝８１の
積み上げピッチ（１ピツチ）分だけ下げられる。

すなわち、あるラック８の溝８１のＩＣが空になった時
点で、ラック８は、エレベータ機構２４により下へと移
動してそのヒにある溝８１の底面がレール２２ａの上面
の位置に位置付けられる。ピン２５のヘッド２５０は固
定されているので、ラックが一段下がると、ピンの先端
は新たなＩＣの収納された溝から抜かれることとなり、
ＩＣの送出を妨害しない。

さて、ラック８から送出されてリニアフィーダ２２のレ
ール２２ａの先端で待機しているＩＣ９は、第５図及び
第６図（ａ）に見るようにピックアップアーム２３の爪
２３１が開かれた状態で降下し、閉じられることにより
把持され、パケット搬送機構部３のパケット３１の各収
納位置までレール２２　ａ　ｔを移動して順次運ばれる
。そして爪２３１が開かれてＩＣ９がそれぞれの収納開
口部３２にセットされる。ここで収納開口部３２は、１
つのパケット３１に４つ設けられていて、第６図（ａ）
に示すようにパケット３１の端から順次４個のＩＣ９が
収納開口部３２に収納されて行く。

したがって、ピックアップアーム２３のハンドリング時
間に合わせたタイミングでラック８から４個のＩＣ９が
一個一個間欠的に送出され、リニアフィーダ２２の先端
の待機位置Ｐに搬送されて、ピックアップアーム２３に
より順次リニアフィーダ２２から４個のＩＣ９が一個一
個取り」−げられてパケット３１に個々に搬送される。

なお、２３２は、ピックアップアーム２３の爪２３１を
閉じる方向に付勢するばねであり、２３３．２３３及び
２３４，２３４は、爪２３１を開く方向に回動させるカ
ム面及びローラ、そして２３５．２３５は、爪２３１の
２つの各爪片の回動支点である。

このようして１つのパケット３１にＩＣ４個がセットさ
れると、パケット３１が１つ前へと進み、次の空のパケ
ット３１がリニアフィーダ２２に対応するＩＣ供給位置
に位置付けられる。ここで、あるＩＣロード機構２０の
ラック８のＩＣがすべて空になると、制御部からの制御
信号に応じてエレベータ機構２４がｌユ昇制御されてラ
ック８が」−へと移動して元の初期状態に戻り、ピック
アップアーム２３が次のＩＣロード機構２０の位置へと
移動してそのＩＣロード機構２０のラック８からＩＣが
供給され、空になったラック８は、取り外される。そし
てＩＣが一杯詰まった新しいラック８が、取り外された
ＩＣロード機構２０に新たに装着される。

ところで、このパケット３１は、第６図（ａ）。

（ｂ）に見るように、複数個が所定間隔をおいて両端で
無端のチェーン３２ａ、３２ｂにより連結されている。

そして第２図に見るように、このチェーン３３．３２が
パケット搬送機構部３の両端に設けられたスプロケット
３３ａ、３３ｂに咬み合って送られることで順次搬送さ
れる。すなわち、これらはチェーン伝動機構を構成して
いる。したがって、パケット３１は、チェーン３２ａ、
３２ｂに架は渡されて支持され、前側のスプロケット３
３ａが間欠的にモータ３４によりベルト３５を介して駆
動され、各パケット３１が所定のピッチで間欠送りされ
る。ここで、パケット３１は、熱伝導性のよい金属等の
部材、例えばアルミニウム笠で構成されている。

さて、第２図、第３図に見るようにパケット搬送機構部
３は、チェーン３２ａ、３２ｂも含めてパケットが恒温
槽４の中に収納され、恒温槽４の底部に設けられたヒー
９４１により加熱される。

したがって、パケット３１に収納されたＩＣ９は、この
送り過程で所定の温度まで加熱される。

そして、第６図（ｂ）に見るように、測定部５の下まで
送られ、測定部５にパケット３１が位置したときに、間
欠送りの停＋ｈした状態に一致してスプロケット３３ａ
の駆動が停止した状態において、この停止期間中の初期
に測定部５のパケット３１の下側に配置された直動カム
３６ａによる押−１−ピン機構３６によりチャック付き
押さえビン３７が−１−へ駆動されて、各収納量［−１
部３２を貫通して測定部５（ｔｌへとＩＣ９を把持して
押上げ押付ける。なお、この押−１−ビン機構３６及び
押さえピン３７はそれぞれ各収納量Ｄ　部３２の下側に
位置して４つ並設されていて、押さえピン３７の先端の
チャック部分はピックアップアームの爪２３と同様な形
状となっている。

ここで、各ＩＣ９が測定部５には、その天井側から下側
に向けて固定されたコンタクトユニット５１（又はソケ
ット５１）が各収納開口部３２の位置に対応するように
設けられていて、第６図（ｂ）の点線で示すように前記
押さえビン３７により押上られたＩＣ９がこのコンタク
トユニットのコンタクトに接触して電気的に接続される
。そしてコンタクトユニット５１に結合されたテストへ
ラド５ａにより押」−られ接触したＩＣ９の測定処理が
なされる。

このようにして、測定部５にＩＣ９が供給され、測定部
５により各ＩＣ９の測定が行われ、測定が終了した時点
で押子、ビン機構３６が直動カム３６ａの戻り移動によ
りド降作動して押さえビン３７が降下して、コンタクト
ユニット５１との接続が解かれる。そして各ＩＣ９がパ
ケット３１の元の収納開口部３２に戻される。なお、こ
の時点では、押さえビン３７の先端ｍｔＪのチャックは
、パケット３１の底面より下側に位置している。

その後、間欠送りの停＋Ｌ期間が終ｒして、次の送り状
態に入り、パケット３１がチェーン３２ａ。

３２ｂを介して次に送られる。そして次のパケット３１
が測定部５のＦに位置してコンタクトユニット５１のコ
ンタクトに次のＩＣ９の端子を接触させて、同様な測定
する。このようにしてＩＣの測定部５に対する供給処理
がなされる。

次に、測定の終了したＩＣ９は、再びパケット３１に収
納されて４つのＩＣがともに搬送され、前側のスプロケ
ット３３ａの近傍にある部品ピックアップ位置に来たと
きに、第３図及び第６図（ｂ）に見るように、分類部６
のビックアラプアー１１６１によりそれぞれの４個のＩ
Ｃ９がパケット３１から取出されて、ベルト８２　ａ　
ｆに搬送される。なお、ピックアップアーム６１は、ピ
ックアップアーム２３と同様な構成をしていて、６１１
は、その爪である。

ここで、前記分類部のピックアップがパケット３１の各
収納量［ｌ　ｍ＜　３２に４つの各ＩＣをセットする作
業時間及びここでのパケット３１の各収納量１“］耶３
２から４つの各ＩＣ９を取り出す作業時間は、前記測定
部５のＩＣ測定時間より短い時間であり、ＩＣ９のＭｌ
ｌｌｌｌｌ高中てパケット３１の送りが停止している間
に行われる。

分類部６は、ピックアップアーム６１と、ベルト搬送機
構６２、分類数に対応する複数のＩＣ押出機構とからな
り、ベル）８２ａ上のＩＣ９を対応するラック８の位置
で分類に対応するＩＣ押出機構を作動してその押込みピ
ンを伸張させることでラック８の溝８１にＩＣ９を押込
むことで分類する。

この分類部で使用されるラックはローダ部で使用される
ラックと同様に部品落下防１［−用ピンを有する。ピン
の抜き差しの安領もローダ部におけるものと全く同様で
ある。

なお、先のエレベータ機構２４のエレベータ機構の１ユ
下動の作動制御及びそのタイミング、ビツクアップアー
ム２３の爪２３１及びピックアップアームの爪の開閉作
動の制御及びそのタイミング、そして分類部のＩＣ押込
み機構の押込みピンの進退作動制御及びそのタイミング
、そして押」−ピン機構３６の直動カム３６ａの往復作
動制御及びそのタイミングとは、それぞれマイクロプロ
セッサを内蔵した制御部からの電気信号により決定され
、制御されるものである。

ところで、リニアフィーダ２２のレール２２ａの溝は、
パケット３１と同様な段付きの溝形状をしていて、その
上段の溝がハイブリットＩＣ等の部品に対応した開口幅
となっており、下段の溝がＳＧＯ形ＩＣ等の部品に対応
した開口幅となっている。従って、ラック８をロード機
構部に差し換えるだけで、パケット３１に異なる部品を
供給することができ、サイズの異なる部品を検査するこ
とが可能である。なお、この場合、測定部のコンタクト
ユニット５１は、これら異なる部品が接続できるような
ものとなっているか、コンタクトユニット５１をその都
度測定部品に合わせて差し換える。

以上説明してきたが、パケット搬送機構部の搬送機構は
、チェーンに限定されるものではなく、ベルト等による
、いわゆるｊｊｌＥ端巻掛は伝動機構を使用することが
できる。また、このような巻掛は伝動機構の他、平行四
辺形のリンクを使用して水平のレール上に載置してパケ
ットを爪送りする間欠送り機構でもよい。また、ベルト
に爪を設けてパケット又は部品を直接間欠送りするもの
であってもよい。

さらに、実施例では、爪送り機構によりラックから部品
を外へと送り出しているが、これは、ピンを出［１の反
対側から溝に沿って挿入し、反対の出口側から押出すよ
うにしてもよく、爪による送り機構に限定されるもので
はない。いわゆる溝から部品を押出す押出機構ならばよ
い。

また、実施例では、多段に溝を有するラックを使用して
いるが、段は１段のものであってもよく、いわゆる」二
部が塞さがれているような溝を持ち、容器から部品がこ
ぼれ落ちたり、不整列となったりし難いもので、部品が
容器から直接ピックアップすることが難しいような部品
容器であればどのようなものでも適用できる。

さらに、この発明では、取り扱う部品がＩＣに限定され
るものではないことはもちろんである。

［発明の効果］以上の説明から理解できるように、本発明の部品収納容
器は」一部は塞がれているが、溝の少なくとも両端部が
開放されている。

このように上部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの
部品収納容器を設けて、多くの部品を連続的に水平状態
で溝に収納するとともに、溝の一方の開口側から押出機
構により溝の他方の開口側へ部品を押出ことができる。

そして、この押出側開口部に隣接して、例えば、リニア
フィーダを設けることにより、排出された部品を受ける
ことができる。

かくして、部品収納容器から部品をｆｌＴ］’ｌ’−に
１個だけ分離して取り出すことができ、リニアフィーダ
により取出された部品をピックアップし易い位置まで移
送できる。しかも、リニアフィーダを用いることにより
搬送機構に部品を供給する部品供給機構全体を小型なも
のとすることができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ラック＋リニアフィーダにより人眼の部品を
順次比較的短時間の内に供給でき、部品自体を強制的に
押さえてその流れを市めたりする必要がなくなる。

その結果、ガイドレール等による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする７認がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

しかも、前記ラック＋リニアフィーダに加えて、搬送機
構側にパケットを用いてほぼ水平に搬送するようにして
かつ部品を複数個並列にパケットに収納すれば、筒中に
、複数個の部品を同時に検査処理でき、装置自体の大き
さもあまり人きくせずに済む。

しかも、本発明のラックは両端部に、ラックの１一部か
ら下部までｉＴ通する部品落下防１１ピンを有する。こ
のピンは手で引き抜くこともできるし、あるいは、ピン
の」一部のヘッドの部分に過半な機械内孫＋Ｌ手段を嵌
合させることにより自動的に引き抜（こともできる。

ラックの溝にＩＣ等の電Ｔ一部品を入れた状態でラック
を持ち運びする場合には、移動運搬中に溝内の部品がラ
ックから脱落する恐れがあるのでピンを差して部品の脱
落を防止できる。本発明のピンは他のストッパ一方式よ
りも安全性が高く、構造も極めてｒｒｆ１単である。特
に、本発明のラックをリニアフィーダと併用する際、ピ
ンは他のストッパーと異なり、ＩＣ等の部品の送出の邪
魔にならない。

またパケットをサイズの異なる部品も同時に載置できる
ように］［夫すれば、装置自体は全く変更することなく
サイズの異なる部品がランダムに混合されたロフトにつ
いて迅速に検査することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明の部品収納容器の一実施例の説明
図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）におけるＢ−Ｂ線に沿
った断面図であり、第２図は本発明の部品収納容器が使
用される部品取扱装置の一例であるＩＣハンドラの上部
取外し平面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ）
及び（ｂ）はそのローダ部の説明図、第５図はローダ部
からパケット搬送部へＩＣを供給するハンドリング操作
の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）はパケット搬送機構
の側面断面図及び正面断面図、第７図は、従来のＩＣハ
ンドラの基本的な構成を示す概要図である。１・・・ＩＣハンドラ、２・・・ＩＣローダ部、３・・
・ＩＣローダ部、４・・・パケット搬送機構部、５・・
・パケット搬送機構部、６・・・測定部、７・・・収納
部、８・・・ラック、９・・・ＩＣ。１０・・・ＩＣハンドラ、２０・・・ロード機構、２１
・・・ラック載置テーブル、２２・・・リニアフィーダ
、２３・・・ピックアップアーム、２４・・・エレベー
タ機構、３１・・・パケット、３２・・・収納量Ｉ」部
、８１・・・溝。第６図（Ｑ）第６図（ｂ）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）部品収納容器が装着されるローダ部と、前記部品
の処理部と、前記ローダ部から供給された部品を載置し
て前記処理部まで搬送する搬送機構部とを備えた部品取
扱装置において、前記部品収納容器は、個々の部品を連
続的に水平状態で収納する、上部が塞がれた溝を複数段
有し、この溝は少なくとも両端部が開放されていて、前
記溝に沿って溝の一方の側から部品を押して溝の他方の
側から部品を溝外へ押し出すことができ、前記容器の両
端部において最上段の溝の上側から縦に最下段の溝まで
貫通する着脱可能な第１および第２のピンを有する部品
収納容器。
（２）溝は前側および両端部が開放されている特許請求
の範囲第１項に記載の部品収納容器。
（３）溝の前側端部には、部品の落下を防止するための
側壁が、溝の底面から立設されている特許請求の範囲第
１項に記載の部品収納容器。
（４）いわゆるラック状の構造体である特許請求の範囲
第１項から第３項までのいずれかに記載の部品収納容器
。