JPH012124A - 座標入力装置 - Google Patents
座標入力装置Info
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- JPH012124A JPH012124A JP62-156666A JP15666687A JPH012124A JP H012124 A JPH012124 A JP H012124A JP 15666687 A JP15666687 A JP 15666687A JP H012124 A JPH012124 A JP H012124A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は座標入力袋こ、特に振動ペンから入力された振
動を振動伝達板に複数設けられたセンサにより検出して
前記振動ペンの振動伝達板上での座標を検出する座標入
力装置に関するものである。
動を振動伝達板に複数設けられたセンサにより検出して
前記振動ペンの振動伝達板上での座標を検出する座標入
力装置に関するものである。
[従来の技術]
座標入力装置として、従来より各種の入力装置が知られ
ている。この種の装置では、所定の入力面上に座標系を
設定し、所定方式の入力部材により入力面に入力を行な
い、入力面上の座標系における座標情報を検出する。
ている。この種の装置では、所定の入力面上に座標系を
設定し、所定方式の入力部材により入力面に入力を行な
い、入力面上の座標系における座標情報を検出する。
検出方式としては、抵抗膜や導電膜を対向配置すること
により入力タブレットを構成し、指やペンなどの筆記具
により対向配置された膜を接触させるもの、あるいは超
音波ペンなどによる入力部材を用い、振動伝達板などか
ら構成された入力タブレットに超音波振動を入力し、タ
ブレット上、に発生される弾性波の振動伝達時間から座
標値を検出する方式などが知られている。
により入力タブレットを構成し、指やペンなどの筆記具
により対向配置された膜を接触させるもの、あるいは超
音波ペンなどによる入力部材を用い、振動伝達板などか
ら構成された入力タブレットに超音波振動を入力し、タ
ブレット上、に発生される弾性波の振動伝達時間から座
標値を検出する方式などが知られている。
タブレットを構成するガラス、その他の振動伝達板には
、伝達される振動の伝達時間を計算するために、機械振
動を電気信号に変換するため圧電素子などから構成され
た複数の振動センサが設けられる。
、伝達される振動の伝達時間を計算するために、機械振
動を電気信号に変換するため圧電素子などから構成され
た複数の振動センサが設けられる。
振動入力タイミングがわかっていれば、振動センサへの
振動の到達タイミングを検出することによってそのセン
サへの振動伝達時間を知ることができる。振動伝達板上
での振動伝達速度は一定と考えることができるので、振
動伝達時間から振動センサと入力点の間の直線距離を得
ることができる。各センサと入力点の直線距離がわかれ
ば、3平方の定理などにより入力点の座標値を決定でき
る。
振動の到達タイミングを検出することによってそのセン
サへの振動伝達時間を知ることができる。振動伝達板上
での振動伝達速度は一定と考えることができるので、振
動伝達時間から振動センサと入力点の間の直線距離を得
ることができる。各センサと入力点の直線距離がわかれ
ば、3平方の定理などにより入力点の座標値を決定でき
る。
[発明が解決しようとする問題点]
従来では、振動検出タイミングを決定するには、振動セ
ンサが出力する検出信号波形のピーク値を検出する方法
が用いられていた。
ンサが出力する検出信号波形のピーク値を検出する方法
が用いられていた。
ところが、振動伝達板が有限の面積を有し、その端部領
域でかならずなにがしかの反射波が発生する。したがっ
て、振動センサに入力される振動波形は直接波と反射波
の合成波となる。
域でかならずなにがしかの反射波が発生する。したがっ
て、振動センサに入力される振動波形は直接波と反射波
の合成波となる。
特に座標入力点とセンサおよび振動伝達板の端部の位置
関係によっては、直接波と反射波の経路差が非常に小さ
くなり、両者の干渉によって検出信号波形が大きく歪む
、この影響により、検出タイミングにずれが生じ、座標
検出精度が低下するという問題があった。
関係によっては、直接波と反射波の経路差が非常に小さ
くなり、両者の干渉によって検出信号波形が大きく歪む
、この影響により、検出タイミングにずれが生じ、座標
検出精度が低下するという問題があった。
この点に鑑みて、振動伝達板の端部を防振材などで支持
する技術も知られているが、完全に反射波を除去するこ
とは困難で、振動伝達波のサイズよりも有効入力面の面
積を小さくして直接波と反射波がタイムラグを持ってセ
ンナに到達するようにし、干渉による検出タイミングの
ずれが生じないようにしなければならなかった。
する技術も知られているが、完全に反射波を除去するこ
とは困難で、振動伝達波のサイズよりも有効入力面の面
積を小さくして直接波と反射波がタイムラグを持ってセ
ンナに到達するようにし、干渉による検出タイミングの
ずれが生じないようにしなければならなかった。
したがって、必要な有効入力面の面積を確保するため、
かなり振動伝達板の面積を大きく設定しなければならず
、装置が大型化する、あるいは有効入力面の面積が限定
されるという問題があった。
かなり振動伝達板の面積を大きく設定しなければならず
、装置が大型化する、あるいは有効入力面の面積が限定
されるという問題があった。
[問題点を解決するための手段]
以上の問題点を解決するために、本発明においては、振
動ペンから入力された振動を振動伝達板に複数設けられ
たセンサにより検出して前記振動ペンの振動伝達板上で
の座標を検出する座標入力装置において、複数の位相が
互いに異なるパルス列の合成信号により前記振動ペンの
振動子を駆動する駆動制御手段を設けた構成を採用した
。
動ペンから入力された振動を振動伝達板に複数設けられ
たセンサにより検出して前記振動ペンの振動伝達板上で
の座標を検出する座標入力装置において、複数の位相が
互いに異なるパルス列の合成信号により前記振動ペンの
振動子を駆動する駆動制御手段を設けた構成を採用した
。
[作 用]
以上の構成によれば、位相の異なる駆動パルス列が振動
子の減衰振動を減衰させるように作用するので、振動セ
ンサにおいて直接波と反射波が干渉をうけた場合でも検
出信号波形のピーク値のずれを防止し、振動伝達時間の
誤差に起因する座標検出誤差を低減できる。また、位相
の異なるパルスを組み合わせることにより振動センサで
の検出波形を所望の形状に制御でき、振動伝達板上での
反射波などのノイズの影響を除去するのに適した砺出タ
イミング、あるいは波形上の特定の点を設定することが
できる。
子の減衰振動を減衰させるように作用するので、振動セ
ンサにおいて直接波と反射波が干渉をうけた場合でも検
出信号波形のピーク値のずれを防止し、振動伝達時間の
誤差に起因する座標検出誤差を低減できる。また、位相
の異なるパルスを組み合わせることにより振動センサで
の検出波形を所望の形状に制御でき、振動伝達板上での
反射波などのノイズの影響を除去するのに適した砺出タ
イミング、あるいは波形上の特定の点を設定することが
できる。
[実施例]
以下、図面に示す実施例に基づき、本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図は本発明を採用した情報入出力装置の構造を示し
ている。第1図の情報入出力装置は振動伝達板8からな
る入力タブレットに振動ペン3によって座標入力を行な
わせ、入力された座標情報にしたがって入力タブレット
に重ねて配置されたCRTからなる表示器11°に入力
画像を表示するものである。
ている。第1図の情報入出力装置は振動伝達板8からな
る入力タブレットに振動ペン3によって座標入力を行な
わせ、入力された座標情報にしたがって入力タブレット
に重ねて配置されたCRTからなる表示器11°に入力
画像を表示するものである。
図において符号8で示されたものはアクリル、ガラス板
などからなる振動伝達板で振動ペン3から伝達される振
動をその角部に3個設けられた振動センサ6に伝達する
0本実施例では振動ペン3から振動伝達板8を介して振
動センサ6に伝達された超音波振動の伝達時間を計測す
ることにより振動ペン3の振動伝達板8上での座標を検
出する。
などからなる振動伝達板で振動ペン3から伝達される振
動をその角部に3個設けられた振動センサ6に伝達する
0本実施例では振動ペン3から振動伝達板8を介して振
動センサ6に伝達された超音波振動の伝達時間を計測す
ることにより振動ペン3の振動伝達板8上での座標を検
出する。
振動伝達板8は振動ペン3から伝達された振動が周辺部
で反射されて中央部の方向に戻るのを防止するためにそ
の周辺部分をシリコンゴムなどから構成された反射防止
材7によって支持されている。
で反射されて中央部の方向に戻るのを防止するためにそ
の周辺部分をシリコンゴムなどから構成された反射防止
材7によって支持されている。
振動伝達板8はCRT(あるいは液晶表示器など)など
、ドツト表示が可能な表示器11°Lに配置され、振動
ペン3によりなぞられた位置にドツト表示を行なうよう
になっている。すなわち、検出された振動ペン3の座標
に対応した表示器11’上の位置にドツト表示が行なわ
れ、振動ペン3により入力された点、線などの要素によ
り構成される画像はあたかも紙に古き込みを行なったよ
うに振動ペンの軌跡の後に現れる。
、ドツト表示が可能な表示器11°Lに配置され、振動
ペン3によりなぞられた位置にドツト表示を行なうよう
になっている。すなわち、検出された振動ペン3の座標
に対応した表示器11’上の位置にドツト表示が行なわ
れ、振動ペン3により入力された点、線などの要素によ
り構成される画像はあたかも紙に古き込みを行なったよ
うに振動ペンの軌跡の後に現れる。
また、このような構成によれば表示器11’にはメニュ
ー表示を行ない、振動ペンによりそのメニュー項目を選
択させたり、プロンプトを表示させて所定の位置に振動
ペン3を接触させるなどの入力方式を用いることもでき
る。
ー表示を行ない、振動ペンによりそのメニュー項目を選
択させたり、プロンプトを表示させて所定の位置に振動
ペン3を接触させるなどの入力方式を用いることもでき
る。
振動伝達板8に超音波振動を伝達させる振動ペン3は、
内部に圧電素子などから構成した振動子4を有しており
、振動子4の発生した超音波振動を先端が尖ったホーン
部5を介して振動伝達板8に伝達する。
内部に圧電素子などから構成した振動子4を有しており
、振動子4の発生した超音波振動を先端が尖ったホーン
部5を介して振動伝達板8に伝達する。
第2図(A)は振動ペン3の構造を示している。振動ペ
ン3に内蔵された振動子4は、振動子駆動回路2により
駆動される。振動子4の駆動信号は第1図の演算および
制御回路lから低レベルのパルス信号として供給され、
低インピーダンス駆動が可能な振動子駆動回路2によっ
て所定のゲインで増幅された後、振動子4に印加される
。
ン3に内蔵された振動子4は、振動子駆動回路2により
駆動される。振動子4の駆動信号は第1図の演算および
制御回路lから低レベルのパルス信号として供給され、
低インピーダンス駆動が可能な振動子駆動回路2によっ
て所定のゲインで増幅された後、振動子4に印加される
。
電気的な駆動信号は振動子4によって機械的な超音波振
動に変換され、ホーン部5を介して振動板8に伝達され
る。
動に変換され、ホーン部5を介して振動板8に伝達され
る。
振動子4の振動周波数はアクリル、ガラスなどの振動伝
達板8に板波を発生させることができる値に選択される
。また、振動子駆動の際、振動伝達板8に対して図の垂
直方向に振動子4が主に振動するような振動モードが選
択される。また、振動子4の振動周波数を振動子4の共
振周波数とすることで効率のよい振動変換が可能である
。
達板8に板波を発生させることができる値に選択される
。また、振動子駆動の際、振動伝達板8に対して図の垂
直方向に振動子4が主に振動するような振動モードが選
択される。また、振動子4の振動周波数を振動子4の共
振周波数とすることで効率のよい振動変換が可能である
。
上記のようにして振動伝達板8に伝えられる弾性波は板
波であり、表面波などに比して振動伝達板8の表面の傷
、障害物などの影テを受けにくいという利点を有する。
波であり、表面波などに比して振動伝達板8の表面の傷
、障害物などの影テを受けにくいという利点を有する。
第2図(B)は、振動子4の駆動信号波形を示している
。振動子4は図示のようなパルス波形により駆動される
。従来では、第2図(D)に示すような等間隔のパルス
列(1,0,1、・・・)により振動子4を駆動してい
たが、本実施例では第1群の等間隔のパルス列(101
0100101000010)と、それに続<180’
位相がずれた第2群のパルス列により駆動信号を構成し
ている。図示(7) J:うなパルス列は所定時間毎に
振動子4に入力される。
。振動子4は図示のようなパルス波形により駆動される
。従来では、第2図(D)に示すような等間隔のパルス
列(1,0,1、・・・)により振動子4を駆動してい
たが、本実施例では第1群の等間隔のパルス列(101
0100101000010)と、それに続<180’
位相がずれた第2群のパルス列により駆動信号を構成し
ている。図示(7) J:うなパルス列は所定時間毎に
振動子4に入力される。
このような駆動信号を用いる利点については後に詳述す
る。
る。
再び、第1図において、振動伝達板8の角部に設けられ
た振動センサ6も圧電素子などの機械〜電気変換素子に
より構成される。3つの振動センサ6の各々の出力信号
は波形検出回路6に入力され、後段の演算制御回路lに
より処理可能な検出信号に変換される。演算制御回路1
は振動伝達時間の測定処理を行ない、振動ペン3の振動
伝達板8上での座標位置を検出する。
た振動センサ6も圧電素子などの機械〜電気変換素子に
より構成される。3つの振動センサ6の各々の出力信号
は波形検出回路6に入力され、後段の演算制御回路lに
より処理可能な検出信号に変換される。演算制御回路1
は振動伝達時間の測定処理を行ない、振動ペン3の振動
伝達板8上での座標位置を検出する。
検出された振動ペン3の座標情報は演算制御回路1にお
いて表示器11′による出力方式に応じて処理される。
いて表示器11′による出力方式に応じて処理される。
すなわち、演算制御回路は入力座標情報に基づいてビデ
オ信号処理装置10を介して表示器11°の出力動作を
制御する。
オ信号処理装置10を介して表示器11°の出力動作を
制御する。
第3図は第1図の演算制御回路lの構造を示している。
ここでは主に振動ペン3の駆動系および振動センサ6に
よる振動検出系の構造を示している。
よる振動検出系の構造を示している。
マイクロコンピュータ11は内部カウンタ、ROMおよ
びRAMを内蔵している。駆動信号発生回路12は第1
図の振動子駆動回路2に対して所定周波数の駆動パルス
を出力するもので、マイクロコンピュータ11により座
Ja@算用の回路と同期して起動される。
びRAMを内蔵している。駆動信号発生回路12は第1
図の振動子駆動回路2に対して所定周波数の駆動パルス
を出力するもので、マイクロコンピュータ11により座
Ja@算用の回路と同期して起動される。
カウンタ13の計数値はマイクロコンピュータ11によ
りラッチ回路14にラッチされる。
りラッチ回路14にラッチされる。
一方、波形検出回路9は、振動センサ6の出力から、座
標検出のための振動伝達時間を計測するための検出信号
のタイミング情報および、筆圧検出のための信号レベル
情報を出力する。これらのタイミングおよびレベル情報
は入力ボート15および17にそれぞれ入力される。
標検出のための振動伝達時間を計測するための検出信号
のタイミング情報および、筆圧検出のための信号レベル
情報を出力する。これらのタイミングおよびレベル情報
は入力ボート15および17にそれぞれ入力される。
波形検出回路9から入力されるタイミング信号は入カポ
−)15に入力され、判定回路16によりラッチ回路1
4内の計数値と比較され、その結果がマイクロコンピュ
ータ11に伝えられる。すなわち、カウンタ13の出力
データのラッチ値として振動伝達時間が表現され、この
振動伝達時間値により座標演算が行なわれる。
−)15に入力され、判定回路16によりラッチ回路1
4内の計数値と比較され、その結果がマイクロコンピュ
ータ11に伝えられる。すなわち、カウンタ13の出力
データのラッチ値として振動伝達時間が表現され、この
振動伝達時間値により座標演算が行なわれる。
表示器11′の出力制御処理は入出力ボート17を介し
て行なわれる。
て行なわれる。
第4図は第1図の波形検出回路9に入力される検出波形
と、それに基づく振動伝達時間の計測処理を説明するも
のである。第4図において符号41で示されるものは振
動ペン3に対して印加される駆動信号パルスである。こ
のような波形により駆動された振動ペン3から振動伝達
板8に伝達された超音波振動は振動伝達板8内を通って
振動センサ6に検出される。
と、それに基づく振動伝達時間の計測処理を説明するも
のである。第4図において符号41で示されるものは振
動ペン3に対して印加される駆動信号パルスである。こ
のような波形により駆動された振動ペン3から振動伝達
板8に伝達された超音波振動は振動伝達板8内を通って
振動センサ6に検出される。
振動伝達板8内を振動センサ6までの距離に応じた時間
tgをかけて進行した後、振動は振動センサ6に到達す
る。第4図の符号42は振動センサ6が検出した信号波
形を示している0本実施例において用いられる板波は分
散性の波であり、そのため検出波形のエンベロープ42
1と位相422の関係は振動伝達距離に応じて変化する
。
tgをかけて進行した後、振動は振動センサ6に到達す
る。第4図の符号42は振動センサ6が検出した信号波
形を示している0本実施例において用いられる板波は分
散性の波であり、そのため検出波形のエンベロープ42
1と位相422の関係は振動伝達距離に応じて変化する
。
ここで、エンベロープの進む速度を群速度Vg、位相速
度をVpとする。この群速度および位相速度の違いから
振動ペン3と振動センサ6間の距離を検出することがで
きる。
度をVpとする。この群速度および位相速度の違いから
振動ペン3と振動センサ6間の距離を検出することがで
きる。
まず、エンベロープ421のみに着目すると、その速度
はVgであり、ある特定の波形上の点。
はVgであり、ある特定の波形上の点。
たとえばピークを第4図の符号43のように検出すると
、振動ペン3および振動センサ6の間の距離dはその振
動伝達時間をtgとして d=Vg・tg ・・・(1)この
式は振動センサ6の1つに関するものであるが、同じ式
により他の2つの振動センサ6と振動ペン3の距離を示
すことができる。
、振動ペン3および振動センサ6の間の距離dはその振
動伝達時間をtgとして d=Vg・tg ・・・(1)この
式は振動センサ6の1つに関するものであるが、同じ式
により他の2つの振動センサ6と振動ペン3の距離を示
すことができる。
さらに、より高精度な座IM値を決定するためには、位
相信号の検出に基づく処理を行なう。第4図の位相波形
422の特定の検出点、たとえば摂動印加から、ピーク
通過後のゼロクロス点までの時間をtpとすれば振動セ
ンサと振動ペンの距離は d=n*入p+vp * t p ・・−(2)
となる。ここで入pは弾性波の波長、nは整数である。
相信号の検出に基づく処理を行なう。第4図の位相波形
422の特定の検出点、たとえば摂動印加から、ピーク
通過後のゼロクロス点までの時間をtpとすれば振動セ
ンサと振動ペンの距離は d=n*入p+vp * t p ・・−(2)
となる。ここで入pは弾性波の波長、nは整数である。
前記の(1)式と(2)式から上記の整数nは
n=[(Vg lItg −Vp * tp)/
入 p + 1/N1−(3)と示される。こ゛こでN
はO以外の実数であり、適当な数値を用いる。たとえば
N=2とし、±172波長以内であれば、nを決定する
ことができる。
入 p + 1/N1−(3)と示される。こ゛こでN
はO以外の実数であり、適当な数値を用いる。たとえば
N=2とし、±172波長以内であれば、nを決定する
ことができる。
上記のようにして求めたnを(2)式に代入することで
、振動ペン3および振動センサ6間の距離を正確に測定
することができる。
、振動ペン3および振動センサ6間の距離を正確に測定
することができる。
t54図に示した2つの振動伝達時rM1tgおよびt
pの測定のため、波形検出回路9はたとえば第5図に示
すように構成することができる。
pの測定のため、波形検出回路9はたとえば第5図に示
すように構成することができる。
第5図において、振動センサ6の出力信号は前置増幅回
路51により所定のレベルまでJ′ff幅される。
路51により所定のレベルまでJ′ff幅される。
増幅された信号はエンベロープ検出回路52に入力され
、検出信号のエンベロープのみが取り出される。抽出さ
れたエンベロープのピークのタイミングはエンベロープ
ピーク検出回路53によって検出される。ピーク検出信
号はモノマルチ/曳イブレータなどから構成された信号
検出回路54によって所定波形のエンベロープ遅延時間
検出信号Tgが形成され、演算制御回路lに入力される
。
、検出信号のエンベロープのみが取り出される。抽出さ
れたエンベロープのピークのタイミングはエンベロープ
ピーク検出回路53によって検出される。ピーク検出信
号はモノマルチ/曳イブレータなどから構成された信号
検出回路54によって所定波形のエンベロープ遅延時間
検出信号Tgが形成され、演算制御回路lに入力される
。
また、このTg倍信号タイミングと、遅延時間3N整回
路57によって遅延された元信号から検出回路58によ
り位相遅延時間検出信号Tpが形成され、演算制御回路
1に入力される。
路57によって遅延された元信号から検出回路58によ
り位相遅延時間検出信号Tpが形成され、演算制御回路
1に入力される。
すなわち、Tg倍信号単安定マルチバイブレータ55に
より所定幅のパルスに変換される。また、コンパレート
レベル供給回路56はこのパルスタイミングに応じてt
p倍信号検出するためのしきい値を形成する。この結果
、コンパレートレベル供給回路56は第3図の符号44
のようなしベルとタイミングを有する信号44を形成し
、検出回路58に入力する。
より所定幅のパルスに変換される。また、コンパレート
レベル供給回路56はこのパルスタイミングに応じてt
p倍信号検出するためのしきい値を形成する。この結果
、コンパレートレベル供給回路56は第3図の符号44
のようなしベルとタイミングを有する信号44を形成し
、検出回路58に入力する。
すなわち、?it安定マルチバイブレータ55およびコ
ンパレータレベル供給回路56は位相遅延時間の測定が
エンベロープピーク検出後の一定時間のみしか作動しな
いようにするためのものである。
ンパレータレベル供給回路56は位相遅延時間の測定が
エンベロープピーク検出後の一定時間のみしか作動しな
いようにするためのものである。
この信号はコンパレータなどから構成された検出回路5
8に入力され、第4図のように遅延された検出波形と比
較され、この結果符号45のようなtp検出パルスが形
成される。
8に入力され、第4図のように遅延された検出波形と比
較され、この結果符号45のようなtp検出パルスが形
成される。
以上に示した回路は振動センサ6の1つ分のもので、他
のそれぞれのセジサに対しても同じ回路が設けられる。
のそれぞれのセジサに対しても同じ回路が設けられる。
センナの数を一般化してh個と2すると、エンベロープ
遅延時間Tgl−h、位相遅延時間Tpl−hのそれぞ
れh個の検出信号が演算制御回路lに入力される。
遅延時間Tgl−h、位相遅延時間Tpl−hのそれぞ
れh個の検出信号が演算制御回路lに入力される。
なお、第4rgJに示したエンベローフ’波形421は
前後が非対称な波形で、特に減衰部が急峻である。この
ようなエンベロープは第2図(A)ないし第4図の符号
41のような駆動パルスの構成により生じる。駆動パル
スの構成と検出波形の関係は後に詳述する。
前後が非対称な波形で、特に減衰部が急峻である。この
ようなエンベロープは第2図(A)ないし第4図の符号
41のような駆動パルスの構成により生じる。駆動パル
スの構成と検出波形の関係は後に詳述する。
第3図の演算制御回路では上記のTgl〜h、Tpl〜
h信号を入力ボート15から入力し、各々のタイミング
をトリガとしてカウンタ13のカウント値をラッチ回路
14に取り込む、前記のようにカウンタ13は振動子ペ
ンの駆動と同期してスタートされているので、ラッチ回
路14にはエンベロープおよび位相のそれぞれの遅延時
間を示すデータが取り込まれる。
h信号を入力ボート15から入力し、各々のタイミング
をトリガとしてカウンタ13のカウント値をラッチ回路
14に取り込む、前記のようにカウンタ13は振動子ペ
ンの駆動と同期してスタートされているので、ラッチ回
路14にはエンベロープおよび位相のそれぞれの遅延時
間を示すデータが取り込まれる。
第6図のように振動伝達板8の角部に3つの振動センサ
6を符号31からS3の位置に配置すると、第4図に関
連して説明した処理によって振動ペン3の位21Pから
各々の振動センサ6の位nまでの直線距離di−d3を
求めることができる。
6を符号31からS3の位置に配置すると、第4図に関
連して説明した処理によって振動ペン3の位21Pから
各々の振動センサ6の位nまでの直線距離di−d3を
求めることができる。
さらに演算制御回路1でこの直線距離d1〜d3に基づ
き振動ペン3の位置Pの座標(x、y)を3平方の定理
から次式のようにして求めることができる。
き振動ペン3の位置Pの座標(x、y)を3平方の定理
から次式のようにして求めることができる。
! = X / 2 +(di + d
2)(di −d2)/ 2X °=(4)y=
Y/2 ÷ (di +d3)(dl −d3)
/ 2Y ・・・(5)ここでX、YはS2、S3の
位置の振動センサ6と原点(位置St)のセンサのx、
Y@に沿った距離である。
2)(di −d2)/ 2X °=(4)y=
Y/2 ÷ (di +d3)(dl −d3)
/ 2Y ・・・(5)ここでX、YはS2、S3の
位置の振動センサ6と原点(位置St)のセンサのx、
Y@に沿った距離である。
以Hのようにして振動ペン3の位置座標をリアルタイム
で検出することができる。
で検出することができる。
さて1本実施例では、前述のように第2図(B)に示す
ような位相が180°異なる連続した2つのパルス列か
らなる駆動信号により振動ペン3の振動子4を駆動して
いる。
ような位相が180°異なる連続した2つのパルス列か
らなる駆動信号により振動ペン3の振動子4を駆動して
いる。
第2図(C)、(E)はそれぞれ第2図(B)の本実施
例と第2図(D)の従来例において振動センサ6のひと
つにより得られる検出信号波形を示している。両者を比
較してみると、本実施例の駆動パルス列の方が検出振動
波形の期間りにおける減衰が急峻であることがわかる。
例と第2図(D)の従来例において振動センサ6のひと
つにより得られる検出信号波形を示している。両者を比
較してみると、本実施例の駆動パルス列の方が検出振動
波形の期間りにおける減衰が急峻であることがわかる。
これは、第2図(B)の最初のパルス列が検出点に到達
した後、遅れて到達する180°位相がずれたパルス列
が検出点近傍の振動を打ち消すように作用するからであ
る。
した後、遅れて到達する180°位相がずれたパルス列
が検出点近傍の振動を打ち消すように作用するからであ
る。
第2図(E)のような従来の検出波形では、期間りの減
衰がゆるや、かで、またレベルも大きいので、直接波、
反射波の経路長の差が小さいなどの理由でこの減衰部に
反射波が干渉すると直接波のピークよりも大きなピーク
値が生じてしまうことが考えられる。
衰がゆるや、かで、またレベルも大きいので、直接波、
反射波の経路長の差が小さいなどの理由でこの減衰部に
反射波が干渉すると直接波のピークよりも大きなピーク
値が生じてしまうことが考えられる。
ところが、第2図(C)のような検出信号波形によれば
、減衰部のレベルが小さく、また迅速に減衰が生じるの
で、反射波が合成されても直接波よりも大きなピーク値
を生じることがなく、したがって振動検出タイミングに
ずれが生じることがない。
、減衰部のレベルが小さく、また迅速に減衰が生じるの
で、反射波が合成されても直接波よりも大きなピーク値
を生じることがなく、したがって振動検出タイミングに
ずれが生じることがない。
このようにして、正確な振動伝達時間を得ることができ
、座標検出精度を高精度に保つことかナサができる。
、座標検出精度を高精度に保つことかナサができる。
また、反射波の検出波形が直接波の検出波形のレベルの
高い部分に合成される可能性は、振動伝達板8の有効な
入力範囲と反射波の生じる部分、たとえば防振材7と振
動伝達板8の境界部、あるいは振動伝達板8の端縁が近
いほど高くなる。これは反射波と直接波の伝達経路長が
近くなるためである。
高い部分に合成される可能性は、振動伝達板8の有効な
入力範囲と反射波の生じる部分、たとえば防振材7と振
動伝達板8の境界部、あるいは振動伝達板8の端縁が近
いほど高くなる。これは反射波と直接波の伝達経路長が
近くなるためである。
従来では・前述のように反射波と直接波の伝達経路長の
、差をなるべく大きくして直接波と反射波の合成を避け
るため、有効入力範囲をタブレットのカバーで囲むなど
して制限していたが、本実施例によれば直接波とそれよ
り遅れて到達する反射波が重畳してもかまわない時間の
範囲を拡大できるので、有効入力範囲をタブレットの端
部により近づける、すなわち拡大することができる。ま
たは、逆に同一有効入力面積であれば、装置全体を小型
化できること、あるいは同一装置のサイズでより大きな
有効入力面精を獲得できることを意味する。
、差をなるべく大きくして直接波と反射波の合成を避け
るため、有効入力範囲をタブレットのカバーで囲むなど
して制限していたが、本実施例によれば直接波とそれよ
り遅れて到達する反射波が重畳してもかまわない時間の
範囲を拡大できるので、有効入力範囲をタブレットの端
部により近づける、すなわち拡大することができる。ま
たは、逆に同一有効入力面積であれば、装置全体を小型
化できること、あるいは同一装置のサイズでより大きな
有効入力面精を獲得できることを意味する。
上記実施例では、第2図(B)のように、1群目のパル
ス列(第2図(B)の場合3個図示)と、それに続く1
80°位相がずれたほぼ同数(第2図(B)の場合2個
図示)の2群目のパルスを振動ペン3の振動子4に与え
るようにしているが、位相の異なる複数群のパルスを振
動子にグーえる場合、その構成は上記に限定されず、任
意である。
ス列(第2図(B)の場合3個図示)と、それに続く1
80°位相がずれたほぼ同数(第2図(B)の場合2個
図示)の2群目のパルスを振動ペン3の振動子4に与え
るようにしているが、位相の異なる複数群のパルスを振
動子にグーえる場合、その構成は上記に限定されず、任
意である。
たとえば、第7図(A)のようにそれぞれ180°位相
がずれた3群のパルス列を用いるようにしてもよい。
がずれた3群のパルス列を用いるようにしてもよい。
0′s7図(A) (7)場合、1群目は2個、2群目
は1個、3群目は2個のそれぞれ180°位相がずれた
パルス群の連続によって振動ペン3の振動子駆動パルス
が構成されている。
は1個、3群目は2個のそれぞれ180°位相がずれた
パルス群の連続によって振動ペン3の振動子駆動パルス
が構成されている。
このような駆動パルスを用いる場合、振動センサ6の1
つによる検出波形は第7図(B)のようになる、すなわ
ち、1群目のパルス群により期間AIにおいてエンベロ
ープが立ち上がり、期間D1において2群目の1個のパ
ルスによりそれが減衰される。続いて完全に波形が減衰
しない内に1群目と位相が等しい3群目のパルス群が到
来するノテ、エンベロープビークPkが生じ、以後第2
図(E)の従来例とほぼ同様の速度で期間D2において
波形の減衰が生じる。
つによる検出波形は第7図(B)のようになる、すなわ
ち、1群目のパルス群により期間AIにおいてエンベロ
ープが立ち上がり、期間D1において2群目の1個のパ
ルスによりそれが減衰される。続いて完全に波形が減衰
しない内に1群目と位相が等しい3群目のパルス群が到
来するノテ、エンベロープビークPkが生じ、以後第2
図(E)の従来例とほぼ同様の速度で期間D2において
波形の減衰が生じる。
このような検出波形によれば、期間D1に生じるエンベ
ロープの変曲点を検出することにより振動検出タイミン
グを決定することができる。
ロープの変曲点を検出することにより振動検出タイミン
グを決定することができる。
第7図(A)のような駆動パルスにより、第7図(B’
、)のように検出波形の前部に変曲点を設け。
、)のように検出波形の前部に変曲点を設け。
この変曲点のタイミングを検出点とすることにより、振
動検出タイミングを検出波形に対して前方に移動するこ
とにより、直接波よりも遅れて検出点に到達する反射波
がエンベロープ波形に影響を与え、振動検出タイミング
に誤差を生じる危険性をより低減できる。
動検出タイミングを検出波形に対して前方に移動するこ
とにより、直接波よりも遅れて検出点に到達する反射波
がエンベロープ波形に影響を与え、振動検出タイミング
に誤差を生じる危険性をより低減できる。
第7図(B)の減衰期間D1の波形減衰速度、あるいは
その深さは、駆動信号を構成する位相が異なるパルス群
のパルス数、その他によって検出が容易になるように種
々変更が可能なことはもちろんである。
その深さは、駆動信号を構成する位相が異なるパルス群
のパルス数、その他によって検出が容易になるように種
々変更が可能なことはもちろんである。
[発明の効果]
以上から明らかなように、本発明によれば、振動ペンか
ら入力された振動を振動伝達板に複数設けられたセンサ
により検出して前記振動ペンの振動伝達板上での座標を
検出する座標入力装置において、複数の位相が互いに異
なるパルス列の合成信号により前記振動ペンの振動子を
駆動する駆動制御手段を設けた構成を採用しているので
、位相の異なる駆動パルス列が振動子の減衰振動を減衰
させるように作用するので、振動センサにおいて直接波
と反射波が干渉をうけた場合でも検出信号波形のピーク
値のずれを防止し、振動伝達時間の誤差に起因する座標
検出誤差を低減できる。したがって、振動伝達板上での
反射波の影響を除去するため、従来のように振動伝達板
の有効入力面の面積を限定したり、あるいは必要な有効
入力面の面積を得るために装置全体を大型化する必要が
ない。
ら入力された振動を振動伝達板に複数設けられたセンサ
により検出して前記振動ペンの振動伝達板上での座標を
検出する座標入力装置において、複数の位相が互いに異
なるパルス列の合成信号により前記振動ペンの振動子を
駆動する駆動制御手段を設けた構成を採用しているので
、位相の異なる駆動パルス列が振動子の減衰振動を減衰
させるように作用するので、振動センサにおいて直接波
と反射波が干渉をうけた場合でも検出信号波形のピーク
値のずれを防止し、振動伝達時間の誤差に起因する座標
検出誤差を低減できる。したがって、振動伝達板上での
反射波の影響を除去するため、従来のように振動伝達板
の有効入力面の面積を限定したり、あるいは必要な有効
入力面の面積を得るために装置全体を大型化する必要が
ない。
また、位相の異なるパルスを組み合わせることにより振
動センサでの検出波形を所望の形状に制御でき、振動伝
達板上での反射波などのノイズの影響を除去するのに適
した検出タイミング、あるいは波形上の特定の点を設定
することができる。
動センサでの検出波形を所望の形状に制御でき、振動伝
達板上での反射波などのノイズの影響を除去するのに適
した検出タイミング、あるいは波形上の特定の点を設定
することができる。
したがって、高精度な座標検出を行なえる信頼性が高く
小型軽tiS:な優れた座標入力装置を提供できる。
小型軽tiS:な優れた座標入力装置を提供できる。
第1図は本発明を採用した情報入出力装置の構成を示し
た説明図、第2図(A)は第1図の振動ペンの構造を示
した説明図、第2図(B)、(C)は本発明における振
動子駆動波形および検出波形をそれぞれ示した波形図、
第2図(D)、(E)は従来の振動子駆動波形および検
出波形をそれぞれ示した波形図、第3図は第1図の演算
制御回路の構造を示したブロック図、第4図は振動ペン
と振動センサの間の距離測定を説明する検出波形を示し
た波形図、第5図は第1図の波形検出回路の構成を示し
たブロック図、第6図は振動セれぞれ示した波形図であ
る。 l・・・演算制御回路 3・・・振動ペン4・・・振動
子 6・・・振動センサ8・・・振動伝達板
51・・・前置増幅器15・・・入力ボート 52・・・エンベロープ検出回路 54.58・・・信号検出回路
た説明図、第2図(A)は第1図の振動ペンの構造を示
した説明図、第2図(B)、(C)は本発明における振
動子駆動波形および検出波形をそれぞれ示した波形図、
第2図(D)、(E)は従来の振動子駆動波形および検
出波形をそれぞれ示した波形図、第3図は第1図の演算
制御回路の構造を示したブロック図、第4図は振動ペン
と振動センサの間の距離測定を説明する検出波形を示し
た波形図、第5図は第1図の波形検出回路の構成を示し
たブロック図、第6図は振動セれぞれ示した波形図であ
る。 l・・・演算制御回路 3・・・振動ペン4・・・振動
子 6・・・振動センサ8・・・振動伝達板
51・・・前置増幅器15・・・入力ボート 52・・・エンベロープ検出回路 54.58・・・信号検出回路
Claims (1)
- 振動ペンから入力された振動を振動伝達板に複数設けら
れたセンサにより検出して前記振動ペンの振動伝達板上
での座標を検出する座標入力装置において、複数の位相
が互いに異なるパルス列の合成信号により前記振動ペン
の振動子を駆動する駆動制御手段を設けたことを特徴と
する座標入力装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15666687A JPH0614310B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 座標入力装置 |
DE3852062T DE3852062T2 (de) | 1987-06-25 | 1988-06-22 | Koordinateneingabegerät. |
EP88109947A EP0296569B1 (en) | 1987-06-25 | 1988-06-22 | Coordinates input apparatus |
US07/377,768 US4910363A (en) | 1987-06-25 | 1989-07-10 | Coordinates input apparatus with plural pulse train whose phases differ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15666687A JPH0614310B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 座標入力装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS642124A JPS642124A (en) | 1989-01-06 |
JPH012124A true JPH012124A (ja) | 1989-01-06 |
JPH0614310B2 JPH0614310B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=15632651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15666687A Expired - Fee Related JPH0614310B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 座標入力装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4910363A (ja) |
EP (1) | EP0296569B1 (ja) |
JP (1) | JPH0614310B2 (ja) |
DE (1) | DE3852062T2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
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JPS6444526A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-16 | Seiko Instr & Electronics | Coordinate reader |
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US5177327A (en) * | 1990-11-16 | 1993-01-05 | Exzec, Inc. | Acoustic touch position sensor using shear wave propagation |
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DE69226241T2 (de) * | 1991-11-27 | 1999-03-25 | Canon Kk | Koordinateneingabegerät |
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JPH1165748A (ja) | 1997-08-22 | 1999-03-09 | Canon Inc | 座標入力装置及びセンサ装着構造及び方法 |
IL129450A (en) | 1999-04-14 | 2004-09-27 | Pegasus Technologies Ltd | Digitizer for erasable white whiteboards |
US7157649B2 (en) | 1999-12-23 | 2007-01-02 | New Transducers Limited | Contact sensitive device |
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JP2002236546A (ja) * | 2001-02-08 | 2002-08-23 | Canon Inc | 座標入力装置及びその制御方法、コンピュータ可読メモリ |
GB0116310D0 (en) | 2001-07-04 | 2001-08-29 | New Transducers Ltd | Contact sensitive device |
US6871149B2 (en) | 2002-12-06 | 2005-03-22 | New Transducers Limited | Contact sensitive device |
US7538894B2 (en) | 2005-04-15 | 2009-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Coordinate input apparatus, control method thereof, and program |
JP2008078628A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-04-03 | Canon Inc | 電子モジュールおよびその製造方法 |
JP5460341B2 (ja) * | 2010-01-06 | 2014-04-02 | キヤノン株式会社 | 3次元計測装置及びその制御方法 |
CN102183758A (zh) * | 2011-02-25 | 2011-09-14 | 深圳易方数码科技股份有限公司 | 一种超声波接收窗及超声波输入装置 |
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JP6049334B2 (ja) | 2012-07-12 | 2016-12-21 | キヤノン株式会社 | 検出装置、検出方法及びプログラム |
JP6031293B2 (ja) | 2012-08-03 | 2016-11-24 | キヤノン株式会社 | 座標入力装置及びその制御方法、プログラム |
JP6021531B2 (ja) | 2012-08-31 | 2016-11-09 | キヤノン株式会社 | 座標入力装置及びその制御方法、プログラム |
US11358290B2 (en) | 2017-10-19 | 2022-06-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Control apparatus, robot system, method for operating control apparatus, and storage medium |
JP2019084601A (ja) | 2017-11-02 | 2019-06-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、把持システムおよび情報処理方法 |
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JPH0533960Y2 (ja) * | 1985-02-25 | 1993-08-27 | ||
JPS6238924A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-19 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 弾性波を用いた座標読取り装置 |
GB2179152B (en) * | 1985-08-14 | 1989-05-10 | Seiko Instr & Electronics | Coordinate reading apparatus |
-
1987
- 1987-06-25 JP JP15666687A patent/JPH0614310B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-06-22 DE DE3852062T patent/DE3852062T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-06-22 EP EP88109947A patent/EP0296569B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-07-10 US US07/377,768 patent/US4910363A/en not_active Expired - Lifetime
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