JPH01201200A - Ｘ線照射装置における照射位置指示装置 - Google Patents
Ｘ線照射装置における照射位置指示装置Info
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- JPH01201200A JPH01201200A JP8824981A JP2498188A JPH01201200A JP H01201200 A JPH01201200 A JP H01201200A JP 8824981 A JP8824981 A JP 8824981A JP 2498188 A JP2498188 A JP 2498188A JP H01201200 A JPH01201200 A JP H01201200A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、Ｘ線源から発生したＸ線を反射型Ｘ線レンズ
により細く集束して対象に照射するＸ線照射装置に関し
、特に対象上のＸ線照射点の位置を指示する装置に関す
るものである。
により細く集束して対象に照射するＸ線照射装置に関し
、特に対象上のＸ線照射点の位置を指示する装置に関す
るものである。
［従来技術］
第３図は、対象上の限られた狭い領域に高い強度のＸ線
を照射することのできるＸ線照射装置の一例を示す。図
において１はＸ ＩＩ源、２は照射対象、３は全反射型
Ｘ線レンズ、４はレンズ中心部を通過するＸ線を阻止す
る内部ストッパ、５はＸ線レンズを出て発散するＸ線を
阻止する外部ストッパである。図に示さイしているよう
に、Ｘ線しノンズ３の内面の全反射面で反射されたＸ線
は、対象２上の一点に集束されて照射されるため、この
照射点におけるＸ線強度を、レンズを配置しない場合に
比べ桁違いに高めることができる。
を照射することのできるＸ線照射装置の一例を示す。図
において１はＸ ＩＩ源、２は照射対象、３は全反射型
Ｘ線レンズ、４はレンズ中心部を通過するＸ線を阻止す
る内部ストッパ、５はＸ線レンズを出て発散するＸ線を
阻止する外部ストッパである。図に示さイしているよう
に、Ｘ線しノンズ３の内面の全反射面で反射されたＸ線
は、対象２上の一点に集束されて照射されるため、この
照射点におけるＸ線強度を、レンズを配置しない場合に
比べ桁違いに高めることができる。
［発明が解決しようとする課題］
上記装置では、このように対象上の限られた狭い領域に
高い強度のＸ線を照射できるため、照射点を厳密に設定
する必要があるが、Ｘ線は直接観察が不可能なため、従
来は、大まかな位置合わせしかできなかった。
高い強度のＸ線を照射できるため、照射点を厳密に設定
する必要があるが、Ｘ線は直接観察が不可能なため、従
来は、大まかな位置合わせしかできなかった。
本発明は上述した点に鑑みてなされたものであり、簡単
な構成により、対象上の照射位置を直接指示することの
できる照射位置指示装置を提供することを目的としてい
る。
な構成により、対象上の照射位置を直接指示することの
できる照射位置指示装置を提供することを目的としてい
る。
［課題を解決するための手段］
この目的を達成するため、本発明の照射位置指示装置は
、Ｘ線源から発生したＸ線を反射型Ｘ線レンズにより細
く集束して対象に照射するＸ線照射装置において、可視
光を反射する鏡を前記Ｘ線源とレンズとの間のＸ線光路
上に配置し、該Ｘ線光路外に配置された可視光源からの
可視光を該鏡によりＸ線光路に重畳させて前記対象へ照
射するようにしたことを特徴としている。
、Ｘ線源から発生したＸ線を反射型Ｘ線レンズにより細
く集束して対象に照射するＸ線照射装置において、可視
光を反射する鏡を前記Ｘ線源とレンズとの間のＸ線光路
上に配置し、該Ｘ線光路外に配置された可視光源からの
可視光を該鏡によりＸ線光路に重畳させて前記対象へ照
射するようにしたことを特徴としている。
［作用］
上記鏡によりＸ線光路に重畳された可視光は、反射型Ｘ
線レンズに入射するが、反射型Ｘ線レンズは、色収差が
ほとんど無く光に関してもレンズ作用を持つため、反射
型Ｘ線レンズに入射した可視光はＸ線と全く同様−に集
光され、Ｘ線と同一点にスポットとして照射される。従
って、このスポットがＸ線照射点を指示することになる
。
線レンズに入射するが、反射型Ｘ線レンズは、色収差が
ほとんど無く光に関してもレンズ作用を持つため、反射
型Ｘ線レンズに入射した可視光はＸ線と全く同様−に集
光され、Ｘ線と同一点にスポットとして照射される。従
って、このスポットがＸ線照射点を指示することになる
。
以下、図面を用いて本発明を詳説する。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例の構成を示す概略図であり、
第３図の従来例と同一の構成要素には同一番号が付され
ている。図において６は可視光源で、発生した光はＸｔ
ｌ源１とＸ線レンズ３との間のＸ線光路上に斜めに挿入
されている鏡７により反射され、Ｘ線レンズ３の方向へ
進行する。この鏡７は、例えば金属薄膜を用いた鏡で、
Ｘ線は透過させ、可視光を反射する。対象から見て、Ｘ
線源１と可視光源とが光学的に等価と見なせるよう鏡７
及び光源６の位置が予め設定されている。８は対象２の
表面を詳しく観察するための拡大鏡である。
第３図の従来例と同一の構成要素には同一番号が付され
ている。図において６は可視光源で、発生した光はＸｔ
ｌ源１とＸ線レンズ３との間のＸ線光路上に斜めに挿入
されている鏡７により反射され、Ｘ線レンズ３の方向へ
進行する。この鏡７は、例えば金属薄膜を用いた鏡で、
Ｘ線は透過させ、可視光を反射する。対象から見て、Ｘ
線源１と可視光源とが光学的に等価と見なせるよう鏡７
及び光源６の位置が予め設定されている。８は対象２の
表面を詳しく観察するための拡大鏡である。
上記構成において、鏡７で反射された光は、Ｘ線と全く
同じ光路をたどりＸ線レンズ３に入射するが、先に述べ
たように、反射型Ｘ線レンズは光もＸ線と全く変わりな
く反射するため、Ｘ線ビームも可視光も対象２上の同一
点に照射される。そのため、拡大鏡８を用いて対象の表
面を観察すれば、対象上のＸ線照射点の位置を明確に識
別することができ、対象を移動させることにより、対象
上の任意の位置に照射点を正確に設定することができる
。
同じ光路をたどりＸ線レンズ３に入射するが、先に述べ
たように、反射型Ｘ線レンズは光もＸ線と全く変わりな
く反射するため、Ｘ線ビームも可視光も対象２上の同一
点に照射される。そのため、拡大鏡８を用いて対象の表
面を観察すれば、対象上のＸ線照射点の位置を明確に識
別することができ、対象を移動させることにより、対象
上の任意の位置に照射点を正確に設定することができる
。
尚、Ｘ線と可視光は、波長が大幅に異なるため、互いに
干渉することなく同時に使用することができる。
干渉することなく同時に使用することができる。
第２図は本発明の他の実施例を示す概略図である。本発
明実施例では、Ｘ線レンズ３″として多層膜を用いたも
のを使用している。多層膜を用いた反射型Ｘ線レンズも
可視光をＸ線と全く変わらずに反射するため、対象上の
Ｘ線照射点と可視光照射点は常に一致する。
明実施例では、Ｘ線レンズ３″として多層膜を用いたも
のを使用している。多層膜を用いた反射型Ｘ線レンズも
可視光をＸ線と全く変わらずに反射するため、対象上の
Ｘ線照射点と可視光照射点は常に一致する。
上記２つの実施例では、Ｘ線を透過する鏡を用いたが、
Ｘ線を透過しない鏡を用いることも可能である。ただし
、その場合には、Ｘ線照射時に鏡を光路から除かなけれ
ばならないことは言うまでもない。
Ｘ線を透過しない鏡を用いることも可能である。ただし
、その場合には、Ｘ線照射時に鏡を光路から除かなけれ
ばならないことは言うまでもない。
［効果］
以上詳述した如く、本発明によれば、簡単な構成で正確
にＸ線照射点を指示することのできる照射点指示装置が
実現される。
にＸ線照射点を指示することのできる照射点指示装置が
実現される。
第１図及び第２図は夫々本発明の一実施例を示す概略図
、第３図はＸ線照射装置を説明するための概略図である
。 １：Ｘ線源 ２：照射対象 ３：全反射型Ｘ線レンズ ６：可視光源 ７：鏡 ８：拡大鏡
、第３図はＸ線照射装置を説明するための概略図である
。 １：Ｘ線源 ２：照射対象 ３：全反射型Ｘ線レンズ ６：可視光源 ７：鏡 ８：拡大鏡
Claims (1)
- Ｘ線源から発生したＸ線を反射型Ｘ線レンズにより細く
集束して対象に照射するＸ線照射装置において、可視光
を反射する鏡を前記Ｘ線源と前記Ｘ線レンズとの間のＸ
線光路上に配置し、該Ｘ線光路外に配置された可視光源
からの可視光を該鏡によりＸ線光路に重畳させて前記対
象へ照射するようにしたことを特徴とする照射位置指示
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8824981A JPH01201200A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Ｘ線照射装置における照射位置指示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8824981A JPH01201200A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Ｘ線照射装置における照射位置指示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01201200A true JPH01201200A (ja) | 1989-08-14 |
Family
ID=12153157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8824981A Pending JPH01201200A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Ｘ線照射装置における照射位置指示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01201200A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5220169A (en) * | 1989-09-01 | 1993-06-15 | Hitachi, Ltd. | Surface analyzing method and apparatus |
| JP2004097471A (ja) * | 2002-09-09 | 2004-04-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 放射線発生装置及び放射線照射方向較正装置 |
| JP2007093315A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線集束装置 |
| JP2011089805A (ja) * | 2009-10-20 | 2011-05-06 | Shimadzu Corp | Ｘ線集束装置 |
| EP3603516A1 (de) * | 2018-08-02 | 2020-02-05 | Siemens Healthcare GmbH | Röntgenvorrichtung und verfahren zum betrieb der röntgenvorrichtung |
-
1988
- 1988-02-05 JP JP8824981A patent/JPH01201200A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5220169A (en) * | 1989-09-01 | 1993-06-15 | Hitachi, Ltd. | Surface analyzing method and apparatus |
| JP2004097471A (ja) * | 2002-09-09 | 2004-04-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 放射線発生装置及び放射線照射方向較正装置 |
| JP2007093315A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線集束装置 |
| JP2011089805A (ja) * | 2009-10-20 | 2011-05-06 | Shimadzu Corp | Ｘ線集束装置 |
| EP3603516A1 (de) * | 2018-08-02 | 2020-02-05 | Siemens Healthcare GmbH | Röntgenvorrichtung und verfahren zum betrieb der röntgenvorrichtung |
| JP2020018846A (ja) * | 2018-08-02 | 2020-02-06 | シーメンス ヘルスケア ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Ｘ線装置及びその操作方法 |
| US11229411B2 (en) | 2018-08-02 | 2022-01-25 | Siemens Healthcare Gmbh | X-ray apparatus including x-ray reflector and method for operating the x-ray apparatus |
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