JPH102803A - 光学装置 - Google Patents

光学装置

Info

Publication number
JPH102803A
JPH102803A JP15551596A JP15551596A JPH102803A JP H102803 A JPH102803 A JP H102803A JP 15551596 A JP15551596 A JP 15551596A JP 15551596 A JP15551596 A JP 15551596A JP H102803 A JPH102803 A JP H102803A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
optical path
infrared
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15551596A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Maki
孝雄 真木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP15551596A priority Critical patent/JPH102803A/ja
Publication of JPH102803A publication Critical patent/JPH102803A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、視野全体の温度分布の計測と、微細
な観察像を同時に得られる光学装置を提供する。 【解決手段】試料21から発する光の光路22上に分岐
ミラー23を配置し、この分岐ミラー23により分岐さ
れた赤外光を、赤外光撮像素子26に、また、可視光
を、撮像素子30にそれぞれ投影する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料に対する赤外
光による温度計測と光学像の観察を可能にした光学装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、結晶成長過程における結
晶の温度計測と観察、宇宙空間のような微小重力環境に
おける自由表面を有する液柱に生じる対流の温度測定と
観察の他に、IC産業分野におけるシリコンウェハーの
内部観察、プリント基板の半田付けの検査、通電中の液
晶の検査、さらにはバイオ分野における生物の細胞分裂
過程の研究などさまざまな分野に、試料の光学像の観察
と同時に、赤外光による温度計測を可能にした光学装置
が用いられている。
【0003】しかして、従来、この種の光学装置とし
て、図11に示すように、試料1から発する赤外光を、
赤外光での減衰の少ないレンズ2を通して赤外光用撮像
素子3に取り込み、試料1の視野全体の温度測定と観察
を可能にしたもの、あるいは、図12に示すように試料
11からの可視光をレンズ12を通して反射ミラー13
で反射し、結像レンズ14を通して像面位置15に投影
される像を観察し、一方、試料11からの赤外光をレン
ズ12の外側を通して集光ミラー16で反射して赤外検
出部17に集光して、試料11の視野の一部のみの温度
測定を可能にしたものがある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前者の装置
では、試料1の視野全体の温度測定に重点をおいている
関係で、温度計測に必要な赤外光だけを使用しているた
め、試料1を微細に観察するのには分解能に乏しく、例
えば、赤外光の波長を5μmとすると、光学顕微鏡に用
いる可視光の波長は1/10(0.5μm)程度である
ことから、これらの波長差による分解能は、10倍も悪
化してしまい、このような状態では、例えば、結晶成長
過程などで、結晶の温度測定と同時に、結晶表面や周辺
の構造を鮮明に観察することが困難になるという問題が
ある。
【0005】また、後者の装置では、赤外光と可視光を
区別して、赤外光で温度測定を行い、可視光で観察を行
うようにしているので、観察像としてそれなりに鮮明な
ものが得られるが、試料21の視野の一部のみの温度計
測を行うようになっているので、視野全体の温度分布に
ついては、リアルタイムで計測および観察することがで
きないという問題がある。また、試料11からの赤外光
を観察用レンズ12の外側を通すようにしていることか
ら、観察用レンズ12と試料11までの距離を長くしな
ければならず、それだけ分解能が低下してしまうという
問題がある。本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、視野全体の温度分布の計測と、微細な観察像を同時
に得られる光学装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
試料と、この試料から発せられる光の光路に設けられ前
記光路上の光を赤外光と可視光に分岐する分岐手段と、
この分岐手段により分岐された赤外光より温度を計測す
る温度計測手段と、前記分岐手段により分岐された可視
光より光学像を観察する観察手段とにより構成してい
る。
【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載にお
いて、さらに前記試料に対して落射照明光を照射する落
射照明手段を有している。請求項3記載の発明は、請求
項1記載において、さらに前記試料に対して透過照明光
を照射する透過照明手段を有している。
【0008】この結果、請求項1または3記載の発明に
よれば、試料の視野全体の温度分布の計測とともに、結
晶などの微細な観察像を同時に得られる。また、請求項
2記載の発明によれば、試料から発する光が少ない場合
や不透明な物質などの場合にも、安定して温度測定と像
観察を実現できる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。 (第1の実施の形態)図1は、第1実施の形態にかかる
光学装置の概略構成を示している。図において、21は
試料で、この試料21から発する光の光路22上に、分
岐ミラー23を配置している。
【0010】この分岐ミラー23は、例えばシリコンゲ
ルマニウムなど赤外光の減衰の少ない材質の基板上に、
蒸着膜材として、例えば亜鉛、イットリウムなどを多層
膜に形成してなるもので、図2に示すように可視光の波
長(0.5μm)周囲では、透過率が0%に近く、一
方、赤外光の波長(5μm)周囲では、透過率が100
%に近くなるような特性を有し、試料21からの光路2
2の可視光を反射し、赤外光を透過することにより、こ
れら赤外光と可視光を分離するようにしている。
【0011】そして、分岐ミラー23で分割された赤外
光の測定光路24には、シリコンレンズ25および赤外
光撮像素子26を配置し、この赤外光撮像素子26に投
影される赤外像により温度計測を行い、また、可視光に
よる観察光路27には、対物レンズ28、結合レンズ2
9および撮像素子30を配置し、この撮像素子30に投
影される光学像を観察するようにしている。
【0012】しかして、このような構成において、いま
試料21より発した光が、光路22に沿って進み、分岐
ミラー23に達すると、この分岐ミラー23により赤外
光は透過され、可視光は反射される。
【0013】そして、分岐ミラー23を透過した赤外光
は、測定光路24のシリコンレンズ25を通して赤外光
撮像素子26に投影され、温度計測が行われ、一方、分
岐ミラー23で反射した可視光は、観察光路27の対物
レンズ28、結合レンズ29を通して撮像素子30に投
影され、可視像が観察される。
【0014】従って、このようにすれば、試料21から
発する光の光路22上に分岐ミラー23を配置し、この
分岐ミラー23により分岐された赤外光を、赤外光撮像
素子26に、また、可視光を、撮像素子30にそれぞれ
投影するようにしたので、試料21の視野全体の温度分
布の計測とともに、結晶などの微細な観察像を同時に得
られることになる。 (第2の実施の形態)図3は、第2の実施の形態の概略
構成を示すもので、図1と同一部分には同符号を付して
いる。
【0015】この場合、31は落射照明用の光源で、こ
の光源31には、例えばハロゲンランプを使用してい
る。この光源31からの照明光を、レンズ32を通しハ
ーフミラー33により反射して観察光路27に導入し、
対物レンズ28、分岐ミラー23を通して試料21面を
照射するようにしている。そして、試料21での反射光
と試料21自身から発する光とを、分岐ミラー23に与
え、ここで赤外光と可視光に分割し、赤外光を測定光路
24の赤外光撮像素子26に投影し、可視光を観察光路
27の撮像素子30に投影するようにしている。
【0016】しかして、このような構成において、落射
照明用の光源31からの照明光は、レンズ32を通しハ
ーフミラー33により反射され、観察光路27の対物レ
ンズ28、分岐ミラー23を通して試料21面に照射さ
れる。すると、試料21面からの反射光と試料21自身
から発する光が光路22に沿って進み、分岐ミラー23
に達し、この分岐ミラー23により赤外光は透過され、
可視光は反射される。
【0017】そして、分岐ミラー23を透過した赤外光
は、測定光路24のシリコンレンズ25を通して赤外光
撮像素子26に投影され、温度計測が行われ、一方、分
岐ミラー23で反射された可視光は、観察光路27の対
物レンズ28、結合レンズ29を通して撮像素子30に
投影され、光学像が観察される。
【0018】従って、このようにすれば、落射照明用の
光源31からの照明光が試料21面に照射されるように
なっているので、試料21から発する光が少ない場合や
不透明な物質などの場合にも、安定して温度測定と像観
察を実現することができる。 (第3の実施の形態)図4は、第3の実施の形態の概略
構成を示すもので、図1と同一部分には同符号を付して
いる。
【0019】この場合、41は透過照明用の光源で、こ
の光源41には、例えばハロゲンランプを使用してい
る。この光源41からの光を、赤外光カットフィルタ4
2、レンズ43を通して照明光に生成し、この照明光を
試料21の裏面から照射するようにしている。
【0020】この場合、透過照明用光源として用いられ
るハロゲンランプは、図5に示すように赤外波長領域ま
での光波が存在するため、赤外光カットフィルタ42と
して、図6に示すように赤外波長領域の光波をカットす
るものを用い、試料21裏面から照射される透過照明光
より赤外光をすべてカットするようにしている。
【0021】そして、試料21の透過光と試料21自身
から発する光とを、分岐ミラー23に与え、ここで赤外
光と可視光に分割し、赤外光を測定光路24の赤外光撮
像素子26に投影するとともに、可視光を観察光路27
の撮像素子30に投影するようにしている。
【0022】しかして、このような構成において、透過
照明用の光源41からの照明光は、赤外光カットフィル
タ42により赤外光成分をすべてカットされ、レンズ4
3を通して照明光として試料21裏面より照射される。
すると、試料21を透過した光と試料21自身から発す
る光が光路22に沿って進み、分岐ミラー23に達し、
この分岐ミラー23により赤外光は透過され、可視光は
反射される。
【0023】そして、分岐ミラー23を透過した赤外光
は、測定光路24のシリコンレンズ25を通して赤外光
撮像素子26に投影され、温度計測が行われ、一方、分
岐ミラー23で反射した可視光は、観察光路27の対物
レンズ28、結合レンズ29を通して撮像素子30に投
影され、光学像が観察される。
【0024】従って、このようにすれば、透過照明用の
光源41の照明光は、赤外光カットフィルタ42により
赤外光成分がカットされ試料21裏面から照射されるよ
うになっているので、試料21から発した赤外光のみが
赤外光撮像素子26に投影されるようになり、さらに正
確な温度計測を実現することができる。 (第4の実施の形態)図7は、第4の実施の形態の概略
構成を示すもので、図1と同一部分には同符号を付して
いる。
【0025】この場合、51は落射照明用の光源で、こ
の光源51には、例えば水銀ランプを使用している。こ
の光源51からの照明光を、レンズ52、励起フィルタ
53を通しダイクロイックミラー54により観察光路2
7に導入し、対物レンズ28、分岐ミラー23を通して
試料21面を照射するようにしている。そして、試料2
1から反射される光と試料21自身から発する光を分岐
ミラー23に与え、ここで赤外光と可視光に分割し、赤
外光を測定光路24の赤外光撮像素子26に投影すると
もに、可視光を観察光路27の対物レンズ28、吸収フ
ィルタ55、結合レンズ29を通して撮像素子30に投
影するようにしている。
【0026】この場合、光源51としての水銀ランプ
は、図8に示すように赤外波長まで含まない特性を有
し、励起フィルタ53、ダイクロイックミラー54およ
び吸収フィルタ55は、それぞれ図9(a)(b)
(c)に示すような特性を有するものとする。
【0027】しかして、このような構成において、落射
照明用の光源51からの照明光は、励起フィルタ53に
送られる。この場合、励起フィルタ53は、図9(a)
に示す特性を有するので、この励起フィルタ53により
試料21を励起する波長のみが透過され、レンズ52を
通しダイクロイックミラー54により反射され、観察光
路27の対物レンズ28、分岐ミラー23を通して試料
21面に照射される。すると、試料21面からは、励起
光により波長が長くなった光、励起光自身の反射光およ
び赤外光の3つの光が発せられ、光路22に沿って進
み、分岐ミラー23により分割される。この場合、励起
光により波長が長くなった光と励起光自身の反射光は、
観察光路27に進み、赤外光は測定光路24に進む。
【0028】そして、分岐ミラー23からの赤外光は、
測定光路24のシリコンレンズ25を通して赤外光撮像
素子26に投影され、温度計測が行われる。一方、分岐
ミラー23で反射された励起光により波長が長くなった
光と励起光自身の反射光は、観察光路27の対物レンズ
28を通ってダイクロイックミラー54、吸収フィルタ
55に送られる。この場合、ダイクロイックミラー54
は、図9(b)に示す特性を有し、吸収フィルタ55
は、同図(c)に示す特性を有するので、ダイクロイッ
クミラー54により励起光自身の反射光のほとんどが除
去されるとともに、さらに吸収フィルタ55により吸収
され、励起光により波長が長くなった光のみが結合レン
ズ29を通して撮像素子30に投影され、光学像が観察
される。
【0029】従って、このようにすれば、さらに、試料
21面から励起光により波長が長くなった光に基づく観
察像が得られるようになるので、例えば、微細生物試料
の細胞分裂育成過程などの観察に最適である。
【0030】また、落射照明用の光源として用いられる
水銀ランプは、図8に示すように赤外波長まで含まない
特性を有していて、試料21面に赤外光を照射していな
いので、試料21自身から発した赤外光のみを投影でき
るようになり、さらに正確な温度計測を実現することが
できる。 (第5の実施の形態)図10は、第5の実施の形態の概
略構成を示すもので、図1と同一部分には同符号を付し
ている。
【0031】この場合、61は透過照明用の光源で、こ
の光源61には、例えば水銀ランプを使用している。こ
の光源61からの光を、レンズ62、励起フィルタ63
を通して試料21の裏面から照射するようにしている。
そして、試料21を透過した光と試料21自身から発す
る光を分岐ミラー23に与え、ここで赤外光と可視光に
分割し、赤外光を測定光路24の赤外光撮像素子26に
投影するともに、可視光を観察光路27の対物レンズ2
8、吸収フィルタ64、結合レンズ29を通して撮像素
子30に投影するようにしている。
【0032】この場合も、光源61としての水銀ランプ
は、図8に示すように赤外波長まで含まない特性を有
し、励起フィルタ63、吸収フィルタ64は、それぞれ
図9(a)(b)(c)に示すような特性を有するもの
とする。
【0033】しかして、このような構成において、透過
照明用の光源61からの照明光は、励起フィルタ63に
送られ、試料21を励起する波長のみが透過され、試料
21の裏面から照射される。すると、試料21からは、
励起光により波長が長くなった光、励起光自身の透過光
および赤外光の3つの光が発せられ、光路22に沿って
進み、分岐ミラー23により分割される。この場合、励
起光により波長が長くなった光と励起光自身の透過光
は、観察光路27に進み、赤外光は測定光路24に進
む。
【0034】そして、分岐ミラー23からの赤外光は、
測定光路24のシリコンレンズ25を通して赤外光撮像
素子26に投影され、温度計測が行われる。一方、分岐
ミラー23で反射された励起光により波長が長くなった
光と励起光自身の透過光は、観察光路27の対物レンズ
28を通って吸収フィルタ64に送られ、ここで、励起
光自身の透過光は吸収され、励起光により波長が長くな
った光のみが結合レンズ29を通して撮像素子30に投
影され、光学像が観察される。従って、このようにして
も、第4の実施の形態と同様な効果を期待できる。
【0035】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、試料
の視野全体の温度分布の計測とともに、結晶などの微細
な観察像を同時に得られる。また、試料から発する光が
少ない場合や不透明な物質などの場合にも、安定して温
度測定と像観察を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図2】第1の実施の形態に用いられる分岐ミラーの特
性を示す図。
【図3】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図4】本発明の第3の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図5】第3の実施の形態に用いられるハロゲンランプ
の特性を示す図。
【図6】第3の実施の形態に用いられる赤外光カットフ
ィルタの特性を示す図。
【図7】本発明の第4実施の形態の概略構成を示す図。
【図8】第4実施の形態に用いられる水銀ランプの特性
を示す図。
【図9】第4実施の形態に用いられる励起フィルタ、ダ
イクロイックミラー、吸収フィルタの特性を示す図。
【図10】本発明の第5実施の形態の概略構成を示す
図。
【図11】従来の光学装置の一例の概略構成を示す図。
【図12】従来の光学装置の他の例の概略構成を示す
図。
【符号の説明】
21…試料、 22…光路、 23…分岐ミラー、 24…測定光路、 25…シリコンレンズ、 26…赤外光撮像素子、 27…観察光路、 28…対物レンズ、 29…結合レンズ、 30…撮像素子、 31…落射照明用光源、 32…レンズ、 33…ハーフミラー、 41…透過照明用光源、 42…赤外光カットフィルタ、 43…レンズ、 51…落射照明用光源、 52…レンズ、 53…励起フィルタ、 54…ダイクロイックミラー、 55…吸収フィルタ、 61…透過照明用光源、 62…レンズ、 63…励起フィルタ、 64…吸収フィルタ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料と、 この試料から発せられる光の光路に設けられ該光路上の
    光を赤外光と可視光に分岐する分岐手段と、 この分岐手段により分岐された赤外光より温度を計測す
    る温度計測手段と、 前記分岐手段により分岐された可視光より光学像を観察
    する観察手段とを具備したことを特徴とする光学装置。
  2. 【請求項2】 さらに前記試料に対して落射照明光を照
    射する落射照明手段を有することを特徴とする請求項1
    記載の光学装置。
  3. 【請求項3】 さらに前記試料に対して透過照明光を照
    射する透過照明手段を有することを特徴とする請求項1
    記載の光学装置。
JP15551596A 1996-06-17 1996-06-17 光学装置 Pending JPH102803A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15551596A JPH102803A (ja) 1996-06-17 1996-06-17 光学装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15551596A JPH102803A (ja) 1996-06-17 1996-06-17 光学装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH102803A true JPH102803A (ja) 1998-01-06

Family

ID=15607748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15551596A Pending JPH102803A (ja) 1996-06-17 1996-06-17 光学装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH102803A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11304591A (ja) * 1998-04-22 1999-11-05 Mitsubishi Electric Corp 分光画像取得装置
KR100952853B1 (ko) 2008-10-17 2010-04-13 포항공과대학교 산학협력단 다중 적외선 영상 시스템 및 영상화 방법
CN103901597A (zh) * 2014-04-17 2014-07-02 贵阳新天光电科技有限公司 在万能工具显微镜上实现目视视频同步显示及测量的方法
JP2019002847A (ja) * 2017-06-16 2019-01-10 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
JP2019184664A (ja) * 2018-04-03 2019-10-24 学校法人自治医科大学 顕微鏡システム

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11304591A (ja) * 1998-04-22 1999-11-05 Mitsubishi Electric Corp 分光画像取得装置
KR100952853B1 (ko) 2008-10-17 2010-04-13 포항공과대학교 산학협력단 다중 적외선 영상 시스템 및 영상화 방법
CN103901597A (zh) * 2014-04-17 2014-07-02 贵阳新天光电科技有限公司 在万能工具显微镜上实现目视视频同步显示及测量的方法
JP2019002847A (ja) * 2017-06-16 2019-01-10 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
JP2019184664A (ja) * 2018-04-03 2019-10-24 学校法人自治医科大学 顕微鏡システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7982864B2 (en) Optical measuring system
US5589936A (en) Optical measuring apparatus for measuring physichemical properties
JPH11173946A (ja) 光学的特性測定装置
JP2916321B2 (ja) 多層半導体基板等における内部欠陥の検出方法
US6795185B2 (en) Film thickness measuring apparatus
JPH1090064A (ja) 顕微ラマン装置
JPH102803A (ja) 光学装置
JP3365474B2 (ja) 偏光性イメージング装置
JP2003294618A (ja) 赤外顕微分光装置及び近接場赤外顕微分光装置
JP3219462B2 (ja) 薄膜測定器
JPH07167793A (ja) 位相差半導体検査装置および半導体装置の製造方法
JPH10186240A (ja) 暗視野落射顕微鏡装置
JPH10239589A (ja) 干渉顕微鏡装置
JPH03148043A (ja) 赤外線顕微分光測定装置
JPH10206743A (ja) 蛍光顕微鏡
JP2001174708A (ja) 赤外顕微鏡
KR100275617B1 (ko) 광축을 용이하게 정렬시킬 수 있는 위상차 측정 장치
JPH01201200A (ja) X線照射装置における照射位置指示装置
JPH1054793A (ja) 分光反射光量測定装置
JPH10232352A (ja) レーザ走査顕微鏡
JPH01123102A (ja) トレンチ深さ測定装置
CN117348225A (zh) 显微装置
JP4713391B2 (ja) 赤外顕微鏡
JPH06160723A (ja) 暗視野照明装置
JPH11248721A (ja) 近接場光学顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040427