JPH01181430A - 電気・電子デバイス用絶縁膜 - Google Patents
電気・電子デバイス用絶縁膜Info
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- JPH01181430A JPH01181430A JP63001935A JP193588A JPH01181430A JP H01181430 A JPH01181430 A JP H01181430A JP 63001935 A JP63001935 A JP 63001935A JP 193588 A JP193588 A JP 193588A JP H01181430 A JPH01181430 A JP H01181430A
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Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は電気・電子デバイス、特に半導体装置に用いら
れる新規な絶縁膜を提供するものである。
れる新規な絶縁膜を提供するものである。
更に具体的には、ジャンクションコート用、パッシベー
ション用、防湿用、バッファコート用、α線遮蔽用及び
眉間絶縁用等の電気特性に優れ且つ耐熱性、密着性に優
れた新規な絶縁膜に関する。
ション用、防湿用、バッファコート用、α線遮蔽用及び
眉間絶縁用等の電気特性に優れ且つ耐熱性、密着性に優
れた新規な絶縁膜に関する。
(ロ)従来の技術
芳香族テトラカルボン酸及びその誘導体とジアミンを反
応させて得られるポリイミド樹脂は優れた耐熱性、耐薬
品性を示すため、種々の用途に用いられている。
応させて得られるポリイミド樹脂は優れた耐熱性、耐薬
品性を示すため、種々の用途に用いられている。
ポリイミド樹脂の半導体装置への使用に関しては、例え
ば半導体基体に形成されたpn接合の露出端面を保護す
るためpn接合部にポリイミド樹脂を塗布すること(ジ
ャンクションコートM)、外界からの半導体素子表面の
汚染防止のため素子表面にポリイミド樹脂を塗布するこ
と(パッシベーション膜)、半導体素子の防湿性の向上
のためパッジベージジン膜上にポリイミド樹脂を塗布す
ること(防湿膜)、半導体素子の機械的保護のためパッ
シベーション膜上にポリイミド樹脂を塗布すること(バ
ッファコート膜)、α線によるメモリ素子のソフトエラ
ー防止のためポリイミド樹脂をパッシベーション膜上に
塗布すること(α線遮蔽膜)及び配線層間の絶縁のため
ポリイミド樹脂を配線層間に形成すること(層間絶縁膜
)等が既に公知であり一部試みられている。(m能材料
、1983年、7月号、9頁、発行所株式会社ジェムシ
ー) (ハ)発明が解決しようとする問題点 しかしながら、ポリイミド樹脂を上記各分野で使用する
場合その電気特性が不十分である場合が多い。
ば半導体基体に形成されたpn接合の露出端面を保護す
るためpn接合部にポリイミド樹脂を塗布すること(ジ
ャンクションコートM)、外界からの半導体素子表面の
汚染防止のため素子表面にポリイミド樹脂を塗布するこ
と(パッシベーション膜)、半導体素子の防湿性の向上
のためパッジベージジン膜上にポリイミド樹脂を塗布す
ること(防湿膜)、半導体素子の機械的保護のためパッ
シベーション膜上にポリイミド樹脂を塗布すること(バ
ッファコート膜)、α線によるメモリ素子のソフトエラ
ー防止のためポリイミド樹脂をパッシベーション膜上に
塗布すること(α線遮蔽膜)及び配線層間の絶縁のため
ポリイミド樹脂を配線層間に形成すること(層間絶縁膜
)等が既に公知であり一部試みられている。(m能材料
、1983年、7月号、9頁、発行所株式会社ジェムシ
ー) (ハ)発明が解決しようとする問題点 しかしながら、ポリイミド樹脂を上記各分野で使用する
場合その電気特性が不十分である場合が多い。
即ち、ポリイミド樹脂は極性基を有するため、電圧印加
時に分極し、半導体素子表面に影響を与えて素子特性を
変動させるという短所を有することが知られている〔シ
ーエムシー、テクニカル、レボ−) (CMCTecb
nical Report ) 、27号、エレクトロ
ニクス用特殊塗料、88真、発行所株式会社シーエムシ
ー〕。
時に分極し、半導体素子表面に影響を与えて素子特性を
変動させるという短所を有することが知られている〔シ
ーエムシー、テクニカル、レボ−) (CMCTecb
nical Report ) 、27号、エレクトロ
ニクス用特殊塗料、88真、発行所株式会社シーエムシ
ー〕。
又、ポリイミド樹脂の分極(空間電荷分極)を静電容量
−電圧(以下、C−■と略称する。)特性を測定するこ
とにより定量化し、ポリイミド樹脂が電圧印加時に大き
く分極することも知られている〔アニュアル、レポート
、コンファランス、オン、エレクトリカル、インシュレ
イジョン、アンド、ディエレクトリ・ンク、フエノミナ
(八nnualReport Conferennce
on Electrical In5ulation
& Dielectric Phenomina)、1
985巻、176〜181頁、ナショナル、アカデミイ
、オン、サイエンス、ワシントン、ニーニスニー(Na
tionalAcademy of 5cience、
Washington USA))。
−電圧(以下、C−■と略称する。)特性を測定するこ
とにより定量化し、ポリイミド樹脂が電圧印加時に大き
く分極することも知られている〔アニュアル、レポート
、コンファランス、オン、エレクトリカル、インシュレ
イジョン、アンド、ディエレクトリ・ンク、フエノミナ
(八nnualReport Conferennce
on Electrical In5ulation
& Dielectric Phenomina)、1
985巻、176〜181頁、ナショナル、アカデミイ
、オン、サイエンス、ワシントン、ニーニスニー(Na
tionalAcademy of 5cience、
Washington USA))。
本発明は電圧印加時に分極しない、即ち低分極性を示す
優れた電気特性を有し、且つ耐熱性、密着性に優れた新
規なポリイミド樹脂からなる電気・電子デバイス用絶縁
膜を提供することにある。
優れた電気特性を有し、且つ耐熱性、密着性に優れた新
規なポリイミド樹脂からなる電気・電子デバイス用絶縁
膜を提供することにある。
(ニ)問題点を解決するための手段
本発明者らは、上記問題点を解決すべく鋭意努力検討し
た結果、テトラカルボン酸及びその誘導体を構成する4
個のカルボニル基に直接結合する4個の原子が不飽和結
合を有しない炭素原子であるようなテトラカルボン酸及
びその誘導体を用いたポリイミド樹脂が電圧印加時に分
極せず、即ち低分極性で優れた電気特性を有し、且つ耐
熱性、密着性に優れた電気・電子デバイス用絶縁膜とな
ることを見出し本発明を完成するに至った。
た結果、テトラカルボン酸及びその誘導体を構成する4
個のカルボニル基に直接結合する4個の原子が不飽和結
合を有しない炭素原子であるようなテトラカルボン酸及
びその誘導体を用いたポリイミド樹脂が電圧印加時に分
極せず、即ち低分極性で優れた電気特性を有し、且つ耐
熱性、密着性に優れた電気・電子デバイス用絶縁膜とな
ることを見出し本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は一般式(1)で表される〔式中、R,は
テトラカルボン酸及びその誘導体を構成する4価の有機
基であって、4個のカルボニル基に直接結合する4個の
原子は不飽和結合を有しない炭素原子であり、R2はジ
アミンを構成する2価の有機基である。) 繰り返し単位を含有するポリイミド樹脂からなる電気・
電子デバイス用絶縁膜に関するものである。
テトラカルボン酸及びその誘導体を構成する4価の有機
基であって、4個のカルボニル基に直接結合する4個の
原子は不飽和結合を有しない炭素原子であり、R2はジ
アミンを構成する2価の有機基である。) 繰り返し単位を含有するポリイミド樹脂からなる電気・
電子デバイス用絶縁膜に関するものである。
本発明の電気・電子デバイス用絶縁膜に使用される一般
式(1)のポリイミド樹脂を得るために使用されるテト
ラカルボン酸及びその誘導体の具体例としては、1.2
.3.4−ブタンテトラカルボン酸、シクロブタンテト
ラカルボン酸、シクロペンクンテトラカルボン酸、シク
ロヘキサンテトラカルボン酸、3,4−ジカルボキシ−
1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフタレンコハク
酸等のテトラカルボン酸及びこれらの二無水物、更には
ジカルボン酸ジ酸ハロゲン化物等が挙げられる。
式(1)のポリイミド樹脂を得るために使用されるテト
ラカルボン酸及びその誘導体の具体例としては、1.2
.3.4−ブタンテトラカルボン酸、シクロブタンテト
ラカルボン酸、シクロペンクンテトラカルボン酸、シク
ロヘキサンテトラカルボン酸、3,4−ジカルボキシ−
1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフタレンコハク
酸等のテトラカルボン酸及びこれらの二無水物、更には
ジカルボン酸ジ酸ハロゲン化物等が挙げられる。
又、上記テトラカルボン酸及びその誘導体は1種であっ
ても2種以上混合して使用してもよい。
ても2種以上混合して使用してもよい。
更に、本発明の効果を阻害しない程度に4個のカルボニ
ル基に直接結合する4個の原子が不飽和結合を有する炭
素原子であるようなテトラカルボン酸及びその誘導体を
混合して使用してもよい。
ル基に直接結合する4個の原子が不飽和結合を有する炭
素原子であるようなテトラカルボン酸及びその誘導体を
混合して使用してもよい。
このようなテトラカルボン酸及びその誘導体の具体例と
しては、ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸、ビフェニルテトラカルボン酸等のテトラカルボン
酸及びこれらの二無水物、更にはジカルボン酸ジ酸ハロ
ゲン化物等が挙げられる。
しては、ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸、ビフェニルテトラカルボン酸等のテトラカルボン
酸及びこれらの二無水物、更にはジカルボン酸ジ酸ハロ
ゲン化物等が挙げられる。
本発明の電気・電子デバイス用絶縁膜に使用される一般
式(I)のポリイミド樹脂を得るために使用されるジア
ミンの具体例としては、p−フェニレンジアミン、m−
フェニレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、ジア
ミノジフェニルエーテル、2.2−ジアミノジフェニル
プロパン、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノベン
ゾフェノン、ジアミノナフタレン、1.3−ビス(4−
アミノフェノキシ)ベンゼン、1.4−ビス(4−アミ
ノフェノキシ)ベンゼン、4,4′−ジ(4−アミノフ
ェノキシ)ジフェニルスルホン、2.2’−ビス〔4(
4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン等の芳香族
ジアミンが挙げられる。
式(I)のポリイミド樹脂を得るために使用されるジア
ミンの具体例としては、p−フェニレンジアミン、m−
フェニレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、ジア
ミノジフェニルエーテル、2.2−ジアミノジフェニル
プロパン、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノベン
ゾフェノン、ジアミノナフタレン、1.3−ビス(4−
アミノフェノキシ)ベンゼン、1.4−ビス(4−アミ
ノフェノキシ)ベンゼン、4,4′−ジ(4−アミノフ
ェノキシ)ジフェニルスルホン、2.2’−ビス〔4(
4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン等の芳香族
ジアミンが挙げられる。
その他、目的に応じ脂環式ジアミン及び脂肪族ジアミン
を使用しても良い。
を使用しても良い。
又、これらジアミンの1種又は2種以上を混合して使用
することもできる。
することもできる。
本発明の電気・電子デバイス用絶縁膜に使用される一般
式CI)のポリイミド樹脂を得るための重合方法には特
に限定はないが、テトラカルボン酸及びその誘導体とジ
アミンとの反応からポリイミド樹脂前駆体を合成し脱水
閉環する方法が好ましい。
式CI)のポリイミド樹脂を得るための重合方法には特
に限定はないが、テトラカルボン酸及びその誘導体とジ
アミンとの反応からポリイミド樹脂前駆体を合成し脱水
閉環する方法が好ましい。
テトラカルボン酸及びその誘導体とジアミンの反応温度
は一20〜150°Cの任意の温度を選択することでき
るが、特に−5〜100 ’Cの範囲が好ましい。
は一20〜150°Cの任意の温度を選択することでき
るが、特に−5〜100 ’Cの範囲が好ましい。
更に、ポリイミド樹脂前駆体をポリイミド樹脂に転化す
るには、通常は加熱により脱水閉環する方法が採用され
る。この加熱脱水閉環温度は、150〜450℃、好ま
しくは170〜350℃の任意の温度を選択することが
できる。
るには、通常は加熱により脱水閉環する方法が採用され
る。この加熱脱水閉環温度は、150〜450℃、好ま
しくは170〜350℃の任意の温度を選択することが
できる。
又、この脱水閉環に要する時間は、上記反応温度にもよ
るが30秒〜10時間、好ましくは5分〜5時間が適当
である。
るが30秒〜10時間、好ましくは5分〜5時間が適当
である。
ポリイミド樹脂前駆体をポリイミド樹脂に転化する他の
方法として、公知の脱水閉環触媒を使用して化学的に閉
環することもできる。
方法として、公知の脱水閉環触媒を使用して化学的に閉
環することもできる。
本発明のテトラカルボン酸及びその誘導体とジアミンか
ら得られるポリイミド樹脂又はポリイミド樹脂前駆体溶
液をスピンコード法もしくは印刷法で半導体装置に塗布
し、加熱、硬化せしめることによりジャンクションコー
ト用、パッシベーション用、防湿用、バッファコート用
、α線遮蔽用及び眉間絶縁用等の用途に使用することが
できる。
ら得られるポリイミド樹脂又はポリイミド樹脂前駆体溶
液をスピンコード法もしくは印刷法で半導体装置に塗布
し、加熱、硬化せしめることによりジャンクションコー
ト用、パッシベーション用、防湿用、バッファコート用
、α線遮蔽用及び眉間絶縁用等の用途に使用することが
できる。
(ホ)発明の効果
本発明の一般式(1)のポリイミド樹脂は、電圧を印加
した場合でも低分極性を示す優れた電気特性を有し、且
つ耐熱性、密着性も優れており電気・電子デバイス用絶
縁膜として使用することができる。
した場合でも低分極性を示す優れた電気特性を有し、且
つ耐熱性、密着性も優れており電気・電子デバイス用絶
縁膜として使用することができる。
(へ)実施例
以下に実施例を挙げ、本発明を更に詳しく説明するが本
発明はこれらに限定されるものではない。
発明はこれらに限定されるものではない。
実施例1
ジアミノジフェニルエーテル10.61g、シクロブタ
ンテトラカルボン酸二無水物10.03 gをN−メチ
ル−2−ピロリドン(以下、NMPと略称する。)12
2g中、室温で4時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶
液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固
形分14.5重量%で粘度は5.8 psであった。
ンテトラカルボン酸二無水物10.03 gをN−メチ
ル−2−ピロリドン(以下、NMPと略称する。)12
2g中、室温で4時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶
液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固
形分14.5重量%で粘度は5.8 psであった。
この溶液をNMPにより総固形分を7.0重量%に希釈
後、1000人の熱酸化膜を形成したn型シリコン基板
上にスピンコードし300℃で60分間熱処理してポリ
イミド樹脂膜を形成した。得られたポリイミド樹脂膜の
厚さは2000人であった。
後、1000人の熱酸化膜を形成したn型シリコン基板
上にスピンコードし300℃で60分間熱処理してポリ
イミド樹脂膜を形成した。得られたポリイミド樹脂膜の
厚さは2000人であった。
得られたポリイミド樹脂膜上に直径2IIII11のア
ルミニウム電極を真空蒸着法により形成し、更にシリコ
ン基板の裏面にもアルミニウム電極を形成した。シリコ
ン基板の裏面にアルミニウム電極を形成する際は前もっ
てフッ化水素酸によりエツチング処理を施した。
ルミニウム電極を真空蒸着法により形成し、更にシリコ
ン基板の裏面にもアルミニウム電極を形成した。シリコ
ン基板の裏面にアルミニウム電極を形成する際は前もっ
てフッ化水素酸によりエツチング処理を施した。
このようにしてMetal Polyimide 0x
ide Sem1− 、conductor(以下
、MPO3と略称する。)モデル素子を作製し、C−■
特性を測定した。
ide Sem1− 、conductor(以下
、MPO3と略称する。)モデル素子を作製し、C−■
特性を測定した。
MPOSモデル素子の概略図を図−1に示す。
図−1中、1はアルミニウム電極、2はポリイミド樹脂
(膜厚2000人)、3は熱酸化膜(膜厚1000人)
、4はシリコン基板を示す。
(膜厚2000人)、3は熱酸化膜(膜厚1000人)
、4はシリコン基板を示す。
C−■特性測定条件は次の通りである。
即ち、+15■で40秒放置、2V/秒で電圧を負に掃
引し一15Vで40秒放置、次に2V/秒で電圧を正に
掃引し+15Vに到達したところで停止する。
引し一15Vで40秒放置、次に2V/秒で電圧を正に
掃引し+15Vに到達したところで停止する。
上記測定で得られたC−■特性図を図−2に示す。
図−2中、縦軸C/ Coはバイアス電圧が+15Vの
時の静電容量に対する静電容量の比(%)、横軸はバイ
アス電圧(ボルト)を示す。又、下向きの矢印は正から
負方向へ掃引した場合、上向きの矢印は負から正方向に
掃引した場合を示している。(以下、図−3〜図−9に
ついても同じ。)・図−2より、バイアス電圧掃引方向
にかかわらずC−7曲線は一致しポリイミド樹脂が分極
していないことが分る。
時の静電容量に対する静電容量の比(%)、横軸はバイ
アス電圧(ボルト)を示す。又、下向きの矢印は正から
負方向へ掃引した場合、上向きの矢印は負から正方向に
掃引した場合を示している。(以下、図−3〜図−9に
ついても同じ。)・図−2より、バイアス電圧掃引方向
にかかわらずC−7曲線は一致しポリイミド樹脂が分極
していないことが分る。
尚、C−■特性についてはジャーナル、エレクトロケミ
カル、ソサイヤティ(J、 Electrochem。
カル、ソサイヤティ(J、 Electrochem。
Soc、) 、121巻、6号、198C)に詳述され
ている。
ている。
実施例2
1.4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン12.
57g、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物8.0
9 gをNMP117g中、室温で4時間。
57g、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物8.0
9 gをNMP117g中、室温で4時間。
反応させポリイミド樹脂前駆体溶液を調製した。
得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固形分15゜0重
量%で粘度は5.6ρSであった。
量%で粘度は5.6ρSであった。
以下、実施例1と同様に操作し得られたC−■特性図を
図−3に示す。
図−3に示す。
図−3より、バイアス電圧掃引方向にかかわらずC−7
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
実施例3
1.4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン5.8
5g、3.4−ジカルボキシ−1,2,3,4−テトラ
ヒドロ−1−ナフタレンコハク酸二無水物5.89gを
NMP101g中、室温で24時間反応させポリイミド
樹脂前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前
駆体溶液は固形分10.4重量%で粘度は70.3cp
sであった。
5g、3.4−ジカルボキシ−1,2,3,4−テトラ
ヒドロ−1−ナフタレンコハク酸二無水物5.89gを
NMP101g中、室温で24時間反応させポリイミド
樹脂前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前
駆体溶液は固形分10.4重量%で粘度は70.3cp
sであった。
以下、スピンコード後の熱処理温度が200°Cである
他は実施例1と同様に操作し、得られたC−■特性図を
図−4に示す。
他は実施例1と同様に操作し、得られたC−■特性図を
図−4に示す。
図−4より、バイアス電圧掃引方向にかかわらずC−7
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
実施例4
4.4′−ジアミノ−3,3′ −ジメチルジシクロヘ
キシルメタン11.92g、シクロブタンテトラカルボ
ン酸二無水物10.30 gをNMP 1 B 7 g
中、室温で48時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶液
を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固形
分10.6重量%で粘度は18.9 psであった。
キシルメタン11.92g、シクロブタンテトラカルボ
ン酸二無水物10.30 gをNMP 1 B 7 g
中、室温で48時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶液
を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固形
分10.6重量%で粘度は18.9 psであった。
以下、スピンコード後の熱処理温度が200℃である他
は実施例1と同様に操作し、得られたC−V特性図を図
−5に示す。
は実施例1と同様に操作し、得られたC−V特性図を図
−5に示す。
図−5より、バイアス電圧掃引方向にかかわらずC−7
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
曲線は一致しポリイミド樹脂が分極していないことが分
る。
比較例1
ジアミノジフェニルエーテル19.66g、ピロメリッ
ト酸二無水物20.34 gをNMP460g中、室温
で4時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶液を調製した
。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固形分8.0重
量%で粘度は161cpsであった。
ト酸二無水物20.34 gをNMP460g中、室温
で4時間反応させポリイミド樹脂前駆体溶液を調製した
。得られたポリイミド樹脂前駆体溶液は固形分8.0重
量%で粘度は161cpsであった。
以下、実施例1と同様に操作し、得られたC−■特性図
を図−6に示す。
を図−6に示す。
図−6よりバイアス電圧の掃引方向が異なるとC−7曲
線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極している
ことが分る。
線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極している
ことが分る。
比較例2
1.4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン14.
62g、ピロメリット酸二無水物10.69 gをNM
P 180 g中、室温で4時間反応させポリイミド樹
脂前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆
体溶液は固形分12.3重量%で粘度は31.7 ps
であった。
62g、ピロメリット酸二無水物10.69 gをNM
P 180 g中、室温で4時間反応させポリイミド樹
脂前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆
体溶液は固形分12.3重量%で粘度は31.7 ps
であった。
以下、実施例1と同様に操作し、得られたC−■特性図
を図−7に示す。
を図−7に示す。
図−7より、バイアス電圧の掃引方向が異なると、C−
7曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極して
いることが分る。
7曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極して
いることが分る。
比較例3
ジアミノジフェニルエーテル10.01g、ベンゾフェ
ノンテトラカルボン酸二無水物15.79 gをNMP
177 g中、室温で4時間反応させポリイミド樹脂
前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体
溶液は固形分12.7重量%で粘度はで435cpsで
あった。
ノンテトラカルボン酸二無水物15.79 gをNMP
177 g中、室温で4時間反応させポリイミド樹脂
前駆体溶液を調製した。得られたポリイミド樹脂前駆体
溶液は固形分12.7重量%で粘度はで435cpsで
あった。
以下、実施例1と同様に操作し、得られたC−■特性図
を図−8に示す。
を図−8に示す。
図−8より、バイアス電圧の掃引方向が異なると、C−
7曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極して
いることが分る。
7曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極して
いることが分る。
比較例4
4.4′−ジアミノ−3,3′ −ジメチルジシクロヘ
キシルメタン11.92g、ピロメリット酸二無水物1
1.45gをNMP200g中、室温で200時間反応
せポリイミド樹脂前駆体溶液を調製した。得られたポリ
イミド樹脂前駆体溶液は固形分10.5重量%で粘度は
16.2 psであった。
キシルメタン11.92g、ピロメリット酸二無水物1
1.45gをNMP200g中、室温で200時間反応
せポリイミド樹脂前駆体溶液を調製した。得られたポリ
イミド樹脂前駆体溶液は固形分10.5重量%で粘度は
16.2 psであった。
以下、スピンコード後の熱処理温度が200°Cである
他は実施例1と同様に操作し、得られたC−V特性図を
図−9に示す。
他は実施例1と同様に操作し、得られたC−V特性図を
図−9に示す。
図−9より、バイアス電圧の掃引方向が異なるとC−7
曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極してい
ることが分る。
曲線にヒステリシスが生じポリイミド樹脂が分極してい
ることが分る。
図−1は、実施例1〜比較例4のMetal Poly
−imide 0xide Semiconducto
r(M P OS )モデル素子である。 l アルミニウム電極、2 ポリイミド樹脂、3 熱酸
化膜、4 シリコン基板 図−2〜図−9は実施例1〜比較例4のC−■特性図で
ある。 縦軸C/Coはバイアス電圧が+15Vの時の静電容量
に対する静電容量の比(%)、横軸はバイアス電圧(ボ
ルト)を示す。下向きの矢印は正から負方向へ掃引した
場合、上向きの矢印は負から正方向に掃引した場合を示
す。 特許出願人 日産化学工業株式会社図−1 足 次
−imide 0xide Semiconducto
r(M P OS )モデル素子である。 l アルミニウム電極、2 ポリイミド樹脂、3 熱酸
化膜、4 シリコン基板 図−2〜図−9は実施例1〜比較例4のC−■特性図で
ある。 縦軸C/Coはバイアス電圧が+15Vの時の静電容量
に対する静電容量の比(%)、横軸はバイアス電圧(ボ
ルト)を示す。下向きの矢印は正から負方向へ掃引した
場合、上向きの矢印は負から正方向に掃引した場合を示
す。 特許出願人 日産化学工業株式会社図−1 足 次
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、一般式〔 I 〕で表される ▲数式、化学式、表等があります▼〔 I 〕 〔式中、R_1はテトラカルボン酸及びその誘導体を構
成する4価の有機基であって、4個のカルボニル基に直
接結合する4個の原子は不飽和結合を有しない炭素原子
であり、R_2はジアミンを構成する2価の有機基であ
る。〕 繰り返し単位を含有するポリイミド樹脂からなる電気・
電子デバイス用絶縁膜。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63001935A JPH0682649B2 (ja) | 1988-01-08 | 1988-01-08 | 電気・電子デバイス用絶縁膜 |
DE19883888666 DE3888666T2 (de) | 1988-01-08 | 1988-12-29 | Polyimid-Harz und Isolationsschicht für elektrische oder elektronische Geräte. |
DE19883856028 DE3856028T2 (de) | 1988-01-08 | 1988-12-29 | Elektrische und elektronische Geräte mit einer Polyimidharzisolationschicht |
EP19880121856 EP0323644B1 (en) | 1988-01-08 | 1988-12-29 | Polyimide resin and insulating film for electric and electronic devices |
EP19930109530 EP0564009B1 (en) | 1988-01-08 | 1988-12-29 | Electric and electronic devices having a polyimide resin insulating film |
US07/293,766 US5059677A (en) | 1988-01-08 | 1989-01-05 | Polyimide resin and insulating film for electric and electronic devices |
KR1019890000135A KR0136275B1 (ko) | 1988-01-08 | 1989-01-07 | 전기 및 전자 장치용 폴리이미드 수지 및 절연막 |
US07/514,945 US5070182A (en) | 1988-01-08 | 1990-04-26 | Polyimide resin and insulating film for electric and electronic devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63001935A JPH0682649B2 (ja) | 1988-01-08 | 1988-01-08 | 電気・電子デバイス用絶縁膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01181430A true JPH01181430A (ja) | 1989-07-19 |
JPH0682649B2 JPH0682649B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=11515466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63001935A Expired - Lifetime JPH0682649B2 (ja) | 1988-01-08 | 1988-01-08 | 電気・電子デバイス用絶縁膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0682649B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010102886A (ja) * | 2008-10-22 | 2010-05-06 | Tokyo Kogei Univ | 画像表示装置およびフレキシブル透明有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2010189510A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Hitachi Cable Ltd | 絶縁塗料及び絶縁電線 |
JP2016004112A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57188853A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-19 | Hitachi Ltd | Plastic molded type semiconductor device |
-
1988
- 1988-01-08 JP JP63001935A patent/JPH0682649B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57188853A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-19 | Hitachi Ltd | Plastic molded type semiconductor device |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010102886A (ja) * | 2008-10-22 | 2010-05-06 | Tokyo Kogei Univ | 画像表示装置およびフレキシブル透明有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2010189510A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Hitachi Cable Ltd | 絶縁塗料及び絶縁電線 |
JP2016004112A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0682649B2 (ja) | 1994-10-19 |
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