JPH01175788A - 可視発光半導体レーザ装置 - Google Patents

可視発光半導体レーザ装置

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JPH01175788A
JPH01175788A JP33586787A JP33586787A JPH01175788A JP H01175788 A JPH01175788 A JP H01175788A JP 33586787 A JP33586787 A JP 33586787A JP 33586787 A JP33586787 A JP 33586787A JP H01175788 A JPH01175788 A JP H01175788A
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JP
Japan
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layer
crystal layer
grown
vapor phase
semiconductor
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JP33586787A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Kukimoto
柊元 宏
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INKIYUUBEETAA JAPAN KK
Misawa Co Ltd
Original Assignee
INKIYUUBEETAA JAPAN KK
Misawa Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、ダブルへテロ構造を有する可視発光半導体レ
ーザ装置、特に緑色から青色のレーザ光を出射する可視
発光半導体レーザ装置に関するものである。
(従来技術) 半導体レーザ装置は、データ記録やデータ通信の分野で
必要とされている。また、可視発光半導体レーザ装置の
使用分野も拡がりつつあり1例えば、赤色から黄色まで
の可視光を発生する可視発光半導体レーザ装置としてm
−v族化合物半導体を用いたものが実用化の段階に入っ
ている。
ところが、この従来の半導体レーザ装置は、緑色から青
色の光を発光させることは不可能である。
それは、■−■族化合物半導体の帯止帯幅が緑色から青
色を発光するに必要な広さを、有してないからである。
このため、緑色から青色の光を発光する半導体レーザの
開発に対する期待が強まっている。その期待に応えるこ
とのできる材料としては、青色発光を可能にする広い禁
止帯幅を有するn −VI族化合物半導体である。
Zn5xSe、x (0≦X≦1) が適切であると考えられる。というのは、このZn5x
Se、xは、直接遷移型結晶で、優れた発光特性を有し
、SL 、Ge 、GaAsあるいはGaP等の単結晶
の基板結晶上にMOCVDと略称される気相成長法ある
いはMBEと略称されるエピタキシャル成長法等により
エピタキシャル成長させることができ、その混晶比Xを
選択することにより格子定数のずれを解消することがで
きるので、緑色から青色の光を発光する半導体レーザ装
置用の材料として有望視できるからである。
(発明が解決しようとする問題点) ところが、Zn5xSe、xには、次に述べるような問
題点がある。
先ず第1に、p型導電型不純物を導入して低抵抗で良好
な結晶性を有する結晶層を成長させることが難しいとい
う問題がある。
即ち、半導体レーザ装置を製造する場合には、n型の結
晶層とp型の結晶層の両方を形成することが不可欠であ
り、そして、元素周期律表におけるmb族元素あるいは
■b族元素の導入によって比較的結晶性が良り、シかも
低抵抗の結晶層を気相成長させ得ることが確認されてい
る。
しかしながら、p型の結晶層を気相成長させる技術は未
だに開発されておらず、p型不純物の濃度を高くして結
晶層の低抵抗化を図ろうとすると。
結晶層の結晶欠陥が非常に悪くなり、半導体レーザ装置
としての特性が得られないという問題点があり、これが
緑色から青色の光を発光する半導体レーザ装置を得るう
えでの最大の問題となっていたのである。
第2に、Zn5xSe、xと組み合せてダブルへテロ構
造体を形成するにふされしい半導体材料が明らかになっ
ていないという問題もある。
即ち、半導体レーザ装置に発光を生じさせるには、活性
層の両面にクラッド層を形成してこのクラッド層により
光とキャリアを活性層に閉じ込めることが必要であり、
そして、活性層を形成する半導体材料は、クラッド層を
形成する半導体材料よりも禁止帯幅が狭いものでなけれ
ばならない。
しかも、その半導体材料は、格子定数が互いに等しいか
、あるいは近似していることが、結晶欠陥を少なくシ、
良好な結晶性を得るうえで不可欠である。従って、Zn
5xSa、xをクラッド層とする場合、活性層はそのZ
n5xSe、xよりも禁止帯幅が狭く、且つZn5xS
a、xと格子定数が略等しい半導体材料で形成しなけれ
ばならない。しかし、このような条件を満たす半導体材
料を探すことは容易ではなく、未だ、適当な材料が見い
出されていないというのが実状であり、これが緑色から
青色の光を発光する可視発光半導体レーザ装置の出現を
阻む第2の問題であった。
そこで、本発明者は1種々の研究を重ねた結果、Zn5
xSa1−x等II−VI族半導体結晶層の気相成長に
際してIa族元素及びそれ等の化合物を不純物として気
相中に導入することによって低抵抗のp型結晶層を気相
成長することができることを見出して第1の問題を解決
した。
そして、この問題を解決した新技術については、特願昭
62−71567号、及び特願昭62−238655号
により既に提案済みである。
それに引き続いて、本発明者は、上述した第2の問題、
即ち、Zn5xSe、−x (0≦X≦1)等■−VI
族半導体結晶層と組み合せてダブルへテロ構造体を形成
するにふされしい半導体材料が明らかでないという問題
を解決すべく研究を重ねたが、その結果、CuGaxA
 411−x(SySe、−y)、が適当であることを
見出し、本発明を完成するに至ったのである。
しかして、本発明の目的とするところは、緑色から青色
のレーザ光を出射する可視発光半導体レーザ装置を提供
することにある。
〔発明の構成〕 (問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するために、本発明は。
ZnSxSe1−x (0≦X≦1)をクラッド層形成
材料として用い、CuGaxA Q、−x(SySel
−y)2[但し、0≦X≦1.0≦y≦1]を活性層形
成材料として用いてダブルへテロ構造のレーザダイオー
ドを構成したことを特徴とするものである。
(作用) CuG、axA Q 、−x(S y S ex−Y)
zは、 Zn5xSe、−xに比較して狭い禁止帯幅を
有し、混晶比Xあるいはyによって格子定数を変えてZ
nSxSe1−xと略同程度の格子定数にすることがで
きる。従って、Zn5xSe工、Xによってクラッド層
を形成し、CuGaxA Q 1−x(SySez−y
)zによって活性層を形成したダブルへテロ構造のレー
ザダイオードを構成することができる。
そして、従来、為し得なかったこと、即ち、−方のクラ
ッド層を成すZn5xSeニーXからなる結晶層のp型
化は、本発明者が既に開発し且つ上述した特許出願にて
開示したIa族元素の導入によって為し得る。従って、
上記構成よりなる本発明によれば、緑色から青色のレー
ザ光を出射する可視発光半導体レーザ装置を提供するこ
とができる。
(実施例) 以下、本発明を図示の実施例に従って詳細に説明する。
第1図は1本発明の一実施例を示す断面図であり、同図
において1はn型のGaP からなる半導体基板結晶、
2は該n型GaP からなる基板結晶1上に気相成長さ
れた第1導電型、例えばn型のZn5xSe、xからな
る結晶層で、第1のクラッド層を成す、そして、混晶比
Xは、0.80≦X≦0.90程度にされている。3は
該結晶層2上に気相成長されたn型若しくはp型の CuGaxA Q 、x(SySei−y)、からなる
結晶層で、活性層を成す、4は該結晶層3上に気相成長
された第2導電型1例えばp型のZn5xSeニーXか
らなる結晶層で、第2のクラッド層を成す。この結晶層
4は、アクセプタ不純物としてIa族元素であるLiあ
るいはNaが導入されている。
尚、かかる結晶層の形成は、特願昭62−71567号
、あるいは特願昭62−238655号において提案さ
れた発光素子の製造法で用いられた技術によって行うこ
とができる。また、Ia族元素と共にvb族元素である
N、PあるいはAsも導入するようにしても良い。
このように、アクセプタ不純物としてIa族元素とvb
族元素を含有させるのは、不必要な格子欠陥を発生させ
ることなくp型結晶層4の不純物濃度を高めて低抵抗化
を図ると共に不純物の移動を抑制して特性の安定化を図
るためである。
5は該結晶層4の表面に形成されたオーミック電極、6
は基板結晶1の裏面に形成されたオーミック電極である
第2図は、基板結晶として使用するGaP  と、クラ
ッド層として使用するZn5xSe、xと、活性層とし
て使用するCuGaxAQl−x(SySet−y)z
との間の格子定数及び禁止帯幅(エネルギーギャップ)
に関する関係図である。
基板結晶1として使用するGaP は。
ZnS0.5sSeo−ti (x=0.86)と格子
定数が略同じであるので、良好な結晶性を得て結晶欠陥
を少なくし得るため、上述したようにクラッド層として
使用するZn5xSe□、スの混晶比Xを0.86に近
い値0.80〜0.90.より望ましくは0゜83〜0
.88にするのである。
また、CuGaxA Ql−x(SySe、−y)2は
クラッド層として使用するZn5xSe、xよりも低い
禁止帯幅を有し、しかも混晶比Xが0.86付近のZn
5xSe、xと比較的近似した値の格子定数を有した半
導体材料であるため活性層として最適であるといえる。
そこで。
CuGaxA j2.−x(SySet−V)zを活性
層として使用するのである。
尚、CuGaxAQ、x(SySe、−y)、は、第2
図から明らかなように、混晶比x、yの値によって格子
定数が変るので、GaP の格子定数と同程度の格子定
数になるようにx、yの値を選べば、より結晶性の良好
な半導体レーザ装置を得ることができる。
尚、本発明は、上述した実施例にのみ限定されるもので
はなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々の態様での
実施が可能である。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、Zn
5xSe、xよりも禁止帯幅が狭く且っ混晶比x、yに
よって格子定数が変り、Xが0.8〜0.9程度のZn
5xSe□−Xと同程度の格子定数を有するCuGax
AQt−x(SySe、−y)zを活性層として用いる
ので、クラッド層として用いられるZn5xSs、xと
でダブルへテロ構造体を得ることができる。従って、緑
色あるいは青色を発光する可視発光半導体レーザ装置を
実用化することができるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一つの実施例を示す断面図、第2図
は、各使用材料間の禁止帯幅及び格子定数の関係図であ
る。 1・・・・・・半導体基板結晶、 2.4・・・・・・クラッド層(If−VI族半導体結
晶層)、3−−・−活性層(CuGaxA !、−x(
SySet−y)z)、5.6・・・・・・オーミック
電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板結晶上に第1導電型のII−VI族半導体結晶層
    がクラッド層として気相成長され、該II−VI族半導体結
    晶層上に第1導電型あるいは第2導電型のCuGa_x
    Al_1_−_x(SySe_1_−_y)_2(但し
    、0≦x≦1、0≦y≦1)からなる半導体結晶層が活
    性層として気相成長され、該活性層としての半導体結晶
    層上に第2導電型のII−VI族半導体結晶層がクラッド層
    として気相成長されたことを特徴とする可視発光半導体
    レーザ装置。
JP33586787A 1987-12-29 1987-12-29 可視発光半導体レーザ装置 Pending JPH01175788A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05347431A (ja) * 1992-06-15 1993-12-27 Sharp Corp 半導体素子用基板および半導体素子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60164382A (ja) * 1984-02-06 1985-08-27 Nec Corp 青色光半導体レ−ザ
JPS60173893A (ja) * 1984-02-20 1985-09-07 Nec Corp 緑色光半導体レ−ザ
JPS63140588A (ja) * 1986-12-01 1988-06-13 Ricoh Co Ltd 半導体発光装置

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