JPH01162176A - 検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、例えば回路基板に各種電子部品を実装して組
み立てられた電子回路基板等を被測定体とし、この被測
定体を機能検査する検査装置に関する。

（従来の技術） この種の検査装置では、回路基板とテスターとの間に、
テストフィクチャーと呼ばれる部材を配置し、回路基板
のパターン面とテスターの出力端子とを接続することで
、前記回路基板の機能検査を実行するようになっている
。

ここで、従来のテストフィクチャーは、第４図に示すよ
うに、プローブベース１．インターフェースベース２と
称される２枚のベース１，２をそれぞれ対向するように
支持ベース３に固定して構成される。

前記プローブベース１とは、回路基板のパターンと対向
して配置され、一端５ａが前記パターン面と接触し、他
端５ｂ側に線材４が接続されるプローブピン５を配列支
持したものであり、前記インターフェースベース２とは
、前記プローブビン５と対向する一端６ａに前記線材４
を接続し、その他端６ｂをテスターの出力端子に接触さ
せるインターフェースピン６を配列支持したものである
。

（発明が解決しようとする問題点） 上述した構成の検査装置では、前記プローブベース１と
インターフェースベース２とのそれぞれ対向する面側に
配置される前記ピン端子５ｂ。

６ａに線材４を配線する必要があり、２枚のベース１．
２を前記支持ベース３に固定した状態では、手作業によ
る前記配線を実行することが不可能である。

そこで、従来は、第５図に示すように、プローブベース
１のみを前記支持ベース３に固定し、インターフェース
ベース２の前記ピン端子６ａが外側に向くような状態で
両ビン端子５ｂ、６ａに配線をせざるを得なかった。

このため、前記線材４の長さは、インターフェースベー
ス２を第５図の状態に設定することができるように十分
長くする必要があった。

ところで、このように線材４の長さを長くすると、この
線材４によって伝送される検査信号にノイズが重畳した
場合、特に、この検査信号が高周波信号の場合には、ノ
イズが信号として検出されてしまい、正確な機能検査が
実行できないという問題があった。

そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、プローブビン、インターフェースピン
接続用の線材長さを従来よりも大幅に短くすることがで
き、もって検査信号に重畳するノイズを低減し、正確な
機能検査を実行することができる検査装置を提供するこ
とにある。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明は、多数の測定端が平面的に存在する被測定体と
、この被測定体の各測定端に対応して配置され、一端が
測定端に接触し、他端側かテスターに接続されるプロー
ブビンを配列支持したプローブベースと、このプローブ
ベース及びテスター間を中継接続するインターフェース
ベースとを有する検査装置において、 前記インターフェースベースは、少なくとも横又は縦方
向の一列毎に分割された複数の分割ベースに前記インタ
ーフェースピンを支持した構成としている。

（作用） 本発明では、インターフェースベースを、縦又は横方向
でインターフェースピンの一列毎に分割した複数の分割
ベースとして構成している。そして、このテストフィク
チャーを製造する際には、先ず、プローブベースを支持
ベースに固定しておく。

そして、端から順に分割ベースを前記支持ベースに取り
付けてゆき、この取り付けを行う毎に、分割ベースに支
持されたインターフェースピンと前記プローブベースに
支持されたプローブビンとを、検査装置の配線情報を基
に線材によって接続することになる。

この場合、インターフェースベースが分割されているの
で、この分割ベースを裏返して作業し易い方向に向けて
線材の接続作業を行っても、従来の一枚のベースから成
るインターフェースベースを使用した場合に比べれば、
前記線材の長さをほぼ４分の１程度に短くすることが可
能となる。

尚、前記分割ベースを支持ベースに対して回転自在に構
成しておけば、上記作業をより簡易に実行することがで
き、作業性の向上をも図ることができる。

（実施例） 以下、本発明を回路基板検査装置に適用した一実施例に
ついて、図面を参照して具体的に説明する。

まず、実施例装置の全体の概要について、第３図を参照
して説明する。

本実施例装置を大別すれば、被検査体である電子部品を
実装した回路基板１０と、この回路基板１０の機能検査
を実行するためのテスター２０と、前記回路基板１０を
載置固定し、かつ、この回路基板１０のパターン面と前
記テスター２０の出力端子とを接続するテストフィクチ
ャー的０とから構成されている。

前記テスター２０は、前記テストフィクチャー３０を昇
降可能に支持するりフタ−２１と、前記テストフィクチ
ャー３０の後述する支持ベース６０を位置決め案内する
案内部材の一例であるロケーティングピン２２と、前記
支持ベース６０を真空吸引するためのバキュームポート
２３と、前記テストフィクチャー３０と対向する面上に
、テスター２０の出力端子であるスプリング付きコンタ
クトプローブ２４とを有して構成されている。

次に、本実施例装置の特徴的構成である前記テストフィ
クチャー３０について、第１図、第２図を参照して説明
する。

前記テストフィクチャー３０は、プローブベース４０及
びインターフェースベース５０を有し、この各ベース４
０．５０は前記支持ベース６０に離間して平行に配置固
定されるようになっている。

まず、プローブベース４０．インターフェースピン５０
の取り付は構造について説明すると、第１図に示すよう
に前記テストフィクチャー２０の基台となる前記支持ベ
ース６０に前記インターフェースベース５０が固定され
ている。また、前記支持ベース６０には支柱６１が垂直
に支持固定されている。

次に、前記プローブベース４０について説明する。

前記プローブベース４０は、前記回路基板１の部品実装
面とは反対側のパターン面と接触するプローブピン４１
を支持するベースである。

前記プローブビン４１は、第１図に詳図するように、そ
の両端に電気的に導通する接続片４１ａ。

４１ｂを有し、上側の前記接続片４１ａは、同図の矢印
方向である軸方向の一端側に突出付勢されるように、ス
プリングピン構造となっている。

このプローブビン４１は、前記プローブベース４０に形
成した挿入穴４０ａに挿入されて支持固定されている。

また、前記プローブベース４０の上面には、前記各プロ
ーブビン４１の配列位置に対応してガイド穴３５ａを有
するピンガイドプレート３５がプレートガイド３６によ
って取り付は案内され、かつ、圧縮コイルスプリング３
７によって常時上方に付勢されている。そして、前記ガ
イド穴３５ａに挿通されることにより、前記プローブビ
ン４１を回路基板１０のパターン面に正確に接触できる
ように構成している。さらに、前記ピンガイドプレート
３５上には、回路基板１０用のガイドピン３８が垂直に
立設され、前記基板１０をピンガイドプレート３５上で
正確に位置決めできるようになっている。

次に、前記インターフェースベース５０について説明す
る。

このインターフェースベース５０は、前記テスター２０
のスプリング付きコンタクトプローブ２４と接触して、
インターフェースとしての機能を有するベースであり、
このベース５０には、前記テスター２０のスプリング付
きコンタクトプローブ２４と対向する各位置に、インタ
ーフェースピン５１が支持されている。このインターフ
ェースピン５１は、その両端に電気的に導通する接続片
５１ａ、５１ｂを有して構成されている。

また、前記インターフェースベース５０には、前記テス
ター２０のロケーティングピン２２に挿通される被案内
部材であるガイド穴が形成され、前記テスター側との正
確な位置決めが成されるようになっている。

尚、このインターフェースベース５０は、後述するよう
に、テスター２０側に真空吸引されるので、テスター２
０側に空気の流入を防止する構造となっている。

次に、前記インターフェースベース５０の特徴的構成に
ついて説明する。

このインターフェースベース５０は、第２図に示すよう
に、マトリクス状の各位置に配置されたインターフェー
スピン５１の一列ごとに、例えば縦方向に分割された複
数の分割ベース５２から構成されている。

そして、この各分割ベース５２は、前記支持ベース６０
の両側よりボルト５３によって独立して固定できるよう
に構成されている。すなわち、前記支持ベース６０の両
縁６０ａには、対向した穴６５が設けられ、一方、前記
各分割ベース５２には前記穴６５に対向する位置にネジ
穴５２ａを有している。そして、前記ボルト５３を前記
支持ベース６０の穴６５を介し前記ネジ穴５２ａに螺合
することで、前記分割ベース５２を支持ベース６０に固
定できるようになっている。尚、前記ボルト５３を完全
に締め付けない状態にあっては、前記ボルト５３が回転
軸となって穴６５に支持されて回転自在であり、この結
果、前記分割ベース５２が回転できるようになっている
。

また、前記プローブベース４０に固定されたプローブビ
ン４１の接続片４１ａと、前記インターフェースベース
５０に支持されたインターフェースピン５１の接続片５
１ａとは、線材７０によって接続されるようになってい
る。

次に、作用について説明する。

まず、この検査装置の組み立てについて説明する。

この検査装置は、各種基板の種類に合わせて個別的に製
造する必要があり、このなめに線材７゜を回路基板１０
に合わせて前記プローブビン４１とインターフェースピ
ン５１とにラッピングする必要がある。

そこで、第２図の例えば左端の分割ベース５２から順に
一つづつ分割ベース５２を前記支持ベース６０にボルト
５３によって仮止めし、この仮止めの状態で前記プロー
ブビン４１に一端を接続した線材７０の他端を、所定の
インターフェースピン５１にラッピングによって接続す
る。

ここで、このラッピングを実行する場合、前記分割ベー
ス５２上のインターフェースピン５１に前記線材７０を
接続すべき接続片５１ａが外側（前記プローブビン４１
に対向しない向き）になるように、前記ボルト５３を回
転軸として分割ベース５２を回転して行う。このように
すれば、外側に向いた前記接続片５１ａに対するラッピ
ングを容易に実行することができる。

そして、−枚の前記分割ベース５２に対する前記ラッピ
ングが終了したら、この分割ベース５２を回転して前記
プローブビン４１の下側接続片４１ｂとインターフェー
スピン５１の上側接続片５１ａとが対向するように設定
し、その後前記ボルト５３の本締めにより固定する。

以降、第２図の例えば左側の分割ベース５２がら凧に上
記作業を繰り返すことで、全ての分割ベース５２に対す
るラッピング処理を容易に実行することができる。

ここで、−列に分割された分割ベース５２毎に線材７０
の接続を実行しているので、従来の第５図に示すものの
ように、−枚の大きなインターフェースベース上のイン
ターフェースピンにラッピングを行うものに比べれば、
前記線材の長さが明らかに短くて済む。

このようにして構成されるテストフィクチャー３０を用
いての前記回路基板１０の検査について説明する。

前記テスター２０のバキュームポート２３によって前記
テストフィクチャー３０の基台である支持ベース６０を
テスター、２０側に吸引し、前記インターフェースベー
ス５０に支持されているインターフェースピン５１の接
続片５１ｂを前記テスター２０のスプリング付きコンタ
クトプローブ２４に接触させる。

このような状態に設定した後、前記テスター２０によっ
て、前記回路基板１０に通電し、所定の機能検査を実行
することができる。

ここで、前記プローブビン４１とインターフェースピン
５１とを接続する前記線材７０の長さが従来よりも大幅
に短くなっているので、線材７０の引き回し時に重畳す
るノイズが大幅に少なくなり、たとえ高周波信号が伝送
される場合であっても、重畳するノイズが少ないのでよ
り正確な機能検査を実行することが可能となる。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

例えば、上記実施例では、分割ベース５２を回転自在に
構成し、線材７０の接続作業の簡易化を図ったが、必ず
しもこれに限定されるものではなく、要はインターフェ
ースベース５０を各列毎に分割しておけば、線材７０の
長さを短くできるという本発明の効果を奏することがで
きる。

また、より作業の簡易化を図るためには、前記分割ベー
ス５２を回転自在とすると共に、この分割ベース５２が
作業しやすい位置で停止できるように回転ストッパーを
具備するようにしても良い。

尚、前記分割ベース５２を得るための分割方向について
言及すれば、この分割の方法はテスター２０の出力端子
のグループ毎に対応するものが好ましく、すなわち、イ
ンターフェースピン５１への接続は、テスター２０の出
力端子の配置と対応関係があるからである。従って、上
記実施例のように縦方向で分割するものに限らず、横方
向に分割してもよいことは言うまでもない。

また、上記実施例では、回路基板検査装置について説明
したが、マトリックス液晶表示装置の駆動回路等に適用
しても同様な効果が得られる。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によればインターフェース
ベースを一列毎に分割した構成であるので、プローブベ
ース上のプローブピンとインターフェースピンとの接続
のための線材を従来より短くして接続することが可能と
なり、もって、信号に重畳するノイズの低減が図れるの
で、特に検出信号が高周波信号であっても常時的確な機
能検査を実行することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である回路基板装置における
テストフィクチャーの断面構造を示す断面図、 第２図は第１図のテストフィクチャーにおけるインター
フェースベースの平面図、 第３図は第１図のテストフィクチャーを用いた検査装置
の全体構成を示す概略説明図、第４図は従来の検査装置
の概略説明図、第５図は従来のテストフィクチャーの組
み立て作業を示す概略説明図である。 １０・・・回路基板、 ２０・・・テスター、 ３０・・・テストフィクチャー、 ４０・・・プローブベース、 ４１・・・プローブピン、 ５０・・・インターフェースベース、 ５１・・・インターフェースピン、 ５２・・・分割ベース、 ６０・・・支持ベース、 ７０・・・線材。 代理人　弁理士　井　上　　−（他１名）第２図 ６０Ｇ　　　　　　　　　　　６０ 第３図 ２ｏテスター 箆５図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）多数の測定端が平面的に存在する被測定体と、こ
   の被測定体の各測定端に対応して配置され、一端が測定
   端に接触し、他端側がテスターに接続されるプローブピ
   ンを配列支持したプローブベースと、このプローブベー
   ス及びテスター間をインターフェースピンを介して中継
   接続するインターフェースベースとを有する検査装置に
   おいて、前記インターフェースベースは、少なくとも横
   又は縦方向の一列毎に分割された複数の分割ベースに前
   記インターフェースピンを支持して構成したことを特徴
   とする検査装置。
2. （２）各分割ベースは、前記プローブピンとの接続端側
   を、前記プローブベースと対面しない側に回転できるよ
   うに、回転自在に支持されるものである特許請求の範囲
   第１項記載の検査装置。
3. （３）被測定体は回路基板である特許請求の範囲第１項
   又は第２項記載の検査装置。
4. （４）被測定体は液晶駆動回路である特許請求の範囲第
   １項又は第２項記載の検査装置。