JPH01136342A - 半導体製造方法および窒化物のデポジション方法 - Google Patents
半導体製造方法および窒化物のデポジション方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ング除去した後、窒化シリコン層を直接デポジットして
シーリングし、マスキングするシリコン半導体製造方法
に関する。
二酸化シリコン誘電体を成長させることによって分離し
ていた。そのアクティブ領域は酸化を防止するためパタ
ーン化した窒化シリコン層によってマスクされる。それ
にも拘わらず、二酸化シリコンはマスクの窒化シリコン
層の端部の下まで成長して延び、°°パーツピーク”と
呼ばれる好ましくない二酸化シリコンの突出が形成され
る。パーツビークの減少のための調査研究の結果、その
主な原因は薄い二酸化シリコン・ノダツド又はバッファ
層であるということがわかった。その層は、従来、窒化
シリコン・マスキング層の下に形成され、それがなけれ
ば発生するであろう厚い窒化シリコンマスクと単結晶シ
リコン基板との間の熱膨張係数の不一致によって誘発さ
れる位置ずれ型破損を防止する。
酸素粒子の横移動を抑制する各種方式が評価され、成功
の程度が測定された。例えば、パッド/バッファ二酸化
シリコン(酸化物)層又は単なる自然酸化物層を傾斜オ
キシナイトライドに変換するために使用する急速熱窒化
は比較的良い結果が現われ、それは゛この出願の出願人
と同一出願人による同時米国出願(NCR連番第396
7号)に記載しである。自然酸化物又は窒化された自然
酸化物の上に直接デポジットされた薄いシーリング窒化
シリコン層(窒化物)の使用を含む他の方式はIEEE
電子装置レター(1981年10月)に見られるよりな
Huiほかによる°”高密度MO8のためのセレクティ
ブ酸化技術”に記載されている。
カライズド酸化(SILO)の拡張は米国特許筒4、4
72.459号及び第4.551.910号に記載され
ている。前者の特許は中間パッド/・々ツファ酸化物層
の急速形成をせずに、基板シリコンの上に薄い窒化物層
をデポジットすることを提案している。
ない。同様に、後者の特許にも自然酸化の影響の認識が
記載されていない。そこには自然酸化物層の上の窒化物
層の形成方法が記載されている。
性メモリー装置の形成中に行う多重誘電体層のインサイ
チュ−・デポジション方法が記載しである米国特許第4
.438.157号を参考にすることができる。
ーツビーク効果を減少させる必要がいまだ残されている
。パーツビーク突起の実質的抑制又は除去の重要性は最
近の特許及び技術文書で発行されているよ)な種々の溝
分離構造及び方法の評価に使われている主な手段によっ
て証明しうるところかられかるであろう。
チュ−製造に焦点を当て、自然酸化物エツチングから窒
化物デポジションまでのシーケンス中、新たな自然酸化
物の形成を除去及び禁止するようにした。
の自然酸化物をエッチして除去するに適した塩化水素(
HCl )ガス流の供給に、及び前準備として圧力を下
げ、温度を上げるようにした単結晶基板ウェハの反応管
内での準備調節を含む。
グ残留物を取除く。きれいなシリコン基板面に直接窒化
シリコンを化学的にデポジットするよう大気圧以下(準
大気圧という)でジクロロシラン(5iH2Ct2)及
びアンモニア(NH3)ガスの流れを開始する。インサ
イチュ−動作はフィールド酸化中マスクのために使用す
る薄いシーリング窒化シリコン層がそのシリコン面で酸
化物又はオキシナイトライド・デポジット層をエントラ
ップしないということを保証する。テストによシ、フィ
ールド酸化物の成長を受けたとき、インサイチュー・エ
ツチング及びデポジション・シーケンスはパーツビーク
突起のそれ以上の減少を生じさせるようなシーリング窒
化物層を提供する。
チエ−・エツチングは水素環境(H2)における高温低
圧下で行われ、それに続き前述の窒化物デポジションの
排除及び功撃を行う。
する方式はあまた異なる方式が考慮され、テストされて
きた。その大きいゴールはアクティブ領域がマスク窒化
シリコン層によってカバーされている間、単結晶シリコ
ン基板のセレクティプ酸化中に直面する一般にパーツビ
ークと呼ばれるフィールド酸化物誘電体のアクティブ領
域に対する侵食を制限することであった。パーツビーク
領域が直接装置製造に使用しうるアクティブ領域から差
引かれた場合、それが相当率さな量であってもパーツビ
ーク突起の大きさを減少するよう大きく基本的希望が引
続き存在する。他方、これらの技術者達は、パーツビー
ク効果を更に減少させる製造技術はアクティブ領域に製
造される装置の特性を大きく劣化させるべきでなく、製
造時間及びコストにも悪影響を及ぼさせるべきでないと
いうことを認識している。
酸化(SILO)は従来のセレクティブ・シリコン酸化
処理と対比して・ぐ−ノビークの長さを大きく減少する
ようにみえる技術を示した。この襞間の処理方法はSI
LO方式の利点を認め、パーツビーク長を更に減少する
ことによってその利点を拡大するものである。
れは、例えば、Thermco Corporatio
n製のLPCVD窒化物反応炉、すなわち水晶管反応炉
1の中にデート3を使用して半導体基板ウェハ2が装填
される。管反応炉1はカバー6でシールされ、出口パル
プ4を通し、一端でアクセスを制限し、管を通して真空
ポンプに導き、マニホールド11を通し反対端において
種々のガス源にアクセスされる。反応炉の圧力は希望に
よシデテクタ7で感知され、真空ポンプの流率を制御す
る。熱はRF加熱コイル9に接続して動作可能な電源及
び温度制御8によって与えられ、調節される。反応炉1
ニ供給されるガスはマニホールド11で混合される。混
合マニホールド11に送られる各ガス、ジクロロシラン
又はシラン、アンモニア、及び水素又は塩化水素の流率
は夫々の電子流量コントローラ12,13.14で制御
される。パルプ16゜i’y、isは夫々のガス源をマ
ニホールド11及び反応炉1から固く遮断する。
チャンバがRFコイル9からの熱及び約15分間バルブ
4からの排気によって予備調節される。その後、パルプ
18が開けられ、マニホールド11を通して反応炉1に
塩化水素ガスが流入される。チャンバ圧は真空−ンゾの
排気量を調節して約100ミリトルに設定される。その
時間中、反応炉チャンバ温度は約800〜900℃に、
塩化水素の流量は約25標準cm”7分(Seem)に
維持される。この状態はその後約15分間維持され、大
気酸化状態にさらされた単結晶シリコン・ウニノ・2に
典型的に存在する0、5〜3ナノメートルの自然の二酸
化シリコンをエツチングにより完全に除去する。
応炉1のチャンバはその温度及びシール状態を維持しな
がら、塩化水素ガス及びエツチング反応物の残留物を排
除するよう排出する。この排出又は排除サイクルは約1
5分間続けられる。
11にアンモニアとジクロロシラン又はシラン・ガスの
どちらかが流され、明らかにウェハ2があるチャンバに
入る。ジクロロシラン又はシランの流れはコントローラ
12によって約20secmに調節され、コントローラ
13を通るアンモニアの流れは約70 secmに調節
される。排出率は約700ミリトルのチャンバ圧を維持
するよう調節され、前から使用しているチャンバの温度
を約800〜900℃に保持される。反応炉1内におけ
る低圧及び高温下でジクロロシランとアンモニアの混合
物はウェハ2上に窒化シリコンをデポジットする化学反
応を起こし、ウェハ2はその直前にすべての二酸化シリ
コンがエツチング除去される。
ル/分の速度で基板ウェハにデポジットされる。好まし
くは、窒化物層の低圧化学蒸着(LPCVD )を約6
分間行い、ウェハ2のきれいな単結晶シリコン基板に直
接約12ナノメートルの相当薄いシーリング窒化シリコ
ン層を形成する。
リコン層を形成するデポジションへの変遷はチャンバ酸
素や大気にもウェハを露すことなく直接継続で行われる
。その結果、インサイチエ−・エツチング及びデポジシ
ョンが単結晶シリコン基板とマスキング窒化シリコン層
との間の理想的結合及び接着を保証し、フィールド酸化
物成長中窒化物層の下の酸素種の移動通路であるオキシ
ナイトライド又は二酸化シリコンの完全除去を保証する
。
の二酸化シリコン・エツチング動作を行う。それによる
と、予備調節及び加熱動作はそれに続き、パルプ18を
通して約25 secmの流速で水素ガスを供給し、排
気を制御して約100ミリトルの圧力を維持し、約80
0〜900℃に反応炉温度を制御する。水素基準酸素エ
ツチング条態は窒化シリコンのデポジションの準備のた
め次の工程で行う15分は排出を開始する前約15分間
維持される。又、自然酸化物エツチングと窒化シリコン
のデポジションとの間のインサイチエ−変遷はフィール
ド酸化物成長動作中酸素種の通路を除去する。
ィールド酸化物層を成長するとき、相対的パーツビーク
侵食を考慮することによって最もよく評価することがで
きる。パーツビーク長又は侵食はマスキング窒化物の端
からシーリング窒化物層の下にフィールド酸化物が突通
る最遠長点までの距離と定義される。5ILO技術は一
般に指定したフィールド酸化物の700ナノメートルの
端に沿って0.45〜0.6マイクロメードルからの範
囲の侵食長を発生する。逆に、この発明によるシリコン
面のインサイチュー・シーリングは40ナノメートルの
低温デポジット酸化物と100又は140ナノメートル
のLPCVD窒化シリコンとの組合わせによる約13ナ
ノメートルのシーリング・シリコン窒化物層を使用した
とき0.25〜0.35マイクロメートルの侵食長を発
生する。約13ナノメートルのシーリング窒化シリコン
層と、約30ナノメートルの低温酸化物層と、約100
ナノメートルの最終窒化物マスク層との組合わせを使用
して0.15〜0.25マイクロメートルに、更に侵食
の減少を得ることができるということをテストが示した
。
クティブ領域との間の変遷は相当ゆるやかで、その後に
形成されパターン化される導通層の工程確保を容易にす
る。
ン・デポジション動作を行うに適したインサイチエ−反
応系を示す略図である。 図中、1・・・水晶管反応炉、2・・・ウェハ、3・・
・ビート、4・・・出ロパルブ、7・・・デテクタ、8
・・・電源及び温度制御、9・・・RF加熱コイル、1
1・・・マニホールド、12,13.14・・・コント
ローラ、16.17.18・・・バルブ。 出願代理人 斉 藤 勲
Claims (9)
- (1)シリコン基板面におけるフィールド酸化物の成長
中に使用しうるシーリング層をデポジットする方法であ
って、 圧力を減じ、温度を高めたチャンバにおいて前記基板を
予め調節し、 第1の準大気圧及び高い温度を維持しながら前記チャン
バを通して二酸化シリコン・エッチャント・ガス流を開
始することにより前記シリコン基板から自然二酸化シリ
コンを除去し、 排出することによりエッチング又は酸化ガスを前記チャ
ンバから除去し、 窒化シリコン・デポジション・ガスの流れを開始して前
記チャンバに満たし、高められた温度を維持しながら第
2の準大気圧レベルまで圧力を上げ、 前記シリコン基板の上に直接、厚さ10乃至20ナノメ
ートルの公称範囲に窒化シリコンのシールド界面マスキ
ング層をデポジットする各工程を含むようにした半導体
の製造方法。 - (2)前記二酸化シリコン・エッチャント・ガスはHC
lを含み、前記第1の準大気圧は100ミリトルの範囲
にあり、前記高められた温度は800〜900℃の範囲
にあることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体の製造方法。 - (3)前記窒化シリコン・デポジション・ガスはシラン
又はジクロロシラン及びアンモニアを含み、前記第2の
準大気圧は700ミリトルの範囲にある特許請求の範囲
第2項記載の半導体の製造方法。 - (4)前記二酸化シリコン・エッチャント・ガスはH2
を含み、前記第1の準大気圧は100ミリトルの範囲に
あり、前記高められた温度は800〜900℃の範囲に
ある特許請求の範囲第1項記載の半導体の製造方法。 - (5)前記窒化シリコン・デポジション・ガスはシラン
又はジクロロシラン及びアンモニアを含み、前記第2の
準大気圧は700ミリトルの範囲にある特許請求の範囲
第4項記載の半導体の製造方法。 - (6)シリコン基板に直接薄い窒化シリコン層をデポジ
ットする方法であって、 第1の準大気圧及び高められた温度に維持されたチャン
バにおいてHCl混合ガスを使用して前記シリコン基板
から自然二酸化シリコンをエッチングし、 排出することにより前記チャンバから残留ガスを除去し
、 前記チャンバを第2の準大気圧及び高められた温度に維
持しつつ、インサイチュー及び排出直後においてシラン
又はジクロロシラン及びアンモニアを使用し前記基板に
窒化シリコンをデポジットする各工程を含むデポジショ
ン方法。 - (7)前記第1の準大気圧は100ミリトルの範囲にあ
り、前記高められた温度は800〜900℃の範囲にあ
る特許請求の範囲第6項記載のデポジション方法。 - (8)第1の準大気圧及び高められた温度に維持された
チャンバ内でH_2混合ガスを使用しシリコン基板から
自然二酸化シリコンをエッチングし、排出により前記チ
ャンバから残留ガスを除外し、第2の準大気圧及び高め
られた温度に前記チャンバを維持しつつインサイチュー
及び排出直後にシラン又はジクロロシラン及びアンモニ
アを使用して前記基板に窒化シリコンをデポジットする
各工程を含むシリコン基板に直接薄い窒化シリコン層を
デポジットする方法。 - (9)前記第1の準大気圧は100ミリトルの範囲にあ
り、前記高められた温度は800〜900℃の範囲にあ
る特許請求の範囲第8項記載の方法。
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