JPH01109610A - 透明導電性膜用組成物およびその膜の形成方法 - Google Patents
透明導電性膜用組成物およびその膜の形成方法Info
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- JPH01109610A JPH01109610A JP62266466A JP26646687A JPH01109610A JP H01109610 A JPH01109610 A JP H01109610A JP 62266466 A JP62266466 A JP 62266466A JP 26646687 A JP26646687 A JP 26646687A JP H01109610 A JPH01109610 A JP H01109610A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、基板上に透明導電性膜を形成せしめる際に用
いられる組成物、および透明性導電性膜の形成方法に関
し、さらに詳しくはLCD(液晶用)、プラズマデイス
プレィ用等の用途に有用な透明導電性膜用の溶液組成物
、およびその膜の形成方法に関するものである。
いられる組成物、および透明性導電性膜の形成方法に関
し、さらに詳しくはLCD(液晶用)、プラズマデイス
プレィ用等の用途に有用な透明導電性膜用の溶液組成物
、およびその膜の形成方法に関するものである。
[従来の技術]
近年、種々の基板表面上を薄膜で被覆し、基板上に所望
の導電特性を付与させる試みがなされている。その中で
酸化スズにSb、 Fをドープした膜はネサ膜(以下ネ
サ膜と称す)といわれ、強固で透明性が良好であり、か
つ導電性を持つ皮膜を指し、通常はPVD、真空蒸着、
スパッター、CVD (7ラズ?CVD、熱CVD)等
により成膜される。特にネサ膜は、ITOと異なり、P
VDよりCVDが主流である。方法として、Sn(Me
) 2 C12,5nCI 4 、5n(Me) 3
C1等の有機スズ化合物を気化させ、加熱したガラスに
吹き付ける方法があるが、成膜速度が遅い、成膜装置が
大がかりで高価、大面積化や大量生産が難しい等の問題
点があった。
の導電特性を付与させる試みがなされている。その中で
酸化スズにSb、 Fをドープした膜はネサ膜(以下ネ
サ膜と称す)といわれ、強固で透明性が良好であり、か
つ導電性を持つ皮膜を指し、通常はPVD、真空蒸着、
スパッター、CVD (7ラズ?CVD、熱CVD)等
により成膜される。特にネサ膜は、ITOと異なり、P
VDよりCVDが主流である。方法として、Sn(Me
) 2 C12,5nCI 4 、5n(Me) 3
C1等の有機スズ化合物を気化させ、加熱したガラスに
吹き付ける方法があるが、成膜速度が遅い、成膜装置が
大がかりで高価、大面積化や大量生産が難しい等の問題
点があった。
そこで生産性、均質性、作業性、経済性等のかかる欠点
の解消を考慮し、分解熱処理によりネサ膜となり、しか
も優れた電気的特性を与える方法としてスズ化合物を含
む有機溶剤を使用してのスプレー法、ロールコート法、
スピンコード法、浸漬法によるネサ膜の形成法が提案さ
れている0例えば、特開昭59−198608号公報で
は塩素を含有したスズアルコキシドとアンチモン化合物
と、適当な有機溶剤と、水とからなる組成物が開示され
ており、これを使った成膜方法としては、浸漬法が用い
られている。
の解消を考慮し、分解熱処理によりネサ膜となり、しか
も優れた電気的特性を与える方法としてスズ化合物を含
む有機溶剤を使用してのスプレー法、ロールコート法、
スピンコード法、浸漬法によるネサ膜の形成法が提案さ
れている0例えば、特開昭59−198608号公報で
は塩素を含有したスズアルコキシドとアンチモン化合物
と、適当な有機溶剤と、水とからなる組成物が開示され
ており、これを使った成膜方法としては、浸漬法が用い
られている。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、前記発明においては、アンチモン化合物として
、実質的には完全置換型のトリエトキシアンチモン等を
使っており、しかもアルコキシドの系に水を添加してい
るため、保存寿命(ポットライフ)の長い組成を製造す
るのは非常に難しく、また再現性のあるデータを得るの
がきわめて困難である。 また、成膜した際には膜厚も
不均一になり、白濁などを生じる場合が多いことがわか
った。従って、本発明においては広い組成範囲にわたっ
てポットライフが長く、導電特性のよい薄膜が再現性よ
く得られる組成物および導電性膜の形成方法を提供する
ことを目的とする。
、実質的には完全置換型のトリエトキシアンチモン等を
使っており、しかもアルコキシドの系に水を添加してい
るため、保存寿命(ポットライフ)の長い組成を製造す
るのは非常に難しく、また再現性のあるデータを得るの
がきわめて困難である。 また、成膜した際には膜厚も
不均一になり、白濁などを生じる場合が多いことがわか
った。従って、本発明においては広い組成範囲にわたっ
てポットライフが長く、導電特性のよい薄膜が再現性よ
く得られる組成物および導電性膜の形成方法を提供する
ことを目的とする。
[問題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本発明者らは鋭意検討を行っ
た結果、特定組成の塩素含有アルコキシドを組合せるこ
とにより、ポットライフが非常に長く、かつ再現性よく
導電特性の優れた透明導電性膜が形成できることを見い
だし、本発明に到達したものである。すなわち、本発明
は、−最大5n(OR)、 C1n−x(ただし、Rは
炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル
基を示し、nは2または4であり、n=2の場合1.0
≦X≦1.8、n==4の場合2.5≦X≦3.5)で
示される塩素含有スズアルコキシドと、−最大Sb(O
R)mC1,−パただし、Rは炭素数1〜lOのアルキ
ル基またはアルコキシアルキル基を示し、■は3または
5であり、■=3の場合1.5≦X≦2,8、腸=5の
場合2.0≦X≦4.8)で示される塩素含有アンチモ
ンアルコキシドを、Sb/Snのモル比で20/80≦
Sb/Sn Sl/99の割合で混合したことを特徴と
する透明導電性膜用組成物および上記組成物を用い、基
板に塗布し、室温〜300°Cで乾燥し、500〜65
0’ Cで焼成することを特徴とする透明導電性膜の形
成方法である。
た結果、特定組成の塩素含有アルコキシドを組合せるこ
とにより、ポットライフが非常に長く、かつ再現性よく
導電特性の優れた透明導電性膜が形成できることを見い
だし、本発明に到達したものである。すなわち、本発明
は、−最大5n(OR)、 C1n−x(ただし、Rは
炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル
基を示し、nは2または4であり、n=2の場合1.0
≦X≦1.8、n==4の場合2.5≦X≦3.5)で
示される塩素含有スズアルコキシドと、−最大Sb(O
R)mC1,−パただし、Rは炭素数1〜lOのアルキ
ル基またはアルコキシアルキル基を示し、■は3または
5であり、■=3の場合1.5≦X≦2,8、腸=5の
場合2.0≦X≦4.8)で示される塩素含有アンチモ
ンアルコキシドを、Sb/Snのモル比で20/80≦
Sb/Sn Sl/99の割合で混合したことを特徴と
する透明導電性膜用組成物および上記組成物を用い、基
板に塗布し、室温〜300°Cで乾燥し、500〜65
0’ Cで焼成することを特徴とする透明導電性膜の形
成方法である。
本発明で用いられるアルキル基は炭素数1〜10である
が、特に炭素数2〜5が好ましく、さらにはアルコキシ
アルキル基がこのましい。
が、特に炭素数2〜5が好ましく、さらにはアルコキシ
アルキル基がこのましい。
また、Snはnが2と4の場合があり、sbについては
lが3と5のばあいかあり、4通りの組合せが考えられ
るが、いずれのばあいでもよい0本発明組成物の濃度は
、塩素含有スズアルコキシドと塩素含有アンチモンアル
コキシドの合計が0.05−1.5moI71が好まし
い。
lが3と5のばあいかあり、4通りの組合せが考えられ
るが、いずれのばあいでもよい0本発明組成物の濃度は
、塩素含有スズアルコキシドと塩素含有アンチモンアル
コキシドの合計が0.05−1.5moI71が好まし
い。
両者の濃度合計が0.05w1ol/ 12未満の場合
、1回で塗布する膜の厚さが薄すぎるため、重ね塗りす
る回数が多くなりすぎ、膜自体の透明性や導電特性が劣
る。一方、濃度が1.5sol/1を越える場合、−回
で形成される塗膜の厚さが厚すぎるため、塗膜がひび割
れを起こしやすく、導電特性の優れた膜を得ることが難
しい。
、1回で塗布する膜の厚さが薄すぎるため、重ね塗りす
る回数が多くなりすぎ、膜自体の透明性や導電特性が劣
る。一方、濃度が1.5sol/1を越える場合、−回
で形成される塗膜の厚さが厚すぎるため、塗膜がひび割
れを起こしやすく、導電特性の優れた膜を得ることが難
しい。
上記の濃度に調整するための稀釈溶媒としては、ヘキサ
ン、ヘプタン等の炭化水素、ペンゼン、トルエン、キシ
レン等の芳香族炭化水素、n−プロパツール、i−プロ
パツール、n−ブタノール、i−ブタノール等のアルコ
ール、酢酸エチル、酢酸ブチル等の酢酸エステル、ジエ
チルケトン、アセトン等のケトン類、THF、クロロホ
ルム等が挙げられ、これらの溶剤で稀釈した接種々の条
件で成膜することができる。
ン、ヘプタン等の炭化水素、ペンゼン、トルエン、キシ
レン等の芳香族炭化水素、n−プロパツール、i−プロ
パツール、n−ブタノール、i−ブタノール等のアルコ
ール、酢酸エチル、酢酸ブチル等の酢酸エステル、ジエ
チルケトン、アセトン等のケトン類、THF、クロロホ
ルム等が挙げられ、これらの溶剤で稀釈した接種々の条
件で成膜することができる。
塗布する方法としては、スプレー法、ロールコート法、
スピンコード法、浸漬法を用いて成膜することができる
が、浸漬法が好ましい。
スピンコード法、浸漬法を用いて成膜することができる
が、浸漬法が好ましい。
浸漬法で塗布する場合、引き上げ速度は0.1〜0.8
cm/5ec1、その際の温度は15−25@C、湿
度は60z以下、特に40〜50χがより好ましい。
cm/5ec1、その際の温度は15−25@C、湿
度は60z以下、特に40〜50χがより好ましい。
引き上げ速度が0. lea/secより低い場合、均
一な膜ができに<<、−回で形成される膜厚が薄すぎる
ため、塗布回数を多くせねばならず、導電特性を劣化さ
せる原因となる。一方引き上げ速度が0.8c謹/se
cより大きい場合、−回で形成される膜厚が厚くなりす
ぎるため、膜のひび割れの原因となり、好ましくない。
一な膜ができに<<、−回で形成される膜厚が薄すぎる
ため、塗布回数を多くせねばならず、導電特性を劣化さ
せる原因となる。一方引き上げ速度が0.8c謹/se
cより大きい場合、−回で形成される膜厚が厚くなりす
ぎるため、膜のひび割れの原因となり、好ましくない。
また、引き上げの際の、温度 、湿度などの条件は、加
水分解速度に大きく影響されるので厳重な管理が必要で
ある。
水分解速度に大きく影響されるので厳重な管理が必要で
ある。
上記方法で成膜した後、約5〜lO分間室温放置し、空
気中の水分で充分アルコキシドをゲル化させる。その後
、50°Cで10〜20分乾燥を行い、溶媒を速やかに
拡散させる。これをさらに200〜300°Cで10分
間〜1時間乾燥することによりフリーの有機物、残りの
溶媒、および水分を飛散せしめる。その際、急激に20
0°C以上の温度で乾燥すると、表面と内部の乾燥速度
の差により膜の白濁、収縮が生じやすい。
気中の水分で充分アルコキシドをゲル化させる。その後
、50°Cで10〜20分乾燥を行い、溶媒を速やかに
拡散させる。これをさらに200〜300°Cで10分
間〜1時間乾燥することによりフリーの有機物、残りの
溶媒、および水分を飛散せしめる。その際、急激に20
0°C以上の温度で乾燥すると、表面と内部の乾燥速度
の差により膜の白濁、収縮が生じやすい。
最後に、500〜650°Cで焼成することにより、有
機物が酸化分解により飛散し、金属も酸化物となる。ま
た、より好ましい温度は550〜600°Cであり、こ
の範囲内が導電率も最も高く、この温度範囲より低くな
る場合、および高くなる場合いずれも導電率は低下し、
好ましくない。
機物が酸化分解により飛散し、金属も酸化物となる。ま
た、より好ましい温度は550〜600°Cであり、こ
の範囲内が導電率も最も高く、この温度範囲より低くな
る場合、および高くなる場合いずれも導電率は低下し、
好ましくない。
普通、200°Cで乾燥した後、500〜650°Cで
焼成することにより、20〜40χ膜厚が収縮するため
乾燥前は30〜40!厚めに、成膜する必要がある。
焼成することにより、20〜40χ膜厚が収縮するため
乾燥前は30〜40!厚めに、成膜する必要がある。
膜厚は、塗布乾燥の繰り返し回数、および塗布液の濃度
により調整することができる。
により調整することができる。
本発明で使用される基板としては、各種のガラスの他、
アルミナ等のセラミックスでもよい。
アルミナ等のセラミックスでもよい。
なお、ソーダライムガラスを使用する場合には、ネサ膜
を形成させる前、ナトリウムやカリウムイオンの膜への
拡散を防止するため、シリカのアンダーコートが必要で
ある。
を形成させる前、ナトリウムやカリウムイオンの膜への
拡散を防止するため、シリカのアンダーコートが必要で
ある。
[実施例]
以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発
明は係る実施例に限定されるものではない。
明は係る実施例に限定されるものではない。
実施例1
21の三ツロフラスコに、5n(0−i−Pr) 3
C1を0.392molとり、これにイソプロピルアル
コールとエチルセロソルブ(1+1)の混合溶液を加え
、11とした。さらに、予め合成した5b(0−i−A
鵬)4C1を0.008mo1滴下し、均質溶液を調整
した。
C1を0.392molとり、これにイソプロピルアル
コールとエチルセロソルブ(1+1)の混合溶液を加え
、11とした。さらに、予め合成した5b(0−i−A
鵬)4C1を0.008mo1滴下し、均質溶液を調整
した。
この溶液は、容器の蓋をせず大気と接触させた状態でも
、6力月以上安定でゲル化等を起こさなかった。
、6力月以上安定でゲル化等を起こさなかった。
さらにこの溶液を使用し、基板としてソーダライムガラ
ス(100X 100)を用い、表面を充分に洗浄した
後、予めシリカコート(約1000人)した後、浸漬法
により引き上げ速度Q、 4cs/secで塗布した。
ス(100X 100)を用い、表面を充分に洗浄した
後、予めシリカコート(約1000人)した後、浸漬法
により引き上げ速度Q、 4cs/secで塗布した。
その後10分間室内放置し、50°Cで10分間、20
0°で10分間乾燥させ、最後にlO分清規成を行った
。
0°で10分間乾燥させ、最後にlO分清規成を行った
。
使用した溶液の液組成、および得られた膜の物性を表−
1に示す。
1に示す。
膜の特性については、透光性、強度、密着性についての
試験を行い、特性の良好なものについては○、ひび割れ
、白濁、剥がれ等がみられたものについては、具体的に
記述した。これは比較例(表−2)についても同様であ
る。
試験を行い、特性の良好なものについては○、ひび割れ
、白濁、剥がれ等がみられたものについては、具体的に
記述した。これは比較例(表−2)についても同様であ
る。
実施例2〜8
スズアルコキシド、アンチモンアルコキシドの組成、モ
ル比(Sb/Sn) 、希釈溶媒の種類、濃度を変化さ
せ、その他の条件は同様にして、膜用組成物の調整、お
よび成膜を行った。
ル比(Sb/Sn) 、希釈溶媒の種類、濃度を変化さ
せ、その他の条件は同様にして、膜用組成物の調整、お
よび成膜を行った。
用いた希釈溶媒が2種類の場合、1対1の混合溶液であ
り、これは比較例についても同様である0本実験の条件
および結果を、表−1に示す、 本実施例で用いた溶液
においても、ポットライフは6力月以上であった。
り、これは比較例についても同様である0本実験の条件
および結果を、表−1に示す、 本実施例で用いた溶液
においても、ポットライフは6力月以上であった。
比較例1〜5
変化させた条件、および表の表わし方は実施例と全く同
様である。前記条件、結果を表−2に示す。
様である。前記条件、結果を表−2に示す。
比較例1.2.5における溶液のポットライフは非常に
みじかく、1力月以内に溶液は白濁、または沈殿を生成
した。一方、比較例3.4については、溶液のポットラ
イフは6力月以上と充分であったが、膜の特性は不良で
あった。
みじかく、1力月以内に溶液は白濁、または沈殿を生成
した。一方、比較例3.4については、溶液のポットラ
イフは6力月以上と充分であったが、膜の特性は不良で
あった。
−・1・°、1
1−二」
[発明の効果]
本発明の組成物は、従来の薬液に比ベボッライフが非常
に長く、塗布液として使用し、膜した場合、再現性よく
導電特性、透光性、強度等の優れた透明性導電性膜を得
ることがきる。また、他の金属を含むアルコキシドと1
合せることにより、さらに膜強度等の特性を1善するこ
とができる。
に長く、塗布液として使用し、膜した場合、再現性よく
導電特性、透光性、強度等の優れた透明性導電性膜を得
ることがきる。また、他の金属を含むアルコキシドと1
合せることにより、さらに膜強度等の特性を1善するこ
とができる。
特許出願人 セントラル硝子株式会社代理人 弁
理士 坂 本 栄 −手続補正書 ト 阻21発明の名称 透明導電性膜用組成物およびその
膜の形成方法文 3・ 補正をする者 6、補正により増加する請求項の数 なし7、補正
の対象 (1)明細書の特許請求の範囲の欄 8、補正の内容 fll特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。
理士 坂 本 栄 −手続補正書 ト 阻21発明の名称 透明導電性膜用組成物およびその
膜の形成方法文 3・ 補正をする者 6、補正により増加する請求項の数 なし7、補正
の対象 (1)明細書の特許請求の範囲の欄 8、補正の内容 fll特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。
(2)明細書の第5頁8行より20行までのr 、、−
−−−−一般式Sn (OR)、CI、)((ただし、
−一一一一一透明導電性膜用組成物」なる記載をr 、
、−−−一般式5n(OR1)、3只工、(ただし、ム
は炭素数1〜IOのアルキル基またはアルコキシアルキ
ル基を示し、nは2または4であり、n=2の場合1.
0≦X≦1.8、n−4の場合2.5≦X≦3.5)で
示される塩素含有スズアルコキシドと、−最大肚史ツ房
シエ(ただし、R2は炭素数1〜10のアルキル基また
はアルコキシアルキル基を示し、■は3または5であり
、m=3の場合1.5≦y≦2.8、m=5の場合2.
0≦y≦4.8)で示される塩素含有アンチモンアルコ
キシドを、Sb/S口のモル比で20/1110≧Sb
/Sn≧1/99の割合で混合したことを特徴とする透
明導電性膜用組成物Jに補正する。
−−−−一般式Sn (OR)、CI、)((ただし、
−一一一一一透明導電性膜用組成物」なる記載をr 、
、−−−一般式5n(OR1)、3只工、(ただし、ム
は炭素数1〜IOのアルキル基またはアルコキシアルキ
ル基を示し、nは2または4であり、n=2の場合1.
0≦X≦1.8、n−4の場合2.5≦X≦3.5)で
示される塩素含有スズアルコキシドと、−最大肚史ツ房
シエ(ただし、R2は炭素数1〜10のアルキル基また
はアルコキシアルキル基を示し、■は3または5であり
、m=3の場合1.5≦y≦2.8、m=5の場合2.
0≦y≦4.8)で示される塩素含有アンチモンアルコ
キシドを、Sb/S口のモル比で20/1110≧Sb
/Sn≧1/99の割合で混合したことを特徴とする透
明導電性膜用組成物Jに補正する。
(3)明細書の第12頁第1表の欄外性)のr EG
: Xfルエ 別紙 特許請求の範囲 (11−最大ジ戸旦貼ユえりエヨ、(ただし、R1は炭
素数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル基
を示し、nは2または4であり、n−2の場合1.0≦
X≦1.8、n−4の場合2゜5≦X≦3.5)で示さ
れる塩素含有スズアルコキシドと、一般弐ヨがOR,)
□!ユコー(ただし、旦は炭素数1〜10のアルキル基
またはアルコキシアルキル基を示し、mは3または5で
あり、膿=3の場合1.5≦y≦2.8、m=5の場合
2.0≦y≦4.8)で示される塩素含有アンチモンア
ルコキシドを、Sb/Snのモル比で20/80≧Sb
/Sn≧1/99の割合で混合したことを特徴とする透
明導電性膜用組成物。
: Xfルエ 別紙 特許請求の範囲 (11−最大ジ戸旦貼ユえりエヨ、(ただし、R1は炭
素数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル基
を示し、nは2または4であり、n−2の場合1.0≦
X≦1.8、n−4の場合2゜5≦X≦3.5)で示さ
れる塩素含有スズアルコキシドと、一般弐ヨがOR,)
□!ユコー(ただし、旦は炭素数1〜10のアルキル基
またはアルコキシアルキル基を示し、mは3または5で
あり、膿=3の場合1.5≦y≦2.8、m=5の場合
2.0≦y≦4.8)で示される塩素含有アンチモンア
ルコキシドを、Sb/Snのモル比で20/80≧Sb
/Sn≧1/99の割合で混合したことを特徴とする透
明導電性膜用組成物。
(2) −最大5n(ORz)xcl+1−x(ただ
し、R1は炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキ
シアルキル基を示し、nは2または4であり、n=2の
場合1.0≦X≦1.8、n = 4の場合2.5≦X
≦3.5)で示される塩素含有スズアルコキシドと、−
最大二−門」1泳」ジュフ」ただし、R上は炭素数1〜
10のアルキル基またはアルコキシアルキル基を示し、
謹は3または5であり、■−3の場合1.5≦y≦2.
8、l−5の場合2.0≦y≦4.8)で示される塩素
含有アンチモンアルコキシドを、Sb/Snのモル比で
20/80≧Sb/Sn≧1/99の割合で混合した透
明導電性膜用組成物を、基板に塗布し、室温〜300°
Cで乾燥し、500〜650°Cで焼成することを特徴
とする透明導電性膜の形成方法。
し、R1は炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキ
シアルキル基を示し、nは2または4であり、n=2の
場合1.0≦X≦1.8、n = 4の場合2.5≦X
≦3.5)で示される塩素含有スズアルコキシドと、−
最大二−門」1泳」ジュフ」ただし、R上は炭素数1〜
10のアルキル基またはアルコキシアルキル基を示し、
謹は3または5であり、■−3の場合1.5≦y≦2.
8、l−5の場合2.0≦y≦4.8)で示される塩素
含有アンチモンアルコキシドを、Sb/Snのモル比で
20/80≧Sb/Sn≧1/99の割合で混合した透
明導電性膜用組成物を、基板に塗布し、室温〜300°
Cで乾燥し、500〜650°Cで焼成することを特徴
とする透明導電性膜の形成方法。
Claims (2)
- (1) 一般式Sn(OR)_nCl_n_−_x(た
だし、Rは炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキ
シアルキル基を示し、nは2または4であり、n=2の
場合1.0≦x≦1.8、n=4の場合2.5≦x≦3
.5)で示される塩素含有スズアルコキシドと、一般式
Sb(OR)_mCl_m_−_x(ただし、Rは炭素
数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル基を
示し、mは3または5であり、m=3の場合1.5≦x
≦2.8、m=5の場合2.0≦x≦4.8)で示され
る塩素含有アンチモンアルコキシドを、Sb/Snのモ
ル比で20/80≦Sb/Sn≦1/99の割合で混合
したことを特徴とする透明導電性膜用組成物。 - (2) 一般式Sn(OR)_nCl_n_−_x(た
だし、Rは炭素数1〜10のアルキル基またはアルコキ
シアルキル基を示し、nは2または4であり、n=2の
場合1.0≦x≦1.8、n=4の場合2.5≦x≦3
.5)で示される塩素含有スズアルコキシドと、一般式
Sb(OR)_mCl_m_−_x(ただし、Rは炭素
数1〜10のアルキル基またはアルコキシアルキル基を
示し、mは3または5であり、m=3の場合1.5≦x
≦2.8、m=5の場合2.0≦x≦4.8)で示され
る塩素含有アンチモンアルコキシドを、Sb/Snのモ
ル比で20/80≦Sb/Sn≦1/99の割合で混合
した透明導電性膜用組成物を、基板に塗布し、室温〜3
00℃で乾燥し、500〜650℃で焼成することを特
徴とする透明導電性膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62266466A JPH01109610A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 透明導電性膜用組成物およびその膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62266466A JPH01109610A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 透明導電性膜用組成物およびその膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01109610A true JPH01109610A (ja) | 1989-04-26 |
JPH0528450B2 JPH0528450B2 (ja) | 1993-04-26 |
Family
ID=17431319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62266466A Granted JPH01109610A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 透明導電性膜用組成物およびその膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01109610A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2013047572A1 (ja) * | 2011-09-29 | 2015-03-26 | 京セラ株式会社 | 入力装置、表示装置、および電子機器 |
WO2022202398A1 (ja) * | 2021-03-22 | 2022-09-29 | 東レ株式会社 | 金属-酸素-金属結合を主鎖とする高分子、その組成物、固体物およびその製造方法、ならびに電子部品および繊維 |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP62266466A patent/JPH01109610A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2013047572A1 (ja) * | 2011-09-29 | 2015-03-26 | 京セラ株式会社 | 入力装置、表示装置、および電子機器 |
US9350345B2 (en) | 2011-09-29 | 2016-05-24 | Kyocera Corporation | Input device, display device, and electronic apparatus |
WO2022202398A1 (ja) * | 2021-03-22 | 2022-09-29 | 東レ株式会社 | 金属-酸素-金属結合を主鎖とする高分子、その組成物、固体物およびその製造方法、ならびに電子部品および繊維 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0528450B2 (ja) | 1993-04-26 |
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