JP7354868B2 - スイッチング素子 - Google Patents
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Description
12 :半導体基板
22 :ソース領域
24 :コンタクト領域
26 :ボディ領域
28 :ドリフト領域
30 :ドレイン領域
32 :底部領域
32a :高濃度領域
32b :低濃度領域
34 :トレンチ
36 :層間絶縁層
38 :ゲート絶縁膜
40 :ゲート電極
80 :ソース電極
84 :ドレイン電極
Claims (1)
- スイッチング素子であって、
半導体基板と、
前記半導体基板の上面に設けられたトレンチと、
前記トレンチの内面を覆うゲート絶縁膜と、
前記トレンチ内に配置されており、前記ゲート絶縁膜によって前記半導体基板から絶縁されたゲート電極、
を有し、
前記半導体基板が、
前記ゲート絶縁膜に接するn型のソース領域と、
前記ソース領域の下側で前記ゲート絶縁膜に接するp型のボディ領域と、
前記トレンチの底面で前記ゲート絶縁膜に接するp型の底部領域と、
前記ボディ領域の下側で前記ゲート絶縁膜に接し、前記ボディ領域によって前記ソース領域から分離されており、前記底部領域に接するn型のドリフト領域、
を有し、
前記底部領域の縦寸法が、前記トレンチの縦寸法よりも大きく、
前記底部領域が、
前記トレンチの底面に接しており、前記トレンチの底面に沿って伸びる高濃度領域と、
前記高濃度領域の周囲に配置されており、前記高濃度領域を前記ドリフト領域から分離しており、前記高濃度領域よりもp型不純物濃度が低い低濃度領域、
を有する、
スイッチング素子。
Priority Applications (1)
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JP2020022780A JP7354868B2 (ja) | 2020-02-13 | 2020-02-13 | スイッチング素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2020022780A JP7354868B2 (ja) | 2020-02-13 | 2020-02-13 | スイッチング素子 |
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JP2021129027A JP2021129027A (ja) | 2021-09-02 |
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Citations (5)
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WO2020110514A1 (ja) | 2018-11-29 | 2020-06-04 | 富士電機株式会社 | 超接合炭化珪素半導体装置および超接合炭化珪素半導体装置の製造方法 |
-
2020
- 2020-02-13 JP JP2020022780A patent/JP7354868B2/ja active Active
Patent Citations (5)
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