JP7292874B2 - 電流検出回路 - Google Patents

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Description

本実施形態は、電流検出回路に関する。
従来、ノーマリオン型のスイッチング素子とノーマリオフ型のスイッチング素子をカスコード接続した半導体装置が開示されている。例えば、ノーマリオン型のスイッチング素子は、GaN(ガリュームナイトライド)やSiC(シリコンカーバイド)を材料とするトランジスタで構成される。GaNやSiCで構成されるノーマリオン型のスイッチング素子を用いることで、高耐圧で低損失の半導体装置が提供される。一方、ノーマリオン型のスイッチン素子を備える為、例えば、ノーマリオン型のスイッチング素子の漏れ電流に応答して、半導体装置の出力電流が正確に検出できない場合がある。ノーマリオン型のスイッチング素子を備える半導体装置の特性を活かしつつ、且つ、出力電流を正確に検出することができる信頼性の高い電流検出回路が望まれる。
国際公開第2015/166523号 特許第5800986号公報
一つの実施形態は、ノーマリオン型のスイッチング素子とノーマリオフ型のスイッチング素子のカスコード接続を備えた半導体装置の出力電流を正確に検出することができる、信頼性の高い電流検出回路を提供することを目的とする。
一つの実施形態によれば、電流検出回路は、ソース、ドレイン、及びゲートを有するノーマリオン型の第1のスイッチング素子と、前記第1のスイッチング素子のソースに接続されたドレインと、前記第1のスイッチング素子のゲートに接続されたソースと、ゲートを有するノーマリオフ型の第2のスイッチング素子と、前記第2のスイッチング素子のドレインとソース間の電圧に基づいて前記第2のスイッチング素子を線形領域で動作させるための電圧を出力する差動増幅回路と、前記第2のスイッチング素子のドレイン電圧に応じた電圧と所定の参照電圧を比較する比較回路と、前記第2のスイッチング素子のドレインと前記差動増幅回路の入力端子との間に設けられ、前記第2のスイッチング素子のドレイン電圧を調整して前記差動増幅回路に供給する調整回路と、を備え、比較回路の出力信号に基づいて、ドレイン電圧に応じた電圧が参照電圧を超えた場合に、第2のスイッチング素子のゲートへの駆動信号の印加を停止させ第2のスイッチング素子をオフ状態とする。
図1は、第1の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図2は、ノーマリオン型のスイッチング素子の特性を示す図である。 図3は、第2の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図4は、第3の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図5は、調整回路の構成例を示す図である。 図6は、第4の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図7は、調整回路の他の構成例を示す図である。 図8は、調整回路の他の構成例を示す図である。 図9は、調整回路の他の構成例を示す図である。 図10は、調整回路の他の構成例を示す図である。 図11は、第5の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図12は、第6の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図13は、第7の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図14は、第8の実施形態の電流検出回路を示す図である。 図15は、第9の実施形態の電流検出回路を示す図である。
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる電流検出回路を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態の電流検出回路はノーマリオン型のスイッチング素子Q1を有する。スイッチング素子Q1は、例えば、GaNを材料とするNチャネル型のMOSトランジスタで構成される。例えば、GaNを材料とするMOSトランジスタは、ドレイン・ソース間の主電流路がGaNで構成される。以降、GaNトランジスタと呼ぶ場合がある。
ノーマリオフ型のスイッチング素子Q2は、例えば、Siを材料とするNチャネル型のMOSトランジスタで構成される。例えば、Siを材料とするMOSトランジスタは、ドレイン・ソース間の主電流路がSiで構成される。以降、Siトランジスタと呼ぶ場合がある。スイッチング素子Q1のドレインは、端子11に接続される。端子11は、例えば、600Vの電圧が印加される電源ライン(図示せず)に接続される。スイッチング素子Q1のソースは、スイッチング素子Q2のドレインに接続される。
スイッチング素子Q2のソースは、端子12に接続される。端子12には、例えば、接地電位が供給される。スイッチング素子Q2のゲートは、端子10に接続される。端子10には、駆動信号Vが印加される。
スイッチング素子Q2のドレインは、差動増幅回路A1の非反転入力端(+)に接続され、ソースは、差動増幅回路A1の反転入力端(-)に接続される。差動増幅回路A1は、出力電圧Vを端子13に出力する。
本実施形態の電流検出動作は、以下の様になる。スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VをHighにすることで、スイッチング素子Q2がオンする。この時のスイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSは、式(1)で示される。
DS=RON×I ・・・ (1)
ここで、RONはスイッチング素子Q2のオン抵抗、Iは、スイッチング素子Q1を流れる出力電流Iを示す。スイッチング素子Q2を流れる電流は、スイッチング素子Q1を流れる電流に略等しい為、スイッチング素子Q2を流れる電流は、出力電流Iに略等しい電流となる。尚、以降、スイッチング素子Q1のドレイン電流Iを、便宜的に、出力電流Iとして用いる場合がある。
また、差動増幅回路A1の出力電圧Vは、次の式(2)で示すことができる。
=A×RON×I ・・・ (2)
ここで、Aは差動増幅回路A1の電圧利得である。
例えば、スイッチング素子Q2のゲートに印加する駆動信号Vの電圧を、スイッチング素子Q2のゲート・ソース間電圧VGSとドレイン・ソース間電圧VDSの関係が、VGS>>VDSになる様に設定してスイッチング素子Q2に供給してオンさせることにより、スイッチング素子Q2を線形領域で動作させることができる。スイッチング素子Q2を線形領域で動作させることで、スイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSは出力電流Iに比例する電圧となる為、結果として、出力電流Iに比例した出力電圧Vを差動増幅回路A1から出力させることができる。これにより、スイッチング素子Q2を駆動させた時の出力電流Iを、正確に検出することができる。
本実施形態によれば、線形領域で動作するスイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSに応じた電圧を差動増幅回路A1によって出力することにより、スイッチング素子Q2を駆動した時にノーマリオンのスイッチング素子Q1に流れる出力電流Iを正確に検出することができる。
図2は、ノーマリオン型のスイッチング素子の特性を示す図である。すなわち、既述した第1の実施形態のスイッチング素子Q1の特性を示す。横軸にゲート・ソース間電圧VGS、縦軸にドレイン電流Iを示す。ゲート・ソース間電圧VGSがゼロ(0)Vの時もドレイン電流Iが流れ、ゲート・ソース間電圧VGSがマイナスのしきい値電圧VTHになった時に、ドレイン電流Iが略ゼロ(0)Aとなる特性曲線100で示される。
(第2の実施形態)
図3は、第2の実施形態の電流検出回路を示す図である。既述した実施形態に対応する構成には、同一符号を付し、重複した記載は必要な場合にのみ行う。以降、同様である。本実施形態は、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号Vによってオン/オフが制御される差動増幅回路A11を具備する。
具体的には、差動増幅回路A11は、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VがHighの時、動作状態(オン)となり、駆動信号VがLowの時には非動作状態(オフ)となる。例えば、駆動信号VがLowの時、差動増幅回路A11のバイアス回路(図示せず)をオフにする制御が行われる。
スイッチング素子Q1は、ノーマリオンの特性を有する為、そのゲートに端子12に印加される接地電位が供給された状態の時にもドレイン電流Iが流れる。この為、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VがLowの時、すなわち、スイッチング素子Q2がオフの時、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが上昇する。
本実施形態によれば、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VがLowの時、差動増幅回路A11の動作をオフにする制御が行われる。従って、駆動信号VがLowの時、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが上昇しても差動増幅回路A11はオフである為、例えば、0Vを出力する。従って、ノーマリオン型のスイッチング素子Q1の漏れ電流に応答して過電流状態であるとの誤検出が行われることを回避することができる。また、スイッチング素子Q2が駆動状態の時だけ差動増幅回路A11を動作させる制御を行う為、消費電力を軽減することができる。
(第3の実施形態)
図4は、第3の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、スイッチング素子Q2のドレインとソース間の電圧を調整して差動増幅回路A11に供給する調整回路20を備える。調整回路20は、例えば、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vを分圧して、差動増幅回路A11に供給する。
スイッチング素子Q1はノーマリオンの特性を有する為、スイッチング素子Q2がオフの時、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが上昇する。ノーマリオン型のスイッチング素子Q1の特性を活かし、例えば、端子11には、600Vの高電圧が印加される場合がある。この為、スイッチング素子Q2がオフの時に、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが高電圧になる場合がある。
本実施形態によれば、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが調整されて差動増幅回路A11に供給される。これにより、差動増幅回路A11に過電圧が印加されることを回避することができる為、差動増幅回路A11が過電圧の印加によって破壊する事態を回避することができ、信頼性が向上する。また、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが調整されて差動増幅回路A11に供給される構成で有る為、差動増幅回路A11を耐圧の低い構成とすることが可能となる為、回路構成や製造プロセスを簡略することが可能となる。
図5は、調整回路20の構成例を示す図である。本構成例の調整回路20は、一端にスイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが印加され、他端が差動増幅回路A11の非反転入力端(+)に接続される固定抵抗R1と、一端が差動増幅回路A11の非反転入力端(+)に接続され、他端が端子12に接続される固定抵抗R2を有する。
スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vが固定抵抗R1と固定抵抗R2の直列回路によって分圧によって調整され、差動増幅回路A11の非反転入力端(+)に供給される。従って、固定抵抗R1と固定抵抗R2の抵抗値を所望の値にして分圧比を調整することで、差動増幅回路A11の非反転入力端(+)に過電圧が印加される事態を回避することができる。
(第4の実施形態)
図6は、第4の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号Vに応じてスイッチング素子Q2のドレイン電圧Vを調整して差動増幅回路A11に供給する調整回路30を有する。
調整回路30は、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VがHighの時、すなわち、スイッチング素子Q2がオンする駆動状態の時には、差動増幅回路A11に供給するドレイン電圧Vの減衰量を減らし、スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号VがLowの時、すなわち、スイッチング素子Q2がオフの時には、差動増幅回路A11に供給するドレイン電圧Vの減衰量を増やす調整を行う。
スイッチング素子Q2のゲートに印加される駆動信号Vに応じて調整回路30を制御し、スイッチング素子Q2のドレイン電圧Vを調整して差動増幅回路A11に供給することによりスイッチング素子Q2をオンさせた駆動状態における出力電流Iを、適切に検出を行うことができる。以下、具体的な構成例を説明する。
図7は、調整回路30の構成例を示す図である。本構成例は、駆動信号Vによって抵抗値が調整される可変抵抗VR1と、固定抵抗R2を有する。可変抵抗VR1は、駆動信号VがHighの時に抵抗値が減少し、駆動信号VがLowの時に抵抗値が増加する。これにより、駆動信号VがHighで、スイッチング素子Q2の駆動状態の時には、ドレイン電圧Vの減衰量を減らす制御が行われ、駆動信号VがLowの時には、可変抵抗VR1の抵抗値を増加させてドレイン電圧Vを減衰させて差動増幅回路A11に供給することで、過電圧が差動増幅回路A11に供給される事態を回避することができる。
駆動信号VがHighの時、すなわち、スイッチング素子Q2をオンさせた駆動状態の時に、ドレイン電圧Vの減衰量を減らす制御が行われる。すなわち、可変抵抗VR1の抵抗値をVR1とし、固定抵抗R2の抵抗値をR2とした時の分圧比(=固定抵抗R2の抵抗値/(可変抵抗VR1の抵抗値+固定抵抗R2の抵抗値))の比が大きくなる為、ドレイン電圧Vの減衰量を減らして差動増幅回路A11に供給することができる。これにより、出力電流Iに比例して生じるスイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSが正確に反映された出力電圧Vを出力することができる。従って、スイッチング素子Q2を駆動状態にした時の出力電流Iを正確に検出することができる。
また、可変抵抗VR1の抵抗値を減らすことで、ドレイン電圧Vの変化を迅速に差動増幅回路A11に伝達することができる為、差動増幅回路A11の応答速度を高めることができ、出力電流Iの変化を迅速に検出することができる。
また、駆動信号VがLowの時に可変抵抗VR1の抵抗値を増加させることで、可変抵抗VR1と固定抵抗R2による分圧比が小さくなる為、ドレイン電圧Vが減衰されて差動増幅回路A11に供給される。これにより、スイッチング素子Q2がオフの時に、過電圧が差動増幅回路A11に供給される事態を回避することができる。
例えば、抵抗にスイッチ(図示せず)を並列に接続し、駆動信号VがHighの時にスイッチをオンさせることで、駆動信号VがHighの時に可変抵抗VR1の抵抗値を減少させる構成とすることができる。
図8は、調整回路30の他の構成例を示す図である。本構成例は、固定抵抗R1と、駆動信号Vによって抵抗値が調整される可変抵抗VR2を有する。可変抵抗VR2は、駆動信号VがHighの時に抵抗値が増加し、駆動信号VがLowの時に抵抗値が減少する。
すなわち、駆動信号VをHighにしてスイッチング素子Q2を駆動させる時には、可変抵抗VR2の抵抗値を増加させることで、固定抵抗R1と可変抵抗VR2の分圧比(=可変抵抗VR2の抵抗値/(固定抵抗R1の抵抗値+可変抵抗VR2の抵抗値))が大きくなる為、ドレイン電圧Vの減衰量を減らして差動増幅回路A11に供給される。これにより、出力電流Iに比例して生じるスイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSが正確に反映された出力電圧Vを出力することができる。従って、スイッチング素子Q2を駆動状態にした時の出力電流Iを正確に検出することができる。
また、駆動信号VがLowの時に可変抵抗VR2の抵抗値を減少させることで、固定抵抗R1と可変抵抗VR2による分圧比が小さくなる為、ドレイン電圧Vが大きく減衰されて差動増幅回路A11に供給される。これにより、スイッチング素子Q2がオフの時に過電圧が差動増幅回路A11に供給される事態を回避することができる。
図9は、調整回路30の他の構成例を示す図である。本構成例は、駆動信号Vによって抵抗値が調整される可変抵抗VR1と可変抵抗VR2を有する。可変抵抗VR1は、駆動信号VがHighの時に抵抗値が減少し、駆動信号VがLowの時に抵抗値が増加する。可変抵抗VR2は、駆動信号VがHighの時に抵抗値が増加し、駆動信号VがLowの時に抵抗値が減少する。
かかる構成により、駆動信号VをHighにしてスイッチング素子Q2を駆動させる時には、可変抵抗VR1の抵抗値を減少させると共に可変抵抗VR2の抵抗値を増加させ、可変抵抗VR1と可変抵抗VR2による分圧比(=可変抵抗VR2の抵抗値/(可変抵抗1の抵抗値+可変抵抗VR2の抵抗値))を大きくしてドレイン電圧Vの減衰量を減らす制御が行われ、駆動信号VがLowの時には、可変抵抗VR1の抵抗値を増加させると共に可変抵抗VR2の抵抗値を減少させて可変抵抗VR1とVR2による分圧比を小さくして、ドレイン電圧Vの減衰量を増加さて差動増幅回路A11に供給する制御が行われる。
駆動信号Vに応じた調整回路30によるドレイン電圧Vの減衰量の調整により、駆動信号VがHighでスイッチング素子Q2を駆動させた状態の時には、出力電流Iに比例して生じるスイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSが正確に反映された出力電圧Vを出力することができる。また、駆動信号VがLowの時には、ドレイン電圧Vが大きく減衰されて差動増幅回路A11に供給される為、スイッチング素子Q2がオフの時に過電圧が差動増幅回路A11に供給される事態を回避することができる。
例えば、可変抵抗VR1は、固定抵抗とスイッチ(図示せず)の並列回路を有する構成とし、可変抵抗VR2は固定抵抗とスイッチ(図示せず)の並列回路を有する構成とすることができる。駆動信号VがHighの時には、可変抵抗VR1を構成するスイッチがオンすることで可変抵抗VR1の抵抗値が減少し、駆動信号VがLowの時には可変抵抗VR2を構成するスイッチがオンすることで可変抵抗VR2の抵抗値を減少させる構成とすることができる。
図10は、調整回路30の他の構成例を示す図である。本構成例は、駆動信号Vによってオン/オフが制御されるスイッチS1、S2を有する。スイッチS1は、駆動信号VがHighの時にオンとなり、スイッチS2は、駆動信号VがLowの時にオンとなる。
かかる構成により、駆動信号VをHighにしてスイッチング素子Q2を駆動させる時には、スイッチS1がオンとなり、スイッチS2がオフとなる。スイッチS1がオンの時、スイッチS1の抵抗値は無視することができ、また、スイッチS2がオフの時、スイッチS2の抵抗値は無限大となる為、駆動信号VをHighにしてスイッチング素子Q2を駆動させる時には、ドレイン電圧Vを減衰させることなく、直接、差動増幅回路A11の非反転入力端子(+)に供給することができる。
これにより、駆動信号VをHighにしてスイッチング素子Q2を駆動させた時に、ドレイン電圧Vがそのまま差動増幅回路A11の非反転入力端子(+)に印加される為、出力電流Iに応じて生じるドレイン電圧Vを差動増幅回路A11により検出することで、スイッチング素子Q2を駆動させた時の出力電流Iを正確に検出することができる。
また、スイッチS1がオンの時の抵抗値は無視できる為、スイッチング素子Q2が駆動状態にある時のドレイン電圧Vの変化を迅速に差動増幅回路A11に伝達することができ、これにより、出力電流Iの変化を迅速に検出することができる。
更に、駆動信号VがLowの状態の時にはスイッチS1がオフになる為、差動増幅回路A11へのドレイン電圧Vの供給路が遮断される。この為、スイッチング素子Q2がオフの時に、過電圧が差動増幅回路A11に印加される事態を回避することができる。
スイッチS1、S2は、例えば、MOSトランジスタ、あるいはバイポーラトランジスタ等のスイッチング素子で構成し、駆動信号Vによってオン/オフが制御される構成とすることができる。
(第5の実施形態)
図11は、第5の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、ドレイン電圧Vを所定の参照電圧VREFと比較する比較回路C11を有する。比較回路C11は、例えば、差動増幅回路A11よりも利得が高く、応答速度の速い構成を有する。例えば、比較回路C11は、フィードバックループを有しない構成とすることができる。
比較回路C11の反転入力端(-)には、参照電圧VREFが印加される。比較回路C11の非反転入力端(+)には、調整回路30-1を介して、ドレイン電圧Vが供給される。調整回路30-1は調整回路30と同じ構成を有し、既述した図7から図10のいずれかの構成とすることができる。
駆動信号VがHighになり、調整回路30-1を介して供給された電圧が参照電圧VREFより高くなると、比較回路C11は、Highの出力信号Vを端子14に供給する。すなわち、出力電流Iに応じて生じるドレイン電圧Vに応じた電圧が参照電圧VREFよりも高くなった時に、比較回路C11はHighの出力信号Vを出力する。
ドレイン電圧Vは、出力電流Iに比例する。従って、ドレイン電圧Vに応じた電圧と過電流検出の為のしきい値として設定した参照電圧VREFとを比較回路C11により比較することで過電流検出を行うことができる。
また、ドレイン電圧Vを調整回路30―1を介して比較回路C11に供給する構成とすることで、駆動信号VがHighでスイッチング素子Q2が駆動状態の時にドレイン電圧Vの減衰量を減らして比較回路C11に供給することでスイッチング素子Q2が駆動状態の時の出力電流Iを正確に検出し、駆動信号VがLowでスイッチング素子Q2がオフの時には比較回路C11に過電圧が印加される状態を回避する構成とすることができる。尚、比較回路C11が出力する出力信号Vを制御回路(図示せず)に供給し、過電流状態を示す出力信号Vに応答して、例えば、駆動信号Vの印加を停止させる制御を行う構成とすることができる。
(第6の実施形態)
図12は、第6の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、電源端子15に接続された定電流源16と、定電流源16の定電流IREFが供給されるスイッチング素子Q3を有する。定電流源16は、例えば、バンドギャップ回路(図示せず)を用いて構成される。スイッチング素子Q3のドレインは、比較回路C11の反転入力端(-)に接続され、ソースは端子12に接続され、ゲートには駆動信号Vが印加される。
スイッチング素子Q3は、スイッチング素子Q2が形成される半導体基板(図示せず)に形成される。スイッチング素子Q2とQ3を同じ半導体基板に形成することで、両方のスイッチング素子Q2、Q3の特性を揃えることができる為、例えば、特性のバラツキを相殺させることができる。
スイッチング素子Q3のゲート幅の寸法は、例えば、スイッチング素子Q2のゲート幅の寸法の1/N(Nは任意の正数)に設定される。かかる設定の場合、スイッチング素子Q2のドレイン電流がスイッチング素子Q3のドレイン電流のN倍の時に両方のスイッチング素子Q2、Q3のドレイン・ソース間電圧VDSが等しくなる。従って、スイッチング素子Q3のドレイン電圧を参照電圧VREFとして比較回路C11に供給することで、スイッチング素子Q2に流れるドレイン電流が定電流IREFのN倍の値を超えた時に比較回路C11がHighの出力信号Vを出力する構成とすることができる。
本実施形態によれば、差動増幅回路A11の出力電圧Vによって、駆動信号VがHighでスイッチング素子Q2が動作状態の時の出力電流Iを検出することができると同時に、定電流IREFの値を、例えば、過電流検出の為のしきい値電流として設定することにより、比較回路C11の出力信号Vによって出力電流Iが定電流IREFのN倍の電流値を超えた過電流状態を検出することができる。
(第7の実施形態)
図13は、第7の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、調整回路30を、差動増幅回路A1と比較回路C1に対して共用する構成である。調整回路30としては、既述した図7から図10のいずれかの構成とすることができる。調整回路30を共有することで、回路素子を削減し、コスト低減を図ることができる。
本実施形態においては、駆動信号Vによる差動増幅回路A1と比較回路C1に対するオン/オフの制御は行われない。既述した様に、調整回路30を介してドレイン電圧Vを差動増幅回路A1、比較回路C1に供給する構成にすることで、駆動信号VがHighの時にドレイン電圧Vの減衰を抑制して差動増幅回路A1と比較回路C1に供給し、駆動信号VがLowの時に、ドレイン電圧Vの減衰量を増大させ、あるいは、差動増幅回路A1と比較回路C1への供給路を遮断することで、過電圧が差動増幅回路A1と比較回路C1に印加される事態を回避することができる。
(第8の実施形態)
図14は、第8の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、調整回路30-1を介して供給されるドレイン電圧Vと参照電圧VREF1とを比較する比較回路C11と、調整回路30-2を介して供給されるドレイン電圧Vと参照電圧VREF2とを比較する比較回路C12を有する。
比較回路C12の反転入力端(-)には、調整回路30-2を介してドレイン電圧Vが供給され、非反転入力端(+)には、参照電圧VREF2が供給される。従って、調整回路30-1を介して供給されるドレイン電圧Vが、参照電圧VREF2より低下した時に、比較回路C12はHighレベルの信号VF2を端子17に供給する。これにより、スイッチング素子Q2に逆方向のドレイン電流が流れ、スイッチング素子Q2によって生じる電圧降下によってドレイン電圧Vが参照電圧VREF2より低下した状態、すなわち、逆方向の過電流状態を検出することができる。参照電圧VREF2は、過電流状態として設定する電流値のしきい値に応じて、任意の負電圧とすることができる。
本実施形態によれば、駆動信号VがHighでスイッチング素子Q2が駆動状態の時の出力電流Iを差動増幅回路A11によって正確に検出することができると同時に、出力電流Iの順方向の過電流状態と逆方向の過電流状態を検出することができる。また、本実施形態においては、差動増幅回路A11、比較回路C11、C12の動作状態が駆動信号Vによって制御される構成を有する。従って、駆動信号VがHighの状態の時だけ差動増幅回路A11、比較回路C11、C12が動作する構成である為、消費電力の低減を図ることができる。尚、差動増幅回路A11、比較回路C11、C12に対しては、駆動信号Vによるオン/オフの制御を行わない構成としてもよい。
(第9の実施形態)
図15は、第9の実施形態の電流検出回路を示す図である。本実施形態は、ドレイン電圧Vが調整回路30-1を介して非反転入力端(+)に供給され、反転入力端(-)が端子12に接続された比較回路C11を有する。調整回路30-1は、既述した図7から10に示すいずれかの調整回路の構成とすることができる。
比較回路C11は、非反転入力端(+)に供給される電圧が反転入力端(-)に供給される電圧よりも高い時にHighの出力信号Vを端子14に出力し、非反転入力端(+)に供給される電圧が反転入力端(-)に供給される電圧よりも低い時にLowレベルの出力信号Vを出力する。スイッチング素子Q2のドレイン電流の向きが順方向の時には比較回路C11の非反転入力端(+)の電圧が反転入力端(-)の電圧よりも高くなり、スイッチング素子Q2のドレイン電流の向きが逆方向の時には比較回路C11の非反転入力端(+)の電圧が反転入力端(-)の電圧よりも低くなる。従って、比較回路C11の出力信号Vのレベルによってドレイン電流の向きを判別することができる為、比較回路C11をゼロクロス検出回路として用いることができる。
本実施形態によれば、駆動信号VがHighでスイッチング素子Q2が駆動状態の時の出力電流Iを差動増幅回路A11の出力電圧Vによって正確に検出することができると同時に、比較回路C11の出力信号Vによってゼロクロス検出を行うことができる。
尚、既述した実施形態においては、スイッチング素子Q2のドレイン・ソース間電圧VDSに応じた電圧を出力する差動増幅回路A1、A11は、ひとつの出力電圧Vを出力する構成としたが、正側、負側の差動信号を出力する構成としてもよい。
また、ノーマリオン型のスイッチング素子Q1は、JFET(Junction Field Effect Transisistor)で構成してもよい。
なお、以下の付記に記載されているような構成が考えられる。
(付記1)
定電流がドレインに供給され、ソースが前記第2のスイッチング素子のソースに接続され、ゲートが前記第2のスイッチング素子のゲートに接続された第3のスイッチング素子を備え、前記第3のスイッチング素子のドレインの電圧が前記所定の参照電圧として前記比較回路に供給されることを特徴とする請求項2に記載の電流検出回路。
(付記2)
前記調整回路は、前記第2のスイッチング素子のドレインと前記差動増幅回路の入力端子に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって抵抗値が変更される可変抵抗を有することを特徴とする請求項4に記載の電流検出回路。
(付記3)
前記調整回路は、前記差動増幅回路の入力端子と前記第2のスイッチング素子のソースとの間に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって抵抗値が変更される可変抵抗を有することを特徴とする請求項4に記載の電流検出回路。
(付記4)
前記調整回路は、
前記差動増幅回路の入力端子と前記第2のスイッチング素子のドレインとの間に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって抵抗値が変更される第1の可変抵抗と、
前記差動増幅回路の入力端子と前記第2のスイッチング素子のソースとの間に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって抵抗値が変更される第2の可変抵抗を備え、
前記第1の可変抵抗の抵抗値を減少させる時には前記第2の可変抵抗の抵抗値を増加させることを特徴とする請求項4に記載の電流検出回路。
(付記5)
前記調整回路は、
前記差動増幅回路の入力端子と前記第2のスイッチング素子のドレインとの間に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によってオン/オフが制御される第1のスイッチと、
前記差動増幅回路の入力端と前記第2のスイッチング素子のソースとの間に接続され、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によってオン/オフが制御される第2のスイッチを備え、
前記第1のスイッチをオンさせる時には前記第2のスイッチをオフさせることを特徴とする請求項4に記載の電流検出回路。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
Q1~Q3 スイッチング素子、A1 差動増幅回路、C1 比較回路、20及び30 調整回路、A11 差動増幅回路、C11 比較回路。

Claims (6)

  1. ソース、ドレイン、及びゲートを有するノーマリオン型の第1のスイッチング素子と、
    前記第1のスイッチング素子のソースに接続されたドレインと、前記第1のスイッチング素子のゲートに接続されたソースと、ゲートを有するノーマリオフ型の第2のスイッチング素子と、
    前記第2のスイッチング素子のドレインとソース間の電圧に基づいて前記第2のスイッチング素子を線形領域で動作させるための電圧を出力する差動増幅回路と、
    前記第2のスイッチング素子のドレイン電圧に応じた電圧と所定の参照電圧を比較する比較回路と、
    前記第2のスイッチング素子のドレインと前記差動増幅回路の入力端子との間に設けられ、前記第2のスイッチング素子のドレイン電圧を調整して前記差動増幅回路に供給する調整回路と、を備え、
    前記比較回路の出力信号に基づいて、前記ドレイン電圧に応じた電圧が前記参照電圧を超えた場合に、前記第2のスイッチング素子のゲートへの駆動信号の印加を停止させ前記第2のスイッチング素子をオフ状態とする、
    ことを特徴とする電流検出回路。
  2. 前記第2のスイッチング素子のソース電圧が前記所定の参照電圧として前記比較回路に供給されることを特徴とする請求項1に記載の電流検出回路。
  3. 定電流源と、
    前記定電流源にドレインが接続され、低電位側の電源端子にソースが接続され、ゲートに前記駆動信号が印加され、前記参照電圧を設定し、前記比較回路に供給する第3のスイッチング素子と、
    を備えたことを特徴とする請求項1に記載の電流検出回路。
  4. 前記調整回路は、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって抵抗値が変更される可変抵抗を具備することを特徴とする請求項1に記載の電流検出回路。
  5. 前記調整回路は、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号に応答するスイッチを具備することを特徴とする請求項1に記載の電流検出回路。
  6. 前記差動増幅回路のオン/オフを、前記第2のスイッチング素子のゲートに印加される駆動信号によって制御することを特徴とする請求項1からのいずれか一項に記載の電流検出回路。
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