CN111435144B - 电流检测电路 - Google Patents

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Abstract

根据一实施方式,电流检测电路具备:常开型的第一开关元件,具有源极、漏极以及栅极;常关型的第二开关元件,具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极;以及,输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压的差动放大电路。

Description

电流检测电路
关联申请
本申请主张享受2018年12月26日申请的日本专利申请号2018-243301的优先权,该日本专利申请的全部内容被引用在本申请中。
技术领域
本实施方式一般来说涉及电流检测电路。
背景技术
以往,公开了将常开型的开关元件与常关型的开关元件级联连接而得到的半导体装置。例如,常开型的开关元件由以GaN(氮化镓)、SiC(碳化硅)为材料的晶体管构成。通过使用由GaN、SiC构成的常开型的开关元件,从而提供高耐压且低损失的半导体装置。另一方面,由于具备常开型的开关元件,因此有例如对常开型的开关元件的泄漏电流进行响应而不能准确地检测半导体装置的输出电流的情况。期望的是,一种能够使具备常开型的开关元件的半导体装置的特性活用、并且能够准确地检测输出电流的可靠性高的电流检测电路。
发明内容
一实施方式提供一种能够对具有常开型的开关元件和常关型的开关元件的级联连接的半导体装置的输出电流进行准确地检测的、可靠性高的电流检测电路。
根据一实施方式,电流检测电路具备:常开型的第一开关元件,具有源极、漏极以及栅极;常关型的第二开关元件,具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极;以及差动放大电路,输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压。
附图说明
图1是表示第一实施方式的电流检测电路的图。
图2是表示常开型的开关元件的特性的图。
图3是表示第二实施方式的电流检测电路的图。
图4是表示第三实施方式的电流检测电路的图。
图5是表示调整电路的构成例的图。
图6是表示第四实施方式的电流检测电路的图。
图7是表示调整电路的其他的构成例的图。
图8是表示调整电路的其他的构成例的图。
图9是表示调整电路的其他的构成例的图。
图10是表示调整电路的其他的构成例的图。
图11是表示第五实施方式的电流检测电路的图。
图12是表示第六实施方式的电流检测电路的图。
图13是表示第七实施方式的电流检测电路的图。
图14是表示第八实施方式的电流检测电路的图。
图15是表示第九实施方式的电流检测电路的图。
具体实施方式
以下参照附图来详细说明涉及实施方式的电流检测电路。另外,本发明并不限定于这些实施方式。
(第一实施方式)
图1是表示第一实施方式的电流检测电路的图。本实施方式的电流检测电路具有常开型的开关元件Q1。开关元件Q1由例如以GaN为材料的N沟道型的MOS晶体管构成。例如,以GaN为材料的MOS晶体管其漏极·源极间的主电流通路由GaN构成。后面有时称为GaN晶体管。
常关型的开关元件Q2由例如以Si为材料的N沟道型的MOS晶体管构成。例如,以Si为材料的MOS晶体管其漏极·源极间的主电流通路由Si构成。后面有时称为Si晶体管。开关元件Q1的漏极与端子11连接。端子11与施加例如600V的电压的电源线(未图示)连接。开关元件Q1的源极与开关元件Q2的漏极连接。
开关元件Q2的源极与端子12连接。端子12被供给例如接地电位。开关元件Q2的栅极与端子10连接。端子10被施加驱动信号VG
开关元件Q2的漏极与差动放大电路A1的非反转输入端(+)连接,源极与差动放大电路A1的反转输入端(-)连接。差动放大电路A1将输出电压VC向端子13输出。
本实施方式的电流检测动作成为以下这样。通过使向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“高(High)”,开关元件Q2接通。此时的开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS由式(1)表示。
VDS=RON×ID···(1)
这里,RON表示开关元件Q2的导通电阻,ID表示流过开关元件Q1的输出电流ID。由于流过开关元件Q2的电流与流过开关元件Q1的电流大致相等,因此流过开关元件Q2的电流成为与输出电流ID大致相等的电流。另外,后面有时将开关元件Q1的漏极电流ID简单地作为输出电流ID来使用。
并且,差动放大电路A1的输出电压VC能够由接下来的式(2)表示。
VC=A×RON×ID···(2)
这里,A是差动放大电路A1的电压增益。
例如,通过以开关元件Q2的栅极·源极间电压VGS与漏极·源极间电压VDS的关系成为VGS>>VDS的方式,设定向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG的电压并向开关元件Q2供给而使其接通,能够使开关元件Q2在线性区域动作。通过使开关元件Q2在线性区域动作,开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS成为与输出电流ID成比例的电压,因此作为其结果,能够使与输出电流ID成比例的输出电压VC从差动放大电路A1输出。由此,能够准确地检测使开关元件Q2驱动时的输出电流ID
根据本实施方式,通过利用差动放大电路A1来输出与在线性区域动作的开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS相应的电压,能够准确地检测对开关元件Q2进行了驱动时流过常开的开关元件Q1的输出电流ID
图2是表示常开型的开关元件的特性的图。即,表示已述的第一实施方式的开关元件Q1的特性。横轴示出栅极·源极间电压VGS,纵轴示出漏极电流ID。通过栅极·源极间电压VGS为零(0)V时也流过漏极电流ID、在栅极·源极间电压VGS为负的阈值电压VTH时漏极电流ID大致为零(0)A的特性曲线100表示。
(第二实施方式)
图3是表示第二实施方式的电流检测电路的图。对于与已述的实施方式对应的构成赋予相同的附图标记,仅在需要的情况下进行重复的记载。后面也同样。本实施方式,具备通过向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG来控制通断的差动放大电路A11。
具体来说,差动放大电路A11在向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“高”时,成为动作状态(接通),在驱动信号VG为“低”时成为非动作状态(断开)。例如,在驱动信号VG为“低”时,执行使差动放大电路A11的偏置电路(未图示)断开的控制。
开关元件Q1具有常开的特性,因此在其栅极被供给了向端子12施加的接地电位的状态时也流过漏极电流ID。因此,在向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“低”时、即开关元件Q2为断开时,开关元件Q2的漏极电压VX上升。
根据本实施方式,在向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“低”时,执行使差动放大电路A11的动作断开的控制。从而,即使驱动信号VG为“低”时、开关元件Q2的漏极电压VX上升,也由于差动放大电路A11是断开的,因此例如输出0V。从而,能够避免对常开型的开关元件Q1的泄漏电流进行响应而进行是过电流状态的误检测的情况。并且,由于开关元件Q2仅在驱动状态时才进行使差动放大电路A11动作的控制,因此能够减少电力消耗。
(第三实施方式)
图4是表示第三实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具备对开关元件Q2的漏极和源极间的电压进行调整而向差动放大电路A11供给的调整电路20。调整电路20例如将开关元件Q2的漏极电压VX分压而向差动放大电路A11供给。
开关元件Q1具有常开的特性,因此在开关元件Q2断开时,开关元件Q2的漏极电压VX上升。有时活用常开型的开关元件Q1的特性,例如对端子11施加600V的高电压。因此,有时在开关元件Q2断开时开关元件Q2的漏极电压VX成为高电压。
根据本实施方式,开关元件Q2的漏极电压VX被调整后向差动放大电路A11供给。由此,能够避免对差动放大电路A11施加过电压,因此能够避免差动放大电路A11因过电压的施加而损坏的情况,可靠性提高。并且,由于是开关元件Q2的漏极电压VX被调整后向差动放大电路A11供给的构成,因此能够使差动放大电路A11成为耐压低的构成,从而能够简化电路构成及制造工艺。
图5是表示调整电路20的构成例的图。本构成例的调整电路20具有:一端被施加开关元件Q2的漏极电压VX、另一端与差动放大电路A11的非反转输入端(+)连接的固定电阻R1;以及一端与差动放大电路A11的非反转输入端(+)连接、另一端与端子12连接的固定电阻R2。
开关元件Q2的漏极电压VX通过利用固定电阻R1和固定电阻R2的串联电路进行分压来加以调整,并向差动放大电路A11的非反转输入端(+)供给。从而,通过将固定电阻R1和固定电阻R2的电阻值设为期望的值来调整分压比,能够避免向差动放大电路A11的非反转输入端(+)施加过电压的情况。
(第四实施方式)
图6是表示第四实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具有根据向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG来调整开关元件Q2的漏极电压VX并向差动放大电路A11供给的调整电路30。
调整电路30进行如下调整:在向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“高”时、即在开关元件Q2接通的驱动状态时,减少向差动放大电路A11供给的漏极电压VX的衰减量,在向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG为“低”时、即在开关元件Q2断开时,增加向差动放大电路A11供给的漏极电压VX的衰减量。
根据向开关元件Q2的栅极施加的驱动信号VG来控制调整电路30,调整开关元件Q2的漏极电压VX并向差动放大电路A11供给,从而能够对于使开关元件Q2接通后的驱动状态下的输出电流ID适当地进行检测。以下,说明具体的构成例。
图7是表示调整电路30的构成例的图。本构成例具有:根据驱动信号VG来调整电阻值的可变电阻VR1、和固定电阻R2。可变电阻VR1在驱动信号VG为“高”时电阻值减少、在驱动信号VG为“低”时电阻值增加。由此,在驱动信号VG为“高”且开关元件Q2的驱动状态时,进行将漏极电压VX的衰减量减少的控制,在驱动信号VG为“低”时,使可变电阻VR1的电阻值增加而使漏极电压VX衰减并向差动放大电路A11供给,从而能够避免将过电压向差动放大电路A11供给的情况。
在驱动信号VG为“高”时,即在使开关元件Q2接通的驱动状态时,进行将漏极电压VX的衰减量减少的控制。即,由于设可变电阻VR1的电阻值为VR1、设固定电阻R2的电阻值为R2时的分压比(=固定电阻R2的电阻值/(可变电阻VR1的电阻值+固定电阻R2的电阻值))的比例变大,因此能够将漏极电压VX的衰减量减少并向差动放大电路A11供给。由此,能够输出与输出电流ID成比例地产生的开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS被正确地反映而得到的输出电压VC。从而,能够准确地检测使开关元件Q2为驱动状态时的输出电流ID
并且,通过将可变电阻VR1的电阻值减少,能够将漏极电压VX的变化迅速地向差动放大电路A11传达,因此能够提高差动放大电路A11的响应速度,并且能够迅速地检测输出电流ID的变化。
并且,通过在驱动信号VG为“低”时使可变电阻VR1的电阻值增加,从而可变电阻VR1与固定电阻R2的分压比变小,因此漏极电压VX被衰减而向差动放大电路A11供给。由此,能够避免在开关元件Q2断开时过电压被供给到差动放大电路A11的情况。
例如,能够设为如下构成:通过将开关(未图示)与电阻并联连接并在驱动信号VG为“高”时使开关接通,从而在驱动信号VG为“高”时使可变电阻VR1的电阻值减少。
图8是表示调整电路30的其他的构成例的图。本构成例具有固定电阻R1、和通过驱动信号VG来调整电阻值的可变电阻VR2。可变电阻VR2在驱动信号VG为“高”时电阻值会增加,在驱动信号VG为“低”时电阻值会减少。
即,在使驱动信号VG为“高”而使开关元件Q2驱动时,使可变电阻VR2的电阻值增加,从而固定电阻R1与可变电阻VR2的分压比(=可变电阻VR2的电阻值/(固定电阻R1的电阻值+可变电阻VR2的电阻值))变大,因此将漏极电压VX的衰减量减少而向差动放大电路A11供给。由此,能够输出与输出电流ID成比例地产生的开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS被正确地反映而得到的输出电压VC。从而,能够准确地检测使开关元件Q2为驱动状态时的输出电流ID
并且,通过在驱动信号VG为“低”时使可变电阻VR2的电阻值减少,从而固定电阻R1与可变电阻VR2的分压比变小,因此漏极电压VX被较大地衰减而向差动放大电路A11供给。由此,能够避免在开关元件Q2断开时过电压被供给到差动放大电路A11的情况。
图9是表示调整电路30的其他的构成例的图。本构成例具有通过驱动信号VG来调整电阻值的可变电阻VR1和可变电阻VR2。可变电阻VR1在驱动信号VG为“高”时电阻值会减少,在驱动信号VG为“低”时电阻值会增加。可变电阻VR2在驱动信号VG为“高”时电阻值会增加,在驱动信号VG为“低”时电阻值会减少。
根据该构成,进行如下控制:在使驱动信号VG为“高”而使开关元件Q2驱动时,使可变电阻VR1的电阻值减少并使可变电阻VR2的电阻值增加、将可变电阻VR1和可变电阻VR2的分压比(=可变电阻VR2的电阻值/(可变电阻VR1的电阻值+可变电阻VR2的电阻值))变大来减少漏极电压VX的衰减量,在驱动信号VG为“低”时,使可变电阻VR1的电阻值增加并使可变电阻VR2的电阻值减少,来减小可变电阻VR1和VR2的分压比,使漏极电压VX的衰减量增加而向差动放大电路A11供给。
通过与驱动信号VG相应的调整电路30所带来的漏极电压VX的衰减量的调整,在驱动信号VG为“高”且使开关元件Q2驱动的状态时,能够输出与输出电流ID成比例地产生的开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS被准确地反映而得到的输出电压VC。并且,在驱动信号VG为“低”时,漏极电压VX被较大地衰减而向差动放大电路A11供给,因此能够避免在开关元件Q2断开时过电压被供给到差动放大电路A11的情况。
例如,能够设为如下构成:可变电阻VR1具有固定电阻和开关(未图示)的并联电路,可变电阻VR2具有固定电阻和开关(未图示)的并联电路。能够设为:在驱动信号VG为“高”时,构成可变电阻VR1的开关接通从而可变电阻VR1的电阻值减少,在驱动信号VG为“低”时,构成可变电阻VR2的开关接通从而使可变电阻VR2的电阻值减少。
图10是表示调整电路30的其他的构成例的图。本构成例具有通过驱动信号VG来控制通断的开关S1、S2。开关S1在驱动信号VG为“高”时变为接通,开关S2在驱动信号VG为“低”时变为接通。
通过该构成,在使驱动信号VG为“高”而使开关元件Q2驱动时,开关S1成为接通,开关S2成为断开。在开关S1接通时,开关S1的电阻值能够无视,并且在开关S2为断开时,开关S2的电阻值成为无限大,因此在使驱动信号VG为“高”而使开关元件Q2驱动时,能够不对漏极电压VX进行衰减地直接向差动放大电路A11的非反转输入端子(+)供给。
由此,在使驱动信号VG为“高”而使开关元件Q2驱动时,漏极电压VX被原样施加到差动放大电路A11的非反转输入端子(+),因此通过利用差动放大电路A11对与输出电流ID相应地生成的漏极电压VX进行检测,能够准确地检测使开关元件Q2驱动时的输出电流ID
并且,由于开关S1接通时的电阻值能够无视,因此能够将开关元件Q2处于驱动状态时的漏极电压VX的变化迅速地向差动放大电路A11传达,由此,能够迅速地检测输出电流ID的变化。
进而,由于在驱动信号VG为“低”的状态时,开关S1成为断开,因此漏极电压VX向差动放大电路A11的供给通路被切断。所以,在开关元件Q2断开时,能够避免过电压被施加到差动放大电路A11的情况。
开关S1、S2由例如MOS晶体管、或双极型晶体管等开关元件构成,能够设为通过驱动信号VG来控制通断的构成。
(第五实施方式)
图11是表示第五实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具有将漏极电压VX与规定的参照电压VREF进行比较的比较电路C11。比较电路C11具有例如与差动放大电路A11相比、增益更高且响应速度更快的构成。例如,比较电路C11能够设为不具有反馈环的构成。
比较电路C11的反转输入端(-)被施加参照电压VREF。比较电路C11的非反转输入端(+)经由调整电路30-1被供给漏极电压VX。调整电路30-1具有与调整电路30相同的构成,能够设为已述的图7至图10中的任一种构成。
在驱动信号VG成为“高”且经由调整电路30-1而被供给的电压变得高于参照电压VREF时,比较电路C11将“高”的输出信号VF向端子14供给。即,在与输出电流ID相应地生成的漏极电压VX所对应的电压变得高于参照电压VREF时,比较电路C11将“高”的输出信号VF输出。
漏极电压VX与输出电流ID成比例。从而,通过利用比较电路C11对与漏极电压VX相应的电压和设定为过电流检测所用的阈值的参照电压VREF进行比较,从而能够进行过电流检测。
并且,通过设为经由调整电路30―1来将漏极电压VX向比较电路C11供给的构成,能够构成为:在驱动信号VG为“高”且开关元件Q2为驱动状态时,将漏极电压VX的衰减量减少而向比较电路C11供给,从而准确地检测开关元件Q2为驱动状态时的输出电流ID,在驱动信号VG为“低”且开关元件Q2为断开时,避免对比较电路C11施加过电压的状态。另外,能够设为如下构成:将比较电路C11输出的输出信号VF向控制电路(未图示)供给,对表示过电流状态的输出信号VF进行响应,来进行例如使驱动信号VG的施加停止的控制。
(第六实施方式)
图12是表示第六实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具有与电源端子15连接的恒流源16、和被供给恒流源16的恒流IREF的开关元件Q3。恒流源16例如使用带隙(bandgap)电路(未图示)而构成。开关元件Q3的漏极与比较电路C11的反转输入端(-)连接,源极与端子12连接,栅极被施加驱动信号VG
开关元件Q3在形成有开关元件Q2的半导体基板(未图示)上形成。通过将开关元件Q2和Q3形成于相同的半导体基板,从而能够使两个开关元件Q2、Q3的特性一致,所以能够抵消例如特性的偏差。
开关元件Q3的栅极宽度的尺寸被设定为例如开关元件Q2的栅极宽度的尺寸的1/N(N为任意的正数)。该设定的情况下,在开关元件Q2的漏极电流为开关元件Q3的漏极电流的N倍时,两个开关元件Q2、Q3的漏极·源极间电压VDS变得相等。从而,能够构成为,通过将开关元件Q3的漏极电压作为参照电压VREF向比较电路C11供给,在流过开关元件Q2的漏极电流超过了恒流IREF的N倍的值时,比较电路C11输出“高”的输出信号VF
根据本实施方式,能够通过差动放大电路A11的输出电压VC来检测驱动信号VG为“高”且开关元件Q2为动作状态时的输出电流ID,同时,通过将恒流IREF的值设定为例如过电流检测所用的阈值电流,能够利用比较电路C11的输出信号VF来检测输出电流ID超过了恒流IREF的N倍的电流值的过电流状态。
(第七实施方式)
图13是表示第七实施方式的电流检测电路的图。本实施方式是对差动放大电路A1和比较电路C1共用调整电路30的构成。作为调整电路30,能够设为已述的图7至图10中的任一种构成。通过共有调整电路30,能够削减电路元件并谋求成本降低。
在本实施方式中,不进行驱动信号VG对差动放大电路A1和比较电路C1的通断的控制。如已述的那样,通过设为经由调整电路30将漏极电压VX向差动放大电路A1、比较电路C1供给的构成,在驱动信号VG为“高”时将漏极电压VX的衰减抑制而向差动放大电路A1和比较电路C1供给,在驱动信号VG为“低”时,使漏极电压VX的衰减量增大、或者切断向差动放大电路A1和比较电路C1的供给通路,从而能够避免过电压被施加到差动放大电路A1和比较电路C1的情况。
(第八实施方式)
图14是表示第八实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具有对经由调整电路30-1供给的漏极电压VX和参照电压VREF1进行比较的比较电路C11、和对经由调整电路30-2供给的漏极电压VX和参照电压VREF2进行比较的比较电路C12。
比较电路C12的反转输入端(-)经由调整电路30-2被供给漏极电压VX,非反转输入端(+)被供给参照电压VREF2。从而,在经由调整电路30-2供给的漏极电压VX比参照电压VREF2降低了时,比较电路C12将“高”电平的信号VF2向端子17供给。由此,能够检测在开关元件Q2中流过反向的漏极电流、通过由开关元件Q2产生的电压下降而漏极电压VX比参照电压VREF2降低了的状态、即反向的过电流状态。参照电压VREF2能够与设定为过电流状态的电流值的阈值相应地设为任意的负电压。
根据本实施方式,能够通过差动放大电路A11来准确地检测驱动信号VG为“高”且开关元件Q2为驱动状态时的输出电流ID,同时,能够检测输出电流ID的正向的过电流状态与反向的过电流状态。并且,在本实施方式中,具有差动放大电路A11、比较电路C11,C12的动作状态被驱动信号VG控制的构成。从而,由于是仅在驱动信号VG为“高”的状态时、差动放大电路A11、比较电路C11、C12进行动作的构成,因此能够谋求电力消耗的降低。另外,也可以构成为,对于差动放大电路A11、比较电路C11、C12不进行基于驱动信号VG的通断的控制。
(第九实施方式)
图15是表示第九实施方式的电流检测电路的图。本实施方式具有漏极电压VX被经由调整电路30-1向非反转输入端(+)供给、反转输入端(-)与端子12连接的比较电路C11。调整电路30-1能够设为已述的图7至图10所示的任一调整电路的构成。
比较电路C11在向非反转输入端(+)供给的电压比向反转输入端(-)供给的电压高时,将“高”的输出信号VP向端子14输出,在向非反转输入端(+)供给的电压比向反转输入端(-)供给的电压低时,将“低”电平的输出信号VP输出。在开关元件Q2的漏极电流的流向是正向时,比较电路C11的非反转输入端(+)的电压变得高于反转输入端(-)的电压,在开关元件Q2的漏极电流的流向是反向时,比较电路C11的非反转输入端(+)的电压变得低于反转输入端(-)的电压。从而,由于能够通过比较电路C11的输出信号VP的电平来判别漏极电流的流向,因此能够将比较电路C11用作过零检测电路。
根据本实施方式,能够通过差动放大电路A11的输出电压VC来准确地检测驱动信号VG为“高”且开关元件Q2为驱动状态时的输出电流ID,同时,能够通过比较电路C11的输出信号VP来进行过零检测。
另外,在已述的实施方式中,对与开关元件Q2的漏极·源极间电压VDS相应的电压进行输出的差动放大电路A1、A11设为将一个输出电压VC输出的构成,但是也可以构成为输出正侧、负侧的差动信号。
并且,常开型的开关元件Q1也可以由JFET(Junction Field EffectTransisistor)构成。
说明了本发明的若干实施方式,但这些实施方式是作为例子而提示的,不意图限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种各样的方式实施,在不脱离发明的主旨的范围内,能够进行各种的省略、替换、变更。这些实施方式及其变形包含在发明的范围或主旨中,并且包含在权利要求书所记载的发明及其等价的范围内。

Claims (12)

1.一种电流检测电路,其中,具备:
常开型的第一开关元件,具有源极、漏极、以及栅极;
常关型的第二开关元件,具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极;差动放大电路,输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压;
比较电路,对与上述第二开关元件的漏极电压相应的电压和规定的参照电压进行比较;以及
漏极被供给恒流、源极与上述第二开关元件的源极连接、栅极与上述第二开关元件的栅极连接的第三开关元件,上述第三开关元件的漏极的电压作为上述规定的参照电压而被供给到上述比较电路。
2.如权利要求1所述的电流检测电路,其中,
上述第二开关元件的源极电压作为上述规定的参照电压而被供给到上述比较电路。
3.如权利要求1所述的电流检测电路,其中,
具备调整电路,该调整电路设置在上述第二开关元件的漏极与上述差动放大电路的输入端子之间,对上述第二开关元件的漏极电压进行调整并向上述差动放大电路供给。
4.如权利要求3所述的电流检测电路,其中,
上述调整电路具备对施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号进行响应的开关。
5.如权利要求1所述的电流检测电路,其中,
通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号来控制上述差动放大电路的通断。
6.如权利要求3所述的电流检测电路,其中,
上述调整电路具有可变电阻,该可变电阻与上述第二开关元件的漏极和上述差动放大电路的输入端子连接,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号而变更电阻值。
7.如权利要求3所述的电流检测电路,其中,
上述调整电路具有可变电阻,该可变电阻连接在上述差动放大电路的输入端子与上述第二开关元件的源极之间,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号而变更电阻值。
8.如权利要求3所述的电流检测电路,其中,
上述调整电路具备:
第一可变电阻,连接在上述差动放大电路的输入端子与上述第二开关元件的漏极之间,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号而变更电阻值;以及
第二可变电阻,连接在上述差动放大电路的输入端子与上述第二开关元件的源极之间,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号而变更电阻值,
在使上述第一可变电阻的电阻值减少时,使上述第二可变电阻的电阻值增加。
9.如权利要求3所述的电流检测电路,其中,
上述调整电路具备:
第一开关,连接在上述差动放大电路的输入端子与上述第二开关元件的漏极之间,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号来控制该第一开关的通断;以及
第二开关,连接在上述差动放大电路的输入端子与上述第二开关元件的源极之间,通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号来控制该第二开关的通断,
在使上述第一开关接通时,使上述第二开关断开。
10.一种电流检测电路,其中,具备:
常开型的第一开关元件,具有源极、漏极以及栅极;
常关型的第二开关元件,具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极;
第三开关元件,具有与上述第二开关元件的栅极连接的栅极、和与上述第二开关元件的源极连接的源极;
恒流源,与上述第三开关元件的漏极连接;
差动放大电路,输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压;以及
比较电路,对与上述第二开关元件的漏极电压相应的电压和上述第三开关元件的漏极电压进行比较。
11.如权利要求10所述的电流检测电路,其中,
具备调整电路,该调整电路设置在上述第二开关元件的漏极与上述差动放大电路的输入端子之间,对上述第二开关元件的漏极电压进行调整而向上述差动放大电路供给。
12.如权利要求10所述的电流检测电路,其中,
通过施加到上述第二开关元件的栅极的驱动信号来控制上述差动放大电路和比较电路的通断。
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