JP7170968B2 - 導電性接着剤を用いる接合方法 - Google Patents
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1~20Mpa、100℃~250℃で20秒~5分の加熱加圧工程を含み、
導電性接着剤として、以下の(1)~(3)の特性を有する金属微粒子を30質量%以上含むものである。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2) 加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。
1~20Mpa、100℃~250℃で20秒~5分の加熱加圧工程を含み、
導電性接着剤として、以下の(1)~(3)の特性を有する金属微粒子を30質量%以上含むものである。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2) 加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。
項2. 前記金属微粒子において、さらに(4)の特性を有するものである項1に記載の接合方法。
(4)250℃、20秒の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が70nm以上である。
項3. 前記金属微粒子において、さらに(5)の特性を有するものである項1または2に記載の接合方法。
(5)アミンを含む保護層を備える。
項4. 前記アミンが、第1級アミン、第2級アミン、第3級アミン、2つのアミノ基を有するジアミン化合物のいずれかである項3に記載の接合方法。
1~20Mpa、100℃~250℃で20秒~5分の加熱加圧工程を含み、
導電性接着剤として、以下の(1)~(3)の特性を有する金属微粒子を30質量%以上含むものである。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2) 加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2) 加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2) 加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。
混合した金属微粒子の平均粒子径=2×((A/R1 2+B/R2 2)/(A/R1 3+B/R2 3))…(A)
[式中、小さい平均粒子径の金属微粒子:大きい平均粒子径の金属微粒子の比率をA:B、小さい平均粒子径の金属微粒子の半径をR1、大きい平均粒子径の金属微粒子の半径をR2で表す。]
また、3-イソプロポキシプロピルアミン、イソブトキシプロピルアミン等のエーテルアミンも例示できる。
上記の予備乾燥膜形成工程にて形成された予備乾燥膜に対し、半導体素子を載置し、1~20MPaで加圧しながら100~250℃(好ましくは120~200℃)で、20秒~5分程度、加熱処理して接合させる。加圧は基板と半導体素子との間にかけ、より具体的には、例えば基板を固定した状態で、半導体素子の上から基板方向に半導体素子を押圧することで加圧する。このような加圧を行いながらの加熱処理により、予備乾燥膜を介して基板と半導体素子との接合が実現される。より具体的には、このような加圧を伴った加熱処理により、予備乾燥膜中の金属粒子が焼結して接合層を形成し、この接合層により基板と半導体素子との接合が実現される。その際、製造ラインの構成等によっては予備乾燥工程から加熱加圧工程まで様々なインターバル(日数の間隔)が存在しうることを鑑み、予備乾燥における温度未満の温度で予備乾燥膜(より正確には基板と予備乾燥膜の積層体)を2日以上(通常1か月以下)放置してから接合を実施しても構わない。この放置の際の温度は通常室温である。
・シュウ酸銀((COOAg)2)は、特許第5574761号公報に記載の方法で合成した。
・N,N-ジエチル-1,3-ジアミノプロパン(和光純薬工業株式会社製)
・2-(2-アミノエトキシ)エタノール(和光純薬工業株式会社製)
・n-ヘキシルアミン(炭素数6、和光純薬工業株式会社製)
・ブタノール(和光純薬工業株式会社製)
・メタノール(和光純薬工業株式会社製)
・比較例4の銀微粒子にはDOWAエレクトロニクス株式会社製の製品名AG 2-1Cを用いた。
(銀微粒子の合成)
磁気撹拌子を入れた50mLガラス製遠沈管に、オレイン酸(0.1g)、N,N-ジメチル-1,3-ジアミノプロパン(3.25g)、及びブタノール(6.0g)を投入し、1分間程度攪拌したのち、シュウ酸銀(4.0g)を投入し、約10分間攪拌することで、銀微粒子調製用組成物を得た。その後、アルミブロックを備えたホットスターラー(小池精密機器製作所製HHE-19G-U)上に、これらのガラス製遠沈管を立てて設置し、40℃で30分間攪拌し、さらに、90℃で30分間攪拌した。放冷後、磁気撹拌子を取り出し、各組成物にメタノール15gを添加してボルテックスミキサーで攪拌した後、遠心分離機(日立工機製CF7D2)にて3000rpm(約1600×G)で1分間の遠沈操作を実施し、遠沈管を傾けることにより上澄みを除去した。メタノール15gの添加、撹拌、遠心分離、及び上澄み除去の工程を2回繰り返し、製造された銀微粒子1を回収した。
上記で得られた銀ナノ粒子1の分散液(メタノール溶液)を用いて、n-ヘキシルアミンを銀ナノ粒子の質量の等量を添加し、室温で4時間撹拌した。撹拌後、磁気撹拌子を取り出し、各組成物にメタノール15gを添加してボルテックスミキサーで攪拌した後、遠心分離機(日立工機製CF7D2)にて3000rpm(約1600×G)で1分間の遠沈操作を実施し、遠沈管を傾けることにより上澄みを除去した。メタノール15gの添加、撹拌、遠心分離、及び上澄み除去の工程を2回繰り返し、保護層におけるアミンの比率を調整(置換)した実施例1の銀微粒子Aを回収した。
オレイン酸(0.1g)、N,N-ジエチル-1,3-ジアミノプロパン(3.25g)、ペンタノール(4.0g)、及びシュウ酸銀(4.0g)を用いて、実施例1と同様に銀微粒子の合成と保護層の置換(n-ヘキシルアミン)を行い、銀微粒子Bを回収した。
N,N-ジエチル-1,3-ジアミノプロパン(1.72g)、2-(2-アミノエトキシ)エタノール(1.39g)、ブタノール(6.0g)、及びシュウ酸銀(4.0g)を用いて実施例1と同様に銀微粒子の合成と保護層の置換(n-ヘキシルアミン)を行い、銀微粒子Cを回収した。
オレイン酸(0.06g)、オクチルアミン(1.40g)N,N-ジエチル-1,3-プロパンジアミン(0.43g)、ドデシルアミン(0.16g)、シクロヘキシルアミン(0.12g)、ブチルアミン(0.64g)、及びシュウ酸銀(3.2g)を用いて銀微粒子の合成を行い。銀微粒子Dを回収した。なお、保護層の置換は行わなかった。
実施例2の保護層の置換工程のn-ヘキシルアミンをヘキサン酸に代えて行い、銀微粒子Eを得た。
実施例2の保護層の置換工程のn-ヘキシルアミンを2-(2-アミノエトキシ)エタノールに代えて行い、銀微粒子Fを得た。
実施例1、2、3及び比較例1、2、3、4の各銀微粒子を0.5%のドデカンチオールが添加されたイソプロパノールで銀微粒子が1%となるように希釈し、超音波バスで3分間分散させた。堀場製作所製のレーザー回折粒度分布計(Partica LA-950V2)を用いて、フロー法で平均粒子径を測定した。測定の分散媒にはイソプロパノールを使用した。
実施例1、2、3及び比較例1、2、3、4の各銀微粒子を用い、銀含有量が85質量%となるようにテキサノールを添加し、各銀ナノ粒子分散液を得た。これらの液をそれぞれクラボウ社製のマゼルスターを用い、2回撹拌優先モードにて混合し、各導電性接着剤を調製した。
銀微粒子BとAG 2-1Cを4:6で秤量し、銀含有量が85質量%なるようにテキサノールを添加し、各銀ナノ粒子分散液を得た。これらの液をそれぞれクラボウ社製のマゼルスターを用い、2回撹拌優先モードにて混合し、各導電性接着剤を調製した。
銀微粒子BとAG 2-1Cを2:8で秤量し、銀含有量が85質量%なるようにテキサノールを添加し、各銀ナノ粒子分散液を得た。これらの液をそれぞれクラボウ社製のマゼルスターを用い、2回撹拌優先モードにて混合し、各導電性接着剤を調製した。
各銀ナノ粒子と、各導電性接着剤の焼結体(110℃、10分の乾燥を行った後、200℃で1分間の焼結条件で得られた塗膜、及び110℃、10分の乾燥を行った後250℃で20秒間の焼結条件で得られた塗膜)の平均結晶子径をRIGAKU Ultima IV(線源:Cu Kα線)を用いて、X線結晶構造解析を行った。得られたチャートの(111)ピーク(2θ=38°)の半値幅から、Scherrerの式により結晶子径を算出した。結果を表1に示す。
銅板上に無電解銀めっきを0.5μm施した基材を準備し、その上に各導電性接着剤を塗膜厚みが50μmとなるように、メタルマスクを用いて均一に塗膜を形成した。塗膜を110℃の乾燥器(循環式)に投入し、10分間焼成し、溶剤分を除去した。乾燥した塗膜の上に、裏面(導電性接着剤と接する面)に金めっきもしくは金スパッタ処理が施されたシリコンウエハ(サイズ5mm×5mm)を上に乗せた。次に、焼結(加熱)・加圧装置にて、10MPaの加重をかけながら、200℃、1分間で加熱し、各導電性接着剤が焼結した塗膜(焼結体)を得た。得られた各塗膜(焼結体)の剪断強度は、ボンドテスター(西進商事製SS30-WD)を用いてダイシェアテストを実施して測定した。測定結果を表1に示す。20MPa以上;○、20MPa以下;×とした。また、比較例1は焼結後割れが発生したため、せん断強度は求めなかった。なお、実施例4と比較例5の測定結果は表2に示す。
Claims (4)
- 導電性接着剤を用いる接合方法において、
1~20Mpa、100℃~250℃で20秒~5分の加熱加圧工程を含み、
導電性接着剤として、以下の(1)~(3)の特性を有する銀微粒子を30質量%以上含むものである。
(1)平均粒径が50nm~600nm、
(2)加熱前のXRD測定による結晶子径が、50nm以下、
(3)200℃、1分の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が65nm以上である。 - 前記銀微粒子において、さらに(4)の特性を有するものである請求項1に記載の接合方法。
(4)250℃、20秒の熱処理に付することにより、XRD測定による結晶子径が70nm 以上である。 - 前記銀微粒子において、さらに(5)の特性を有するものである請求項1または2に記載の接合方法。
(5)アミンを含む保護層を備える。 - 前記アミンが、第1級アミン、第2級アミン、第3級アミン、2つのアミノ基を有する
ジアミン化合物のいずれかである請求項3に記載の接合方法。
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JP2019030707A JP7170968B2 (ja) | 2019-02-22 | 2019-02-22 | 導電性接着剤を用いる接合方法 |
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