JP2017152638A - 接合構造、該接合構造を備えた電子部品、および該接合構造の形成方法 - Google Patents
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Description
接続対象である金属体と、前記金属体と接合された金属粒子の焼結体とを備え、
前記焼結体が、平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体であり、
前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散していること
を特徴としている。
まず、銅粒子についてX線回折測定を行い、ピーク<111>、<200>、<311>の3つのピークを得た。それから、得られた3つのピークを用いて、リートベルト法により結晶子径を算出し、その平均値を平均結晶子径とした。
一方の接続対象である金属体に、他方の接続対象である電子部品素子の外部電極が、金属粒子の焼結体によって接合された電子部品であって、
前記金属体と前記焼結体、あるいは前記外部電極と前記焼結体とが、本発明の接合構造によって接合されていること
を特徴としている。
接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散した接合構造を形成すること
を特徴としている。
接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散した接合構造を形成すること
を特徴としている。
接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面に、前記金属体を構成する金属と前記焼結体を構成する銅との合金層が形成された接合構造を形成すること
を特徴としている。
接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面に、前記金属体を構成する金属と前記焼結体を構成する銅との合金層が形成された接合構造を形成すること
を特徴としている。
接続対象である、銅を含む金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体の接合界面にまたがって、銅の結晶粒界が存在する接合構造を形成すること
を特徴としている。
接続対象である、銅を含む金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体の接合界面にまたがって、銅の結晶粒界が存在する接合構造を形成すること
を特徴としている。
図1は、本発明の一実施形態(実施形態1)にかかる接合構造を示す図である。この実施形態1にかかる接合構造は、図1に示すように、無酸素銅基板(一方の接合対象である金属体)1に、電子部品素子としてのICチップ(他方の接続対象)2をダイボンドした場合の接合構造を示すものであり、ICチップ2が金属粒子が焼結した焼結体(銅焼結体)3により無酸素銅基板(金属体)1に接合され、かつ、封止樹脂4により封止された構造を示している。
各めっき膜の厚みは、最表面側から、それぞれ、Auめっき膜12c:500nm、Pdめっき膜12b:150nm、Tiめっき膜12a:50nmとされている。
通常金属の焼結体は耐熱性、放熱性、導電性に優れている。その中でもサブミクロンサイズの銅粒子を含む焼結体は、焼結性に優れており、耐熱性、放熱性、導電性が高いことから、ICチップのダイボンド向けの接合部に、好適に用いることができる。
銅粒子と、銅粒子の焼結温度で還元性を奏する有機化合物で構成された銅粒子ペーストを利用することで、還元剤が銅粒子を確実に還元し、焼結体の内部と外部が同様に焼結した、安定した焼結体を形成することができる。
ただし、焼成条件は、上述の条件に限定されるものではない。
ここで、銅粒子ペーストを単体で熱処理して、銅粒子の焼結の状態を観察した結果について説明する。
なお、焼結体3は、上述のように、銅粒子と溶媒、その他添加剤によって構成された銅粒子ペーストを所定のプロファイルによって熱処理を加えることにより形成されるものである。
また、焼成後は平均結晶子径が少し大きくなっているが、それでも平均結晶子径は82.0nmと小さいことが確認された。
ICチップ(Siチップ)2は、平面形状が正方形で、厚みが0.525mm、正方形の一辺の寸法が5mmのものである。
メタルマスクとしては、厚みが40μmで、開口部が正方形で一辺の寸法が5mmのものを用いた。
これにより、ICチップが銅焼結体により無酸素銅基板に接合された評価用の試料(電子部品)を得た(図1参照)。
ここでは、まず、ICチップ2の外部電極2aと無酸素銅基板1とが銅焼結体を介して接合された評価用の試料(接合構造体)(図1参照)のうち、ICチップ2の外部電極(上述のように最表層がAuめっき層である電極)2aと銅焼結体3の接合状態について説明する。
なお、図5Aは、接合界面のSTEM像、図5Bは、図5AのSTEM像に対応する領域のEDX点分析結果を示す図である。
また、図5Bにおける原点は、図5A上で界面と考えられる点と定めている。
次に、ICチップ2の外部電極2aと、無酸素銅基板とを銅焼結体3を介して接合した評価用の試料(接合構造体)(図1参照)のうち、無酸素銅基板1と銅焼結体3の接合状態について説明する。
図1および図6において、破線L02が無酸素銅基板(金属体)1と銅焼結体3との接合界面を示す。また、線L1で囲まれた領域が、銅の一つの結晶粒界の範囲を示す。
このように、銅焼結体3と無酸素銅基板1の接合界面にまたがって、銅の結晶粒界が存在するようにした場合。接合界面の強度を向上させることが可能になり、信頼性の高い接合構造を実現することができる。
この実施形態2では、銅粒子ペーストを、メタルマスクを用いて所定の位置に印刷した無酸素銅基板に、ICチップ(Siチップ)の外部電極が形成された面を対向させて張り合わせ、以下の手順で、圧力を加えながら所定の温度に加熱して、無酸素銅基板に、表層側からAuめっき膜、Pdめっき膜、Tiめっき膜の3層構造からなる、ICチップの外部電極を接合した。
また、ツール温度の450℃は固定的なものではなく、さらに低い温度とすることも可能である。
2 電子部品素子(ICチップ)
2a 外部電極
3 焼結体(銅焼結体)
4 封止樹脂
12a Tiめっき膜
12b Pdめっき膜
12c Auめっき膜
L01 焼結体と外部電極の接合界面を示す点線
L02 焼結体と金属体(焼結体)との接合界面を示す点線
L1 結晶粒界を示す線
Claims (10)
- 接続対象である金属体と、前記金属体と接合された金属粒子の焼結体とを備え、
前記焼結体が、平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体であり、
前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散していること
を特徴とする接合構造。 - 前記接合界面に、前記金属体を構成する金属と前記焼結体を構成する銅との合金層が形成されていることを特徴とする請求項1記載の接合構造。
- 前記金属体が銅を含むものであって、前記焼結体と前記金属体にまたがって、銅の結晶粒界が存在していることを特徴とする請求項1記載の接合構造。
- 一方の接続対象である金属体に、他方の接続対象である電子部品素子の外部電極が、金属粒子の焼結体によって接合された電子部品であって、
前記金属体と前記焼結体、あるいは前記外部電極と前記焼結体とが、請求項1〜3のいずれかに記載の接合構造によって接合されていること
を特徴とする電子部品。 - 接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散した接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。 - 接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面を超えて、前記金属体を構成する金属が前記焼結体側に拡散し、前記焼結体を構成する銅が前記金属体側に拡散した接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。 - 接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面に、前記金属体を構成する金属と前記焼結体を構成する銅との合金層が形成された接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。 - 接続対象である金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体との接合界面に、前記金属体を構成する金属と前記焼結体を構成する銅との合金層が形成された接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。 - 接続対象である、銅を含む金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに接触させた状態で加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が60nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体の接合界面にまたがって、銅の結晶粒界が存在する接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。 - 接続対象である、銅を含む金属体と、平均結晶子径が10nm以上100nm以下の銅粒子を含む接合材料を、互いに押圧しつつ加熱することにより、
前記金属体と、前記接合材料を構成する前記銅粒子が焼結されてなる平均結晶子径が100nm以上150nm以下の銅を含む焼結体とが接合され、かつ、前記金属体と前記焼結体の接合界面にまたがって、銅の結晶粒界が存在する接合構造を形成すること
を特徴とする接合構造の形成方法。
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