JP7158821B2 - 画像形成装置および制御方法 - Google Patents
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Description
好ましくは、帯電装置は、シャフトと、シャフトの外周に形成された弾性層とを含む。第2物性値は、弾性層の厚みと、弾性層の比誘電率または誘電率との少なくとも一方を含む。
好ましくは、相関式は、感光層の厚みが厚くなるにつれて電圧の絶対値が高くなるように規定される。
[画像形成装置の内部構成]
図1を参照して、画像形成装置100の内部構造について説明する。図1は、画像形成装置100の内部構造の一例を示す図である。
図2を参照して、画像形成ユニット1Y,1M,1C,1Kの内部構造について説明する。図2は、画像形成ユニット1Y,1M,1C,1Kの内部構造の一例を示す図である。
図3を参照して、画像形成装置100のハードウェア構成の一例について説明する。図3は、画像形成装置100の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。
図4を参照して、帯電ローラー11に印加する電圧Vcの制御の詳細について説明する。図4は、電圧Vcの制御に関する構成を示すブロック図である。
情報取得部61は、感光体10の物性値と、帯電ローラー11の物性値とを取得する物性値取得部として機能する。情報取得部61は、取得した感光体10の物性値を感光体物性値記憶部91に書き込み、取得した帯電ローラー11の物性値を帯電ローラー物性値記憶部92に書き込む。
次に、図5および図6を参照して、演算部62が用いる相関式について説明する。図5は、感光層10bの厚みdpcが変化したときの、電圧Vcと表面電位Voとの関係を示す図である。図6は、感光体10の周囲の温度Tが変化したときの、電圧Vcと表面電位Voとの関係を示す図である。
次に、図7および図8を参照して、画像形成装置100における処理の流れについて説明する。図7は、感光体10の物性値および帯電ローラー11の物性値の更新処理の流れを示すフローチャートである。図8は、印刷処理の流れを示すフローチャートである。
上記説明では、相関式Vc=f(dpc,εpc,dr,εr,T)を用いたが、説明変数の個数はこれに限定されない。たとえば、帯電ローラー11の弾性層11bの厚みの製造ばらつきが小さい場合には、厚みdrを除外してもよい。
以上のように、画像形成装置100は、表面に感光層10bが形成された感光体10と、感光体10の表面を帯電させる帯電ローラー(帯電装置)11と、感光体10の物性値(第1物性値)と、帯電ローラー11の物性値(第2物性値)とを取得する情報取得部(物性値取得部)61と、感光層10bの厚みdpcを出力する膜厚センサー(膜厚取得部)80と、感光体10の周囲の温度を検出する温度センサー(温度検出部)70と、帯電ローラー11に印加すべき電圧Vcを目的変数とし、感光体10の物性値と、帯電ローラー11の物性値と、厚みdpcと、温度Tとを説明変数とする相関式に基づいて、電圧Vcを算出する演算部62と、演算部62により算出された電圧Vcを帯電ローラー11に印加する電源部50と、を備える。
実施の形態1では、演算部62は、膜厚センサー80により計測された感光層10bの厚みdpcを用いて、電圧Vcを算出する。これに対し、実施の形態2では、演算部62は、感光体10の累積回転数に基づいて推定された感光層10bの厚みdpcを用いて、電圧Vcを算出する。
式(1)において、係数Cは、単位回転数当たりの感光層10bの厚みの減少量を示す定数であり、実験等により予め設定される。膜厚推定部64は、係数Cを予め記憶している。たとえば、Cが0.02μm/1000回、dpcnewが40μm、累積回転数Rが100000回である場合、膜厚推定部64は、厚みdpc=38μmと推定する。
Claims (11)
- 画像形成装置であって、
表面に感光層が形成された感光体と、
前記感光体の表面を帯電させる帯電装置と、
前記感光体の第1物性値および前記帯電装置の第2物性値を取得する物性値取得部と、
前記感光層の厚みを取得する膜厚取得部と、
前記感光体の周囲の温度を検出する温度検出部と、
前記帯電装置に印加すべき電圧を目的変数とし、前記第1物性値と、前記第2物性値と、前記感光層の厚みと、前記温度とを説明変数とする相関式に基づいて、前記電圧を算出する演算部と、
前記演算部により算出された前記電圧を前記帯電装置に印加する電源部と、を備え、
前記第1物性値は、前記感光層の比誘電率または誘電率を含み、
前記帯電装置は、シャフトと、前記シャフトの外周に形成された弾性層とを含み、
前記第2物性値は、前記弾性層の厚みと、前記弾性層の比誘電率または誘電率との少なくとも一方を含み、
前記感光体および前記帯電装置は、一体化されることによりユニットを構成し、
前記ユニットは、前記画像形成装置に対して着脱可能であり、
前記ユニットは、前記第1物性値と前記第2物性値とを記憶する記憶部を含み、
前記感光体には、前記感光体の出荷検査のときに測定された前記第1物性値を示す第1コードが記載され、
前記帯電装置には、前記帯電装置の出荷検査のときに測定された前記第2物性値を示す第2コードが記載され、
前記記憶部には、前記ユニットを組み立てる際に前記第1コードおよび前記第2コードから読み取られた前記第1物性値および前記第2物性値が書き込まれ、
前記物性値取得部は、前記記憶部から前記第1物性値と前記第2物性値とを取得し、
前記演算部は、前記物性値取得部によって取得された前記第1物性値および前記第2物性値と、前記膜厚取得部によって取得された前記感光層の厚みと、前記温度検出部によって検出された前記温度とを前記相関式に入力することにより、前記電圧を算出する、画像形成装置。 - 前記物性値取得部は、前記画像形成装置の電源がオンにされたタイミング、および、前記ユニットが前記画像形成装置に装着されたタイミングの少なくとも一方において、前記記憶部から前記第1物性値と前記第2物性値とを取得する、請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記膜厚取得部は、前記感光層の厚みを測定するセンサーを含む、請求項1または2に記載の画像形成装置。
- 前記膜厚取得部は、前記感光体の未使用時における前記感光層の初期厚みと、前記感光体の累積回転数とに基づいて、前記感光層の厚みを算出する、請求項1または2に記載の画像形成装置。
- 前記演算部は、前記画像形成装置が印刷命令を受けたときに、前記電圧を算出する、請求項1から4のいずれか1項に記載の画像形成装置。
- 前記相関式は、前記感光層の厚みが厚くなるにつれて前記電圧の絶対値が高くなるように規定される、請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記相関式は、前記温度が高くなるにつれて前記電圧の絶対値が低くなるように規定される、請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記相関式は、前記感光層の比誘電率または誘電率が大きくなるにつれて前記電圧の絶対値が低くなるように規定される、請求項2に記載の画像形成装置。
- 前記第2物性値は、前記弾性層の厚みを含み、
前記相関式は、前記弾性層の厚みが厚くなるにつれて前記電圧の絶対値が高くなるように規定される、請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記第2物性値は、前記弾性層の比誘電率または誘電率を含み、
前記相関式は、前記弾性層の比誘電率または誘電率が大きくなるにつれて前記電圧の絶対値が低くなるように規定される、請求項1に記載の画像形成装置。 - 表面に感光層が形成された感光体と、
前記感光体の表面を帯電させる帯電装置とを備えた画像形成装置における制御方法であって、
前記感光体の第1物性値および前記帯電装置の第2物性値を取得するステップと、
前記感光層の厚みを取得するステップと、
前記感光体の周囲の温度を検出するステップと、
前記帯電装置に印加すべき電圧を目的変数とし、前記第1物性値と、前記第2物性値と、前記感光層の厚みと、前記温度とを説明変数とする相関式に基づいて、前記電圧を算出するステップと、
前記電圧を前記帯電装置に印加するステップと、を備え、
前記第1物性値は、前記感光層の比誘電率または誘電率を含み、
前記帯電装置は、シャフトと、前記シャフトの外周に形成された弾性層とを含み、
前記第2物性値は、前記弾性層の厚みと、前記弾性層の比誘電率または誘電率との少なくとも一方を含み、
前記感光体および前記帯電装置は、一体化されることによりユニットを構成し、
前記ユニットは、前記画像形成装置に対して着脱可能であり、
前記ユニットは、前記第1物性値と前記第2物性値とを記憶する記憶部を含み、
前記感光体には、前記感光体の出荷検査のときに測定された前記第1物性値を示す第1コードが記載され、
前記帯電装置には、前記帯電装置の出荷検査のときに測定された前記第2物性値を示す第2コードが記載され、
前記記憶部には、前記ユニットを組み立てる際に前記第1コードおよび前記第2コードから読み取られた前記第1物性値および前記第2物性値が書き込まれ、
前記取得するステップは、前記記憶部から前記第1物性値と前記第2物性値とを取得するステップを含み、
前記算出するステップは、取得された前記第1物性値および前記第2物性値と、取得された前記感光層の厚みと、検出された前記温度とを前記相関式に入力することにより、前記電圧を算出するステップを含む、制御方法。
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