JP7139371B2 - 誤り率測定装置及びデータ分割表示方法 - Google Patents
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Description
前記被測定物から受信する信号に対する設定パラメータとして、前記FECの1Codeword長、1FEC Symbol長を前記被測定物の通信規格に応じて設定する操作部4と、
前記テスト信号と同期を取って前記被測定物からの信号を受信して変換されたシンボル列データの1FEC Symbolの先頭を捉えて最上位ビット列データと最下位ビット列データに分割するデータ分割手段3daを含み、前記1FEC Symbol長間隔でFEC Symbol Errorを前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データそれぞれで検出するデータ比較部3dと、
前記データ比較部の検出の結果を反映した状態で、前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを表示画面に並列表示する表示部6と、を備えたことを特徴とする。
前記並列表示が前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを対に上下に並べた表示であることを特徴とする。
前記シンボル列データごとの最上位ビット列データと最下位ビット列データを前記設定された1FEC Symbol長ごとに改行することを特徴とする。
前記設定された1FEC Symbol長ごとに区切り線43を表示することを特徴とする。
前記被測定物から受信する信号に対する設定パラメータとして、前記FECの1Codeword長、1FEC Symbol長を前記被測定物の通信規格に応じて設定するステップと、
前記テスト信号と同期を取って前記被測定物からの信号を受信して変換されたシンボル列データの1FEC Symbolの先頭を捉えて最上位ビット列データと最下位ビット列データに分割するステップと、
前記1FEC Symbol長間隔でFEC Symbol Errorを前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データそれぞれで検出するステップと、
前記検出の結果を反映した状態で、前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを表示画面に並列表示するステップと、を含むことを特徴とする。
前記並列表示が前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを対に上下に並べた表示であることを特徴とする。
前記シンボル列データごとの最上位ビット列データと最下位ビット列データを前記設定された1FEC Symbol長ごとに改行するステップを含むことを特徴とする。
前記設定された1FEC Symbol長ごとに区切り線43を表示するステップを含むことを特徴とする。
2 信号発生器
2a 第1信号発生部
2b 第2信号発生部
2c 信号合成出力部
3 誤り検出器
3a 信号受信部
3b 同期検出部
3c 位置情報記憶部
3d データ比較部
3da データ分割手段
3e データ記憶部
4 操作部
5 記憶部
6 表示部
7 制御部
7a エラーカウント手段
7b 表示制御手段
11 設定画面
12,12a,12b Codewordのグラフィック
13,15,18,19,22,23,24,28,29,31,32,33 入力ボックス
14 FEC Symbolのグラフィック
16 Bit Errorのグラフィック
17 FEC Symbol Errorのグラフィック
20 選択項目
21 キャプチャ画面
25,26,27 チェックボックス
30 虫眼鏡ボタン
34,35,36,37,44,45,46,47 ソフトキー
41 データ表示領域
42 スクロールバー
43 区切り線
48,49,50,51,52 表示ボックス
W 被測定物
Claims (8)
- 既知パターンのPAM4信号をテスト信号として被測定物(W)に入力し、前記テスト信号の入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号と前記テスト信号との比較結果に基づいて前記被測定物のFEC(Forward Error Correction)動作が可能か否かを測定する誤り率測定装置(1)であって、
前記被測定物から受信する信号に対する設定パラメータとして、前記FECの1Codeword長、1FEC Symbol長を前記被測定物の通信規格に応じて設定する操作部(4)と、
前記テスト信号と同期を取って前記被測定物からの信号を受信して変換されたシンボル列データの1FEC Symbolの先頭を捉えて最上位ビット列データと最下位ビット列データに分割するデータ分割手段(3da)を含み、前記1FEC Symbol長間隔でFEC Symbol Errorを前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データそれぞれで検出するデータ比較部(3d)と、
前記データ比較部の検出の結果を反映した状態で、前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを表示画面に並列表示する表示部(6)と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記並列表示が前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを対に上下に並べた表示であることを特徴とする請求項1に記載の誤り率測定装置。
- 前記シンボル列データごとの最上位ビット列データと最下位ビット列データを前記設定された1FEC Symbol長ごとに改行することを特徴とする請求項1または2記載の誤り率測定装置。
- 前記設定された1FEC Symbol長ごとに区切り線(43)を表示することを特徴とする請求項1~3の何れかに記載の誤り率測定装置。
- 既知パターンのPAM4信号をテスト信号として被測定物(W)に入力し、前記テスト信号の入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号と前記テスト信号との比較結果に基づいて前記被測定物のFEC(Forward Error Correction)動作が可能か否かを測定する誤り率測定装置(1)のデータ分割表示方法であって、
前記被測定物から受信する信号に対する設定パラメータとして、前記FECの1Codeword長、1FEC Symbol長を前記被測定物の通信規格に応じて設定するステップと、
前記テスト信号と同期を取って前記被測定物からの信号を受信して変換されたシンボル列データの1FEC Symbolの先頭を捉えて最上位ビット列データと最下位ビット列データに分割するステップと、
前記1FEC Symbol長間隔でFEC Symbol Errorを前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データそれぞれで検出するステップと、
前記検出の結果を反映した状態で、前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを表示画面に並列表示するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定装置のデータ分割表示方法。 - 前記並列表示が前記シンボル列データごとの前記最上位ビット列データと前記最下位ビット列データを対に上下に並べた表示であることを特徴とする請求項5に記載の誤り率測定装置のデータ分割表示方法。
- 前記シンボル列データごとの最上位ビット列データと最下位ビット列データを前記設定された1FEC Symbol長ごとに改行するステップを含むことを特徴とする請求項5または6に記載の誤り率測定装置のデータ分割表示方法。
- 前記設定された1FEC Symbol長ごとに区切り線(43)を表示するステップを含むことを特徴とする請求項5~7の何れかに記載の誤り率測定装置のデータ分割表示方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020049586A JP7139371B2 (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 誤り率測定装置及びデータ分割表示方法 |
CN202110148288.7A CN113497674B (zh) | 2020-03-19 | 2021-02-03 | 误码率测量装置及数据分段显示方法 |
US17/170,137 US11506711B2 (en) | 2020-03-19 | 2021-02-08 | Error rate measuring apparatus and data division display method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020049586A JP7139371B2 (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 誤り率測定装置及びデータ分割表示方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021150836A JP2021150836A (ja) | 2021-09-27 |
JP7139371B2 true JP7139371B2 (ja) | 2022-09-20 |
Family
ID=77747770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020049586A Active JP7139371B2 (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 誤り率測定装置及びデータ分割表示方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11506711B2 (ja) |
JP (1) | JP7139371B2 (ja) |
CN (1) | CN113497674B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7139375B2 (ja) * | 2020-03-24 | 2022-09-20 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及び設定画面表示方法 |
DE102021001093B4 (de) * | 2021-03-01 | 2022-09-15 | Infineon Technologies Ag | Eingebundenes Testinstrument für Hochgeschwindigkeitsschnittstellen |
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JP2004328261A (ja) | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 通信機能検査装置および方法 |
US20180091335A1 (en) | 2016-09-29 | 2018-03-29 | Viavi Solutions Deutschland Gmbh | Test instrument for testing devices internally performing signal conversions |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270666A (ja) * | 1985-05-25 | 1986-11-29 | Sony Corp | デイジタルデ−タの表示方法 |
JP4468322B2 (ja) | 2006-03-31 | 2010-05-26 | アンリツ株式会社 | ビット誤り測定装置 |
US8392786B2 (en) * | 2008-05-07 | 2013-03-05 | Broadcom Corporation | LDPC coding systems for 60 GHz millimeter wave based physical layer extension |
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JP6935370B2 (ja) * | 2018-07-24 | 2021-09-15 | アンリツ株式会社 | 信号発生装置および該装置を用いた周波数特性表示方法 |
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2020
- 2020-03-19 JP JP2020049586A patent/JP7139371B2/ja active Active
-
2021
- 2021-02-03 CN CN202110148288.7A patent/CN113497674B/zh active Active
- 2021-02-08 US US17/170,137 patent/US11506711B2/en active Active
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Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021150836A (ja) | 2021-09-27 |
CN113497674A (zh) | 2021-10-12 |
US11506711B2 (en) | 2022-11-22 |
US20210293883A1 (en) | 2021-09-23 |
CN113497674B (zh) | 2023-12-08 |
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