JP7046883B2 - 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 - Google Patents

誤り率測定装置及び誤り率測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7046883B2
JP7046883B2 JP2019194569A JP2019194569A JP7046883B2 JP 7046883 B2 JP7046883 B2 JP 7046883B2 JP 2019194569 A JP2019194569 A JP 2019194569A JP 2019194569 A JP2019194569 A JP 2019194569A JP 7046883 B2 JP7046883 B2 JP 7046883B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
address value
data
display screen
difference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019194569A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021069056A (ja
Inventor
弘季 大沼
達也 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2019194569A priority Critical patent/JP7046883B2/ja
Publication of JP2021069056A publication Critical patent/JP2021069056A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7046883B2 publication Critical patent/JP7046883B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Description

本発明は、既知パターンの多値信号(NRZ信号、PAM4信号)を被測定物に入力し、この入力に伴う被測定物からの信号を受信し、受信した信号に基づくデータを表示する誤り率測定装置及び表示画面上で現在選択中のデータのパターンの先頭からのずれ量を表示する誤り率測定方法に関する。
例えば下記特許文献1に開示されるように、誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率(BER:Bit Error Rate)を測定する装置として従来から知られている。
特開2007-274474号公報
上述した特許文献1では、表示画面上で現在選択しているデータの位置を表示する機能はあるが、パターンの先頭の位置からのずれ量を表示する機能はない。つまり、従来のキャプチャ機能では、表示画面上で現在選択しているデータの位置がパターンのどこにいるのか判らなかった。しかも、表示画面上のパターンの先頭の位置を把握することができなかった。
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、現在選択中のデータのパターンに対する相対的な位置を把握することができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するため、本発明の請求項1に記載された誤り率測定装置は、既知パターンのNRZ信号またはPAM4信号を被測定物Wに入力し、この入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号に基づくデータを表示画面上に表示する誤り率測定装置1であって、
前記既知パターンのパターン長、バス幅、前記表示画面上に表示されるデータの1ブロックサイズ、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値、前記1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所のアドレス値から最終パターン先頭位置のアドレス値までの差分である第1のアドレス値の差分を用いた計算により、前記表示画面上で現在選択中のデータのパターンの先頭からの位置のずれ量を示すパターンアドレス値算出するパターンアドレス算出手段7aと、
前記パターンアドレス算出手段にて算出されたパターンアドレス値を前記表示画面上に表示する表示制御手段7cとを備えたことを特徴とする。
本発明の請求項2に記載された誤り率測定装置は、請求項1の誤り率測定装置において、
前記パターンアドレス値が0となる位置を前記表示画面上のパターンの先頭の位置として算出するパターン先頭位置算出手段7bを備えたことを特徴とする。
本発明の請求項3に記載された誤り率測定装置は、請求項2の誤り率測定装置において、
前記表示制御手段7cは、前記パターン先頭位置算出手段7bにて算出した前記表示画面上のパターンの先頭の位置を識別表示することを特徴とする。
本発明の請求項4に記載された誤り率測定装置は、請求項1~3の何れかの誤り率測定装置において、
前記パターンアドレス算出手段7aは、前記第1のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余り+1を前記1ブロックサイズから差し引いた値を第2のアドレス値の差分として算出し、前記第2のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余りを前記パターン長から差し引いた値を第3のアドレス値の差分として算出し、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値と前記第3のアドレス値の差分とを足して前記パターン長で割った余りを前記パターンアドレス値として算出することを特徴とする。
本発明の請求項5に記載された誤り率測定方法は、既知パターンのNRZ信号またはPAM4信号を被測定物Wに入力し、この入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号に基づくデータを表示画面上に表示する誤り率測定方法であって、
前記既知パターンのパターン長、バス幅、前記表示画面上に表示されるデータの1ブロックサイズ、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値、前記1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所のアドレス値から最終パターン先頭位置のアドレス値までの差分である第1のアドレス値の差分を用いた計算により、前記表示画面上で現在選択中のデータのパターンの先頭からの位置のずれ量を示すパターンアドレス値算出するステップと、
前記パターンアドレス値を前記表示画面上に表示するステップとを含むことを特徴とする。
本発明の請求項6に記載された誤り率測定方法は、請求項5の誤り率測定方法において、
前記パターンアドレス値が0となる位置を前記表示画面上のパターンの先頭の位置として算出するステップを含むことを特徴とする。
本発明の請求項7に記載された誤り率測定方法は、請求項6の誤り率測定方法において、
前記表示画面上のパターンの先頭の位置を識別表示するステップを含むことを特徴とする。
本発明の請求項8に記載された誤り率測定方法は、請求項5~7の何れかの誤り率測定方法において、
前記アドレスパターン値の計算は、前記第1のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余り+1を前記1ブロックサイズから差し引いた値を第2のアドレス値の差分として算出するステップと、
前記第2のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余りを前記パターン長から差し引いた値を第3のアドレス値の差分として算出するステップと、
前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値と前記第3のアドレス値の差分とを足して前記パターン長で割った余りを前記パターンアドレス値として算出するステップとを含むことを特徴とする。
本発明によれば、表示画面上で現在選択中のデータの位置がパターンの先頭位置からどのくらい離れているのかをパターンアドレス値として表示し、現在選択中のデータのパターンに対する相対的な位置を把握することができる。その結果、被測定物が特定パターンによってエラーが発生しやすい場合、どこでエラーが発生しやすいか、エラーの出現傾向を視覚的に把握でき、デバッグしやすくなる。
本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。 PAM4信号の説明図である。 本発明に係る誤り率測定装置における基準データ、入力データ、差分シンボル値、遷移名称、当該シンボルの波形に対する帯状表示の色彩、帯状表示の振幅方向の向き、帯状表示の振幅方向の高さおよび帯状表示例の対応テーブルの一例を示す図である。 本発明に係る誤り率測定装置における波形イメージ表示、シンボル値表示、帯状表示の一例を示す図である。 ビットデータのパターンアドレス値の一例を示す図である。 シンボルデータのパターンアドレス値の一例を示す図である。
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
図1に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置1は、被測定物Wを信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターンの多値信号をテスト信号(基準データ)として被測定物Wを送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物Wから折り返して受信する入力データの誤り率を測定するものである。
誤り率測定装置1は、被測定物Wへの既知パターンの多値信号の入力に伴って被測定物Wから折り返して受信する入力データに基づくシンボルデータを表示するキャプチャ機能を有し、信号発生器2、誤り検出器3、操作部4、記憶部5、表示部6、制御部7を備える。
信号発生器2は、多値信号による基準データとして、各ビットの間で0に復帰しない方式のNRZ信号または所望のシンボル列(0、1、2、3のシンボル値からなるシンボルの列)のデータからなるPAM4信号を発生する。
PAM4信号を発生する場合には、図1に示すように、信号発生器2が第1信号発生部2a、第2信号発生部2b、信号合成出力部2cを備えて概略構成される。
PAM4信号は、振幅がシンボルごとに4種類に分けられ、図2に示すように、4つの異なる振幅の電圧レベルV1,V2,V3,V4を有し、全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの低い方から低電圧範囲H1、中電圧範囲H2、高電圧範囲H3に分けられ、3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる。
第1信号発生部2aは、固定データを含む既知パターンからなる所望のPAM4シンボル列を発生するにあたり、第2信号発生部2bが生成する最下位ビット列信号(LSB:Least Significant Bit )と足し合わせてPAM4信号を生成するための最上位ビット列信号(MSB:Most Significant Bit)を生成する。
第2信号発生部2bは、第1信号発生部2aが生成する最上位ビット列信号と足し合わせてPAM4信号を生成するための最下位ビット列信号を生成する。
第1信号発生部2a、第2信号発生部2bが発生する具体的なビット列信号としては、例えばPRBS7(パターン長:27 -1)、PRBS9(パターン長:29 -1)、PRBS10(パターン長:210-1)、PRBS11(パターン長:211-1)、PRBS15(パターン長:215-1)、PRBS20(パターン長:220-1)などの各種疑似ランダムパターン(PRBS:Pseudo Random Bit Sequence)といった周期パターンや、PRBS13Q、PRBS31Q、SSPRQなどのPAMを評価するための評価用パターンがある。
信号合成出力部2cは、第1信号発生部2aが発生する最上位ビット列信号と第2信号発生部2bが発生する最下位ビット列信号とを足し合わせてPAM4信号を出力する。このPAM4信号は、被測定物Wの誤り率などを測定する際、既知パターンのテスト信号として被測定物Wに入力される。
誤り検出器3は、信号発生器2から既知パターンのテスト信号として基準データ(NRZ信号またはPAM4信号)が被測定物Wに入力されたときに、この基準データの入力に伴って被測定物Wから出力される信号を受けて誤り率などを測定するもので、図1に示すように、信号受信部3a、同期検出部3b、位置情報記憶部3c、データ比較部3d、比較結果データ記憶部3eを備える。
信号受信部3aは、被測定物WからNRZ信号を受信した場合、NRZ信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてビット列(0、1)のビット値からなるビットの列)に変換する。また、信号受信部3aは、被測定物WからPAM4信号を受信した場合、PAM4信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてシンボル列(0、1、2、3のシンボル値からなるシンボルの列)に変換する。この信号受信部3aにて変換されたビット列のデータ(以下、ビットデータとも言う)またはシンボル列のデータ(以下、シンボルデータとも言う)は、同期検出部3bに入力される。
同期検出部3bは、操作部4にて予め設定される設定タイミングにより、記憶部5から読み込んだ基準データと、被測定物Wから受信して信号受信部3aから出力されるビットデータまたはシンボルデータとの同期を取って取り込み、取り込んだ入力データとなるビットデータまたはシンボルデータをデータ比較部3dに出力する。
設定タイミングは、例えば表示部6の不図示の設定画面上で操作部4にて予め設定され、例えばエラーを含む特定パターンと一致するパターンのデータを受信するタイミング、被測定物Wがトリガー信号を発生するタイミング、ユーザの指示(例えばボタン操作)によりトリガー信号を発生するタイミングである。
同期検出部3bは、同期が取れたときにその旨をデータ比較部3dへ通知するとともに、同期が取れたときの基準データにおけるビットまたはシンボルの位置を表す同期位置を位置情報記憶部3cに記憶させる。
位置情報記憶部3cは、同期検出部3bにて基準データと信号受信部3aからのNRZ信号のビットデータまたはPAM4信号のシンボルデータとの同期が取れたときに、同期が取れたときの基準データにおけるビットまたはシンボルの位置を表す同期位置を記憶する。
データ比較部3dは、同期検出部3bで同期が取れた後、操作部4を介したユーザなどの指示により、誤り率の測定を開始するときの位置にある基準データのビットまたはシンボルから順に、同期検出部3bから出力されたビット列またはシンボル列である入力データと基準データのビット列またはシンボル列とを順次比較してエラーのあるビットまたはシンボルを検出する。
例えばPAM4信号の場合、データ比較部3dは、基準データのシンボルから入力データのシンボルを引き算する差分の算出を行い、基準データに対する入力データのシンボル遷移量を算出し、入力データと基準データの排他的論理和(XOR)をとることで誤っているシンボル位置を表す取得エラーデータを取得し、図3のテーブルに基づき遷移名称を決定し、比較結果データを生成する。そして、データ比較部3dは、操作部4から波形イメージ表示開始操作がされるか、波形イメージ表示条件を満たすと、表示開始操作に応じて、または表示開始条件を満たす基準データのシンボルの位置の位置情報を同期位置とともに位置情報記憶部3cに記憶させる。合わせて、同期位置の位置情報をたとえば0とし、次のシンボルの位置情報を1、2、3、・・・といった追番として、それぞれの比較結果データとそれぞれの位置情報とを紐づけるよう位置情報記憶部3cに記憶させる。
なお、波形イメージ表示開始条件とは、例えば、予め設定したシンボル遷移が発生した場合、シンボル遷移が予め設定した所定数連続で発生した場合などをいう。
データ比較部3dは、操作部4から波形イメージ表示停止操作がされるか、波形イメージ表示停止条件を満たすと、表示停止操作に応じて、または表示停止条件を満たす基準データのシンボルの位置の位置情報を位置情報記憶部3cに記憶させる。
なお、波形イメージ表示停止条件とは、例えば、シンボル遷移が予め設定した所定数連続で発生しない場合などをいう。
比較結果データ記憶部3eは、データ比較部3dによる比較結果データを記憶する。比較結果データは、PAM4信号の場合、入力データのシンボルのそれぞれにおいて、基準データと比較してエラーのないシンボル、すなわちシンボル遷移がないことを示す遷移名称、および基準データと比較してエラーのあるシンボルにおいて、例えば、PAM4信号の4つのPAMシンボルの各シンボルごとの遷移量と遷移方向に基づく複数の遷移名称というシンボル遷移を区別するための情報を含む。
操作部4は、設定手段としても機能するものであり、図1の誤り率測定装置1に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示部6の表示画面6a上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成される。操作部4は、設定タイミングの設定、表示部6の表示画面6a上に表示されるシンボルデータのブロックの指定、ボーレート、シンボル列の発生条件などの設定、誤り率測定の開始・終了の指示など誤り率測定に関わる各種設定を行う。
記憶部5は、制御部7の制御により、予め設定された設定タイミングによりブロック単位で信号受信部3aから取り込んだシンボルデータを予め割り当てられた記憶容量で記憶する。本実施の形態では、表示部6の1つの表示領域(スクロール表示を含む表示サイズ)に表示可能なシンボルデータの塊を1ブロックとしている。例えば割り当てられる記憶容量が8Mbits(シンボルデータの4Mbitsに相当)で表示部6の1つの表示領域に表示可能なシンボルデータの塊を1ブロックとした場合、1ブロック=65536ビット=32768シンボルとして、4Mbitsのシンボルデータを予め設定される所定の分割数(1,2,4,8,16,32,64,128の何れかの分割数)で分割して記憶部5に記憶する。
なお、シンボルデータの最大分割数は、記憶部5に割り当てられる記憶容量に応じて決まる。例えば記憶部5に割り当てられる記憶容量が8Mbitsであれば、シンボルデータの最大分割数は128分割となる。また、設定タイミングは、前述したように、エラーを含む特定パターンと一致するパターンのシンボルデータを受信するタイミング、被測定物Wがトリガー信号を発生するタイミング、ユーザの指示(例えばボタン操作)によりトリガー信号を発生するタイミングの何れかであり、例えば表示部6の不図示の設定画面上で操作部4にて予め設定される。
記憶部5は、信号合成出力部2cからの既知パターンのテスト信号として被測定物Wに入力するNRZ信号のビット列(0、1のビット値からなるビットの列)やPAM4信号のシンボル列(0、1、2、3のシンボル値からなるシンボルの列)を記憶する。この既知パターンのテスト信号として被測定物Wに入力するNRZ信号のビット列やPAM4信号のシンボル列は、被測定物Wから受信した信号から生成する入力データと比較するときの基準となる基準データとなっている。
記憶部5は、設定タイミング、ボーレート、シンボル列の発生条件や、波形イメージ表示開始条件、波形イメージ表示停止条件などの情報を記憶する。これらの情報は、操作部4によりユーザインタフェースを介して適宜選択設定することができる。
なお、制御部7や、第1信号発生部2aと第2信号発生部2bにおいて、テスト信号となるNRZ信号のビット列やPAM4信号のシンボル列を把握できる場合は、制御部7や、第1信号発生部2aと第2信号発生部2bから記憶部5へと既知パターンのテスト信号であるNRZ信号のビット列またはPAM4信号のシンボル列、すなわち基準データを記憶するように構成してもよい。
表示部6は、図1の誤り率測定装置1に備える例えば液晶表示器などで構成され、誤り率測定に関わる設定画面、各コンプライアンステスト(被測定物Wが通信規格に適合するか否かの試験)や誤り率の測定画面などを表示する。また、表示部6は、表示画面6a上のソフトキーなどの操作部4の操作機能を兼ね備えている。
制御部7は、PAM4信号の誤り率を測定するため、例えば中央処理装置(CPU)、ROM、RAMなどの記憶素子から構成され、信号発生器2、誤り検出器3、操作部4、記憶部5、表示部6を統括制御するもので、パターンアドレス算出手段7a、パターン先頭位置算出手段7b、表示制御手段7cを備える。
パターンアドレス算出手段7aは、既知パターンとしてのNRZ信号のビットデータまたはPAM4信号のシンボルデータのパターン長:A、バス幅:B、表示画面6a上に表示されるデータの1ブロックサイズ:C、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータのアドレス値:D、1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所(パターンシンク)から最終パターン先頭位置までのアドレス値の差分(第1のアドレス値の差分):Eが既知の値として与えられると、以下の計算によって表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータのパターンアドレス値を算出する。
表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータのパターンアドレス値を算出するにあたっては、C-((EをAで割った余り)+1)の計算式により、最終パターン先頭位置から先頭データ位置までのアドレス値の差分(第2のアドレス値の差分)Fを算出する。次に、A-(FをAで割った余り)の計算式により、先頭データ位置からパターン先頭位置までのアドレス値の差分(第3のアドレス値の差分)Gを算出する。そして、D+GをAで割ったときの余りをパターンアドレス値として算出する。
具体的には、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータ(例えばエラーがあるデータ)がNRZ信号のビットデータの場合、パターン長A=127bit、バス幅B=256、表示画面6a上に表示されるビットデータの1ブロックサイズC=8192×8=65536bit、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータのアドレス値D=3、第1のアドレス値の差分E=255が与えられると、第2のアドレス値の差分Fは、F=(8192×8)-((255を127で割った余り)+1)=65536-(1+1)=65536-2=65534となる。また、第3のアドレス値の差分Gは、G=127-(65534を127で割った余り)=127-2=125となる。よって、(3+125)を127で割った余り=1がパターンアドレス値として算出される。
また、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータ(例えばエラーがあるデータ)がPAM4信号のシンボルデータの場合、パターン長A=255symbol、バス幅B=512、表示画面6a上に表示されるシンボルデータの1ブロックサイズC=4096×8=32768symbol、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータのアドレス値D=307、第1のアドレス値の差分E=511が与えられると、第2のアドレス値の差分Fは、F=(4096×8)-((511を255で割った余り)+1)=32768-(1+1)=32768-2=32766となる。また、第3のアドレス値の差分Gは、G=255-(32766を255で割った余り)=255-126=129となる。よって、(307+129)を255で割った余り=181がパターンアドレス値として算出される。
なお、パターンアドレス値とは、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータ(ビットデータまたはシンボルデータ)について、パターンの先頭からのアドレス値のずれ量を示すものである。具体的には、パターンの先頭のアドレス値を0とし、1→2→3→…と順番にパターンの最後までアドレス値が付与される。例えばパターン長が127bitの場合、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータがパターン先頭から3番目であれば、パターンアドレス値は「2」であり、パターン先頭からのアドレス値のずれ量は「2」となる。
パターン先頭位置算出手段7bは、パターンアドレス算出手段7aにて算出したパターンアドレス値が0となる表示画面6a上のアドレス値の位置をパターン先頭位置として算出する。
具体的には、表示画面6a上で現在選択中のデータ(例えばエラーがあるデータ)がNRZ信号のビットの場合、パターン長A=127bit、バス幅B=256、1ブロックサイズC=8192×8=65536bit、表示画面6a上で現在選択中のデータのアドレス値D、1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所(パターンシンク)から最終パターン先頭位置までのアドレス値の差分(第1のアドレス値の差分)E=255が与えられると、(D+125)を127で割った余りが0になるD=2,129,256,383,510,637,764,…のアドレス値の位置(2から127おきのアドレス値の位置)がパターン先頭位置として算出される。
また、表示画面6a上で現在選択中のデータ(例えばエラーがあるデータ)がPAM4信号のシンボルの場合、パターン長A=255symbol、バス幅B=512、1ブロックサイズC=4096×8=32768symbol、表示画面6a上で現在選択中のデータのアドレス値D、1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所(パターンシンク)から最終パターン先頭位置までのアドレス値の差分(第1のアドレス値の差分)E=511が与えられると、(D+129)を255で割った余りが0になるD=126,381,636,891,…のアドレス値の位置(126から255おきのアドレス値の位置)がパターン先頭位置として算出される。
表示制御手段7cは、パターンアドレス算出手段7aにて算出されたパターンアドレス値を表示画面6a上に表示制御する。例えばパターン長が127bitの場合、図5に示すように、パターン長が127bitのパターンにおいて、表示画面6a上で現在選択中のデータ(例えば図5の右上がりの斜線で示すエラーがあるデータ)のアドレス値(カーソルアドレス値)が「0」のときに、パターンアドレス算出手段7aにて算出されたパターンアドレス値「125」を表示画面6a上に表示制御する。
また、表示制御手段7cは、パターン先頭位置算出手段7bにて算出した表示画面6a上のパターンの先頭の位置を識別表示する。例えばパターン長が127bitの場合、図5の右下がりの斜線で示す「0」の部分がパターンの先頭の位置を示しており、この「0」の部分を識別表示する。なお、識別表示は、パターンの先頭の位置を例えば色付け表示、点滅表示など、ユーザが表示画面6aを見て、パターンの先頭と他の部分とを識別できればよく、その表示形態が限定されるものではなく、操作部4の操作(例えば表示画面6a上のソフトキーの操作)によりオン/オフ切替が可能である。
さらに、表示制御手段7cは、予め設定された設定タイミングにて信号受信部3aから取り込んで記憶部5に記憶されたデータ(基準データと比較されるビットデータまたはシンボルデータ)を表示部6の表示画面6a上に表示制御する。
さらに説明すると、表示制御手段7cは、表示部6の1つの表示領域(スクロール表示を含む表示サイズ)に表示可能なビットデータまたはシンボルデータの塊を1ブロックとして、予め設定された設定タイミングにて信号受信部3aからビットデータまたはシンボルデータをブロック単位で取り込み、取り込んだブロック単位のビットデータまたはシンボルデータを記憶部5に記憶し、ブロック単位で切替表示できるように記憶部5に記憶されたビットデータまたはシンボルデータを表示部6の表示画面6a上に表示制御する。
また、表示制御手段7cは、被測定物Wからの入力データがPAM4信号の場合、記憶部5の基準データのシンボル値に基づいて、シンボル値表示および波形イメージ表示を表示部6に表示する。さらに説明すると、シンボル値表示は、図4に示すように、0、1、2、3のシンボル値の数字を、波形イメージの対応するそれぞれのシンボル値に合わせて表示部6に表示する。また、波形イメージ表示は、図4に示すように、0、1、2、3のシンボル値にそれぞれ合わせた振幅方向の高さ、各シンボル値ごとの時間軸方向の横幅となるように表示部6に表示する。
さらに、表示制御手段7cは、比較結果データ記憶部3eの比較結果データに基づいて、波形イメージ表示に対し、例えば図3の帯状表示例に従い、それぞれのシンボルの遷移名称に対応して、当該シンボルの波形に対する帯状表示の色彩、帯状表示の振幅方向の向き、帯状表示の振幅方向の高さとなるように重ねて識別表示する。
上記のように構成される誤り率測定装置1では、測定に関わる各種設定を行った後、PAM4信号による既知パターンを被測定物Wに送信した場合、この既知パターンの送信に伴って信号受信部3aにて被測定物Wから受信したPAM4信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてシンボル列に変換する。そして、同期検出部3bは、基準となるPAM4信号のシンボル列のデータである基準データと、被測定物Wから受信したPAM4信号に基づくシンボルデータとの同期を取り、同期が取れたときの基準データにおけるシンボルの位置を表す同期位置を位置情報記憶部3cに記憶するとともに、入力データとなるシンボルデータを出力する。
その後、シンボル比較部3dは、操作部4を介したユーザなどの指示により、誤り率の測定を開始するときの位置にあるシンボルから順に、同期されたシンボルと基準データとを順次比較してエラーのあるシンボルを検出するとともに、比較した結果である比較結果データを比較結果データ記憶部3eに記憶する。
また、シンボル比較部3dは、波形イメージ表示開始操作がされるか、波形イメージ表示開始条件を満たすと、表示開始操作に応じて、または表示開始条件を満たす基準データのシンボルの位置の位置情報を同期位置とともに位置情報記憶部3cに記憶する。
さらに、シンボル比較部3dは、波形イメージ表示停止操作がされるか、波形イメージ表示停止条件を満たすと、表示停止操作に応じて、または表示停止条件を満たす基準データのシンボルの位置の位置情報を位置情報記憶部3cに記憶する。
そして、表示部6は、表示制御手段7aの制御により、例えば図4に示すように、入力データのシンボル値に基づいて、シンボル値表示および波形イメージ表示を表示し、図3の帯状表示例に従い、それぞれのシンボルの遷移名称に対応して、当該シンボルの波形に対する帯状表示の色彩、帯状表示の振幅方向の向き、帯状表示の振幅方向の高さとなるように重ねて識別表示する。例えば図4では、左から2番目の入力データと取得エラーデータのシンボルが1(01)であり、入力データのシンボルが基準データ0(00)から1(01)へとシンボル遷移しているので、図3に示すように、遷移名称は「A2」となる。そして、この遷移名称「A2」に対応する帯状表示の色彩は「赤」、帯状表示の振幅方向の向きは「下」、帯状表示の振幅方向の高さは「1電圧範囲」となる。これにより、左から2番目の位置の波形イメージ表示に対し、線状の波形に対して1電圧範囲で下向きの赤色の帯状表示を行う。
そして、パターンアドレス算出手段7aは、上述した表示制御が行われた状態において、ユーザが表示画面6a上のカーソルで任意のデータ(例えばエラーがあるデータ)が選択されると、この現在選択中のデータのパターンアドレス値を算出する。
ここで、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のデータがビットデータの場合とシンボルデータの場合におけるパターンアドレス値の算出方法について図5および図6を参照しながら具体的な数値を示して説明する。
[ビットデータの場合]
パターン長A=127bit、バス幅B=256、表示画面6a上に表示されるビットデータの1ブロックサイズC=8192×8=65536bit、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のビットデータのアドレス値D=0(図5のアドレス「0」)、第1のアドレス値の差分E=255が予め既知の値として与えられているものとする。なお、図5では表示画面6a上の各ビットデータのパターンアドレス値の一部を示しているが、実際の表示画面6aの各アドレスには基準データとビット比較される入力データ(ビットデータ)が表示される。
第2のアドレス値の差分Fは、前述した計算式F=C-((EをAで割った余り)+1)から算出され、F=65536-((255を127で割った余り)+1)=65536-(1+1)=65536-2=65534となる。
また、第3のアドレス値の差分Gは、前述した計算式G=127-(65534を127で割った余り)から算出され、G=127-(65534を127で割った余り)=127-2=125となる。
したがって、パターンアドレス値は、現在選択中のアドレス値D+第3のアドレス値の差分Gをパターン長Aで割ったときの余り、すなわち、(0+125)を127で割った余り=125となる。これにより、図5に示すように、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のビットデータのカーソルアドレス値「0」とパターンアドレス値「125」が表示画面6a上に表示される。
[PAM4シンボルデータの場合]
パターン長A=255symbol、バス幅B=512、表示画面6a上に表示されるシンボルデータの1ブロックサイズC=4096×8=32768symbol、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のシンボルデータのアドレス値D=12(図6のアドレス「12」)、第1のアドレス値の差分E=511が予め既知の値として与えられているものとする。なお、図6では表示画面6a上の各シンボルデータのパターンアドレス値の一部を示しているが、実際の表示画面6aの各アドレスには基準データとシンボル比較される入力データ(シンボルデータ)が表示される。
第2のアドレス値の差分Fは、前述した計算式F=C-((EをAで割った余り)+1)から算出され、F=(4096×8)-((511を255で割った余り)+1)=32768-(1+1)=32768-2=32766となる。
また、第3のアドレス値の差分Gは、前述した計算式G=255-(32766を255で割った余り)から算出され、G=255-(32766を255で割った余り)=255-126=129となる。
したがって、パターンアドレス値は、現在選択中のアドレス値D+第3のアドレス値の差分Gをパターン長Aで割ったときの余り、すなわち、(12+129)を255で割った余り=141となる。これにより、図6に示すように、表示画面6a上のカーソルで現在選択中のシンボルデータのカーソルアドレス値「12」とパターンアドレス値「141」が表示画面6a上に表示される。
また、パターン先頭位置算出手段7bは、パターンアドレス算出手段7aにて算出したパターンアドレス値が0となる表示画面6a上のアドレス値の位置をパターン先頭位置として算出する。
そして、表示制御手段7cは、パターンアドレス算出手段7aにて算出されたパターンアドレス値を表示画面6a上に表示制御するとともに、パターン先頭位置算出手段7bにて算出した表示画面6a上のパターンの先頭の位置を必要に応じて識別表示する。
ところで、上述した実施の形態では、図1に示すように、誤り率測定装置1に信号発生器2、誤り検出器3、操作部4、記憶部5、表示部6、制御部7が含まれる構成としたが、この構成に限定されるものではない。例えば、信号発生器2と誤り検出器3をそれぞれ別々にモジュール化または個別筐体とし、操作部4、表示部6を外部に接続したパーソナルコンピュータなどの外部装置で構成することもできる。
このように、本実施の形態によれば、表示画面上のカーソルで現在選択中のデータ(例えばエラーがあるデータ)について、パターンの先頭の位置からのずれ量をパターンアドレス値として表示するので、現在選択中のデータのパターンに対する相対的な位置を把握することができる。そして、表示画面上のカーソルで現在選択中のデータの位置がパターンの先頭からどのくらい離れて位置しているかをパターンアドレス値として表示する機能に加え、表示画面上のパターンの先頭の位置を算出して識別表示する機能も備えた構成なので、パターンに対するデータの選択位置の関係が即座に把握可能となり、その結果、被測定物が特定パターンによってエラーが発生しやすい場合、どこでエラーが発生しやすいか、エラーの出現傾向を視覚的に把握でき、デバッグしやすくなる。
以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
1 誤り率測定装置
2 信号発生器
2a 第1信号発生部
2b 第2信号発生部
2c 信号合成出力部
3 誤り検出器
3a 信号受信部
3b 同期検出部
3c 位置情報記憶部
3d シンボル比較部
3e 比較結果データ記憶部
4 操作部
5 記憶部
6 表示部
6a 表示画面
7 制御部
7a パターンアドレス算出手段
7b パターン先頭位置算出手段
7c 表示制御手段
W 被測定物

Claims (8)

  1. 既知パターンのNRZ信号またはPAM4信号を被測定物(W)に入力し、この入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号に基づくデータを表示画面上に表示する誤り率測定装置(1)であって、
    前記既知パターンのパターン長、バス幅、前記表示画面上に表示されるデータの1ブロックサイズ、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値、前記1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所のアドレス値から最終パターン先頭位置のアドレス値までの差分である第1のアドレス値の差分を用いた計算により、前記表示画面上で現在選択中のデータのパターンの先頭からの位置のずれ量を示すパターンアドレス値算出するパターンアドレス算出手段(7a)と、
    前記パターンアドレス算出手段にて算出されたパターンアドレス値を前記表示画面上に表示する表示制御手段(7c)とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
  2. 前記パターンアドレス値が0となる位置を前記表示画面上のパターンの先頭の位置として算出するパターン先頭位置算出手段(7b)を備えたことを特徴とする請求項1に記載の誤り率測定装置。
  3. 前記表示制御手段(7c)は、前記パターン先頭位置算出手段(7b)にて算出した前記表示画面上のパターンの先頭の位置を識別表示することを特徴とする請求項2に記載の誤り率測定装置。
  4. 前記パターンアドレス算出手段(7a)は、前記第1のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余り+1を前記1ブロックサイズから差し引いた値を第2のアドレス値の差分として算出し、前記第2のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余りを前記パターン長から差し引いた値を第3のアドレス値の差分として算出し、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値と前記第3のアドレス値の差分とを足して前記パターン長で割った余りを前記パターンアドレス値として算出することを特徴とする請求項1~3の何れかに記載の誤り率測定装置。
  5. 既知パターンのNRZ信号またはPAM4信号を被測定物(W)に入力し、この入力に伴う前記被測定物からの信号を受信し、受信した信号に基づくデータを表示画面上に表示する誤り率測定方法であって、
    前記既知パターンのパターン長、バス幅、前記表示画面上に表示されるデータの1ブロックサイズ、前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値、前記1ブロックサイズにおいて最後にバス先頭位置とパターン先頭位置が重なる箇所のアドレス値から最終パターン先頭位置のアドレス値までの差分である第1のアドレス値の差分を用いた計算により、前記表示画面上で現在選択中のデータのパターンの先頭からの位置のずれ量を示すパターンアドレス値算出するステップと、
    前記パターンアドレス値を前記表示画面上に表示するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。
  6. 前記パターンアドレス値が0となる位置を前記表示画面上のパターンの先頭の位置として算出するステップを含むことを特徴とする請求項5に記載の誤り率測定方法。
  7. 前記表示画面上のパターンの先頭の位置を識別表示するステップを含むことを特徴とする請求項6に記載の誤り率測定方法。
  8. 前記パターンアドレス値の計算は、前記第1のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余り+1を前記1ブロックサイズから差し引いた値を第2のアドレス値の差分として算出するステップと、
    前記第2のアドレス値の差分を前記パターン長で割った余りを前記パターン長から差し引いた値を第3のアドレス値の差分として算出するステップと、
    前記表示画面上で現在選択中のデータのアドレス値と前記第3のアドレス値の差分とを足して前記パターン長で割った余りを前記パターンアドレス値として算出するステップとを含むことを特徴とする請求項5~7の何れかに記載の誤り率測定方法。
JP2019194569A 2019-10-25 2019-10-25 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 Active JP7046883B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019194569A JP7046883B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 誤り率測定装置及び誤り率測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019194569A JP7046883B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 誤り率測定装置及び誤り率測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021069056A JP2021069056A (ja) 2021-04-30
JP7046883B2 true JP7046883B2 (ja) 2022-04-04

Family

ID=75637703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019194569A Active JP7046883B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 誤り率測定装置及び誤り率測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7046883B2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006300618A (ja) 2005-04-18 2006-11-02 Iwatsu Test Instruments Corp 解析表示機能を有する計測システム及びその装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0718213U (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 株式会社島津製作所 トレンドグラフ表示装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006300618A (ja) 2005-04-18 2006-11-02 Iwatsu Test Instruments Corp 解析表示機能を有する計測システム及びその装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ANRITSU CORPORATION,MX190000A Signal Quality Analyzer-R Control Software Operation Manual[online],Seventh Edition,2019年09月26日,pp.4-33~4-73,[検索日:2021.09.06],インターネット<URL:https://dl.cdn-anritsu.com/en-au/test-measurement/files/Manuals/Operation-Manual/MP1900A/mx190000a_opm_e_7_0.pdf>

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021069056A (ja) 2021-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6250737B2 (ja) 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
US11506711B2 (en) Error rate measuring apparatus and data division display method
JP7308808B2 (ja) 誤り率測定装置及びエラー数表示方法
US11293983B2 (en) Error rate measuring apparatus and setting screen display method
US11379331B2 (en) Error rate measuring apparatus and error counting method
JP7046883B2 (ja) 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
JP6827484B2 (ja) 誤り率測定装置および誤り率測定方法
JP7046882B2 (ja) 誤り率測定器及びエラー検索方法
US11687429B2 (en) Error rate measuring apparatus and codeword position display method
JP7046881B2 (ja) 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
JP7184839B2 (ja) 誤り率測定装置及びエラーカウント方法
JP6951399B2 (ja) 誤り率測定器のデータ表示装置及びエラーカウント方法
JP7139376B2 (ja) 誤り率測定装置および連続エラー検索方法
JP7381532B2 (ja) 誤り率測定装置及びコードワードエラー表示方法
US11677418B2 (en) Error rate measuring apparatus and uncorrectable codeword search method
JP2022122458A (ja) スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法
JP7381512B2 (ja) 誤り率測定装置及びエラー分布表示方法
JP5155994B2 (ja) データ信号評価装置
JP2008185431A (ja) 波形測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200904

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210805

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220315

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220323

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7046883

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150