JP2022122458A - スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 - Google Patents
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 29
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title abstract description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 48
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 31
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000012549 training Methods 0.000 abstract description 17
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 43
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 15
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 14
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 14
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 9
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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- G09G5/00—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
- G09G5/08—Cursor circuits
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/08—Details of timing specific for flat panels, other than clock recovery
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2354/00—Aspects of interface with display user
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
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Abstract
Description
図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係るスペクトラム拡散クロック発生器(以下、「SSC発生器」とも称する)1は、基準信号発生源10と、変調用信号発生器20と、変調部35と、操作部40と、表示部41と、変調制御部42と、を備える。
続いて、本発明の第2の実施形態に係るパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法について、図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第1の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。
2 パルスパターン発生部
10 基準信号発生源
20 変調用信号発生器
35 変調部
42 変調制御部
42a 時間幅算出部
42b 傾き絶対値算出部
50 パルスパターン発生装置
54 誤り率算出部
60 設定画面
64 変調周波数入力部
67 変調選択部
68 第1区間入力部
69 第2区間入力部
70 第3区間入力部
71 第0周波数偏移入力部
72 第1周波数偏移入力部
73 第2周波数偏移入力部
74 第3周波数偏移入力部
76 波形イメージ表示領域
76a,76b 波形イメージ
77 周波数偏移設定可能箇所表示部
78 時間幅設定可能箇所表示部
90 波形表示画面
100 誤り率測定装置
200 DUT
Claims (14)
- 基準周波数Fcの基準信号を発生する基準信号発生源(10)と、
変調用信号を発生する変調用信号発生器(20)と、
前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調部(35)と、
前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面(60)を表示する表示部(41)と、
前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作部(40)と、
前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御部(42)と、を備え、
前記設定画面は、
前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力部(71~74)と、
前記変調用信号の波形のパターンを第1パターンから第2パターンに切り替えるためのパターン切替入力部(67)と、を含み、
前記変調制御部は、前記操作部による前記パターン切替入力部への前記操作入力を契機として、前記変調用信号の波形のパターンを前記第1パターンから前記第2パターンへ切り替えることを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記周波数偏移入力部は、
前記複数の時間区間のうちの第0区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第0周波数偏移入力部(71)と、
前記複数の時間区間のうちの第1区間の最後における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第1周波数偏移入力部(72)と、
前記複数の時間区間のうちの第2区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第2周波数偏移入力部(73)と、
前記複数の時間区間のうちの第3区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第3周波数偏移入力部(74)と、を含むことを特徴とする請求項1に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記設定画面は、
前記変調用信号の波形の変調周波数を設定するための変調周波数入力部(64)と、
前記複数の時間区間のうちのいくつかの時間幅を設定するための時間幅入力部(68~70)と、を更に含み、
前記変調制御部は、前記変調周波数入力部により設定された前記変調周波数と、前記時間幅入力部により設定された前記いくつかの時間幅とに基づいて、前記時間幅入力部により設定されない残りの時間区間の時間幅を算出する時間幅算出部(42a)を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記設定画面は、前記変調用信号の模式的な波形イメージ(76a,76b)を表示する波形イメージ表示領域(76)を更に含み、
前記波形イメージ表示領域は、前記操作部による前記パターン切替入力部への前記操作入力を契機として、前記第1パターンの模式的な波形イメージを前記第2パターンの模式的な波形イメージに切り替えて表示することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記設定画面は、
前記波形イメージ表示領域に表示された前記波形イメージに対応付けて、前記変調用信号の波形において前記周波数偏移を設定可能な箇所を示す周波数偏移設定可能箇所表示部(77)と、
前記波形イメージ表示領域に表示された前記波形イメージに対応付けて、前記変調用信号の波形において前記複数の時間区間の時間幅を設定可能な箇所を示す時間幅設定可能箇所表示部(78)と、を更に含み、
前記周波数偏移入力部及び前記時間幅入力部は、それぞれ前記周波数偏移設定可能箇所表示部及び前記時間幅設定可能箇所表示部の近傍に配置されることを特徴とする請求項4に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記変調制御部は、前記周波数偏移入力部により設定された前記時間区間ごとの周波数偏移と、前記時間幅入力部により設定された前記時間区間ごとの時間幅と、前記時間幅算出部により算出された時間幅とに基づいて、前記時間区間ごとの前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を算出する傾き絶対値算出部(42b)を更に含み、
前記表示部は、前記周波数偏移入力部、前記時間幅入力部、及び前記傾き絶対値算出部により算出された前記傾きの絶対値を、前記設定画面においてリスト形式で表示することを特徴とする請求項3に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。 - 前記表示部は、前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形のグラフを更新して表示する波形表示画面(90)を更に表示することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
- 基準周波数Fcの基準信号を発生する基準信号発生ステップ(S5)と、
変調用信号を発生する変調用信号発生ステップと、
前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調ステップ(S6,S9,S10)と、
前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面(60)を表示する表示ステップ(S1)と、
前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作ステップ(S2)と、
前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御ステップ(S4,S8)と、を備え、
前記操作ステップは、
前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力ステップ(S22~S26)と、
前記変調用信号の波形のパターンを第1パターンから第2パターンに切り替えるためのパターン切替入力ステップと、を含み、
前記変調制御ステップは、前記パターン切替入力ステップでの前記操作入力を契機として、前記変調用信号の波形のパターンを前記第1パターンから前記第2パターンへ切り替えることを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生方法。 - 前記周波数偏移入力ステップは、
前記複数の時間区間のうちの第0区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第0周波数偏移入力ステップ(S22)と、
前記複数の時間区間のうちの第1区間の最後における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第1周波数偏移入力ステップ(S23)と、
前記複数の時間区間のうちの第2区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第2周波数偏移入力ステップ(S24)と、
前記複数の時間区間のうちの第3区間における前記変調用信号の波形の周波数偏移を設定するための第3周波数偏移入力ステップ(S25)と、
前記変調用信号の波形の周波数偏移の最小値を設定するための最小周波数偏移入力ステップ(S26)と、を含むことを特徴とする請求項8に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。 - 前記表示ステップは、前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形のグラフを更新して表示する波形表示画面(90)を更に表示することを特徴とする請求項8及び請求項9に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
- 前記請求項1から請求項7のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生器により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生することを特徴とするパルスパターン発生装置。
- 前記請求項8から請求項10のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生方法により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生するステップ(S32)を含むことを特徴とするパルスパターン発生方法。
- 前記請求項11に記載のパルスパターン発生装置(50)と、
被試験対象(200)を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出部(54)と、を備え、
前記試験信号は、前記パルスパターン発生装置により発生された前記パルスパターン信号であることを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記請求項12に記載のパルスパターン発生方法と、
被試験対象(200)を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップ(S35)と、を含み、
前記試験信号は、前記パルスパターン発生方法により発生された前記パルスパターン信号であることを特徴とする誤り率測定方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021019699A JP7376521B2 (ja) | 2021-02-10 | 2021-02-10 | スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 |
US17/551,874 US11588479B2 (en) | 2021-02-10 | 2021-12-15 | Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021019699A JP7376521B2 (ja) | 2021-02-10 | 2021-02-10 | スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022122458A true JP2022122458A (ja) | 2022-08-23 |
JP7376521B2 JP7376521B2 (ja) | 2023-11-08 |
Family
ID=82704169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021019699A Active JP7376521B2 (ja) | 2021-02-10 | 2021-02-10 | スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11588479B2 (ja) |
JP (1) | JP7376521B2 (ja) |
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-
2021
- 2021-02-10 JP JP2021019699A patent/JP7376521B2/ja active Active
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---|---|
US11588479B2 (en) | 2023-02-21 |
JP7376521B2 (ja) | 2023-11-08 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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