JP2022034645A - スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができるスペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供する。【解決手段】基準信号を発生する基準信号発生源と、変調用信号を発生する変調用信号発生器と、変調用信号で基準信号を周波数変調してＳＳＣ変調信号を発生する変調部と、変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面６０を表示する表示部と、設定画面６０に対する操作入力を受け付ける操作部と、設定画面６０に対する操作入力に応じて変調用信号の波形を制御する変調制御部と、を備え、設定画面６０は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力部６８～７０を含む。【選択図】図７

Description

本発明は、基準信号のスペクトラムを拡散してスペクトラム拡散クロック信号を発生するスペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。

近年、ＩｏＴやクラウドコンピューティングの普及により通信システムは膨大なデータを扱うようになり、通信システムを構成する各種の通信機器のインタフェースは高速化とシリアル伝送化が進んでいる。例えば、ＵＳＢ（登録商標）（Universal Serial Bus）やＰＣＩｅ（登録商標）（Peripheral Component Interconnect Express）などのハイスピードシリアルバス（High Speed Serial Bus）の規格では、ＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine、以下、「リンク状態管理機構」と称する）と呼ばれるステートマシンにより、デバイス間の通信の初期化やリンク速度の調整などが管理されている。また、上記の規格では、電磁両立性（Electro-Magnetic Compatibility：ＥＭＣ）対策として、基準信号のスペクトラムを拡散したスペクトラム拡散クロック（Spread-Spectrum Clocking：ＳＳＣ）によるＳＳＣ変調が採用されている。

そして、通信機器における信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうちビット誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate：ＢＥＲ）が知られている。ＢＥＲを測定する従来の誤り率測定装置は、パルスパターン発生装置（Pulse Pattern Generator：ＰＰＧ）から規格が定める特定パターンを高速に切り替えて出力することによって、被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）が備えるリンク状態管理機構を制御し、特定のステートに遷移させる機能（シーケンスパターン機能）を備えている。なお、ＤＵＴをステート遷移させるパターンは規格で定められており、誤り率測定装置は、それらのパターンの出力順をシーケンスパターン機能により組み合わせて、ＰＰＧからパターンを出力するようになっている。

図１６は、リンク状態管理機構のステート遷移の一例を示しており、ステートとして、L0、L0s、L1、L2、Detect、Polling、Configuration、Disabled、Hot Reset、Loopback、Recoveryが定義されている。

ここで、この種の誤り率測定装置では、ＤＵＴの誤り率測定を行う際に、スペクトラム拡散されたスペクトラム拡散クロック信号（以下、「ＳＳＣ変調信号」とも称する）とデータ信号を用いて所望のパルスパターン信号を発生させてＤＵＴに入力させる必要がある。そのため、所望のスプレッド方式でＳＳＣ変調信号を発生することができるＳＳＣ発生器やパルスパターン発生装置が要求されている。

そして、従来のＳＳＣ発生器やパルスパターン発生装置の内部では、ＳＳＣ変調信号を発生させるために、所定の変調周波数を有する三角波を発生し、この三角波によって所定の基準周波数を有する基準信号を周波数掃引して周波数変調を掛けていた（例えば、特許文献１参照）。

ところで、ＵＳＢ４の規格においては、図１６に示したLoopback（ループバック）ステートなどの定常状態と、定常状態の間の途中の遷移状態であるトレーニング中の状態とでは動作要求が異なる。

図１７（ａ）は、定常状態におけるダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を発生するための変調用信号の波形（三角波）を示しており、縦軸は基準信号の基準周波数に対する周波数偏移を表している。この例では、基準周波数に対する周波数偏移の中心周波数は、基準周波数よりも２５００ｐｐｍほど低くなっている。また、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きは、三角波の１／２周期でその正負が切り替わるが、絶対値は常に一定である。

図１７（ｂ）は、トレーニング中の状態におけるダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を発生するための変調用信号の波形を示しており、縦軸は基準信号の基準周波数に対する周波数偏移を表している。この変調用信号の波形の前半部分における周波数偏移の傾きは、定常状態と異なり時間変動している。このため、基準周波数に対する周波数偏移の中心周波数は、図１７（ａ）の定常状態の場合よりもδｐｐｍだけ大きく（絶対値が小さく）なっている。なお、トレーニング中の変調用信号の波形の後半部分は、定常状態の三角波と同様である。

近年、通信システムを構成する各種の通信機器の多くは、同期用のクロック信号を伝送せず、データ信号のみを伝送するようになっており、受信側の通信機器は、受信したデータ信号からクロック信号を再生するクロック再生回路を備えている。

トレーニング前の状態において、ＳＳＣ変調が掛かっていない基準信号に基づくパルスパターン信号をＤＵＴに入力している状態から、いきなり定常状態と同等のＳＳＣ変調が掛かった基準信号に基づくパルスパターン信号をＤＵＴに入力してしまうと、ＤＵＴ内のクロック再生回路の入力周波数変動が大きくなる。このため、クロック再生回路内でロックが外れて再生クロックが出力されなくなってしまい、正しくリンクトレーニングが行えなくなる。そこで、ＵＳＢ４などの規格では、ＳＳＣ変調が掛かっていない基準信号にまず、図１７（ｂ）に示すような定常状態でのＳＳＣ変調よりも周波数偏移の少ないＳＳＣ変調を掛けることにより、ＤＵＴ内のクロック再生回路の入力周波数変動を抑えることが要求されている。トレーニングが完了して定常状態へ移行した後は、定常状態でのＳＳＣ変調を基準信号に掛けることが可能になる。

特許第６６０６２１１号公報

特許文献１に開示されたような従来のＳＳＣ発生器は、変調用信号の波形を決定するパラメータとして、変調周波数、変調量（周波数偏移の最大振幅）、スプレッド方式を設定することで、三角波の変調用信号の波形を発生可能となる。しかしながら、ＵＳＢ４のトレーニング中の変調用信号の波形を発生させるには、これらのパラメータの設定だけでは足りないという問題があった。

そこで、トレーニング中の変調用信号の波形を発生するモードと、定常状態の変調用信号の波形を発生するモードとを単純に切り替えるという手法が考えられる。しかしながら、変調用信号の波形の単位時間ｄｔに対する単位周波数偏移ｄｆなどのパラメータ設定が行えないと、トレーニング中の変調用信号の波形の微調整が行えないため、使い勝手が悪いという問題がある。

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができるスペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、基準周波数Ｆｃの基準信号を発生する基準信号発生源と、変調用信号を発生する変調用信号発生器と、前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調部と、前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面を表示する表示部と、前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作部と、前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御部と、を備え、前記設定画面は、前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力部を含む構成である。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための設定画面を表示するため、トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器においては、前記周波数偏移入力部は、前記複数の時間区間のうちの１番目の時間区間における、前記基準周波数Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１を設定するための第１周波数偏移入力部と、前記複数の時間区間のうちの２番目の時間区間における、（１－δ_１）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２を設定するための第２周波数偏移入力部と、前記複数の時間区間のうちの３番目の時間区間における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３を設定するための第３周波数偏移入力部と、を含む構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、設定画面において複数の時間区間ごとにトレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の割合を設定可能とすることで、トレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の傾きを任意に設定することができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器においては、前記変調用信号発生器は、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きに所定のクロック周期を掛けた値を、前記所定のクロック周期ごとに累積加算することで、前記変調用信号を発生する累積加算回路を備え、前記設定画面は、前記累積加算回路により発生される前記変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力部を更に含み、前記第１パターンは、前記傾きの絶対値が所定の一定値である時間区間と、前記傾きの絶対値が前記所定の一定値と異なる時間区間とを含み、前記第２パターンにおける前記傾きの絶対値は常に前記所定の一定値であり、前記変調制御部は、前記操作部によるパターン切替入力部への前記操作入力を契機として、前記第１パターンから前記第２パターンへの切り替えを行う構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、設定画面が、変調用信号発生器により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力部を含むことにより、トレーニング中の変調用信号の波形のパターンから定常状態の変調用信号の波形のパターンへのシームレスな変更を行うことができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器においては、前記設定画面は、前記設定画面に対する前記操作入力に応じた前記変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示領域を更に含む構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、設定画面が、設定画面に対する操作入力に応じた変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示領域を含むことにより、設定画面上で設定される各パラメータに基づいて生成される変調用信号の波形をユーザに直感的に把握させることが可能である。また、波形表示領域は、トレーニング中の変調用信号の波形のイメージと、定常状態の変調用信号の波形のイメージを示すことにより、スペクトラム拡散クロック発生器がどちらの状態のＳＳＣ変調信号を出力しているかをユーザに視覚的に識別させることが可能である。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器においては、前記変調用信号発生器は、前記変調用信号の波形の１／４周期ごとのタイミングで前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す周波数偏移方向情報を出力する周波数偏移方向情報出力部と、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を出力する傾き絶対値出力部と、前記周波数偏移方向情報と前記絶対値を掛け合わせて得られる前記傾きを出力する傾き出力部と、前記傾き出力部から出力された前記傾きに前記所定のクロック周期を掛けた値を、前記累積加算回路に出力する周波数偏移算出部と、を更に備え、前記変調制御部は、前記傾き絶対値出力部から出力される前記絶対値を制御する構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに出力されるパルス信号のタイミングで変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を切り替えるため、所望のスプレッド方式（ダウンスプレッド、センタースプレッド、アッパースプレッドの何れかのスプレッド方式）に応じた変調用信号の波形を生成することができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器においては、前記累積加算回路は、前記変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットする構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器は、変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットするため、累積加算回路の累積加算処理において、変調用信号の波形の１周期ごとに生じるずれが積算されて、変調用信号の波形の周波数偏移の中心周波数が変化してしまうことを防止できる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、基準周波数Ｆｃの基準信号を発生する基準信号発生ステップと、変調用信号を発生する変調用信号発生ステップと、前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調ステップと、前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面を表示部に表示する表示ステップと、前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作ステップと、前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御ステップと、を含み、前記操作ステップは、前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力ステップを含む構成である。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための設定画面を表示するため、トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法においては、前記周波数偏移入力ステップは、前記複数の時間区間のうちの１番目の時間区間における、前記基準周波数Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１を設定するための第１周波数偏移入力ステップと、前記複数の時間区間のうちの２番目の時間区間における、（１－δ_１）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２を設定するための第２周波数偏移入力ステップと、前記複数の時間区間のうちの３番目の時間区間における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３を設定するための第３周波数偏移入力ステップと、を含む構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、設定画面において複数の時間区間ごとにトレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の割合を設定可能とすることで、トレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の傾きを任意に設定することができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法においては、前記変調用信号発生ステップは、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きに所定のクロック周期を掛けた値を、前記所定のクロック周期ごとに累積加算することで、前記変調用信号を発生する累積加算ステップを含み、前記操作ステップは、前記累積加算ステップにより発生される前記変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力ステップを更に含み、前記第１パターンは、前記傾きの絶対値が所定の一定値である時間区間と、前記傾きの絶対値が前記所定の一定値と異なる時間区間とを含み、前記第２パターンにおける前記傾きの絶対値は常に前記所定の一定値であり、前記変調制御ステップは、前記パターン切替入力ステップでの前記操作入力を契機として、前記第１パターンから前記第２パターンへの切り替えを行う構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、設定画面が、変調用信号発生器により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力部を含むことにより、トレーニング中の変調用信号の波形のパターンから定常状態の変調用信号の波形のパターンへのシームレスな変更を行うことができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法においては、前記表示ステップは、前記設定画面に対する前記操作入力に応じた前記変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示ステップを更に含む構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、表示ステップが、設定画面に対する操作入力に応じた変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示ステップを含むことにより、設定画面上で設定される各パラメータに基づいて生成される変調用信号の波形をユーザに直感的に把握させることが可能である。また、波形表示ステップは、トレーニング中の変調用信号の波形のイメージと、定常状態の変調用信号の波形のイメージを示すことにより、スペクトラム拡散クロック発生方法がどちらの状態のＳＳＣ変調信号を出力しているかをユーザに視覚的に識別させることが可能である。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法においては、前記変調用信号発生ステップは、前記変調用信号の波形の１／４周期ごとのタイミングで前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す周波数偏移方向情報を出力する周波数偏移方向情報出力ステップと、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を出力する傾き絶対値出力ステップと、前記周波数偏移方向情報と前記絶対値を掛け合わせて得られる前記傾きを出力する傾き出力ステップと、前記傾き出力ステップから出力された前記傾きに前記所定のクロック周期を掛けた値を、前記累積加算ステップに出力する周波数偏移算出ステップと、を更に含み、前記変調制御ステップは、前記傾き絶対値出力ステップから出力される前記絶対値を制御する構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに出力されるパルス信号のタイミングで変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を切り替えるため、所望のスプレッド方式（ダウンスプレッド、センタースプレッド、アッパースプレッドの何れかのスプレッド方式）に応じた変調用信号の波形を生成することができる。

また、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法においては、前記累積加算ステップは、前記変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットする構成であってもよい。

この構成により、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生方法は、変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットするため、累積加算ステップの累積加算処理において、変調用信号の波形の１周期ごとに生じるずれが積算されて、変調用信号の波形の周波数偏移の中心周波数が変化してしまうことを防止できる。

また、本発明に係るパルスパターン発生装置は、上記のいずれかのスペクトラム拡散クロック発生器により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生する構成である。

この構成により、本発明に係るパルスパターン発生装置は、スペクトラム拡散クロック発生器からのＳＳＣ変調信号と外部から入力されるデータ信号とから所望の繰り返しパターンによるパルスパターン信号を発生することができる。

また、本発明に係るパルスパターン発生方法は、上記のいずれかのスペクトラム拡散クロック発生方法により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生するステップを含む構成である。

この構成により、本発明に係るパルスパターン発生方法は、スペクトラム拡散クロック発生方法からのＳＳＣ変調信号と外部から入力されるデータ信号とから所望の繰り返しパターンによるパルスパターン信号を発生することができる。

また、本発明に係る誤り率測定装置は、上記のパルスパターン発生装置と、被試験対象を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出部と、を備え、前記試験信号は、前記パルスパターン発生装置により発生された前記パルスパターン信号であってもよい。

この構成により、本発明に係る誤り率測定装置は、ＳＳＣ変調信号により変調されたパルスパターン信号を試験信号として用いて、ＤＵＴの誤り率測定を行うことができる。

また、本発明に係る誤り率測定方法は、上記のパルスパターン発生方法と、被試験対象を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップと、を含み、前記試験信号は、前記パルスパターン発生方法により発生された前記パルスパターン信号であってもよい。

この構成により、本発明に係る誤り率測定方法は、ＳＳＣ変調信号により変調されたパルスパターン信号を試験信号として用いて、ＤＵＴの誤り率測定を行うことができる。

本発明は、トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができるスペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供するものである。

本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器の構成を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器が備える変調用信号発生器による定常状態のＳＳＣ変調用の三角波の生成を示す説明図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器が備える変調用信号発生器により発生される変調用信号の波形の一例を示すグラフである。 （ａ）は時間区間ごとの変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値の一例を示す表であり、（ｂ）は可変区間（第２区間）における変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値の一例を示す表である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器が備える変調用信号発生器によるトレーニング中のＳＳＣ変調用の変調用信号の波形の生成を示す説明図であって、（ａ）は第１区間におけるＳＳＣ変調用の変調用信号の波形の生成を示しており、（ｂ）は第２区間におけるＳＳＣ変調用の変調用信号の波形の生成を示している。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器における三角波の変調用信号の波形の設定画面の表示例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器における周期的バーストモード時の設定画面の表示例（その１）を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器における周期的バーストモード時の変調用信号の波形の設定画面の表示例（その２）を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器における連続的モード時の設定画面の表示例を示す図である。 （ａ）は従来の累積加算回路における周期ごとの出力のずれを示す説明図であり、（ｂ）は本発明の第１の実施形態における累積加算回路における周期ごとの出力のずれの補正処理を示す説明図である。 本発明の第１の実施形態に係るＳＳＣ発生器を用いるＳＳＣ発生方法の処理を示すフローチャートである。 図１１のフローチャートにおけるステップＳ２の処理の詳細を示すフローチャートである。 本発明の第２の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態に係る誤り率測定装置が備えるパルスパターン発生装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態に係るパルスパターン発生方法及び誤り率測定方法の処理を示すフローチャートである。 リンク状態管理機構のステート遷移を示す図である。 （ａ）は定常状態におけるダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を発生するための三角波の波形を示すグラフであり、（ｂ）はトレーニング中の状態におけるダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を発生するための変調用信号の波形を示すグラフである。

以下、本発明に係るスペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法の実施形態について図面を用いて説明する。以下では、ＵＳＢ４の規格を例に挙げて説明する。

（第１の実施形態）
図１に示すように、本発明の第１の実施形態に係るスペクトラム拡散クロック発生器（以下、「ＳＳＣ発生器」とも称する）１は、基準信号発生源１０と、変調用信号発生器２０と、変調部３５と、操作部４０と、表示部４１と、制御部４２と、を備える。

基準信号発生源１０は、基準周波数Ｆｃの基準信号（クロック信号）を発生するようになっている。基準周波数Ｆｃは、例えば数ＧＨｚ程度の周波数である。

変調用信号発生器２０は、基準信号に対してＳＳＣ変調を行うための変調用信号を発生するものであり、パルス信号出力部２１と、周波数偏移方向情報出力部２２と、傾き絶対値出力部２３と、傾き出力部２４と、周波数偏移算出部２５と、累積加算回路２６と、を含む。

パルス信号出力部２１は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに、変調周波数情報としてのパルス信号を出力するようになっている。ここで、変調用信号の波形の変調周波数は、ＵＳＢ４の規格の要求では３０～３３ｋＨｚであるが、本実施形態では、例えば２８～３７ｋＨｚの範囲で設定可能である。

周波数偏移方向情報出力部２２は、パルス信号出力部２１から出力されたパルス信号のタイミング、すなわち変調用信号の波形の１／４周期ごとに、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す＋１又は－１の値からなる周波数偏移方向情報を出力するようになっている。例えば、ＵＳＢ４のダウンスプレッドの場合の周波数偏移方向情報は、－１，－１，＋１，＋１となる。

傾き絶対値出力部２３は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を出力するようになっている。この傾きは、ユーザによる操作部４０への操作入力により指定される変調周波数や任意の時間区間ごとの周波数偏移に応じて決まる。

傾き出力部２４は、周波数偏移方向情報出力部２２から出力された周波数偏移方向情報と、傾き絶対値出力部２３から出力された変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を掛け合わせて得られる値、すなわち、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きを出力するようになっている。

周波数偏移算出部２５は、傾き出力部２４から出力された変調用信号の波形の周波数偏移の傾きに所定のクロック周期Ｔｃｌｋを掛けた値を、所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとの周波数偏移として算出し、算出した周波数偏移を累積加算回路２６に出力するようになっている。

累積加算回路２６は、周波数偏移算出部２５により算出された周波数偏移を所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算することで、変調用信号を発生するようになっている。なお、パルス信号出力部２１、周波数偏移方向情報出力部２２、傾き絶対値出力部２３、傾き出力部２４、周波数偏移算出部２５、及び累積加算回路２６には、上記の所定のクロック周期Ｔｃｌｋを与える動作クロックが外部から入力される。

図２は、変調用信号発生器２０による定常状態の変調用信号の波形（三角波）の生成手順を示している。以下、変調用信号発生器２０がＵＳＢ４のダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を発生する場合を例に挙げて説明する。また、変調周波数を３２ｋＨｚ、周波数偏移の振幅を５０００ｐｐｍとする。この場合、周波数偏移の傾きの絶対値は、０．３２ｐｐｍ／ｎｓとなる。

まず、図２の最上段に示すように、パルス信号出力部２１は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに、変調周波数情報としてのパルス信号を出力する。ここで、変調用信号の波形の１周期は３１２５０ｎｓである。

次に、図２の２段目に示すように、周波数偏移方向情報出力部２２は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに－１，－１，＋１，＋１となるダウンスプレッド方式の周波数偏移方向情報を出力する。

次に、傾き絶対値出力部２３は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値として、０．３２ｐｐｍ／ｎｓを出力する。これにより、図２の３段目に示すように、傾き出力部２４は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きとして、－０．３２ｐｐｍ／ｎｓ又は＋０．３２ｐｐｍ／ｎｓを出力する。

次に、周波数偏移算出部２５は、－０．３２×Ｔｃｌｋ又は＋０．３２×Ｔｃｌｋを、所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとの周波数偏移として累積加算回路２６に出力する。累積加算回路２６は、－０．３２×Ｔｃｌｋ又は＋０．３２×Ｔｃｌｋを所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算することで、図２の最下段に示すような変調用信号の波形（三角波）を発生する。

次に、変調用信号発生器２０によるトレーニング中の変調用信号の波形の生成について説明する。例えば、ＵＳＢ４の規格で求められているトレーニング中の変調用信号の波形は、変調周波数３２ｋＨｚにおいて図３に示すようなものである。

ＵＳＢ４の規格では、周波数偏移は、ＳＳＣ変調が開始されるまで－３００～３００ｐｐｍ、ＳＳＣ変調の開始から２００ｎｓ経過したときに－１４００ｐｐｍ、ＳＳＣ変調の開始から１０００ｎｓ経過したときに－２２００ｐｐｍとなっている。

図３の例において、０～３１２５０ｎｓの時間区間を第１区間、３１２５０～６２５００ｎｓの時間区間を第２区間、６２５００～９３７５０ｎｓの時間区間を第３区間、９３７５０～１２５０００ｎｓの時間区間を第４区間と呼ぶことにすると、各時間区間の周波数偏移の傾きの絶対値は、図４（ａ）のように与えられる。

すなわち、第１区間の周波数偏移の傾きの絶対値は０ｐｐｍ／ｎｓである。第２区間の周波数偏移の傾きの絶対値は、０～２／４周期で可変、２／４～４／４周期で０．３２ｐｐｍ／ｎｓである。第３区間及び第４区間の周波数偏移の傾きの絶対値は０.３２ｐｐｍ／ｎｓである。つまり、第２区間の２／４周期から第４区間までは、定常状態と同様のＳＳＣ変調が行われる。なお、トレーニング中は、上記の第１区間から第４区間までの波形パターンが繰り返されることになる。

図４（ｂ）は、可変区間である第２区間の０～２／４周期の周波数偏移の傾きの絶対値の一例を示している。すなわち、第２区間の０～２００ｎｓの周波数偏移の傾きの絶対値は７ｐｐｍ／ｎｓである。第２区間の２００ｎｓ～１０００ｎｓの周波数偏移の傾きの絶対値は１ｐｐｍ／ｎｓである。第２区間の１０００ｎｓ～２／４周期の周波数偏移の傾きの絶対値は約０.１９１ｐｐｍ／ｎｓである。ここで、０．１９１は、小数点第４位で四捨五入をした値である。

図５（ａ）は、変調用信号発生器２０によるトレーニング中の第１区間の変調用信号の波形の生成手順を示している。

まず、図５（ａ）の最上段に示すように、パルス信号出力部２１は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに、変調周波数情報としてのパルス信号を出力する。

次に、図５（ａ）の２段目に示すように、周波数偏移方向情報出力部２２は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに－１，－１，＋１，＋１となるダウンスプレッド方式の周波数偏移方向情報を出力する。

次に、傾き絶対値出力部２３は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値として、０ｐｐｍを出力する。これにより、図５（ａ）の３段目に示すように、傾き出力部２４は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きとして、０ｐｐｍを出力する。

次に、周波数偏移算出部２５は、０×Ｔｃｌｋを、所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとの周波数偏移として累積加算回路２６に出力する。累積加算回路２６は、０×Ｔｃｌｋを所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算することで、図５（ａ）の最下段に示すような変調用信号の波形を発生する。

図５（ｂ）は、変調用信号発生器２０によるトレーニング中の第２区間の変調用信号の波形の生成手順を示している。

まず、図５（ｂ）の最上段に示すように、パルス信号出力部２１は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに、変調周波数情報としてのパルス信号を出力する。

次に、図５（ｂ）の２段目に示すように、周波数偏移方向情報出力部２２は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに－１，－１，＋１，＋１となるダウンスプレッド方式の周波数偏移方向情報を出力する。

次に、傾き絶対値出力部２３は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値として、図４に示した値、すなわち、０～２００ｎｓで７ｐｐｍ／ｎｓ、２００ｎｓ～１０００ｎｓで１ｐｐｍ／ｎｓ、１０００ｎｓ～２／４周期で約０.１９１ｐｐｍ／ｎｓ、２／４～４／４周期で０．３２ｐｐｍ／ｎｓを出力する。これにより、図５（ｂ）の３段目に示すように、傾き出力部２４は、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きとして、それぞれ－７ｐｐｍ／ｎｓ，－１ｐｐｍ／ｎｓ，約－０．１９１ｐｐｍ／ｎｓ，０．３２ｐｐｍ／ｎｓを出力する。

次に、周波数偏移算出部２５は、－７×Ｔｃｌｋ，－１×Ｔｃｌｋ，約－０．１９１×Ｔｃｌｋ，０．３２ｐｐｍ×Ｔｃｌｋを、所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとの周波数偏移として累積加算回路２６に出力する。累積加算回路２６は、－７×Ｔｃｌｋ，－１×Ｔｃｌｋ，約－０．１９１×Ｔｃｌｋ，０．３２ｐｐｍ×Ｔｃｌｋを所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算することで、図５（ｂ）の最下段に示すような変調用信号の波形を発生する。なお、累積加算回路２６は、第３区間及び第４区間においては、定常状態の三角波と同じ変調用信号の波形を出力する。

図１に示す操作部４０は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部４１の表示画面に対応する入力面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。操作部４０は、ユーザが表示画面に表示されている特定の項目の位置を指やスタイラス等で触れた際に、タッチセンサが表示画面上で検出した位置と項目の位置との一致を認識することにより、各項目に割り当てられた機能を実行するための信号を制御部４２に出力する。すなわち、操作部４０は、表示部に操作可能に表示される。

ユーザによる操作部４０への操作入力により、所望の規格に応じたスペクトラム拡散が施されたＳＳＣ変調信号を発生するために必要な設定情報として、スプレッド方式の選択、変調周波数（例えば３２ｋＨｚ）、基準信号発生源１０から出力される基準信号の基準周波数Ｆｃ、任意の時間区間ごとの周波数偏移（基準周波数Ｆｃに対する変調の割合）などの設定を行うことが可能である。さらに、ユーザによる操作部４０への操作入力により、トレーニング中の変調用信号の波形のパターン（以下、「第１パターン」とも称する）から定常状態の変調用信号の波形のパターン（以下、「第２パターン」とも称する）に切り替えるための切替指示を、変調制御部４２ａから傾き絶対値出力部２３に出力させることも可能である。なお、第１パターンは、周波数偏移の傾きの絶対値が所定の一定値である時間区間と、周波数偏移の傾きの絶対値が上記所定の一定値と異なる時間区間とを含む。一方、第２パターンは、周波数偏移の傾きの絶対値は常に上記所定の一定値である。

表示部４１は、液晶ディスプレイやＣＲＴ等の表示機器で構成され、制御部４２による表示制御に基づき、後述する設定画面６０を含むＳＳＣ発生器１に関する設定項目画面や、設定項目画面において各種条件を設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。

また、図６～図９に示すように、表示部４１は、変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面６０を表示するようになっている。ここで、操作部４０は、設定画面６０に対する操作入力を受け付けるようになっている。

図６は、三角波の変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面６０の一例を示している。設定画面６０は、波形選択部６１と、スプレッド方式選択部６２と、変調周波数入力部６３と、周波数偏移振幅入力部６４と、波形表示領域７１と、を含む。

波形選択部６１は、三角波の変調用信号の波形と、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形とを切り替えるためのプルダウンメニューとして構成される。ここで、波形選択部６１における「Triangular」の表示は、三角波の変調用信号の波形が選択された状態を示している。

スプレッド方式選択部６２は、ダウンスプレッド、センタースプレッド、及びアッパースプレッドの中からスプレッド方式を選択するためのプルダウンメニューとして構成される。ここで、スプレッド方式選択部６２における「Down」の表示は、ダウンスプレッドが選択された状態を示している。

変調周波数入力部６３は、変調用信号の波形の変調周波数を設定するためのテキストボックスとして構成される。ＵＳＢ４の規格の要求では変調周波数の範囲は３０～３３ｋＨｚであるが、変調周波数入力部６３は、波形選択部６１の選択結果にかかわらず、例えば２８～３７ｋＨｚの範囲で変調周波数を設定可能である。

周波数偏移振幅入力部６４は、変調用信号の波形の周波数偏移の振幅（最大振幅）を設定するためのテキストボックスとして構成される。周波数偏移振幅入力部６４は、波形選択部６１の選択結果にかかわらず、任意の振幅を設定可能である。

波形表示領域７１は、波形選択部６１、スプレッド方式選択部６２、変調周波数入力部６３、及び周波数偏移振幅入力部６４に対する操作入力に応じて決定された各パラメータに基づいた、三角波の変調用信号の波形のイメージを表示する。また、波形表示領域７１は、上記の各部により決定された各パラメータの変更に応じて、表示する変調用信号の波形のイメージをその都度変更するようになっている。このように構成された波形表示領域７１により、各パラメータに基づいて生成される変調用信号の波形をユーザに直感的に把握させることが可能になる。

図７は、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面６０の一例を示している。設定画面６０は、波形選択部６１と、スプレッド方式選択部６２と、変調周波数入力部６３と、周波数偏移振幅入力部６４と、ＳＳＣ変調ボタン６５と、変調選択部６６と、オフセット入力部６７と、第１周波数偏移入力部６８と、第２周波数偏移入力部６９と、第３周波数偏移入力部７０と、波形表示領域７１と、を含む。なお、図６に示した三角波用の設定画面６０と同様の表示及び機能については適宜説明を省略する。

図７において、波形選択部６１における「USB4」の表示はＵＳＢ４用の変調用信号の波形が選択された状態を示している。なお、図６に示したように、波形選択部６１において「Triangular」が選択された場合には、ＳＳＣ変調ボタン６５、変調選択部６６、オフセット入力部６７、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０は、設定画面６０に表示されないようになっている。

スプレッド方式選択部６２は、波形選択部６１で「USB4」が選択されている場合には、自動的に「Down」を表示してダウンスプレッドを選択するようになっている。一方、図６に示したように、波形選択部６１で「Triangular」が選択されている場合には、スプレッド方式選択部６２は、センタースプレッドやアッパースプレッドも選択可能に表示するようになっている。

ＳＳＣ変調ボタン６５は、変調用信号発生器２０の累積加算回路２６によるＵＳＢ４用の変調用信号の波形の発生の開始又は停止を指示するためのボタンとして構成される。ＳＳＣ変調ボタン６５における「START」の表示は、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形の発生が開始されていない状態を示している。「START」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が操作部４０により押下されることで、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形の発生が開始される。このとき、図８に示すように、ＳＳＣ変調ボタン６５における「START」の表示が「STOP」に切り替わる。すなわち、図８に示すＳＳＣ変調ボタン６５における「STOP」の表示は、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形の発生が開始された状態を示している。「STOP」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が操作部４０により押下されることで、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形の発生が停止され、基準信号発生源１０から出力される基準信号にＳＳＣ変調が掛からない状態に戻る。

変調選択部６６は、累積加算回路２６により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力部を構成する。変調選択部６６は、ＵＳＢ４のトレーニング中の変調用信号の波形のパターンを繰り返し出力する周期的バーストモードと、ＵＳＢ４のトレーニング中の変調用信号の波形を１周期分出力した後に、定常状態の三角波の変調用信号の波形のパターンを繰り返し出力する連続的モードとを切り替えるためのプルダウンメニューとして構成される。変調選択部６６における「Periodic Burst」の表示は周期的バーストモードを示しており、変調選択部６６における「Continuous」の表示は連続的モードを示している。波形選択部６１で「USB4」が選択されている場合には、操作部４０により変調選択部６６の表示が「Periodic Burst」から「Continuous」に切り替えられることで、周期的バーストモードから連続的モードへのシームレスな変更が可能である。

オフセット入力部６７は、基準周波数Ｆｃのオフセットを累積加算回路２６に設定するためのテキストボックスとして構成される。ここで、基準周波数Ｆｃのオフセットとは、図３に示すようなトレーニング中の変調用信号の波形において、第１区間の周波数偏移と、第２区間以降の周波数偏移の最大値を表している。既に述べたように、ＵＳＢ４の規格の要求では、基準周波数Ｆｃのオフセットを－３００～３００ｐｐｍの範囲で任意に設定可能であるが、オフセット入力部６７により、周波数偏移を例えば－１０００～１０００ｐｐｍの範囲で設定可能である。このように、基準周波数Ｆｃのオフセットを規格の要求よりも拡張することで、ＤＵＴの周波数偏移に対する耐性を試験するためのＳＳＣ変調信号の発生も可能になる。

第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力部を構成する。なお、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０により設定される周波数偏移の和は、周波数偏移振幅入力部６４により設定される周波数偏移の振幅に等しくなる必要がある。このため、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０のうち、いずれか２つに操作部４０により値が入力されると、残りの１つの設定値が自動的に設定されるようになっている。

第１周波数偏移入力部６８は、複数の時間区間のうちの１番目の時間区間における、基準周波数Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１を設定するためのテキストボックスとして構成される。ここで、１番目の時間区間とは、波形表示領域７１に表示された変調用信号の波形において、周波数偏移が基準周波数Ｆｃから（１－δ_１）Ｆｃまで変化する時間区間であり、第２区間の最初の２００ｎｓを指している。この第１周波数偏移入力部６８により、周波数偏移の割合δ_１を例えば１４００±２００ｐｐｍの範囲で設定可能である。

第２周波数偏移入力部６９は、複数の時間区間のうちの２番目の時間区間における、（１－δ_１）Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２を設定するためのテキストボックスとして構成される。ここで、２番目の時間区間とは、波形表示領域７１に表示された変調用信号の波形において、周波数偏移が（１－δ_１）Ｆｃから（１－δ_１－δ_２）Ｆｃまで変化する時間区間であり、第２区間の２００～１０００ｎｓまでを指している。

第３周波数偏移入力部７０は、複数の時間区間のうちの３番目の時間区間における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３を設定するためのテキストボックスとして構成される。ここで、３番目の時間区間とは、波形表示領域７１に表示された変調用信号の波形において、周波数偏移が（１－δ_１－δ_２）Ｆｃから（１－δ_１－δ_２－δ_３）Ｆｃまで変化する時間区間であり、第２区間の１０００～１５６２５ｎｓまでを指している。この第３周波数偏移入力部７０により、周波数偏移の割合δ_３を例えば２８００±２００ｐｐｍの範囲で設定可能である。

なお、図７～図９は、周波数偏移振幅入力部６４により５０００ｐｐｍの周波数偏移の振幅、第１周波数偏移入力部６８により１４００ｐｐｍの周波数偏移、第３周波数偏移入力部７０により２８００ｐｐｍの周波数偏移がそれぞれ設定されたことにより、第２周波数偏移入力部６９が自動的に８００ｐｐｍの周波数偏移を設定する例を示している。

波形表示領域７１は、波形選択部６１、スプレッド方式選択部６２、変調周波数入力部６３、周波数偏移振幅入力部６４、変調選択部６６、オフセット入力部６７、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０に対する操作入力に応じて決定された各パラメータに基づいた、ＵＳＢ４用の変調用信号の波形のイメージを表示する。また、波形表示領域７１は、上記の各部により決定された各パラメータの変更に応じて、表示する変調用信号の波形をその都度変更するようになっている。このように構成された波形表示領域７１により、各パラメータに基づいて生成される変調用信号の波形をユーザに直感的に把握させることが可能になる。なお、波形表示領域７１は、変調選択部６６により「Periodic Burst」が選択されている場合には、図７及び図８に示すように、周期的バーストモードでのＵＳＢ４用の変調用信号の波形のイメージを表示する。一方、波形表示領域７１は、変調選択部６６により「Continuous」が選択されている場合には、図９に示すように、連続的モードでのＵＳＢ４用の変調用信号の波形のイメージを表示する。

図１に示す制御部４２は、設定画面６０に対する操作入力に応じて、変調用信号の波形の周波数偏移とその傾きを任意の時間区間において任意に制御可能な変調制御部４２ａを含む。例えば、変調制御部４２ａは、傾き絶対値出力部２３から出力される変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を任意の時間区間において任意に制御する。また、変調制御部４２ａは、変調用信号発生器２０を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。

変調制御部４２ａは、変調周波数入力部６３により設定された変調周波数に応じたパルス信号を、パルス信号出力部２１から出力させる。また、変調制御部４２ａは、スプレッド方式選択部６２により設定されたスプレッド方式（ダウンスプレッド、センタースプレッド、アッパースプレッドの何れかのスプレッド方式）に応じて、パルス信号のタイミングで周波数偏移方向情報出力部２２から周波数偏移方向情報を出力させる。

また、変調制御部４２ａは、波形選択部６１、スプレッド方式選択部６２、変調周波数入力部６３、周波数偏移振幅入力部６４、変調選択部６６、オフセット入力部６７、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０により設定された変調周波数や任意の時間区間ごとの周波数偏移の振幅に応じた、時間区間ごとの変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を傾き絶対値出力部２３から出力させる。

さらに、変調制御部４２ａは、操作部４０による変調選択部６６への操作入力を契機として、傾き絶対値出力部２３に切替指示を出力することにより、変調用信号発生器２０により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えることができる。例えば、この切替指示は、操作部４０により変調選択部６６の表示が「Periodic Burst」から「Continuous」に切り替えられた際に、変調制御部４２ａから出力される。

ところで、累積加算回路２６においては、動作クロックの分解能や、使用可能なビット数の制限などによって、変調用信号の波形の１周期ごとの先頭（若しくは最後尾）で出力が元の値に正しく戻らないことが起こり得る。このような場合、図１０（ａ）に示すように、時間の経過とともに元の値からのずれが積算されて、周波数偏移の中心周波数が変化してしまうという問題がある。そこで、累積加算回路２６は、図１０（ｂ）に示すように、パルス信号出力部２１から出力されるパルス信号のタイミングにおける変調用信号の波形の１周期ごとの値を所定値にリセットするようになっている。例えば、累積加算回路２６は、変調用信号の波形の１周期ごとの先頭（若しくは最後尾）の値を－１０００～１０００ｐｐｍの範囲の一定の所定値（例えば、０ｐｐｍ）にリセットしてもよい。

図１に示す変調部３５は、変調用信号発生器２０の累積加算回路２６から出力された変調用信号で基準信号発生源１０から出力された基準信号を周波数変調してＳＳＣ変調信号を発生するものであり、加算器３５ａを含んで構成される。

加算器３５ａは、基準信号発生源１０から入力される基準信号と、変調用信号発生器２０から入力される変調用信号とを加算することにより、周波数をスペクトラム拡散したＳＳＣ変調信号を出力する。

制御部４２は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、ＳＳＣ発生器１を構成する上記各部の動作を制御するものであって、上述の変調制御部４２ａを含む。また、制御部４２は、ＲＯＭ等に記憶された所定のプログラムをＲＡＭに移して実行することにより、変調用信号発生器２０の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、変調用信号発生器２０の少なくとも一部は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、変調用信号発生器２０の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。

以下、本実施形態のＳＳＣ発生器１を用いるスペクトラム拡散クロック発生方法について、図１１及び図１２のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。なお、以下では、波形選択部６１において「USB4」が選択される場合を例に挙げる。

まず、表示部４１は、変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面６０を表示する（表示ステップＳ１）。

次に、操作部４０は、ユーザによる設定画面６０に対する操作入力を受け付ける（ステップＳ２）。例えば、設定画面６０に対する操作入力により、ＳＳＣ変調に関する各種情報、すなわち、所望の規格、スプレッド方式、基準周波数Ｆｃ、変調用信号の波形の変調周波数、任意の時間区間ごとの変調用信号の波形の周波数偏移、周波数偏移の振幅（最大振幅）などの情報が入力される。なお、ステップＳ２と、後述するパターン切替入力ステップ、及び周波数偏移入力ステップは、操作ステップに相当する。

次に、表示部４１は、ステップＳ２における設定画面６０に対する操作入力に応じた変調用信号の波形のイメージを波形表示領域７１に表示する（波形表示ステップＳ３）。

次に、変調制御部４２ａは、ステップＳ２でユーザにより入力された各種情報を、基準信号発生源１０や変調用信号発生器２０に設定する（ステップＳ４）。このステップＳ４は、設定画面６０に対する操作入力に応じて、ステップＳ６以降の処理によって生成される変調用信号の波形の周波数偏移とその傾きの絶対値を、任意の時間区間において任意に制御可能とするためのステップである。なお、ステップＳ４と、後述するステップＳ９は、変調制御ステップに相当する。

次に、基準信号発生源１０は、基準周波数Ｆｃの基準信号を発生する（基準信号発生ステップＳ５）。

次に、「START」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が操作部４０により押下されることで、累積加算回路２６は、周波数偏移算出部２５により算出されたトレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移を所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算して、トレーニング中の変調用信号を発生する（累積加算ステップＳ６）。なお、この累積加算ステップＳ６は、パルス信号出力部２１から出力されるパルス信号のタイミングにおける変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットするようになっている。

次に、変調部３５は、累積加算回路２６から出力された変調用信号で基準信号発生源１０から出力された基準信号を周波数変調してＳＳＣ変調の掛かった信号（ＳＳＣ変調信号）を発生する（変調ステップＳ７）。

次に、制御部４２は、ユーザによる変調選択部６６への操作入力により、周期的バーストモードから連続的モードへの切り替えの指定、すなわち、累積加算回路２６により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替える指定を行うパターン切替入力ステップが実行されたか否かを判断する（ステップＳ８）。一方、パターン切替入力ステップが実行されていない場合には、再びステップＳ６以降の処理が実行される。一方、パターン切替入力ステップが実行された場合には、引き続きステップＳ９の処理が実行される。

ステップＳ９において変調制御部４２ａは、パターン切替入力ステップでの変調選択部６６への操作入力を契機として、変調用信号の波形のパターンの第１パターンから第２パターンへの切り替えを行うための切替指示を傾き絶対値出力部２３に出力する（ステップＳ９）。

次に、累積加算回路２６は、周波数偏移算出部２５により算出された定常状態の変調用信号の波形の周波数偏移を所定のクロック周期Ｔｃｌｋごとに累積加算して、定常状態の変調用信号を発生する（累積加算ステップＳ１０）。なお、この累積加算ステップＳ１０は、パルス信号出力部２１から出力されるパルス信号のタイミングにおける変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットするようになっている。

次に、変調部３５は、累積加算回路２６から出力された変調用信号で基準信号発生源１０から出力された基準信号を周波数変調してＳＳＣ変調信号を発生する（変調ステップＳ１１）。

次に、制御部４２は、「STOP」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が操作部４０により押下されたか否かを判断する（ステップＳ１２）。「STOP」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が押下されていない場合には、再びステップＳ１０以降の処理が実行される。一方、「STOP」が表示された状態のＳＳＣ変調ボタン６５が押下された場合には、制御部４２は、上記一連のスペクトラム拡散クロック発生処理を終了する。

なお、累積加算ステップＳ６，Ｓ１０は、変調用信号を発生する変調用信号発生ステップに相当する。さらに、変調用信号発生ステップは、変調用信号の波形の１／４周期ごとのタイミングで変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す周波数偏移方向情報を出力する周波数偏移方向情報出力ステップと、変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を傾き絶対値出力部２３から出力する傾き絶対値出力ステップと、上記周波数偏移方向情報と上記絶対値を掛け合わせて得られる傾きを傾き出力部２４から出力する傾き出力ステップと、傾き出力部２４から出力された傾きに所定のクロック周期Ｔｃｌｋを掛けた値を、累積加算ステップに出力する周波数偏移算出ステップと、を含む。所望の規格がＵＳＢ４である場合、変調用信号発生ステップは、ダウンスプレッド方式のＳＳＣ変調信号を変調ステップＳ７，Ｓ１１により発生させるための変調用信号の波形を発生する。また、変調制御ステップは、傾き絶対値出ステップから出力される絶対値を制御する。

以下、図１２のフローチャートを参照しながら、図１１のフローチャートにおけるステップＳ２の処理の詳細を説明する。

まず、波形選択部６１、スプレッド方式選択部６２、変調周波数入力部６３、及び周波数偏移振幅入力部６４へのユーザによる操作入力により、変調用信号の波形の種類、スプレッド方式、変調周波数、周波数偏移の振幅（最大振幅）の情報などが入力される（ステップＳ２１）。

次に、制御部４２は、波形選択部６１により選択された変調用信号の波形の種類がＵＳＢ４用の変調用信号の波形であるか否かを判断する（ステップＳ２２）。波形選択部６１により選択された変調用信号の波形の種類がＵＳＢ４用の変調用信号の波形である場合には、引き続きステップＳ２３の処理が実行される。一方、波形選択部６１により選択された変調用信号の波形の種類が三角波の変調用信号の波形である場合には、図１１のフローチャートのステップＳ３以降の処理が実行される。

ステップＳ２３において、オフセット入力部６７へのユーザによる操作入力により、基準周波数Ｆｃのオフセットの情報が入力される（ステップＳ２３）。

次に、第１周波数偏移入力部６８へのユーザによる操作入力により、複数の時間区間のうちの１番目の時間区間（図３の第２区間の最初の２００ｎｓ）における、基準周波数Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１の情報が入力される（第１周波数偏移入力ステップＳ２４）。

次に、第２周波数偏移入力部６９へのユーザによる操作入力により、複数の時間区間のうちの２番目の時間区間（図３の第２区間の２００～１０００ｎｓ）における、（１－δ_１）Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２の情報が入力される（第２周波数偏移入力ステップＳ２５）。

次に、第３周波数偏移入力部７０へのユーザによる操作入力により、複数の時間区間のうちの３番目の時間区間（図３の第２区間の１０００～１５６２５ｎｓ）における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３の情報が入力される（第３周波数偏移入力ステップＳ２６）。

なお、上記のステップＳ２４～Ｓ２６の処理は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力ステップに相当する。

以上説明したように、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための設定画面６０を表示するため、トレーニング中の変調用信号の波形の調整を行う際のユーザビリティの向上を図ることができる。

また、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、設定画面６０において複数の時間区間ごとにトレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の割合を設定可能とすることで、トレーニング中の変調用信号の波形の周波数偏移の傾きを任意に設定することができる。設定画面６０においては、第１周波数偏移入力部６８、第２周波数偏移入力部６９、及び第３周波数偏移入力部７０のうち、いずれか２つに操作部４０により値が入力されると、残りの１つの設定値が自動的に設定されるようになっている。これにより、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、ユーザの設定項目を少なくしてユーザビリティを上げている。

また、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、設定画面６０が、変調用信号発生器２０により発生される変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるための変調選択部６６を含むことにより、トレーニング中の変調用信号の波形のパターンから定常状態の変調用信号の波形のパターンへのシームレスな変更を行うことができる。

また、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、設定画面６０が、設定画面６０に対する操作入力に応じた変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示領域７１を含むことにより、設定画面６０上で設定される各パラメータに基づいて生成される変調用信号の波形をユーザに直感的に把握させることが可能である。また、波形表示領域７１は、トレーニング中の変調用信号の波形のイメージと、定常状態の変調用信号の波形のイメージを示すことにより、ＳＳＣ発生器１がどちらの状態のＳＳＣ変調信号を出力しているかをユーザに視覚的に識別させることが可能である。

また、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、変調用信号の波形の１／４周期ごとに出力されるパルス信号のタイミングで変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を切り替えるため、所望のスプレッド方式（ダウンスプレッド、センタースプレッド、アッパースプレッドの何れかのスプレッド方式）に応じた変調用信号の波形を生成することができる。

また、本実施形態に係るＳＳＣ発生器１は、変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットするため、累積加算回路２６の累積加算処理において、変調用信号の波形の１周期ごとに生じるずれが積算されて、変調用信号の波形の周波数偏移の中心周波数が変化してしまうことを防止できる。

（第２の実施形態）
続いて、本発明の第２の実施形態に係るパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法について、図面を参照しながら説明する。なお、第１の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。

図１３に示すように、第２の実施形態に係る誤り率測定装置１００は、ＤＵＴ２００から送信される被測定信号のＢＥＲを測定するものであって、パルスパターン発生装置５０と、データ記憶部５１と、信号受信部５２と、同期検出部５３と、誤り率算出部５４と、操作部５５と、表示部５６と、制御部５７と、を備える。

データ記憶部５１は、ＲＡＭなどのメモリによって構成され、基準になるデータ信号（低レベル電圧：「０」と高レベル電圧：「１」のデータ）をあらかじめ記憶している。

図１４に示すように、パルスパターン発生装置５０は、スペクトラム拡散されたＳＳＣ変調信号を用いて所望のパルスパターン信号を発生するものであり、第１の実施形態のＳＳＣ発生器１と、パルスパターン発生部２と、を備える。

パルスパターン発生装置５０は、データ記憶部５１から読み込んだデータ信号を、ＳＳＣ発生器１により発生されたＳＳＣ変調信号を用いて変調することにより、パルスパターン信号を生成する。そして、パルスパターン発生装置５０は、このようにして生成されたパルスパターン信号を試験信号としてＤＵＴ２００に送信するようになっている。このとき、ＤＵＴ２００は、パルスパターン発生装置５０から送信されたパルスパターン信号を受信して、受信したパルスパターン信号を被測定信号として信号受信部５２に送信する。

パルスパターン発生部２は、ＳＳＣ発生器１により発生されたＳＳＣ変調信号と、データ記憶部５１から入力されるデータ信号を入力とし、データ信号をＳＳＣ変調信号で変調した所望の繰り返しパターンによるパルスパターン信号を発生するようになっている。例えば、パルスパターン発生部２は、ＤＵＴ２００に入力する既知パターンのパルスパターン信号（試験信号）として、ＳＳＣ変調信号により変調されたＰＲＢＳ（Pseudo-Random Bit Sequence：擬似ランダム・ビット・シーケンス）パターン、繰り返し信号としての０，１の連続パターン、任意のパターンからなるプログラマブルパターンを発生する。

図１３に示す信号受信部５２は、ＤＵＴ２００から送信された被測定信号を受信し、受信した被測定信号を同期検出部５３に出力するようになっている。

同期検出部５３は、データ記憶部５１から読み込んだデータ信号と、信号受信部５２から出力された被測定信号との同期を取るようになっている。そして、同期検出部５３は、同期が取れた状態の被測定信号を誤り率算出部５４に出力する。

誤り率算出部５４は、ＤＵＴ２００を試験するための試験信号の入力に伴ってＤＵＴ２００から出力される被測定信号と試験信号とを比較して、被測定信号の誤り率を算出するものである。例えば、誤り率算出部５４は、同期検出部５３から出力された被測定信号と、データ記憶部５１に記憶されているデータ信号とを順次比較することにより、被測定信号の誤りビットを検出するとともに、被測定信号のＢＥＲを算出するようになっている。

操作部５５は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、第１の実施形態における操作部４０と同様に構成され、ユーザによる表示部５６の表示画面に対応する入力面への接触操作が制御部５７に通知されるようになっている。

表示部５６は、第１の実施形態における表示部４１と同様に構成され、制御部５７による表示制御に基づき、誤り率算出部５４により算出された被測定信号のＢＥＲなどの各種表示内容を表示するようになっている。

制御部５７は、第１の実施形態における制御部４２と同様に構成され、誤り率測定装置１００を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。また、制御部５７は、ＲＯＭ等に記憶された所定のプログラムをＲＡＭに移して実行することにより、誤り率算出部５４の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、誤り率算出部５４の少なくとも一部は、ＦＰＧＡやＡＳＩＣなどのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、誤り率算出部５４の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。

なお、本実施形態における操作部５５、表示部５６、及び制御部５７は、それぞれ第１の実施形態における操作部４０、表示部４１、及び制御部４２を兼ねていてもよい。

ＤＵＴ２００は、リンク状態管理機構を搭載しており、リンク状態管理機構が例えば図１６に示すような任意のステートに遷移した状態で、誤り率測定装置１００から入力された試験信号を誤り率測定装置１００の被測定信号として出力する（折り返す）ようになっている。ＤＵＴ２００が対応する規格の例としては、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１～４、ＵＳＢ３．１～４、ＣＥＩ（Common Electrical Interface）、Ethernet（登録商標）、InfiniBandなどが挙げられる。

ＤＵＴ２００は、信号受信部２１０と、信号送信部２２０と、を含む。さらに、信号受信部２１０は、クロック再生回路２１１と、データ抽出部２１２と、を含む。

クロック再生回路２１１は、誤り率測定装置１００から送信された試験信号から再生クロック信号を生成する。データ抽出部２１２は、クロック再生回路２１１から出力される再生クロック信号を動作クロックとして使用して、誤り率測定装置１００から入力された試験信号のデータを抽出し、抽出したデータを信号送信部２２０に出力する。例えば、データ抽出部２１２は、少なくとも１つの０／１判定器を有しており、各０／１判定器にクロック再生回路２１１からの再生クロック信号が入力されることで、誤り率測定装置１００から送信された試験信号のレベルの判定を再生クロック信号のタイミングで行うことができる。

信号送信部２２０は、データ抽出部２１２により抽出された試験信号のデータを被測定信号として誤り率測定装置１００に出力するようになっている。

以下、本実施形態のパルスパターン発生方法及び誤り率測定方法について、図１５のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。

まず、パルスパターン発生装置５０のＳＳＣ発生器１は、ＳＳＣ変調信号を発生する（ステップＳ３１）。

次に、パルスパターン発生装置５０のパルスパターン発生部２は、データ記憶部５１から読み込んだデータ信号をＳＳＣ変調信号で変調して、所望の繰り返しパターンによるパルスパターン信号を発生する（ステップＳ３２）。

次に、誤り率算出部５４は、ＤＵＴ２００を試験するための試験信号の入力に伴ってＤＵＴ２００から出力される被測定信号と試験信号とを比較して、被測定信号の誤り率を算出する（誤り率算出ステップＳ３３）。ここで、試験信号は、ステップＳ３２により発生されたパルスパターン信号である。

以上説明したように、本実施形態に係るパルスパターン発生装置５０は、ＳＳＣ発生器１からのＳＳＣ変調信号とデータ記憶部５１から入力されるデータ信号とから所望の繰り返しパターンによるパルスパターン信号を発生することができる。

また、本実施形態に係る誤り率測定装置１００は、ＳＳＣ変調信号により変調されたパルスパターン信号を試験信号として用いて、ＤＵＴ２００の誤り率測定を行うことができる。

１ ＳＳＣ発生器
２ パルスパターン発生部
１０ 基準信号発生源
２０ 変調用信号発生器
２２ 周波数偏移方向情報出力部
２３ 傾き絶対値出力部
２４ 傾き出力部
２５ 周波数偏移算出部
２６ 累積加算回路
３５ 変調部
４０ 操作部
４１ 表示部
４２ａ 変調制御部
５０ パルスパターン発生装置
５４ 誤り率算出部
６０ 設定画面
６１ 波形選択部
６２ スプレッド方式選択部
６３ 変調周波数入力部
６４ 周波数偏移振幅入力部
６５ ＳＳＣ変調ボタン
６６ 変調選択部
６７ オフセット入力部
６８ 第１周波数偏移入力部
６９ 第２周波数偏移入力部
７０ 第３周波数偏移入力部
７１ 波形表示領域
１００ 誤り率測定装置
２００ ＤＵＴ

Claims (16)

1. 基準周波数Ｆｃの基準信号を発生する基準信号発生源（１０）と、
   変調用信号を発生する変調用信号発生器（２０）と、
   前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調部（３５）と、
   前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面（６０）を表示する表示部（４１）と、
   前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作部（４０）と、
   前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御部（４２ａ）と、を備え、
   前記設定画面は、前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力部（６８～７０）を含むことを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生器。
2. 前記周波数偏移入力部は、
   前記複数の時間区間のうちの１番目の時間区間における、前記基準周波数Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１を設定するための第１周波数偏移入力部（６８）と、
   前記複数の時間区間のうちの２番目の時間区間における、（１－δ_１）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２を設定するための第２周波数偏移入力部（６９）と、
   前記複数の時間区間のうちの３番目の時間区間における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３を設定するための第３周波数偏移入力部（７０）と、を含むことを特徴とする請求項１に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
3. 前記変調用信号発生器は、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きに所定のクロック周期を掛けた値を、前記所定のクロック周期ごとに累積加算することで、前記変調用信号を発生する累積加算回路（２６）を備え、
   前記設定画面は、前記累積加算回路により発生される前記変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力部（６６）を更に含み、
   前記第１パターンは、前記傾きの絶対値が所定の一定値である時間区間と、前記傾きの絶対値が前記所定の一定値と異なる時間区間とを含み、
   前記第２パターンにおける前記傾きの絶対値は常に前記所定の一定値であり、
   前記変調制御部は、前記操作部によるパターン切替入力部への前記操作入力を契機として、前記第１パターンから前記第２パターンへの切り替えを行うことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
4. 前記設定画面は、前記設定画面に対する前記操作入力に応じた前記変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示領域（７１）を更に含むことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
5. 前記変調用信号発生器は、
   前記変調用信号の波形の１／４周期ごとのタイミングで前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す周波数偏移方向情報を出力する周波数偏移方向情報出力部（２２）と、
   前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を出力する傾き絶対値出力部（２３）と、
   前記周波数偏移方向情報と前記絶対値を掛け合わせて得られる前記傾きを出力する傾き出力部（２４）と、
   前記傾き出力部から出力された前記傾きに前記所定のクロック周期を掛けた値を、前記累積加算回路に出力する周波数偏移算出部（２５）と、を更に備え、
   前記変調制御部は、前記傾き絶対値出力部から出力される前記絶対値を制御することを特徴とする請求項３に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
6. 前記累積加算回路は、前記変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットすることを特徴とする請求項３又は請求項５に記載のスペクトラム拡散クロック発生器。
7. 基準周波数Ｆｃの基準信号を発生する基準信号発生ステップ（Ｓ５）と、
   変調用信号を発生する変調用信号発生ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）と、
   前記変調用信号で前記基準信号を周波数変調してスペクトラム拡散クロック信号を発生する変調ステップ（Ｓ７，Ｓ１１）と、
   前記変調用信号の波形を決定するパラメータを設定するための設定画面（６０）を表示部（４１）に表示する表示ステップ（Ｓ１）と、
   前記設定画面に対する操作入力を受け付ける操作ステップ（Ｓ２）と、
   前記設定画面に対する前記操作入力に応じて、前記変調用信号の波形を制御する変調制御ステップ（Ｓ４，Ｓ９）と、を含み、
   前記操作ステップは、前記変調用信号の波形の周波数偏移を複数の時間区間において任意に設定するための周波数偏移入力ステップ（Ｓ２４～Ｓ２６）を含むことを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生方法。
8. 前記周波数偏移入力ステップは、
   前記複数の時間区間のうちの１番目の時間区間における、前記基準周波数Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_１を設定するための第１周波数偏移入力ステップ（Ｓ２４）と、
   前記複数の時間区間のうちの２番目の時間区間における、（１－δ_１）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_２を設定するための第２周波数偏移入力ステップ（Ｓ２５）と、
   前記複数の時間区間のうちの３番目の時間区間における、（１－δ_１－δ_２）Ｆｃからの前記変調用信号の波形の周波数偏移の割合δ_３を設定するための第３周波数偏移入力ステップ（Ｓ２６）と、を含むことを特徴とする請求項７に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
9. 前記変調用信号発生ステップは、前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きに所定のクロック周期を掛けた値を、前記所定のクロック周期ごとに累積加算することで、前記変調用信号を発生する累積加算ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）を含み、
   前記操作ステップは、前記累積加算ステップにより発生される前記変調用信号の波形のパターンを第１パターンから第２パターンに切り替えるためのパターン切替入力ステップを更に含み、
   前記第１パターンは、前記傾きの絶対値が所定の一定値である時間区間と、前記傾きの絶対値が前記所定の一定値と異なる時間区間とを含み、
   前記第２パターンにおける前記傾きの絶対値は常に前記所定の一定値であり、
   前記変調制御ステップは、前記パターン切替入力ステップでの前記操作入力を契機として、前記第１パターンから前記第２パターンへの切り替えを行うことを特徴とする請求項７又は請求項８に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
10. 前記表示ステップは、前記設定画面に対する前記操作入力に応じた前記変調用信号の波形のイメージを表示する波形表示ステップ（Ｓ３）を更に含むことを特徴とする請求項７から請求項９のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
11. 前記変調用信号発生ステップは、
    前記変調用信号の波形の１／４周期ごとのタイミングで前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの正負を表す周波数偏移方向情報を出力する周波数偏移方向情報出力ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）と、
    前記変調用信号の波形の周波数偏移の傾きの絶対値を出力する傾き絶対値出力ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）と、
    前記周波数偏移方向情報と前記絶対値を掛け合わせて得られる前記傾きを出力する傾き出力ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）と、
    前記傾き出力ステップから出力された前記傾きに前記所定のクロック周期を掛けた値を、前記累積加算ステップに出力する周波数偏移算出ステップ（Ｓ６，Ｓ１０）と、を更に含み、
    前記変調制御ステップは、前記傾き絶対値出力ステップから出力される前記絶対値を制御することを特徴とする請求項９に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
12. 前記累積加算ステップは、前記変調用信号の波形の１周期ごとの先頭の値を所定値にリセットすることを特徴とする請求項９又は請求項１１に記載のスペクトラム拡散クロック発生方法。
13. 前記請求項１から請求項６のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生器により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生することを特徴とするパルスパターン発生装置。
14. 前記請求項７から請求項１２のいずれかに記載のスペクトラム拡散クロック発生方法により発生された前記スペクトラム拡散クロック信号を用いてパルスパターン信号を発生するステップ（Ｓ３２）を含むことを特徴とするパルスパターン発生方法。
15. 前記請求項１３に記載のパルスパターン発生装置（５０）と、
    被試験対象（２００）を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出部（５４）と、を備え、
    前記試験信号は、前記パルスパターン発生装置により発生された前記パルスパターン信号であることを特徴とする誤り率測定装置。
16. 前記請求項１４に記載のパルスパターン発生方法と、
    被試験対象（２００）を試験するための試験信号の入力に伴って前記被試験対象から出力される被測定信号と前記試験信号とを比較して、前記被測定信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップ（Ｓ３３）と、を含み、
    前記試験信号は、前記パルスパターン発生方法により発生された前記パルスパターン信号であることを特徴とする誤り率測定方法。

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