JP5016663B2 - 誤り率測定装置及び方法 - Google Patents

Description

本発明は、被試験デバイスを介して入力される被測定信号のビット誤り率測定と波形測定・表示を行う誤り率測定装置に係り、特にビット誤り率測定時に設定されるパラメータ値又は波形測定時に設定されるパラメータ値を同期させて操作性の向上を図る誤り率測定装置及び方法に関するものである。

近年、各種のディジタル無線通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル無線通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate）が知られている。

また、試験対象となる光電変換部品等の被試験デバイス（Device Under Test ）に対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する装置として、例えば下記特許文献１に開示されるような誤り率測定装置が公知である。

図５は、下記特許文献１に開示される誤り率測定装置の概略構成図である。図示のように、ビット誤り測定装置１００は、ＲＡＭ等のメモリによって構成されるデータ記憶部１０１、比較データ記憶部１０２、及び位置情報記憶部１０３と、集積回路等によって構成される信号送信部１０４、信号受信部１０５、同期検出部１０６、比較部１０７、表示制御部１０８と、ＣＲＴや液晶ディスプレイ等の表示機器１０９、及びキーボード等の操作部１１０とによって構成され、測定対象２００から受信した入力データと測定対象２００から受信されるべき既知のデータとを比較して誤りビットを測定するビット誤り測定装置１００において、複数のブロックを有する比較データ記憶部１０１と、受信した入力データと既知のデータとを比較し、所定の検出条件で検出される１または複数の検出ビットを含むビット列の比較データを、検出されることに応じて複数のブロックへ順次格納する比較部１０２と、複数のブロックそれぞれに格納された比較データから得られるそれぞれのビット列を、所定の配置条件に従った位置を基準にして並べて表示機器１０３に表示する表示制御部１０４とを備えて構成している。

特開２００７−２７４４７４号公報

ところで、上述した特許文献１の誤り率測定装置を含む従来の誤り率測定装置を用いて被試験デバイスの誤り率を測定した際に、測定結果の異常が発見されると、オシロスコープ等の信号波形を測定・表示する波形測定器を用いて被試験デバイスから入力した被測定信号の波形測定及び表示して原因の究明を行っている。

このように、誤り率測定装置と波形測定器を用いて被試験デバイスの測定を行う場合、被試験デバイスを介して入力される同一の被測定信号を測定しているため、測定に必要な各装置のパラメータ値も同一にする必要がある。しかしながら、従来の装置では各機能が独立して具備されているため、測定を行う際に、その都度各装置に対して同一のパラメータ値を設定し、パラメータ値が同一であるかを確認する必要であり、設定作業が煩雑であった。

また、ユーザによっては、上記のように誤り率測定装置で被試験デバイスの誤り率を測定後に、波形測定器で信号の波形測定・表示を行う事例があるため、誤り率測定装置における誤り率測定機能と波形測定器における波形測定機能とを備える新たな装置の開発が望まれている。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、誤り率測定機能と波形測定機能とを備え、誤り率測定に係るパラメータ値と波形測定に係るパラメータ値と同期させて設定作業の簡便化を図ることのできる誤り率測定装置及び方法を提供することを目的とするものである。

上記した目的を達成するために、請求項１記載の誤り率測定装置は、被試験デバイス２０を介して入力される被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定部１１と、当該被測定信号の波形測定・表示を行う波形測定部１３とを有する誤り率測定装置１であって、
前記誤り率測定部又は前記波形測定部を駆動する際に必要な設定項目毎のパラメータ値を設定するとともに、前記設定したパラメータ値のうち何れか一方の値をトラッキングするためのトラッキングのＯＮ／ＯＦＦ設定をする操作入力部１６と、
該操作入力部で前記誤り率測定部又は前記波形測定部のうちの何れか一方の測定部がトラッキングＯＮ設定されると、他方の測定部のパラメータ値を問い合わせ、この問い合わせたパラメータ値をトラッキングＯＮ設定された測定部に出力する制御部１８と、
前記誤り率測定部がトラッキングＯＮ設定時に、前記制御部が問い合わせた波形測定部のパラメータ値を入力すると、当該波形測定部のパラメータ値を反映して前記誤り率測定部のパラメータ値と同期するように変更する誤り率測定制御部１２と、
前記波形測定部がトラッキングＯＮ設定時に、前記制御部が問い合わせた誤り率測定部のパラメータ値を反映して前記波形測定部のパラメータ値と同期するように変更する波形測定制御部１４と、
を備えたことを特徴とする。

請求項２記載の誤り率測定装置は、請求項１記載の誤り率測定装置において、前記パラメータ値は、少なくともビット誤り率を測定するのに必要なデータレート及びクロックレートを含むことを特徴とする。

請求項３記載の誤り率測定装置は、請求項１又は２記載の誤り率測定装置において、前記何れか一方の測定部がトラッキング設定がＯＮされると、これ以降、一方の測定部のパラメータ値が変更される度に他方の測定部に反映され、双方のパラメータ値が同期することを特徴とする。

請求項４記載の誤り率測定方法は、被試験デバイス２０を介して入力される被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定ステップと、当該被測定信号の波形測定・表示を行う波形測定ステップとを有する誤り率測定方法であって、
前記誤り率測定ステップ又は前記波形測定ステップを駆動する際に必要な設定項目毎のパラメータ値を設定するとともに、前記設定したパラメータ値のうち何れか一方の値をトラッキングするためのトラッキングのＯＮ／ＯＦＦ設定をする操作入力ステップと、
該操作入力ステップで前記誤り率測定ステップ又は前記波形測定ステップのうちの何れか一方の測定ステップがトラッキングＯＮ設定されると、他方の測定ステップのパラメータ値を問い合わせ、この問い合わせたパラメータ値をトラッキングＯＮ設定された測定ステップに出力する制御ステップと、
前記誤り率測定ステップがトラッキングＯＮ設定時に、前記制御ステップが問い合わせた波形測定ステップのパラメータ値を入力すると、当該波形測定ステップのパラメータ値を反映して前記誤り率測定ステップのパラメータ値と同期するように変更する誤り率測定制御ステップと、
前記波形測定ステップがトラッキングＯＮ設定時に、前記制御ステップが問い合わせた誤り率測定ステップのパラメータ値を反映して前記波形測定ステップのパラメータ値と同期するように変更する波形測定制御ステップと、
を含むことを特徴とする。

本発明の誤り率測定装置によれば、被試験デバイスのビット誤り率測定と波形測定・表示を行う際に、双方のパラメータ値を設定する手間が省け、測定処理作業の効率化を図ることができる。

また、誤り率測定部又は波形測定部の何れか一方のトラッキング設定がＯＮされると、これ以降、一方の測定部のパラメータ値が変更された場合に変更したパラメータ値を他方の測定部のパラメータ値に反映して同期させることができるため、パラメータ値を変更した場合であっても、その都度設定変更や確認作業の必要がなく、ユーザビリティが向上する。

本発明に係る誤り率測定装置の装置構成を示す概略ブロック図である。 （ａ）〜（ｃ）同装置における設定項目画面の表示構成例を示す説明図である。 同装置におけるトラッキング設定時の処理動作を示す処理シーケンス図である。 同装置のパラメータ値変更時の処理動作を示す処理シーケンス図である。 従来の誤り率測定装置の装置構成を示す概略ブロック図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術等はすべて本発明の範疇に含まれる。

［装置構成］
まず、本発明に係る誤り率測定装置のシステム構成について、図１、２を参照しながら説明する。

図１に示すように、本例の誤り率測定装置１は、被試験デバイス２０の誤り率の測定と信号波形の測定・表示を行うための装置であり、誤り率測定部１１、誤り率測定制御部１２、波形測定部１３、波形測定制御部１４、信号分割部１５、操作入力部１６、表示部１７、制御部１８を備えている。

誤り率測定部１１は、所定のパルスパターンのテスト信号を被試験デバイス２０に対して送信するパルスパターン発生器（Pulse Pattern Generator ：ＰＰＧ）の機能、送信したテスト信号を被試験デバイス２０を介して受信して誤り率を測定する誤り率検出器（Error Detector：ＥＤ）の機能を有している。誤り率測定部１１は、誤り率測定制御部１２の制御により、操作入力部１６で設定されたパラメータ値に基づき誤り率測定に関する処理を行い、得られた測定結果を誤り率測定制御部１２に出力している。

誤り率測定制御部１２は、誤り率測定側トラッキング設定手段１２ａと、誤り率測定側パラメータ値変更手段１２ｂとを備え、誤り率測定部１１を駆動制御するためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。

誤り率測定側トラッキング設定手段１２ａは、制御部１８からトラッキングＯＮ信号を入力すると、波形測定部１３のパラメータ値をトラッキングするため、トラッキング設定をＯＮに切り替えている。また、誤り率測定側トラッキング設定手段１２ａは、トラッキング設定がＯＮになると、基準とする波形測定部１３のパラメータ値を問い合わせるための問い合わせ信号を制御部１８に出力している。

誤り率測定側パラメータ値変更手段１２ｂは、制御部１８から入力した基準となる波形測定部１３のパラメータ値と誤り率測定部１１のパラメータ値とを比較し、波形測定部１３のパラメータ値と異なる項目があると、波形測定部１３のパラメータ値を反映して該当する項目のパラメータ値を変更している。また、誤り率測定側パラメータ値変更手段１２ｂは、操作入力部１６においてパラメータ値が変更されると、パラメータ値が変更されたことを示すパラメータ値変更信号を制御部１８に出力している。

波形測定部１３は、例えばサンプリングオシロスコープ等のアナログ測定波形をデジタル信号に変換し波形データとしてメモリに取り込むとともに、電圧や電流の値が時間的に変化する事象を離散的にサンプリングして得た波形データに基づき、表示画面上に波形画像を再生表示する機能を備えている。波形測定部１３は、波形測定制御部１４からの制御により、操作入力部１６で設定されたパラメータ値に基づく波形測定に関する処理を行い、得られた波形データを波形測定制御部１４に出力している。

波形測定制御部１４は、波形測定側トラッキング設定手段１４ａと、波形測定側パラメータ値変更手段１４ｂとを備え、波形測定部１３を駆動制御するためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。

波形測定側トラッキング設定手段１４ａは、制御部１８からトラッキングＯＮ信号を入力すると、誤り率測定部１１のパラメータ値をトラッキングするため、トラッキング設定をＯＮに切り替えている。また、波形測定側トラッキング設定手段１４ａは、トラッキング設定がＯＮになると、基準とする誤り率測定部１１のパラメータ値を問い合わせるための問い合わせ信号を制御部１８に出力している。

波形測定側パラメータ値変更手段１４ｂは、制御部１８が問い合わせた基準となる誤り率測定部１１のパラメータ値と、波形測定部１３のパラメータ値とを比較し、誤り率測定部１１のパラメータ値と異なる項目があると、誤り率測定部１１のパラメータ値を反映して該当する項目のパラメータ値を変更している。また、波形測定側パラメータ値変更手段１４ｂは、操作入力部１６においてパラメータ値が変更されると、パラメータ値が変更されたことを示すパラメータ値変更信号を制御部１８に出力している。

信号分割部１５は、被試験デバイス２０を介して入力される被測定信号を所定経路へ分割するディバイダで構成される。信号分割部１５は、制御部１８の制御により、誤り率測定部１１及び波形測定部１３で測定を行う場合に、被試験デバイス２０からの被測定信号を、誤り率測定部１１の誤り率検出器、波形測定部１３との２つの経路に分割している。なお、信号分割部１５は、誤り率測定部１１のみで被試験デバイス２０の測定を行う場合は、被測定信号を分割せずに誤り率測定部１１にのみ出力し、波形測定部１３のみで被試験デバイス２０の測定を行う場合は、被測定信号を分割せずに波形測定部１３のみに出力している。

操作入力部１６は、表示部１７の表示画面に対応する入力面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。操作入力部１６は、ユーザが表示部１７に表示されている設定項目画面のうち、特定の項目の位置を指やスタイラス等で触れることで、タッチセンサが画面上で検出した位置と項目の位置とが一致することを認識し、各項目に割り当てられた機能を実行するための項目選択信号を制御部１８に出力している。

表示部１７は、液晶ディスプレイやＣＲＴ等の表示機器で構成され、制御部１８の表示制御に基づき、誤り率測定部１１に関する設定項目画面や波形測定部１３に関する設定項目画面の表示、誤り率測定部１１や波形測定部１３で得られた測定結果の表示等、誤り率測定装置１の駆動や各種制御に関する表示内容を表示している。

ここで、図２を参照しながら、表示部１７の表示画面上に表示された誤り率測定部１１に関する設定項目画面及び波形測定部１３に関する設定項目画面の表示例と入力操作例について説明する。なお、図示の設定項目画面は、誤り率測定部１１と波形測定部１３を１つずつ備えた装置構成における表示例であり、誤り率測定装置１を駆動する上で必要最小限の設定項目のみを表示した一例であり、装置の仕様や構成内容、使用環境等に応じてユーザ所望の設定項目を任意に追加した画面構成とすることもできる。

本例の誤り率測定装置１における設定項目画面は、図２（ａ）に示すように主に誤り率測定部１１で用いる「Date Clock Rate 」と、主に波形測定部１３で用いる「Pattern Length」に大別され、それぞれに操作入力部１６によるパラメータ値入力項目と選択項目が表示されている。

詳述すると、操作入力部１６によるパラメータ値入力項目として、「Date Clock Rate 」の欄には単位時間に伝送（処理）されるビット数であるデータレートを入力する「Date Rate 」、クロック信号の動作周波数であるクロックレートを入力する「Clock Rate」の項目が、「Pattern Length」の欄には「Length」の項目があり、予め規格に基づいたデフォルト値が設定され、ユーザによって任意の値が設定可能となっている。
また、操作入力部１６からの選択項目としては、トラッキングのＯＮ／ＯＦＦ設定を選択する「Tracking」、基準とする対象が複数あった場合（例えば、誤り率測定部１１を２つ、波形測定部１３を２つ備えた装置構成の場合に、他の３つの測定部を指す）にその対象を選択するための「Master」、クロックレートを入力する補助機能として内部でクロックレートを自動測定するための「Acquire Clock Rate」がある。

なお、図示された画面構成例において、「Date Rate 」及び「Clock Rate」のパラメータ値は、図２（ｂ）に示すように「Date Clock Rate 」側の「Tracking」をＯＮ／ＯＦＦ設定することでトラッキング設定され、一方の測定部のトラッキング設定がＯＮになると他方の測定部のパラメータ値を基準として比較し、異なる項目のパラメータ値を変更する構成である。図示の例では、「Tracking」がＯＮ設定になった状態を示している。
また、「Length」のパラメータ値は、図２（ｃ）に示すように「Pattern Length」側の「Tracking」をＯＮ／ＯＦＦ設定することでトラッキング設定され、一方の測定部がトラッキング設定がＯＮになると他方の測定部のパラメータ値を基準として比較し、異なる項目のパラメータ値を変更する構成である。図示の例では、「Tracking」がＯＮ設定になった状態を示している。
これは、「Date Rate 」及び「Clock Rate」のパラーメータ値は必須の設定項目であるが、「Length」のパラメータ値はユーザが所望する測定内容によっては必須な設定項目とならないためであり、必要に応じてトラッキングＯＮ／ＯＦＦ設定が可能なように別の選択項目として構成している。

制御部１８は、例えばＣＰＵやＲＯＭ、ＲＡＭ等のマイクロコンピュータで構成され、信号分割部１５の信号分割に関する制御、誤り率測定部１１及び波形測定部１３のパラメータ値に関する設定項目画面や測定結果を表示する際の各種表示制御、操作入力部１６からの項目選択信号に応じた処理動作に関する制御の他、誤り率測定装置１を構成する各部の駆動制御を行っている。

また、制御部１８は、表示部１７に表示された設定項目画面におけるトラッキング設定項目が選択されたことを示す項目選択信号を操作入力部１６から入力すると、誤り率測定部１１と波形測定部１３のどちらの設定項目画面のトラッキング設定がＯＮになったかを判別し、選択された側の測定部に対しトラッキングＯＮ信号を出力している。

さらに、制御部１８は、誤り率測定制御部１２から問い合わせ信号を入力すると、波形測定部１３のパラメータ値をトラッキングして誤り率測定部１１のパラメータ値に反映させるため、波形測定部１３にパラメータ値の問い合わせ、問い合わせたパラメータ値を誤り率測定制御部１２に出力している。
同様に、制御部１８は、波形測定制御部１４から問い合わせ信号を入力すると、誤り率測定部１１のパラメータ値をトラッキングして波形測定部１３のパラメータ値に反映させるため、誤り率測定部１１にパラメータ値の問い合わせ、問い合わせたパラメータ値を波形測定制御部１４に出力している。

また、制御部１８は、誤り率測定制御部１２又は波形測定制御部１４の何れか一方からパラメータ値変更信号を入力した際に、この信号を出力した側の測定制御部（例えば波形測定制御部１４）のパラメータ値を問い合わせ、問い合わせたパラメータ値を他方の測定制御部（例えば誤り率測定制御部１２）に出力している。

［処理動作］
次に、上述した誤り率測定装置１における被試験デバイス２０の測定に関する一連の処理動作について、図３、４を参照しながら説明する。ここでは、誤り率測定部１１で被試験デバイス２０の誤り率を測定した後に、波形測定部１３で波形測定・表示を行い、波形測定部１３の項目設定画面からトラッキングの設定を行った場合の処理動作例（図３）、トラッキング設定後に誤り率測定部１１のパラメータ値を変更した場合のの処理動作例（図４）についてそれぞれ説明する。なお、パラメータ値の設定を行う際に用いる設定項目画面の表示構成としては、図２に示す表示例とする。

（トラッキング設定時の処理動作）
まず、図３を参照しながら、トラッキング設定時の処理動作について説明する。ユーザは、誤り率測定装置１におけるパラメータ値を操作入力部１６から入力し、誤り率測定部１１の各種設定項目におけるパラメータ値の設定を行う（ＳＴ１）。次に、誤り率測定制御部１２は、設定したパラメータ値に基づき誤り率測定部１１を制御して、被試験デバイス２０の誤り率を測定する（ＳＴ２）。

ＳＴ２において、誤り率の測定が終了すると、次に操作入力部１６を所定操作し、図２（ｂ）に示すように表示部１７に表示された波形測定部１３用の設定項目画面における「Date Clock Rate 」側の「Tracking」をＯＮに設定する（ＳＴ３）。波形測定部１３がトラッキング設定がＯＮ状態になると、波形測定制御部１４は制御部１８に問い合わせ信号を出力する（ＳＴ４）。そして、制御部１８は、入力した問い合わせ信号に基づき誤り率測定部１１にパラメータ値を問い合わせ（ＳＴ５）、問い合わせたパラメータ値を波形測定部１３に出力する（ＳＴ６）。

波形測定部１３は、制御部１８から出力された誤り率測定部１１のパラメータ値と、自身のパラメータ値とを比較し、異なる項目があった場合は、誤り率測定部１１のパラメータ値に基づき該当する項目のパラメータ値を変更する（ＳＴ７）。これにより、トラッキングした誤り率測定部１１のパラメータ値を波形測定部１３のパラメータ値に反映して同期させている。

（パラメータ値変更時の処理動作）
次に、図４を参照しながらパラメータ値変更時の処理動作について説明する。ユーザは、操作入力部１６を所定操作して誤り率測定部１１のパラメータ値を変更する（ＳＴ１１）。誤り率測定部１１のパラメータ値が変更されると、誤り率測定部１１から制御部１８にパラメータ値変更信号を出力する（ＳＴ１２）。そして、制御部１８は、入力したパラメータ値変更信号に基づき誤り率測定部１１にパラメータ値を問い合わせ（ＳＴ１３）、問い合わせたパラメータ値を波形測定部１３に出力する（ＳＴ１４）。

波形測定部１３は、制御部１８から出力された誤り率測定部１１のパラメータ値と、自身のパラメータ値とを比較し、異なる項目があった場合は、誤り率測定部１１のパラメータ値に基づき該当する項目のパラメータ値を変更する（ＳＴ１５）。
以降、誤り率測定部１１又は波形測定部１３の何れか一方のパラメータ値に変更があった場合は、上記処理を行うことで、誤り率測定部１１及び波形測定部１３の双方のパラメータ値を同期させている。

以上説明したように、上述した誤り率測定装置１は、被試験デバイス２０を介して受信した被測定信号の誤り率を測定する誤り率測定部１１と被測定信号の波形測定・表示を行う波形測定部１３を備え、操作入力部１６からの所定操作により誤り率測定部１１又は波形測定部１３の何れか一方の測定部のトラッキング設定がＯＮされると、制御部１８が他方の測定部のパラメータ値の問い合わせをしてトラッキングＯＮ設定された側の測定部に出力する。そして、トラッキングＯＮ設定された側の測定部は、問い合わせをしたパラメータ値をトラッキング設定がＯＮ状態の測定部に反映してパラメータ値の同期を図っている。これにより、被試験デバイス２０を誤り率測定部１１と波形測定部１３の両方で測定する際に、双方のパラメータ値を設定する手間が省け、測定処理作業の効率化を図ることができる。

また、トラッキング設定がＯＮされると、これ以降、誤り率測定部１１又は波形測定部１３の何れか一方のパラメータ値が変更された場合であっても、この変更された側の測定部のパラメータ値を他方の測定部のパラメータ値に反映して同期することができるため、ユーザビリティの向上を図ることができる。

ところで、上述した形態において、操作入力部１６の構成としてタッチパネルを採用し、ユーザが指やスタイラスによって入力操作を行う例で説明したが、これに限定されることはなく、例えば装置筐体に設けられた操作キーやテンキー等のハードキーを操作したり、表示部１７に表示されるソフトキーをマウス等のポインティングデバイスで操作する等の外部入力装置からの外部トリガに基づきトラッキングＯＮ／ＯＦＦ設定やパラメータ値の入力・変更を行う構成とすることもできる。

また、制御部１８によるパラメータ値の問い合わせ方法として、パラメータ値が変更された側からパラメータ値変更信号を入力したことをトリガとしてパラメータ値の問い合わせを行う構成として説明したが、これに限定されることはなく、制御部１８が誤り率測定制御部１２と波形測定制御部１４の各部に対して所定周期でそれぞれパラメータ値の問い合わせ、問い合わせたパラメータ値を他方の測定制御部に出力して変更が必要なパラメータ値のみを変更する構成とすることもできる。この場合、制御部１８は、問い合わせ信号を入力してから被試験デバイス２０の測定が終了するまで間、若しくはトラッキング設定がＯＦＦ状態になるまで、各部に対して所定周期でパラメータ値の問い合わせと出力を行うようにすればよい。

１…誤り率測定装置
１１…誤り率測定部
１２…誤り率測定制御部（１２ａ…誤り率測定側トラッキング設定手段、１２ｂ…誤り率測定側パラメータ値変更手段）
１３…波形測定部
１４…波形測定制御部（１４ａ…波形測定側トラッキング設定手段、１４ｂ…波形測定側パラメータ値変更手段）
１５…信号分割部
１６…操作入力部
１７…表示部
１８…制御部
２０…被試験デバイス

Claims (4)

1. 被試験デバイス（２０）を介して入力される被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定部（１１）と、当該被測定信号の波形測定・表示を行う波形測定部（１３）とを有する誤り率測定装置（１）であって、
   前記誤り率測定部又は前記波形測定部を駆動する際に必要な設定項目毎のパラメータ値を設定するとともに、前記設定したパラメータ値のうち何れか一方の値をトラッキングするためのトラッキングのＯＮ／ＯＦＦ設定をする操作入力部（１６）と、
   該操作入力部で前記誤り率測定部又は前記波形測定部のうちの何れか一方の測定部がトラッキングＯＮ設定されると、他方の測定部のパラメータ値を問い合わせ、この問い合わせたパラメータ値をトラッキングＯＮ設定された測定部に出力する制御部（１８）と、
   前記誤り率測定部がトラッキングＯＮ設定時に、前記制御部が問い合わせた波形測定部のパラメータ値を入力すると、当該波形測定部のパラメータ値を反映して前記誤り率測定部のパラメータ値と同期するように変更する誤り率測定制御部（１２）と、
   前記波形測定部がトラッキングＯＮ設定時に、前記制御部が問い合わせた誤り率測定部のパラメータ値を反映して前記波形測定部のパラメータ値と同期するように変更する波形測定制御部（１４）と、
   を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
2. 前記パラメータ値は、少なくともビット誤り率を測定するのに必要なデータレート及びクロックレートを含むことを特徴とする請求項１記載の誤り率測定装置。
3. 前記何れか一方の測定部がトラッキング設定がＯＮされると、これ以降、一方の測定部のパラメータ値が変更される度に他方の測定部に反映され、双方のパラメータ値が同期することを特徴とする請求項１又は２記載の誤り率測定装置。
4. 被試験デバイス（２０）を介して入力される被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定ステップと、当該被測定信号の波形測定・表示を行う波形測定ステップとを有する誤り率測定方法であって、
   前記誤り率測定ステップ又は前記波形測定ステップを駆動する際に必要な設定項目毎のパラメータ値を設定するとともに、前記設定したパラメータ値のうち何れか一方の値をトラッキングするためのトラッキングのＯＮ／ＯＦＦ設定をする操作入力ステップと、
   該操作入力ステップで前記誤り率測定ステップ又は前記波形測定ステップのうちの何れか一方の測定ステップがトラッキングＯＮ設定されると、他方の測定ステップのパラメータ値を問い合わせ、この問い合わせたパラメータ値をトラッキングＯＮ設定された測定ステップに出力する制御ステップと、
   前記誤り率測定ステップがトラッキングＯＮ設定時に、前記制御ステップが問い合わせた波形測定ステップのパラメータ値を入力すると、当該波形測定ステップのパラメータ値を反映して前記誤り率測定ステップのパラメータ値と同期するように変更する誤り率測定制御ステップと、
   前記波形測定ステップがトラッキングＯＮ設定時に、前記制御ステップが問い合わせた誤り率測定ステップのパラメータ値を反映して前記波形測定ステップのパラメータ値と同期するように変更する波形測定制御ステップと、
   を含むことを特徴とする誤り率測定方法。

Images