JP4468322B2 - ビット誤り測定装置 - Google Patents
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Description
また、特定のパターンを連続して受信することに、試験者等が容易に気付くことができないという問題があった。
この構成により、複数のブロックそれぞれに格納された比較データから得られるビット列を、所定の配置条件に従った位置を基準にして表示するため、誤りビットの前に特定のビットパターンが存在する度合いが高い場合や、特定のビットパターンの後に誤りビットが存在する度合いが高い場合などの見分けが容易にできるようになり、誤りビットが発生する要因を容易に解析することができる。
この構成により、複数のブロックそれぞれに格納された比較データから得られるビット列を、誤りビットに従った位置を基準にして表示するため、誤りビットの前に特定のビットパターンが存在する度合いが高い場合の見分けが容易にできるようになり、誤りビットが発生する要因を容易に解析することができる。
この構成により、複数のブロックそれぞれに格納された比較データから得られるビット列を、所定のビットパターンに従った位置を基準にして表示するため、特定のビットパターンの後に誤りビットが存在する度合いが高い場合の見分けが容易にできるようになり、誤りビットが発生する要因を容易に解析することができる。
この構成により、所定の配置条件に従った位置にあるビットに色付けしたビット列を表示するため、配置条件に従った位置が見やすくなり、誤りビットが発生する要因を容易に解析することができる。
この構成により、誤りビットに色付けしたビット列を表示するため、誤りビットがより見やすくなり、誤りビットが発生する要因を容易に解析することができる。
なお、測定対象9へ信号を送信するのは、ビット誤り測定装置10以外の装置でもよく、測定対象9自身が信号を生成して送信するようになっていてもよい。
10 ビット誤り測定装置
11 データ記憶部
12 信号送信部
13 信号受信部
14 同期検出部
15 比較部
16 比較データ記憶部
17 位置情報記憶部
18 表示制御部
19 表示機器
20 操作部
Claims (4)
- 測定対象(9)から受信した入力データと該測定対象から受信されるべき既知のデータとを比較して誤りビットを測定するビット誤り測定装置において、
複数のブロックを有する比較データ記憶部(16)と、
前記受信した入力データと前記既知のデータとを比較し、検出された誤りビットを含むビット列の比較データを、該検出されることに応じて前記複数のブロックへ順次格納する比較部(15)と、
前記複数のブロックそれぞれに格納された前記比較データから得られるそれぞれの前記ビット列を前記比較部に入力されたビット列にそれぞれ復元し、前記誤りビットに対応した位置を基準にして並べて表示機器(19)に表示する表示制御部(18)とを備えたことを特徴とするビット誤り測定装置。 - 測定対象(9)から受信した入力データと該測定対象から受信されるべき既知のデータとを比較して誤りビットを測定するビット誤り測定装置において、
複数のブロックを有する比較データ記憶部(16)と、
前記受信した入力データと前記既知のデータとを比較し、検出された所定のビットパターンを含むビット列の比較データを、該検出されることに応じて前記複数のブロックへ順次格納する比較部(15)と、
前記複数のブロックそれぞれに格納された前記比較データから得られるそれぞれの前記ビット列を前記比較部に入力されたビット列にそれぞれ復元し、前記所定のビットパターンに対応した位置を基準にして並べて表示機器(19)に表示する表示制御部(18)とを備えたことを特徴とするビット誤り測定装置。 - 前記表示制御部は、前記表示機器に表示させるビットの配色を前記比較部による比較結果に応じて選択することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のビット誤り測定装置。
- 前記表示制御部は、誤って0になったビットと、誤って1になったビットとに対して、互いに異なる色を選択することを特徴とする請求項3に記載のビット誤り測定装置。
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