JP2007274475A - ビット誤り測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定対象9から受信した入力データの誤りビットを検出するビット誤り測定装置10において、入力データの各ビットが誤りビットか否かを検出して記憶する誤りビット検出部22と、受信した入力データの1または連続する複数のビットに対応させた表示ブロックであり、かつ対応させたビットに誤りビットが有るか否かを識別可能にされた表示ブロックを順次複数個並べて表示ブロック列とし、表示ブロック列をさらに順次複数並列に配置したビット表示図を表示機器19に表示する表示処理部23とを備え、表示処理部23は、ビット表示図の幅である表示ブロック列に配置される表示ブロックの個数の変更が指示されたとき、指示された個数に合わせて、複数の表示ブロックを再配置してビット表示図を表示するよう構成する。
【選択図】図1
Description
この構成により、ビット表示図の幅を変更するための指示に応じて、表示ブロックを再配置してビット表示図を表示するため、ビット誤りが繰り返し発生する規則的な現象が起こる場合には、ビット表示図の幅が適切になれば誤りビットが規則的に並んでビット表示図に表示され、誤りビットが発生する要因を容易に解析することを支援できる。
この構成により、ビット表示図に表示されている内容の縮小または拡大を行うことで、誤りビットが発生する要因を容易に解析することを支援できる。
この構成により、それぞれの誤りビットに異なる色付けを行えば、誤りビットの内容を正確に表現することができる。
この構成により、ビット表示図に表示されている内容のうち特定の範囲を選択して拡大することで、誤りビットが発生する要因を容易に解析することを支援できる。
この構成により、通信規格に準拠したのフレームのサイズから導かれる幅を予め決めておき、予め決められた幅に応じて、表示ブロックを再配置してビット表示図を表示するため、ビット誤りが繰り返し発生する規則的な現象が起こる場合には、誤りビットが規則的に並んでビット表示図に表示され、誤りビットが発生する要因を容易に解析することを支援できる。
なお、測定対象9へ信号を送信するのは、ビット誤り測定装置10以外の装置でも良く、測定対象9自身が信号を生成して送信するようになっていても良い。
データ記憶部11、比較データ記憶部16、および幅情報記憶部20は、RAMなどのメモリによって構成され、信号送信部12、信号受信部13、同期検出部14、比較部15、および表示処理部23は、集積回路などによって構成される。
この場合、表示処理部23内の幅情報記憶部20に予めフレームサイズから導かれたビット数が記憶されており、ビット表示図の幅である1つの表示ブロック列に配置される表示ブロックの個数に基づいて、1つの表示ブロックに対応するビットの個数が決定され、それに従ってビット表示図が表示される。
さらに、表示制御部17は、試験者等が操作部21を介してビット表示図に表示されている内容のうち特定の範囲を選択したとき、特定の範囲に対応する入力データの内容を表示するようにしてもよい。
例えば、上述したように図4(A)において領域が選択されると、それに対応した入力データのビットが、図4(C)に示すように1/0表示される。図4(C)の例では、上段に入力データの1〜8番目のビットが、下段に33〜40番目のビットが表示されている。
10 ビット誤り測定装置
11 データ記憶部
12 信号送信部
13 信号受信部
14 同期検出部
15 比較部
16 比較データ記憶部
17 表示制御部
18 表示ブロック特定部
19 表示機器
20 幅情報記憶部
21 操作部
22 誤りビット検出部
23 表示処理部
Claims (5)
- 測定対象(9)から受信した入力データの誤りビットを検出するビット誤り測定装置において、
受信した入力データの各ビットが誤りビットか否かを検出して記憶する誤りビット検出部(22)と、
前記誤りビット検出部で記憶された検出結果を受けて、前記受信した入力データの1または連続する複数のビットに対応させた表示ブロックであり、かつ該対応させたビットに誤りビットが有るか否かを識別可能にされた表示ブロックを順次複数個並べて表示ブロック列とし、該表示ブロック列をさらに順次複数並列に配置したビット表示図を表示機器(19)に表示する表示処理部(23)とを備え、
前記表示処理部は、前記ビット表示図の幅である前記表示ブロック列に配置される表示ブロックの個数の変更が指示されたとき、当該指示された個数に合わせて、前記複数の表示ブロックを再配置して前記ビット表示図を表示することを特徴とするビット誤り測定装置。 - 前記表示処理部は、
前記ビット表示図に表示されている内容の縮小または拡大が指示されたとき、前記表示ブロックに対応する前記受信した入力データの1または連続する複数のビットの数を変更して、前記縮小または拡大の尺度に応じたビット数を1つの前記表示ブロックに対応させて前記ビット表示図を表示することを特徴とする請求項1に記載のビット誤り測定装置。 - 前記誤りビット検出部は、
誤りビットが0を1としていた1の誤りビットか、1を0としていた0の誤りビットかを検出して記憶し、
前記表示処理部は、
前記誤りビット検出部が検出した前記1または0の誤りビットを識別可能にされた前記表示ブロックを配置した前記ビット表示図を前記表示機器に表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のビット誤り測定装置。 - 前記表示処理部は、
前記ビット表示図に表示されている内容のうち特定の範囲が選択されたとき、前記表示ブロックに対応する前記受信した入力データの1または連続する複数のビットの数を変更して、前記特定の範囲を拡大する所定の尺度に応じたビット数を1つの前記表示ブロックに対応させた新たなビット表示図を前記表示機器に表示することを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかに記載のビット誤り測定装置。 - 前記表示処理部は、
受信されるべき前記入力データに対応するビット数を予め記憶し、
前記ビット表示図を前記表示機器に表示するとき、該記憶されたビット数に基づいて前記表示ブロック列に配置される前記個数及び前記表示ブロックに対応されるビット数を決定して、前記ビット表示図を前記表示機器に表示することを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れかに記載のビット誤り測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006099111A JP4662478B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | ビット誤り測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006099111A JP4662478B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | ビット誤り測定装置 |
Publications (2)
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---|---|
JP2007274475A true JP2007274475A (ja) | 2007-10-18 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006099111A Expired - Fee Related JP4662478B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | ビット誤り測定装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP4662478B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022134472A (ja) * | 2021-03-03 | 2022-09-15 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びエラー分布表示方法 |
JP2023039153A (ja) * | 2021-09-08 | 2023-03-20 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びコードワードエラー表示方法 |
JP7520080B2 (ja) | 2022-08-05 | 2024-07-22 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置および誤り率測定方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1146184A (ja) * | 1997-07-28 | 1999-02-16 | Anritsu Corp | ビット誤り測定装置 |
JPH1188303A (ja) * | 1997-09-10 | 1999-03-30 | Advantest Corp | ビットエラーレート測定器 |
JP2001111531A (ja) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Advantest Corp | ビット誤り測定器 |
WO2004032405A1 (en) * | 2002-09-30 | 2004-04-15 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for bit error rate analysis |
JP2004128981A (ja) * | 2002-10-03 | 2004-04-22 | Anritsu Corp | ビット誤り測定システム |
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2006
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1146184A (ja) * | 1997-07-28 | 1999-02-16 | Anritsu Corp | ビット誤り測定装置 |
JPH1188303A (ja) * | 1997-09-10 | 1999-03-30 | Advantest Corp | ビットエラーレート測定器 |
JP2001111531A (ja) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Advantest Corp | ビット誤り測定器 |
WO2004032405A1 (en) * | 2002-09-30 | 2004-04-15 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for bit error rate analysis |
JP2004128981A (ja) * | 2002-10-03 | 2004-04-22 | Anritsu Corp | ビット誤り測定システム |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022134472A (ja) * | 2021-03-03 | 2022-09-15 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びエラー分布表示方法 |
JP7381512B2 (ja) | 2021-03-03 | 2023-11-15 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びエラー分布表示方法 |
JP2023039153A (ja) * | 2021-09-08 | 2023-03-20 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びコードワードエラー表示方法 |
JP7381532B2 (ja) | 2021-09-08 | 2023-11-15 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置及びコードワードエラー表示方法 |
JP7520080B2 (ja) | 2022-08-05 | 2024-07-22 | アンリツ株式会社 | 誤り率測定装置および誤り率測定方法 |
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A621 | Written request for application examination |
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