JP7134928B2 - 基板処理装置、基板キャリア及び基板処理システム - Google Patents
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Description
32÷1.5=21.33サイクルキャリア/日
極端には、最適な生産性を実現するためにマスク層あたりの日数を1~0.7日まで短縮することが非常に望ましいという点、および将来の装置では最大45のマスク層に対応しうるという点が、装置製造業者により示唆されている。予測されているこれらの変化を先の計算例に盛り込んで、キャリアのサイクルタイムについて次の新しい値を計算する。マスク層あたりのプロセス工程数には変更がないものと想定する。
32÷0.7=45.7サイクルキャリア/日
先の計算例に基づき、7年間というキャリアの耐用年数にわたるサイクル数として54,498から116,764サイクルが得られる。つまり、キャリアに対し、31.5分ごとに開閉サイクルが実施される可能性がある。従来のロードポート、キャリア、および両者間のインターフェースでは、予想されるこの動作パラメータを満たすことができない。より堅固なキャリアおよびキャリア-ツール間のインターフェースが望まれていることに関連して(例えば、相当高いサイクル数(×2~×10など)に耐え、それによりキャリア内におよびインターフェース全体において高い清浄度を提供する能力に関して)、従来のロードポートとキャリアで実現可能なことを修正して、各種プロセス工程を実施するさまざまな工程モジュールに基板を移動させるシステムの簡便化と高速化が望まれている。
ス部6と隔離可能な形で連通させることができる(例えば、プロセス部の一部が真空でもよい場合)。代替の実施形態では、FEMは、清浄な空気雰囲気を有することができ、さらに他の代替の実施形態では、処理ツールはFEMを有することができず、プロセス部を基板キャリアと直接インターフェース接続することができる。キャリア100は、後述のように、プロセス部またはキャリア内の気体種類に関係なく、またはプロセス部が真空であるかどうかを問わず、プロセス部6にキャリアを直接インターフェース接続できるよう構成することができる。図1A-1Bに示すように、FEM 4は、基板キャリア100用のインターフェースを有する。ロードポート10と称することもできるこのインターフェースは、ツールに対するウェハ/基板のロードとアンロードを可能にするために、キャリアとFEM 4との、それ故にツール2とのインターフェース接続を可能にする。FEM 4には、プロセス雰囲気を低下させることなく、ツール内にウェハを(ツール外の環境から)ロードできるよう、(後述されるように)所望の環境制御を含めることができる。キャリアは、(プロセス雰囲気と同一でも異なっていてもよい気体種類の例えば清浄な雰囲気内に基板を保持するチャンバを定義することができる。キャリアとロードポートとの間のインターフェースは、以下の詳細な説明のように、プロセス雰囲気を低下させることなく、FEM 4内またはプロセス部6内など、キャリアチャンバおよびプロセス雰囲気間で基板を搬送するクリーントンネルと称することのできるものを定義することができる。
することができる。カップリング110の結合解除は、Zロードをカップリングピン22、24上へと伝達してカップリングピン20Aの結合を解除するための(例えばシャトルまたは他の適切な持ち上げ機構を介した)キャリアのZ’運動により支援することができる。図10は、インターフェース101での嵌合位置にあるキャリアを示す概略平面図である。
もよい一方で、他の代替の実施形態では、キャリアドアとロードポートドアとの間のラッチを解放するために圧力差を使用してもよい。さらに他の代替の実施形態では、アクチュエータを移動させるのに適した態様で、圧力差を適用する、またはアクチュエータの一面を加圧することができる。実現可能なこととして、アクチュエータ5000を作動させるための真空ソースまたは圧力ソースは、例えば上述したキャリアのパージもしくはポンプのためのフローラインまたはドアの動きを収容するためにキャビティ内に位置づけられたレジスタなど、任意の適切なソースからのものとすることができる。他の実施形態では、アクチュエータの直線運動を任意の適切な態様で回転運動に変換することができる。さらに他の代替の実施形態では、アクチュエータに、互いに任意の空間的関係を有する2自由度を備えるために共通のアクチュエータチャンバに接続された2つのブラダーを含めることができる。例えば、第2のブラダーを、基板通路開口部がドアで遮られないように、ドアがドアインターフェース表面と実質的に平行に移動するよう構成しながら、ブラダーの1つを、ドアが基板通路開口部のドアインターフェース表面に対し実質的に垂直に移動するよう構成することができる。
似する一体化された態様でキャリア4100をツールにロードおよびインターフェース接続するためのロードインターフェースまたはロードポートを有することができる。この例示的実施形態における真空搬送ロボット4004Rは、先述のものと類似するクリーントンネルを介して、直接キャリア4100と1つ以上のプロセスモジュール4006、4006Aとの間で基板を取り上げ/載置できる。図18に示す例示的実施形態では、FEMインターフェース4010、4012を介してキャリア内部へと定義され、プロセスモジュール4006、4006A内へと伸展するクリーントンネル4005は、さまざまな長さと構成にすることができる。
結晶成長/腐食の阻止
待ち時間規則の緩和と保管管理の簡便化
空気中からのEtハロゲン、Et有機化合物、および湿気の除去
FAB二次汚染リスクの抑制
低CoO
キャリア環境内および基板上のHF、HCL、VOCなど空中を浮遊する分子汚染物質(AMC)の排除
キャリアおよびキャリア内の基板の汚染環境からの何日にもわたる保護
基板およびキャリアの両方の活性ガスの不活性化保護
POD環境の再生と保護
スペクトル特徴分析での総合的なガス測定
を備えることができる。
Claims (22)
- 基板処理装置であって、
外部雰囲気から処理環境を封止するようにロードポートドアによって封止可能な少なくとも1つの封止可能ロードポート開口部を介して前記基板処理装置の前記処理環境へのアクセスを許容するロードポートであって、前記少なくとも1つの封止可能ロードポート開口部がロードポート開口平面内に配されているロードポートと、
前記ロードポート開口平面に実質的に沿って配されかつ前記ロードポート開口平面を画定し、かつキャリア開口部が配されているキャリアの側部とインターフェースをとるように構成されたロードポートBOLTSインターフェースと、を含み、
前記ロードポートドアは、キャリアドアとインターフェースをとり、
前記ロードポートBOLTSインターフェースは、前記ロードポート開口平面に共通でありかつ前記キャリア開口部が配されている前記キャリアの前記側部と係合する複数の共通動的位置決め機構を有し、前記複数の共通動的位置決め機構は、少なくとも3つの垂直軸内で、前記ロードポートBOLTSインターフェースに対する前記キャリアの動的な反復可能な位置決めを、前記ロードポートドアの閉鎖と独立してもたらすことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記複数の共通動的位置決め機構は、前記ロードポートBOLTSインターフェースと前記キャリア開口部が配されている前記キャリアの前記側部との間のキネマティックカップリングをもたらすように構成されていることを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記複数の共通動的位置決め機構を用いた前記キャリアの位置決めをもたらすように構成されたハンドリングシステムをさらに含むことを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記ロードポートBOLTSインターフェースは、前記キャリアと前記ロードポートBOLTSインターフェースとの接触後に前記キャリアの前記側部と共にシールを形成することを特徴とする基板処理装置。
- 請求項4に記載の基板処理装置であって、前記キャリアの前記側部と前記ロードポートBOLTSインターフェースとの間の前記シールは、前記処理環境と前記キャリアとの間で共有された高真空雰囲気を封止することを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記キャリアドアは、前記キャリアの前記側部と前記ロードポートBOLTSインターフェースとの接触後に、前記ロードポートドアとインターフェースをとるように構成されていることを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記ロードポートBOLTSインターフェースは、前記少なくとも1つの封止可能ロードポート開口部を実質的に囲むフランジを含み、前記フランジは、前記キャリア開口部が配されている前記キャリアの前記側部とインターフェースをとるように構成されていることを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記ロードポートBOLTSインターフェースは、前記少なくとも1つの封止可能ロードポート開口部を実質的に囲むフランジを含み、前記フランジは、キャリアフランジとインターフェースをとるように構成されていることを特徴とする基板処理装置。
- 請求項1に記載の基板処理装置であって、前記処理環境は、前記少なくとも1つの封止可能ロードポート開口部を介して前記処理環境から延在する処理真空を有することを特徴とする基板処理装置。
- 基板処理システムであって、
処理雰囲気を内部に保持する処理セクションと、
前記処理セクションへの搬送のために少なくとも1つの基板を保持する内部容積を形成するシェルを有するキャリアであって、前記シェルは、前記処理セクションの外側の外部雰囲気とは異なる所定の処理真空圧力まで前記内部容積が減圧されることが許容されるように構成されているキャリアと、
前記処理セクションと連通可能に接続されて前記外部雰囲気から前記処理雰囲気を隔離するフロントエンドロードポートと、を有し、
前記フロントエンドロードポートはBOLTSインターフェースを有し、
前記フロントエンドロードポートは、前記キャリアと接続されて、前記キャリアの前記内部容積が減圧されかつ前記キャリアと前記処理セクションとが連通可能に接続されて、前記基板が前記フロントエンドロードポートを介して前記処理セクションにローディングされ、前記所定の処理真空が、前記BOLTSインターフェースを介して前記キャリアの内部容積から前記処理セクションまで拡がるように構成され、
前記キャリアは、前記処理セクションへの搬送のために所定の基板平面内で少なくとも1つの基板を保持するように構成され、
前記キャリアは、前記キャリアの1の側部に閉鎖可能開口部を有し、前記側部は前記開口部の1以上のエッジを構成し、前記側部及び前記閉鎖可能開口部の両方が、前記閉鎖可能開口部の角度が前記基板平面と交差するように、前記基板平面に対して角度を持って前記基板平面に配向されており、
前記フロントエンドロードポートは、前記閉鎖可能開口部を構成する前記キャリアの側部に係合し、前記閉鎖可能開口部とは独立して、前記フロントエンドロードポートへの前記キャリアの動的に反復可能な位置決めをもたらすように構成された動的位置決め機構を備えることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、
前記所定の処理真空圧力は、前記処理雰囲気の圧力であることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、
前記装置は、前記キャリアから真空雰囲気下の前記処理セクションまで直接的に基板を搬送するように構成されていることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、
前記ロードポートは、前記内部容積にガスを導入して前記キャリアを加圧するように構成されていることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、
前記フロントエンドロードポートとは別のキャリアステーションを含み、前記キャリアステーションは、前記キャリアを前記所定の真空圧力まで減圧するかまたはガスの導入によって前記キャリアを加圧するように構成されていることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、
前記キャリアの少なくとも前記シェルが金属で形成されていることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の基板処理システムであって、前記キャリアの前記シェルは、前記シェルの1または複数の側部に配された補強リブを含むことを特徴とする基板処理システム。
- 請求項10に記載の基板処理システムであって、前記ロードポートと前記処理セクションとを連通可能に接続する搬送モジュールを含み、前記搬送モジュールは、前記キャリアと前記処理セクションとの間に形成された内部通路を含み、前記内部通路は実質的に非汚染環境であることを特徴とする基板処理システム。
- 請求項17に記載の基板処理システムであって、前記搬送モジュールを介した搬送のために、前記内部通路を移動しかつ前記基板を保持するように構成された移動自在カートを含むことを特徴とする基板処理システム。
- 請求項18に記載の基板処理システムであって、前記移動自在カートは前記キャリアと前記処理セクションとの間で少なくとも1つの基板を直接搬送するように構成された移送アームを含むことを特徴とする基板処理システム。
- 請求項18に記載の基板処理システムであって、
前記搬送モジュールと前記処理セクションとを接続する移送モジュールを含み、前記移送モジュールは、少なくとも1つの基板を保持しかつ前記少なくとも1つの基板を前記移動自在カートから前記処理セクションに移送するように構成されていることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項17に記載の基板処理システムであって、
前記キャリア及び前記内部通路の圧力は、前記処理セクションの圧力と同一であることを特徴とする基板処理システム。 - 請求項10に記載の処理システムであって、
前記キャリアは可搬式のガス供給源を含み、前記可搬式のガス供給源は、前記キャリアの搬送及び/または保管の間に前記キャリア内の所定の圧力を維持するように構成されていることを特徴とする基板処理システム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US93063407P | 2007-05-17 | 2007-05-17 | |
US60/930,634 | 2007-05-17 | ||
US12/123,391 US9105673B2 (en) | 2007-05-09 | 2008-05-19 | Side opening unified pod |
US12/123,391 | 2008-05-19 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017230940A Division JP6568921B2 (ja) | 2007-05-17 | 2017-11-30 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019197921A JP2019197921A (ja) | 2019-11-14 |
JP7134928B2 true JP7134928B2 (ja) | 2022-09-12 |
Family
ID=42090842
Family Applications (5)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010508635A Active JP6027303B2 (ja) | 2007-05-17 | 2008-05-19 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2014079657A Active JP6324178B2 (ja) | 2007-05-17 | 2014-04-08 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2016154328A Active JP6482506B2 (ja) | 2007-05-17 | 2016-08-05 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2017230940A Active JP6568921B2 (ja) | 2007-05-17 | 2017-11-30 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2019143973A Active JP7134928B2 (ja) | 2007-05-17 | 2019-08-05 | 基板処理装置、基板キャリア及び基板処理システム |
Family Applications Before (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010508635A Active JP6027303B2 (ja) | 2007-05-17 | 2008-05-19 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2014079657A Active JP6324178B2 (ja) | 2007-05-17 | 2014-04-08 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2016154328A Active JP6482506B2 (ja) | 2007-05-17 | 2016-08-05 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
JP2017230940A Active JP6568921B2 (ja) | 2007-05-17 | 2017-11-30 | 側部開口部基板キャリアおよびロードポート |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (5) | JP6027303B2 (ja) |
KR (6) | KR20150140395A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105453246A (zh) | 2013-08-12 | 2016-03-30 | 应用材料公司 | 具有工厂接口环境控制的基板处理系统、装置和方法 |
CN107004624B (zh) | 2014-11-25 | 2020-06-16 | 应用材料公司 | 具有基板载体和净化腔室环境控制的基板处理系统、设备和方法 |
KR102319415B1 (ko) * | 2015-05-22 | 2021-10-28 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 기판 캐리어 도어 어셈블리들, 기판 캐리어들, 및 자기 도어 시일을 포함하는 방법들 |
US10559483B2 (en) * | 2016-08-10 | 2020-02-11 | Lam Research Corporation | Platform architecture to improve system productivity |
US10763134B2 (en) | 2018-02-27 | 2020-09-01 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing apparatus and methods with factory interface chamber filter purge |
JP7181476B2 (ja) * | 2020-10-07 | 2022-12-01 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Efem装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001015576A (ja) | 1999-07-02 | 2001-01-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、処理装置、基板の処理システムおよび搬送方法 |
JP2002520831A (ja) | 1998-07-13 | 2002-07-09 | アシスト テクノロジーズ インコーポレイテッド | 垂直方向インタフェース対応の開放システム |
JP2003168714A (ja) | 2001-12-03 | 2003-06-13 | Kaijo Corp | ウェハー搬送容器用オープナー及びこれを備えたウェハー処理装置 |
JP2005527966A (ja) | 2001-08-31 | 2005-09-15 | アシスト テクノロジーズ インコーポレイテッド | ウェーハエンジン |
US20050232734A1 (en) | 2003-01-27 | 2005-10-20 | Elliott Martin R | Small lot size substrate carriers |
JP2006074033A (ja) | 2004-08-30 | 2006-03-16 | Alcatel | ミニエンバイロメントポッドと装置との間の真空インタフェース |
US20060099054A1 (en) | 2004-08-23 | 2006-05-11 | Friedman Gerald M | Elevator-based tool loading and buffering system |
JP2008511142A (ja) | 2004-08-19 | 2008-04-10 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 低収容力のキャリア及びその使用方法 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4534695A (en) * | 1983-05-23 | 1985-08-13 | Eaton Corporation | Wafer transport system |
JPH02278746A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-15 | Nec Corp | ウェハー保管箱 |
JPH0479347A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-12 | Seiko Epson Corp | ウェハキャリア |
JPH05326679A (ja) * | 1992-05-26 | 1993-12-10 | Hitachi Cable Ltd | 鏡面ウエハ運搬用収納容器 |
JP3364294B2 (ja) * | 1993-10-07 | 2003-01-08 | 株式会社荏原製作所 | 搬送装置および搬送方法 |
US5788304A (en) * | 1996-05-17 | 1998-08-04 | Micron Technology, Inc. | Wafer carrier having both a rigid structure and resistance to corrosive environments |
SG47226A1 (en) * | 1996-07-12 | 1998-03-20 | Motorola Inc | Method and apparatus for transporting and using a semiconductor substrate carrier |
JP3184479B2 (ja) * | 1997-05-21 | 2001-07-09 | ティーディーケイ株式会社 | 真空クリーンボックス、クリーン搬送方法及び装置 |
JP3838786B2 (ja) * | 1997-09-30 | 2006-10-25 | 信越ポリマー株式会社 | 精密基板収納容器及びその位置決め構造並びに精密基板収納容器の位置決め方法 |
KR20000064966A (ko) * | 1997-12-01 | 2000-11-06 | 다이니치쇼지 가부시키가이샤 | 기판의콘테이너및로더 |
JP3916342B2 (ja) * | 1999-04-20 | 2007-05-16 | 信越ポリマー株式会社 | 基板収納容器 |
JP4067720B2 (ja) * | 1999-09-27 | 2008-03-26 | ローツェ株式会社 | 基板移送装置 |
JP3193026B2 (ja) * | 1999-11-25 | 2001-07-30 | 株式会社半導体先端テクノロジーズ | 基板処理装置のロードポートシステム及び基板の処理方法 |
JP2001298075A (ja) * | 2000-04-11 | 2001-10-26 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | Foup構造ならびに基板収納治具搬送装置 |
JP2002368075A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-20 | Tdk Corp | 容器および容器の封止方法 |
US6585470B2 (en) * | 2001-06-19 | 2003-07-01 | Brooks Automation, Inc. | System for transporting substrates |
JP2003092345A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-03-28 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | 基板収納容器、基板搬送システム、保管装置及びガス置換方法 |
JP3697478B2 (ja) * | 2001-08-20 | 2005-09-21 | ソニー株式会社 | 基板の移送方法及びロードポート装置並びに基板移送システム |
JP2003068825A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-07 | Shinko Electric Co Ltd | ロードポート |
JP4389424B2 (ja) * | 2001-12-25 | 2009-12-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体の搬送機構及び処理システム |
JP4168642B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2008-10-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体収納容器体及び処理システム |
US6899765B2 (en) * | 2002-03-29 | 2005-05-31 | Applied Materials Israel, Ltd. | Chamber elements defining a movable internal chamber |
AU2003259203A1 (en) * | 2002-07-22 | 2004-02-09 | Brooks Automation, Inc. | Substrate processing apparatus |
JP2004087781A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置及び真空処理方法 |
JP2004265894A (ja) * | 2003-01-17 | 2004-09-24 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
JP2004282002A (ja) * | 2003-02-27 | 2004-10-07 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置及び基板処理方法 |
US7410340B2 (en) * | 2005-02-24 | 2008-08-12 | Asyst Technologies, Inc. | Direct tool loading |
JP4534876B2 (ja) * | 2005-06-13 | 2010-09-01 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | 被処理物供給装置及び被処理物供給方法 |
JP2007221042A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Tdk Corp | インターフェースシール |
JP5925474B2 (ja) * | 2011-12-06 | 2016-05-25 | 株式会社日立ハイテクマニファクチャ&サービス | ウエハ処理装置 |
-
2008
- 2008-05-19 KR KR1020157033677A patent/KR20150140395A/ko active Search and Examination
- 2008-05-19 KR KR1020167009733A patent/KR101772600B1/ko active IP Right Grant
- 2008-05-19 KR KR1020097026242A patent/KR20100020968A/ko active Search and Examination
- 2008-05-19 KR KR1020187036800A patent/KR102110585B1/ko active IP Right Grant
- 2008-05-19 KR KR1020147020420A patent/KR101613836B1/ko active IP Right Grant
- 2008-05-19 JP JP2010508635A patent/JP6027303B2/ja active Active
- 2008-05-19 KR KR1020177023439A patent/KR101932265B1/ko active IP Right Grant
-
2014
- 2014-04-08 JP JP2014079657A patent/JP6324178B2/ja active Active
-
2016
- 2016-08-05 JP JP2016154328A patent/JP6482506B2/ja active Active
-
2017
- 2017-11-30 JP JP2017230940A patent/JP6568921B2/ja active Active
-
2019
- 2019-08-05 JP JP2019143973A patent/JP7134928B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002520831A (ja) | 1998-07-13 | 2002-07-09 | アシスト テクノロジーズ インコーポレイテッド | 垂直方向インタフェース対応の開放システム |
JP2001015576A (ja) | 1999-07-02 | 2001-01-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、処理装置、基板の処理システムおよび搬送方法 |
JP2005527966A (ja) | 2001-08-31 | 2005-09-15 | アシスト テクノロジーズ インコーポレイテッド | ウェーハエンジン |
JP2003168714A (ja) | 2001-12-03 | 2003-06-13 | Kaijo Corp | ウェハー搬送容器用オープナー及びこれを備えたウェハー処理装置 |
US20050232734A1 (en) | 2003-01-27 | 2005-10-20 | Elliott Martin R | Small lot size substrate carriers |
JP2008511142A (ja) | 2004-08-19 | 2008-04-10 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 低収容力のキャリア及びその使用方法 |
US20060099054A1 (en) | 2004-08-23 | 2006-05-11 | Friedman Gerald M | Elevator-based tool loading and buffering system |
JP2006074033A (ja) | 2004-08-30 | 2006-03-16 | Alcatel | ミニエンバイロメントポッドと装置との間の真空インタフェース |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6324178B2 (ja) | 2018-05-16 |
KR101932265B1 (ko) | 2018-12-24 |
KR20160047589A (ko) | 2016-05-02 |
KR20170098991A (ko) | 2017-08-30 |
JP6027303B2 (ja) | 2016-11-16 |
JP6482506B2 (ja) | 2019-03-13 |
KR20180137047A (ko) | 2018-12-26 |
JP2018032880A (ja) | 2018-03-01 |
KR102110585B1 (ko) | 2020-05-13 |
JP2019197921A (ja) | 2019-11-14 |
JP2014146832A (ja) | 2014-08-14 |
KR20150140395A (ko) | 2015-12-15 |
KR101772600B1 (ko) | 2017-08-29 |
KR20140097594A (ko) | 2014-08-06 |
KR20100020968A (ko) | 2010-02-23 |
KR101613836B1 (ko) | 2016-04-21 |
JP2011512642A (ja) | 2011-04-21 |
JP6568921B2 (ja) | 2019-08-28 |
JP2016195281A (ja) | 2016-11-17 |
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A601 | Written request for extension of time |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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