JP7129312B2 - 不揮発性メモリ装置 - Google Patents

不揮発性メモリ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7129312B2
JP7129312B2 JP2018204654A JP2018204654A JP7129312B2 JP 7129312 B2 JP7129312 B2 JP 7129312B2 JP 2018204654 A JP2018204654 A JP 2018204654A JP 2018204654 A JP2018204654 A JP 2018204654A JP 7129312 B2 JP7129312 B2 JP 7129312B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pull
driver
memory device
type transistors
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018204654A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019087296A (ja
Inventor
知 娟 申
政 燉 任
秉 勳 鄭
廷 ジュン 朴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2019087296A publication Critical patent/JP2019087296A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7129312B2 publication Critical patent/JP7129312B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/04Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
    • G11C16/0483Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/32Timing circuits

Description

本発明は、不揮発性メモリ装置に係り、より詳しくは、データ信号を出力する出力ドライバを含む不揮発性メモリ装置に関する。
メモリ装置は、データ保存に使用され、揮発性メモリ装置と不揮発性メモリ装置とに区分される。不揮発性メモリ装置の一例としてのフラッシュメモリ装置は、携帯電話、デジタルカメラ、携帯用情報端末機(PDA)、移動式コンピュータ装置、固定式コンピュータ装置及びその他装置において使用される。
不揮発性メモリ装置において、データ信号を出力する出力ドライバは、それぞれ複数のトランジスタを含むプルアップドライバ及びプルダウンドライバを含む。
特開2003-233998
本発明が解決しようとする課題は、不揮発性メモリ装置に係り、広範囲な電源電圧が印加される出力ドライバを含む不揮発性メモリ装置を提供することにある。
本発明の技術的思想の一側面による、データ信号を出力する出力ドライバを含む不揮発性メモリ装置において、前記出力ドライバは、複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、複数のN型トランジスタを含むプルダウンドライバと、を含み、前記プルアップドライバは、互いに異なる電圧レベルを有する複数の電源電圧のうち一部が選択的に印加され、前記第1プルアップドライバは、第1電源電圧が印加され、前記第2プルアップドライバは、第2電源電圧が印加される。
本発明の技術的思想の一側面による不揮発性メモリ装置は、データ信号を出力する出力ドライバと、前記出力ドライバを駆動させる複数の駆動信号を生成する駆動信号生成器と、を含み、前記出力ドライバは、複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、複数のN型トランジスタを含むプルダウンドライバと、を含み、前記プルアップドライバは、互いに異なる電圧レベルを有する複数の電源電圧のうち一部が選択的に印加される。
本発明の技術的思想の一側面による不揮発性メモリ装置は、データ信号を出力する出力ドライバと、前記出力ドライバを駆動させる複数の駆動信号を生成する駆動信号生成器と、を含み、前記出力ドライバは、複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、複数のP型トランジスタで構成される第1プルダウンドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルダウンドライバを含む。
本発明による不揮発性メモリ装置は、プルアップドライバに、P型トランジスタ及びN型トランジスタがいずれも含まれ、プルアップドライバに広範囲な電源電圧が印加される。また、不揮発性メモリ装置は、オン抵抗の大きさが一定しており、プルアップドライバに含まれたP型トランジスタ及びN型トランジスタを選択的に駆動し、電力消費が低減され、データ信号の信頼性も確保できる。
本発明の実施形態による不揮発性メモリ装置を示すブロック図である。 図1に図示したデータ出力回路の一実施形態であり、データ出力回路を、さらに詳細に示すブロック図である。 図2に図示した出力ドライバの一実施形態を示す回路図である。 電源電圧の電圧レベルにより、プルアップドライバの駆動方式を比較して説明するための回路図である。 電源電圧の電圧レベルにより、プルアップドライバの駆動方式を比較して説明するための回路図である。 データ出力電圧による、プルアップドライバに含まれたP型トランジスタ及びN型トランジスタに流れる電流の大きさ変化を示すグラフである。 図2に図示した出力ドライバの他の一実施形態を示す回路図である。 データ出力電圧による、プルダウンドライバに含まれたP型トランジスタ及びN型トランジスタに流れる電流の大きさ変化を示すグラフである。 図1に図示したデータ出力回路の他の一実施形態であり、データ出力回路をさらに詳細に示すブロック図である。 図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面である。 図10の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。 図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面である。 図12の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。 図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面である。 図14の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。 図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面である。 図16の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。 本発明の一実施形態による出力ドライバの動作について説明するための図面であり、動作速度によるデータ信号を示すタイミング図である。 本発明の例示的実施形態によるメモリブロックを示す回路図である。 本発明の例示的実施形態によるメモリセルアレイに含まれたメモリブロックの他例(BLK0‘)を示す回路図である。 図20のメモリブロックBLK0’を示す斜視図である。 本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置を具備するコンピューティングシステム装置を示す図面である。
図1は、本発明の実施形態による不揮発性メモリ装置を示すブロック図である。
図1を参照すれば、不揮発性メモリ装置1は、メモリセルアレイ20、ロウデコーダ30、ページバッファ回路40、電圧生成部50、データ入出力回路10及び制御ロジック60を含む。しかし、不揮発性メモリ装置1の構成は、これに限定されるものではなく、他の構成要素をさらに含んでもよい。
不揮発性メモリ装置1は、NANDフラッシュメモリ(NAND flash memory)、垂直型NANDフラッシュメモリ(VNAND:vertical NAND)、NORフラッシュメモリ(NOR flash memory)、抵抗性RAM(RRAM(登録商標):resistive random access memory)、相変化メモリ(PRAM:phase-change memory)、磁気抵抗メモリ(MRAM:magnetoresistive random access memory)、強誘電体メモリ(FRAM(登録商標):ferroelectric random access memory)、スピン注入磁化反転メモリ(STT-RAM:spin transfer torque random access memory)などを含む。不揮発性メモリ装置1は、三次元アレイ構造により具現される。以下、説明の便宜のために、不揮発性メモリ装置1がNANDフラッシュメモリ装置であると仮定して説明するが、これに制限されるものではない。
メモリセルアレイ20は、複数のメモリブロックを含む。該メモリブロックは、複数のメモリセルを含む。例えば、複数のメモリセルは、1ビットデータを保存するシングルレベルセル(SLC:single level cell)であり、他の一部メモリセルは、マルチレベルセル(MLC:multi level cell)である。
メモリセルアレイ20は、ワードラインWLs、ストリング選択ラインSSL及び接地選択ラインGSLを介して、ロウデコーダ30に連結され、ビットラインBLsを介して、ページバッファ回路40に連結される。メモリセルアレイ20は、ビットラインBLsに連結されたストリングを含んでもよい。ここで、該ストリングそれぞれは、ビットラインと共通ソースライン(CSL:common source line)との間で直列連結された少なくとも1つのストリング選択トランジスタ、複数のメモリセル、少なくとも1つの接地選択トランジスタを含んでもよい。該ストリングそれぞれは、ストリング選択トランジスタとメモリセルとの間で、少なくとも1つのダミーセルと、接地選択トランジスタとメモリセルとの間で、少なくとも1つのダミーセルをさらに含んでもよい。メモリセルアレイ20は、図19乃至図21を参照してさらに詳細に説明する。
図1を参照すれば、不揮発性メモリ装置1が、メモリセルアレイ20を一つ含むように図示しているが、これに制限されるものではない。例えば、不揮発性メモリ装置1は、複数のメモリセルアレイ20を含んでもよい。
ロウデコーダ30は、ロウアドレスX-ADDRを基に、ワードラインWLsのうちの一部のワードラインを選択する。ロウデコーダ30は、ワードラインに、ワードライン電圧を伝達する。プログラム動作時、ロウデコーダ30は、選択されたワードラインに、プログラム電圧と検証電圧とを印加し、非選択のワードラインには、プログラムインヒビット(inhibit)電圧を印加する。読み取り動作時、ロウデコーダ30は、選択ワードラインには、読み取り電圧を印加し、非選択のワードラインには、読み取りインヒビット電圧を印加する。また、ロウデコーダ30は、ロウアドレスX-ADDRを基に、ストリング選択ラインSSLのうちの一部のストリング選択ライン、または接地選択ラインGSLのうちの一部の接地選択ラインを選択する。
ページバッファ回路40は、ビットラインBLsを介して、メモリセルアレイ20に連結され、制御ロジック60から受信したページバッファ制御信号CTRL_PBに応答し、プログラム動作または読み取り動作を遂行する。ページバッファ回路40は、デコーディングされたカラムアドレスを利用してビットラインBLsを選択することにより、データラインDLsに連結する。
ページバッファ回路40は、プログラム動作時、プログラムされるデータを保存したり、読み取り動作時、読み取られたデータを保存する複数のページバッファを含む。複数のページバッファそれぞれは、複数のラッチを含む。プログラム動作時、ページバッファに保存されたデータは、ビットラインBLsを介して選択されたメモリブロックに対応するページにプログラムされる。読み取り動作時、選択メモリブロックに対応するページから読み取られたデータは、ビットラインBLsを介して、ページバッファに保存される。一方、ページバッファ回路40は、メモリセルアレイ20の第1領域からデータを読み取り、読み取ったデータをメモリセルアレイ20の第2領域に保存することもできる。例えば、ページバッファ回路40は、コピーバック(copy-back)を行うようにも具現される。
電圧生成部50は、電圧制御信号CTRL_volを基にし、メモリセルアレイ20に対するプログラム動作、読み取り動作及び消去動作を遂行するための多種の電圧を生成する。例えば、電圧生成部50は、ワードラインWLsを駆動するためのワードライン駆動電圧VWLを生成する。このとき、ワードライン駆動電圧VWLは、プログラム電圧(または、書き込み電圧)、読み取り電圧、消去電圧、インヒビット電圧またはプログラム検証(verify)電圧でもある。図示していないが、電圧生成部50は、複数のストリング選択ラインSSLを駆動するためのストリング選択ライン駆動電圧VSSL、及び複数の接地選択ラインGSLを駆動するための接地選択ライン駆動電圧VGSLをさらに生成する。
制御ロジック60は、メモリコントローラから受信したコマンドCMD、アドレスADDR及び制御信号CTRLを基に、メモリセルアレイ20にデータを保存したり、メモリセルアレイ20からデータを読み取ったりするための各種内部制御信号を出力する。
制御ロジック60は、不揮発性メモリ装置1内の各種動作を全般的に制御する。制御ロジック60から出力された各種内部制御信号は、ロウデコーダ30、電圧生成部50、ページバッファ回路40及びデータ入出力回路10にも提供される。例えば、制御ロジック60は、ロウデコーダ30に、ロウアドレスX-ADDRを提供し、電圧生成部50に、電圧制御信号CTRL_volを提供し、ページバッファ回路40に、ページバッファ制御信号CTRL_PBを提供する。制御ロジック60は、クロック信号を発生させるクロック発生器をさらに含む。
制御ロジック60は、データ入出力回路10に、出力制御信号CTRL_Oを提供する。出力制御信号CTRL_Oは、不揮発性メモリ装置1に使用される電源電圧のレベルに係る情報、及び不揮発性メモリ装置1の動作周波数に係る情報(例えば、クロック信号)を含む。
データ入出力回路10は、データラインDLsを介して、少なくとも1つのページバッファ回路40に連結される。データ読み取り動作時、データ入出力回路10は、ページバッファ回路40に、読み取られたデータを、データラインDLsを介して、外部に出力する。
データ入出力回路10は、制御ロジック60から出力された出力制御信号CTRL_Oによって動作するデータ出力回路100を含む。データ出力回路100は、メモリコントローラにデータ信号DQを伝送するが、詳細な構成と動作は、図2に係る説明で後述する。
図2は、図1に図示したデータ出力回路100の一実施形態であり、データ出力回路100をさらに詳細に示すブロック図である。
図1及び図2を参照すれば、データ出力回路100は、出力ドライバ110及び駆動信号生成器120を含む。データ出力回路100は、データラインDLsを介して、内部データDATAを受信し、制御ロジック60からクロック信号CLKを受信する。
データ出力回路100は、内部データDATAを入力され、制御ロジック60の制御により、データ信号DQを出力する。データ信号DQは、クロック信号CLK及び内部データDATAにより、ハイレベル(high level)とローレベル(low level)とを有する。データ信号DQは、出力ハイレベル電圧と出力ローレベル電圧との間でスイング(swing)するAC形態の信号でもある。
出力ドライバ110は、プルアップ駆動信号OP_Uによって決定される電流を生成するプルアップドライバ111と、プルダウン駆動信号OP_Dによって決定される抵抗値を有するプルダウンドライバ113と、を含む。プルアップドライバ111は、複数のP型トランジスタで構成された第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成された第2プルアップドライバを含む。プルダウンドライバ113は、複数のN型トランジスタで構成されたプルダウントランジスタを含む。出力ドライバ110の詳細な構成と動作は、図3を参照して後述する。
駆動信号生成器120は、内部データDATA及びクロック信号CLKを基に、プルアップ駆動信号OP_U及びプルダウン駆動信号OP_Dを出力する。プルアップ駆動信号OP_Uは、出力ドライバ110のプルアップドライバ111が生成する電流を変更するためのコードであり、プルダウン駆動信号OP_Dは、出力ドライバ110のプルダウンドライバ113に流れる電流の量を変更するためのコードである。従って、駆動信号OP_U及びプルダウン駆動信号OP_Dにより、出力ドライバ110のオン抵抗が調節される。
プルアップドライバ111とプルダウンドライバ113は、相互にターンオンされ、プルアップドライバ111が動作するときには、ハイレベルのデータ信号DQが出力され、プルダウンドライバ113が動作するときには、ローレベルのデータ信号DQが出力される。例えば、駆動信号生成器120は、プルアップドライバ111に含まれたトランジスタをいずれもターンオンさせるプルアップ駆動信号OP_Uを生成すると共に、プルダウンドライバ113に含まれたトランジスタをいずれもターンオフさせるプルダウン駆動信号OP_Dを生成する。
すなわち、駆動信号生成器120は、出力ドライバ110がデータ信号DQを出力するとき、プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113に流れるそれぞれの電流量を調節し、プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113が有するそれぞれの抵抗値を決定する。
図3は、図2に図示した出力ドライバ110の一実施形態を示す回路図である。
図2及び図3を参照すれば、出力ドライバ110は、プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113を含む。
プルアップドライバ111は、第1電源電圧VDDQ_PとノードNとの間に接続される第1プルアップドライバPU、及び第2電源電圧VDDQ_NとノードNとの間に接続される第2プルアップドライバNUを含む。このとき、第1電源電圧VDDQ_P及び第2電源電圧VDDQ_Nは、互いに同一レベルを有するか、または、互いに異なるレベルを有する。例えば、第1電源電圧VDDQ_Pは、第2電源電圧VDDQ_Nより電圧レベルが高くともよい。
第1プルアップドライバPUは、第0プルアップトランジスタPU0乃至第kプルアップトランジスタPUkを含む。このとき、kは、自然数である。第1プルアップドライバPUの第0プルアップトランジスタPU0乃至第kプルアップトランジスタPUkは、それぞれP型トランジスタによって具現される。
第2プルアップドライバNUは、第0プルアップトランジスタNU0乃至第lプルアップトランジスタNUlを含む。このとき、lは、自然数である。第2プルアップドライバNUの第0プルアップトランジスタNU0乃至第lプルアップトランジスタNUlは、それぞれN型トランジスタによって具現される。
プルダウンドライバ113は、接地電圧VSSとノードNとの間に接続される第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmを含む。このとき、mは、自然数である。それぞれの第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmは、N型トランジスタによって具現される。
プルアップドライバ111は、プルアップ駆動信号OP_Uによって決定される電流を生成する。第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUは、駆動信号生成器120から、プルアップ駆動信号OP_Uを伝達され、それにより、それぞれk個及びl個のトランジスタのオン状態とオフ状態とが調節される。第1プルアップドライバPUに含まれたk個のトランジスタ、及び第2プルアップドライバNUに含まれたl個のトランジスタそれぞれのオンオフ状態により、プルアップドライバ111に流れる電流量が調節される。
プルアップ駆動信号OP_Uは、第1プルアップドライバPUの第0プルアップトランジスタPU0乃至第kプルアップトランジスタPUkに入力される複数の第1プルアップ駆動信号OP_PU0乃至OP_PUk、及び第2プルアップドライバNUの第0プルアップトランジスタNU0乃至第lプルアップトランジスタNUlに入力される複数の第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlを含む。
複数の第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlがハイレベルであるときの第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlそれぞれの電圧レベルは、第2電源電圧VDDQ_Nと同一電圧レベルを有する。ただし、それに限定されるものではなく、第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlがハイレベルであるときの第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlの電圧レベルそれぞれは、第2電源電圧VDDQ_Nより高い電圧レベルを有することができる。例えば、複数の第2プルアップ駆動の信号OP_NU0乃至OP_NUlは、不揮発性メモリ装置内部の電圧生成部50(図1)で生成された電圧をブースティングした電圧を基にして生成され、または外部(例えば、メモリコントローラ)から入力された電圧を基にしても生成される。
プルダウンドライバ113に入力されるプルダウン駆動信号OP_Dにより、m個のトランジスタND0乃至NDmのオンオフが調節される。プルダウン駆動信号OP_Dは、第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmに入力される複数のプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmを含む。また、m個のトランジスタそれぞれのオンオフ状態により、プルダウンドライバ113に流れる電流量が調節される。従って、プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113に流れるそれぞれの電流が調節されることにより、出力ドライバ110は、前述の電流に対応する特定抵抗値を有し、DQパッド(DQ pad)を介して、データ信号DQをメモリコントローラに伝送する。
複数のプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmがハイレベルであるときのプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmそれぞれの電圧レベルは、第1電源電圧VDDQ_Pまたは第2電源電圧VDDQ_Nと同一電圧レベルである。ただし、それに限定されるものではなく、複数のプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmがハイレベルであるときのプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmそれぞれの電圧レベルは、第1電源電圧VDDQ_P及び第2電源電圧VDDQ_Nより高い電圧レベルを有することができる。例えば、複数のプルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmは、不揮発性メモリ装置内部の電圧生成部で生成された電圧をブースティングした電圧を基にして生成され、または外部(例えば、メモリコントローラ)から入力された電圧を基にしても生成される。
本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置に含まれたプルアップドライバ111は、P型トランジスタで構成された第1プルアップドライバPU、及びN型トランジスタで構成された第2プルアップドライバNUを含み、プルアップドライバ111を駆動させるために使用可能な電源電圧VCCQのレベル範囲が広くなる。詳細は、図4及び図5の説明で後述する。
また、プルアップドライバ111は、P型トランジスタ及びN型トランジスタをいずれも含むので、P型トランジスタ及びN型トランジスタそれぞれの特性により、ノードNと連結されるDQパッド(DQ pad)のデータ出力電圧VDQに対して、プルアップドライバ111が生成する電流が線形性を有する。詳細は、図6の説明で後述する。
図4及び図5は、電源電圧の電圧レベルにより、プルアップドライバの駆動方式を比較して説明するための回路図である。
図4を参照すれば、プルアップドライバ111は、P型トランジスタPU0乃至PUkで構成される第1プルアップドライバPU、及びN型トランジスタNU0乃至NUlで構成される第2プルアップドライバNUを含む。第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUには、同一電圧レベルを有するロー電源電圧VDDQ1がそれぞれ印加される。ロー電源電圧VDDQ1は、相対的に低い電圧レベルを有する電源電圧を意味し、具体的には、図5のハイ電源電圧VDDQ2より低い電圧レベルを有する。
P型トランジスタPU0乃至PUkがターンオンされるためには、P型トランジスタの特性により、ロー電源電圧VDDQ1と、P型トランジスタPU0乃至PUkをターンオンさせるために入力される第1プルアップ駆動信号OP_PU0乃至OP_PUkとの電圧レベル(例えば、VSS)の差値が、P型トランジスタPU0乃至PUkそれぞれの閾値電圧より大きい値を有さなければならない。P型トランジスタPU0乃至PUkそれぞれの閾値電圧は、P型トランジスタPU0乃至PUkそれぞれを製造する工程条件によっても異なり、P型トランジスタPU0乃至PUkごとに互いに異なりもする。従って、相対的に低い電圧レベルを有するロー電源電圧VDDQ1が印加される場合には、P型トランジスタPU0乃至PUkのうち少なくとも一部は、ターンオンされない。
一方、N型トランジスタNU0乃至NUlは、特定レベル以下の値を有するロー電源電圧VDDQ1のレベルが印加されても、ターンオンされるための条件を満足するので、正常にターンオンされる。
従って、本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置に含まれたプルアップドライバ111は、相対的に低い電源電圧(例えば、ロー電源電圧VDDQ1)が印加され、第1プルアップドライバPUが出力する電流ID_PU1が十分ではないとしても、第2プルアップドライバNUが出力する電流ID_NU1により補完される。
図5を参照すれば、プルアップドライバ111には、相対的に高い電圧レベルを有するハイ電源電圧VDDQ2が印加される。第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUには、同一電圧レベルを有するハイ電源電圧VDDQ2がそれぞれ印加される。ハイ電源電圧VDDQ2は、相対的に高い電圧レベルを有する電源電圧を意味し、具体的には、図4のロー電源電圧VDDQ1より高い電圧レベルを有する。
N型トランジスタNU0乃至NUlがターンオンされるためには、N型トランジスタの特性により、N型トランジスタNU0乃至NUlをターンオンさせるために入力される第2プルアップ駆動信号OP_NU0乃至OP_NUlの電圧レベルと、データ信号DQの電圧レベルとの差値が、N型トランジスタNU0乃至NUlそれぞれの閾値電圧より大きい値を有さなければならない。相対的に高い電圧レベルを有するハイ電源電圧VDDQ2が印加される場合には、前記条件を満足させることができず、N型トランジスタNU0乃至NUlのうち少なくとも一部は、ターンオンされない。
一方、P型トランジスタPU0乃至PUkは、特定レベル以上の値を有するハイ電源電圧VDDQ2のレベルが印加されても、ターンオンされるための条件を満足するので、正常にターンオンされる。
従って、本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置に含まれたプルアップドライバ111は、相対的に高い電源電圧(例えば、ハイ電源電圧VDDQ2)が印加され、第2プルアップドライバNUが出力する電流ID_NU2が十分ではないとしても、第1プルアップドライバPUが出力する電流ID_PU2により補完する。
図4及び図5では、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUに同一電圧レベルを有する電源電圧VDDQ1、VDDQ2を印加する場合についてだけ説明したが、それに限定されるものではない。第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUには、それぞれ互いに異なる電圧レベルを有する電源電圧が印加され、例えば、第1プルアップドライバPUには、ハイ電源電圧VDDQ2が印加され、第2プルアップドライバNUには、ロー電源電圧VDDQ1が印加されもする。
そのとき、プルアップドライバ111に印加されるロー電源電圧VDDQ1及びハイ電源電圧VDDQ2は、一例示であり、本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置に含まれたプルアップドライバ111は、相対的に低い電圧レベルを有するロー電源電圧VDDQ1、及び相対的に高い電圧レベルを有するハイ電源電圧VDDQ2を含む広い範囲の電圧レベルの電源電圧が多様に使用される。
図6は、データ出力電圧による、プルアップドライバに含まれたP型トランジスタ及びN型トランジスタに流れる電流の大きさ変化を示すグラフである。
図3及び図6を参照すれば、P型トランジスタPU0乃至PUk及びN型トランジスタNU0乃至NUlは、互いの特性差により、データ信号DQの電圧レベルである出力電圧VDQによる、P型トランジスタPU0乃至PUk及びN型トランジスタNU0乃至NUlにそれぞれ流れる電流ID_PU、ID_NUの大きさ変化曲線が異なる。
プルアップドライバ111に流れる全体電流ID_Uは、P型トランジスタPU0乃至PUkに流れる電流ID_PU、及びN型トランジスタNU0乃至NUlに流れる電流ID_NUを加えたものである。プルアップドライバ111は、P型トランジスタ及びN型トランジスタをいずれも含むので、出力電圧VDQに対して、プルアップドライバ111に流れる電流ID_Uが線形性を有する。従って、プルアップドライバ111を含む出力ドライバ110は、一定の交流オン抵抗値を有する。
図7は、図2に図示した出力ドライバの他の一実施形態を示す回路図である。図8は、データ出力電圧による、プルダウンドライバに含まれたP型トランジスタ及びN型トランジスタに流れる電流の大きさ変化を示すグラフである。図3のプルダウンドライバ113と比較するとき、プルダウンドライバ113aは、複数のP型トランジスタをさらに含む。図3と重複する符号については、重複説明を省略する。
図2及び図7を参照すれば、出力ドライバ110は、プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113aを含む。
プルダウンドライバ113aは、接地電圧VSSとノードNとの間に接続される第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDを含む。第1プルダウンドライバPDは、第0プルダウントランジスタPD0乃至第nプルダウントランジスタPDnを含む。このとき、nは、自然数である。それぞれの第0プルダウントランジスタPD0乃至第nプルダウントランジスタPDnは、P型トランジスタによって具現される。第2プルダウンドライバNDは、第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmを含む。このとき、mは、自然数である。それぞれの第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmは、N型トランジスタによって具現される。
内部データDATAがローレベルであるとき、プルダウンドライバ113aは、プルダウン駆動信号OP_Dに基いて、特定の抵抗値を有する。
プルダウン駆動信号OP_Dは、第1プルダウンドライバPDの第0プルダウントランジスタPD0乃至第nプルダウントランジスタPDnに入力される複数の第1プルダウン駆動信号OP_PD0乃至OP_PDn、及び第2プルダウンドライバNDの第0プルダウントランジスタND0乃至第mプルダウントランジスタNDmに入力される複数の第2プルダウン駆動信号OP_ND0乃至OP_NDmを含む。
図7及び図8を参照すれば、P型トランジスタ及びN型トランジスタは、それぞれの特性差により、出力電圧VDQによる、P型トランジスタPD0乃至PDn及びN型トランジスタND0乃至NDmにそれぞれ流れる電流ID_PD、ID_NDの大きさ変化曲線が異なる。
プルダウンドライバ113aに流れる電流ID_Dは、P型トランジスタPD0乃至PDnに流れる電流ID_PD、及びN型トランジスタND0乃至NDmに流れる電流ID_NDを加えたものである。プルダウンドライバ113aは、P型トランジスタ及びN型トランジスタをいずれも含むので、出力電圧VDQに対して、プルダウンドライバ113aに流れる電流ID_Dは、線形性を有する。プルアップドライバ111及びプルダウンドライバ113aを含む出力ドライバ110aは、一定の交流オン抵抗値を有する。
図9は、図1に図示したデータ出力回路の他の一実施形態であり、データ出力回路をさらに詳細に示すブロック図である。
図9を参照すれば、データ出力回路100bは、出力ドライバ110b及び駆動信号生成器120bを含む。データ出力回路100bは、データライン(例えば、図1のDLs)を介して、内部データDATAを受信し、内部データDATAが入力され、制御ロジック(例えば、図1の60)の制御により、データ信号DQを出力する。
出力ドライバ110bは、プルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUによって決定される電流を生成するプルアップドライバ111bと、プルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDによって決定される抵抗値を有するプルダウンドライバ113bと、を含む。プルアップドライバ111bは、複数のP型トランジスタで構成された第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成された第2プルアップドライバを含む。プルダウンドライバ113bは、複数のP型トランジスタで構成された第1プルダウンドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成された第2プルダウンドライバを含む。出力ドライバ110bは、図7の出力ドライバ110aと同一構成であるが、それに限定されるものではない。
駆動信号生成器120bは、内部データDATA、及びプルアップドライバ111bに印加される電源電圧に係る情報VCCQ MODEを基に、プルアップ駆動信号OP_PU、OP_NU及びプルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを出力する。電源電圧に係る情報VCCQ MODEは、制御ロジック(例えば、図1の60)から提供された出力制御信号(例えば、CTRL_O)に含まれる。
プルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUの内、OP_PUは第1プルアップ駆動信号と、OP_NUは第2プルアップ駆動信号と呼称する。第1プルアップ駆動信号OP_PUは、第1プルアップドライバを駆動させる駆動信号であり、第2プルアップ駆動信号OP_NUは、第2プルアップドライバを駆動させる駆動信号である。
プルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDの内、OP_PDは第1プルダウン駆動信号と、OP_NDは第2プルダウン駆動信号と呼称する。第1プルダウン駆動信号OP_PDは、第1プルダウンドライバを駆動させる駆動信号であり、第2プルダウン駆動信号OP_NDは、第2プルダウンドライバを駆動させる駆動信号である。
駆動信号生成器120bは、プルアップドライバ111bに含まれた第1プルアップドライバ及び第2プルアップドライバのうち一つを選択的にターンオフさせ、それらに対応するプルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUを生成する。また、駆動信号生成器120bは、プルダウンドライバ113bに含まれた第1プルダウンドライバ及び第2プルダウンドライバのうち一つを選択的にターンオフさせ、それらに対応するプルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを生成する。駆動信号生成器120bの動作、及びそれによる出力ドライバ110bの動作に係る説明は、以下の図面で後述する。
図10は、図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面であり、4個の等価トランジスタがいずれも駆動される実施形態について説明するためのものである。図11は、図10の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。
図9、図10及び図11を参照すれば、プルアップドライバ111bの第1プルアップドライバPUは、1つの等価P型トランジスタとして、第2プルアップドライバNUは、1つの等価N型トランジスタとして示す。プルダウンドライバ113bの第1プルダウンドライバPDは、1つの等価P型トランジスタとして、第2プルダウンドライバNDは、1つの等価N型トランジスタとして示す。
駆動信号生成器120bは、内部データDATA、プルアップドライバ111bに印加される電源電圧に係る情報VCCQ MODE及び出力ドライバ110bに係るコードを基に、プルアップ駆動信号OP_PU、OP_NU及びプルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを出力する。
一実施形態において、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUにそれぞれ印加される電源電圧が、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUが正常に駆動するための条件を満足させる場合、駆動信号生成器120bは、内部データDATAに基づいて、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングするプルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUを生成する。また、駆動信号生成器120bは、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングするプルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを生成する。
それにより、出力電圧VDQに対するプルアップドライバ111bに流れる電流、及びプルダウンドライバ113bに流れる電流が線形性を有する。
以下の図面においては、駆動信号生成器120bが、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングする駆動信号を生成するとき、駆動信号生成器120bがトグリングする駆動信号を受信するプルアップドライバ111bまたはプルダウンドライバ113bを駆動させるとして説明する。例えば、駆動信号生成器120bが、第1プルアップドライバPUに含まれた複数のP型トランジスタのうち少なくとも一つに対して、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングする駆動信号を生成する場合、駆動信号生成器120bは、第1プルアップドライバPUを駆動させる。第2プルアップドライバNU、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDにも、同一説明が適用される。
図12は、図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面であり、4個の等価トランジスタのうち一部が駆動されない一実施形態について説明するためのものである。図13は、図12の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。
図9、図12及び図13を参照すれば、駆動信号生成器120bは、プルアップドライバ111bの第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち少なくとも一つを選択的に駆動させる。例えば、駆動信号生成器120bは、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち一つに対して、ターンオフされるように、プルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUを出力する。
また、駆動信号生成器120bは、プルダウンドライバ113bの第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDのうち少なくとも一つを選択的に駆動させる。例えば、駆動信号生成器120bは、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDのうちの一つに対して、ターンオフされるように、プルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを出力する。
第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUにそれぞれ印加される電源電圧が、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUが正常に駆動するための条件を満足させる場合、駆動信号生成器120bは、内部データDATAに基づいて、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングするプルアップ駆動信号OP_PU、OP_NUを生成する。
駆動信号生成器120bは、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDのうち、第2プルダウンドライバNDだけ正常に駆動させる。駆動信号生成器120bは、内部データDATAに基づいて、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングする第2プルダウン駆動信号OP_NDを生成し、ハイレベルHを有する第1プルダウン駆動信号OP_PDを生成する。従って、出力ドライバ110bでの電力消費が低減する。
ただし、これに限定されるものではなく、場合により、駆動信号生成器120bは、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDのうち、第1プルダウンドライバPDだけ正常に駆動させることもできる。
図14は、図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面であり、4個の等価トランジスタのうち一部が駆動されない他の実施形態について説明するためのものである。図15は、図14の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。
図9、図14及び図15を参照すれば、第2プルアップドライバNUに印加される電源電圧は、第2プルアップドライバNUが正常に駆動するための条件を満足するが、第1プルアップドライバPUに印加される電源電圧が、第1プルアップドライバPUを正常に駆動するための条件を満足させない。例えば、図4のロー電源電圧VDDQ1が印加される場合を仮定する。駆動信号生成器120bは、出力ドライバ110bでの第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち第2プルアップドライバNUだけ正常に駆動させる。従って、駆動信号生成器120bは、内部データDATAに基づいて、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングする第2プルアップ駆動信号OP_NUを生成し、ハイレベルHを有する第1プルアップ駆動信号OP_PUを生成する。第2プルアップドライバNUだけ正常に駆動させるので、出力ドライバ110bが消費する電力が低減される。
ただし、それに限定されるものではなく、第2プルアップドライバNUに印加される電源電圧が第2プルアップドライバNUが正常に駆動するための条件を満足できない場合(例えば、図5のハイ電源電圧VDDQ2が印加される場合)には、駆動信号生成器120bは、内部データDATAに基づいて、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングする第1プルアップ駆動信号OP_PUを生成し、ローレベルLを有する第2プルアップ駆動信号OP_NUを生成する。
また、駆動信号生成器120bは、出力電圧VDQに対して、プルダウンドライバ113bに流れる電流ID_Dが線形性を有するようにするために、ハイレベルHとローレベルLとの間でトグリングするプルダウン駆動信号OP_PD、OP_NDを生成する。
図16は、図7に図示した出力ドライバを、4個の等価トランジスタで示した図面であり、4個の等価トランジスタのうち一部が駆動されないさらに他の実施形態について説明するためのものである。図17は、図16の出力ドライバに入力される駆動信号を示すタイミング図である。
図9、図16及び図17を参照すれば、駆動信号生成器120bは、プルアップドライバ111bの第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち一つだけ選択的に駆動させる。駆動信号生成器120bは、プルダウンドライバ113bの第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDのうち一つだけ選択的に駆動させる。従って、駆動信号生成器120bで消耗する消費電力を低減させる。
一実施形態において、図4のロー電源電圧VDDQ1が駆動信号生成器120bに印加される場合には、駆動信号生成器120bは、第2プルアップドライバNUのみを駆動させ、他の実施形態では、図5のハイ電源電圧VDDQ2が駆動信号生成器120bに印加される場合には、駆動信号生成器120bは、第1プルアップドライバPUのみを駆動させる。
図10乃至図16、及び図11乃至図17を参照すれば、本発明の一実施形態によるデータ出力回路は、出力ドライバ110bに含まれた第1プルアップドライバPU、第2プルアップドライバNU、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDを選択的に駆動させる。それにより、データ出力電圧VDQにより、出力ドライバ110bに流れる電流の線形性を確保し、オン抵抗の大きさを一定に維持させ、または、出力ドライバ110bで消耗する電力を低減させる。場合によっては、さらに有利な効果を発生させるように、出力ドライバ110bの第1プルアップドライバPU、第2プルアップドライバNU、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDが選択的に駆動される。
図10乃至図16、及び図11乃至図17では、第1プルアップドライバPU、第2プルアップドライバNU、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDを含む出力ドライバ110bについて説明したが、図3に図示した出力ドライバ110においても、類似の説明が適用される。
図18は、本発明の一実施形態による出力ドライバの動作について説明するための図面であり、動作速度によるデータ信号を示すタイミング図である。
図7及び図18を参照すれば、データ信号DQ_LF、DQ_HFは、内部データDATAにより、ハイレベルとローレベルとを有する。データ信号DQ_LF、DQ_HFは、出力ハイレベル電圧VOH_LF、VOH_HFと出力ローレベル電圧VOL_LF、VOL_HFとの間でスイングするAC形態の信号でもある。データ信号DQ_LF、DQ_HFは、データ出力回路(例えば、図2の100、または図9の100b)の動作速度により、スイングする形態が異なる。
例えば、相対的に高い周波数を有するクロック信号が、制御回路(例えば、図1の60)からデータ出力回路に入力される場合には、データ信号DQ_HFが十分にスイングする時間的余裕が不足するので、スイングする形態が不完全である。データ信号DQ_HFのスイングが不完全である場合には、データ信号DQ_HFを受信したメモリコントローラが、データ信号DQ_HFと基準電圧と比較し、受信されたデータ値(0または1)の決定が不正確にもなる。従って、データ信号DQ_HFのスイング形態は、データ信号DQ_HFの信頼度向上に影響を与える。高周波数を有するデータ信号DQ_HFのスイング形態を完全にさせるために、ターミネーション(termination)を適用する。
N型トランジスタの特性により、ソース電圧のレベルは、ゲートに印加される電圧レベルと、N型トランジスタの閾値電圧レベルとの差値より小さいか、あるいはそれと同じ値を有する。従って、図14、図15、図16及び図17に図示するように、一実施形態においては、駆動信号生成器(例えば、図9の120b)は、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち第2プルアップドライバNUだけ駆動させる。すなわち、該駆動信号生成器は、内部データに基づいて、ハイレベル電圧とローレベル電圧との間でトグリングする第2プルアップ駆動信号OP_NUを生成し、ハイレベルHを有する第1プルアップ駆動信号OP_PUを生成する。
第2プルアップドライバNUだけ駆動される場合には、データ信号DQ_HFの電圧レベルが、第2プルアップ駆動信号OP_PUの電圧レベルと、等価N型トランジスタの閾値電圧VTHとの差値より小さいか、あるいはそれと同じレベルを有する。従って、該駆動信号生成器は、第2プルアップ駆動信号OP_PUがハイレベルであるとき、第2プルアップ駆動信号OP_PUを、第2電源電圧VDDQ_Nと同一電圧レベルに生成し、データ信号DQ_HFの電圧レベルから、閾値電圧VTHレベル以上低下するターミネーションが適用される効果が生じる。
一方、相対的に低い周波数を有するクロック信号が、制御回路からデータ出力回路に入力される場合には、データ信号DQ_LFが十分にスイングするので、図10、図11、図12及び図13に図示しているように、該駆動信号生成器は、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUをいずれも駆動させる。ただし、それに限定されるものではなく、第1プルアップドライバPU及び第2プルアップドライバNUのうち一つだけを駆動させることもできる。
データ出力回路の動作速度により、出力ドライバ110bが駆動方式が異なることについてのみ説明したが、それに限定されるものではない。データ信号の電圧レベルから、閾値電圧VTHレベル以上低下する効果(ターミネーション)が必要な場合にも、本発明の説明が同様に適用される。
本発明の一実施形態によるデータ出力回路は、データ出力回路に入力されるクロック信号の周波数に基づいて、含まれた第1プルアップドライバPU、第2プルアップドライバNU、第1プルダウンドライバPD及び第2プルダウンドライバNDを選択的に駆動させる。それにより、高速動作が必要な場合にも、データ信号の信頼性を維持する。
図19は、本発明の例示的実施形態によるメモリブロックを示す回路図である。
図19を参照すれば、メモリセルアレイ(例えば、図1の20)は、水平NANDフラッシュメモリのメモリセルアレイでもあり、複数のメモリブロックを含む。各メモリブロックBLK0は、ビットラインBL0乃至BLm-1側に、多数個のメモリセルMCが直列に連結されるm(mは、2以上の整数)本のセルストリングSTRを含む。
図19の構造を有するNANDフラッシュメモリ装置は、ブロック単位で消去が行われ、各ワードラインWL1乃至WLnに対応するページPAGE単位でプログラムを遂行する。図19は、1つのブロックに、n本のワードラインWL1乃至WLnに対するn枚のページが具備される例を図示する。また、図1の不揮発性メモリ装置1は、以上で説明したメモリセルアレイ20と同一構造であり、同一動作を遂行する複数のメモリセルアレイを含んでもよい。
図20は、本発明の例示的実施形態によるメモリセルアレイに含まれたメモリブロックの他例(BLK0‘)を示す回路図である。
図20を参照すれば、メモリセルアレイ(例えば、図1の20)は、垂直NANDフラッシュメモリのメモリセルアレイであり、複数のメモリブロックを含む。各メモリブロックBLK0’は、複数のNANDセルストリングNS11、NS12、NS13、NS21、NS22、NS23、NS31、NS32、NS33、複数のワードラインWL1乃至WL8、複数のビットラインBL1乃至BL3、複数のグラウンド選択ラインGSL1乃至GSL3)、複数のセルストリング選択ラインSSL1ないしSSL3及び共通ソースラインCSLを含む。図20は、1つのブロックに8本のワードラインWL1-乃至WL8が具備される例を図示したが、それに限定されるものではなく、8本以上のワードラインが具備されもする。ここで、NANDセルストリングの本数、ワードラインの本数、ビットラインの本数、グラウンド選択ラインの本数、及びセルストリング選択ラインの本数は、実施形態によって多様に変更される。
第1ビットラインBL1と共通ソースラインCSLとの間に、NANDセルストリングNS11、NS21、NS31が提供され、第2ビットラインBL2と共通ソースラインCSLとの間に、NANDセルストリングNS12、NS22、NS32が提供され、第3ビットラインBL3と共通ソースラインCSLとのの間に、NANDセルストリングNS13、NS23、NS33が提供される。各NANDセルストリング(例えば、NS11)は、直列に連結されたセルストリング選択トランジスタSST、複数のメモリセルMC1乃至MC8、及びグラウンド選択トランジスタGSTを含む。
1本のビットラインに共通に連結されたセルストリングは、1つのカラムを構成する。例えば、第1ビットラインBL1に共通に連結されたセルストリングNS11、NS21、NS31は、第1カラムに対応し、第2ビットラインBL2に共通に連結されたセルストリングNS12、NS22、NS32は、第2カラムに対応し、第3ビットラインBL3に共通に連結されたセルストリングNS13、NS23、NS33は、第3カラムに対応する。
1本のセルストリング選択ラインに連結されるセルストリングは、1つのロウを構成する。例えば、第1セルストリング選択ラインSSL1に連結されたセルストリングNS11、NS12、NS13は、第1ロウに対応し、第2セルストリング選択ラインSSL2に連結されたセルストリングNS21、NS22、NS23は、第2ロウに対応し、第3セルストリング選択ラインSSL3に連結されたセルストリングNS31、NS32、NS33は、第3ロウに対応する。
セルストリング選択トランジスタSSTは、対応するセルストリング選択ラインSSL1乃至SSL3に連結される。複数のメモリセルMC1乃至MC8は、それぞれ対応するワードラインWL1乃至WL8に連結される。グラウンド選択トランジスタGSTは、対応するグラウンド選択ラインGSL1乃至GSL3に連結される。セルストリング選択トランジスタSSTは、対応するビットラインBL1乃至BL3に連結され、グラウンド選択トランジスタGSTは、共通ソースラインCSLに連結される。
同一高さのワードライン(例えば、WL1)は、互いに共通に連結されており、セルストリング選択ラインSSL1乃至SSL3は、互いに分離されており、グラウンド選択ラインGSL1乃至GSL3も、互いに分離されている。例えば、第1ワードラインWL1に連結されおり、セルストリングNS11、NS12、NS13に属しているメモリセルをプログラムする場合には、第1ワードラインWL1と第1セルストリング選択ラインSSL1とが選択される。グラウンド選択ラインGSL1乃至GSL3は、互いに共通に連結されもする。
図21は、図20のメモリブロックBLK0’を示す斜視図である。
図21を参照すれば、メモリセルアレイ(例えば、図1の20)に含まれた各メモリブロックは、基板SUBに対して垂直方向に形成されている。図21では、メモリブロックが、2本の選択ラインGSL、SSL、8本のワードラインWL1乃至WL8、及び3本のビットラインBL1乃至BL3を含むように図示しているが、実際には、それより多くても、少なくともよい。
基板SUBは、第1導電型(例えば、pタイプ)を有し、基板SUB上に、第1方向(例えば、Y方向)に沿って伸び、第2導電型(例えば、nタイプ)の不純物がドーピングされた共通ソースラインCSLが提供される。隣接した2本の共通ソースラインCSL間の基板SUBの領域上に、第1方向に沿って伸びる複数の絶縁膜ILが、第3方向(例えば、Z方向)に沿って順次提供され、複数の絶縁膜ILは、第3方向に沿って、特定距離ほど離隔される。例えば、複数の絶縁膜ILは、シリコン酸化物のような絶縁物質を含んでもよい。
隣接した2本の共通ソースラインCSL間の基板SUB領域上に、第1方向に沿って順次に配置され、第3方向に沿って複数の絶縁膜ILを貫通する複数のピラPが提供される。例えば、複数のピラPは、複数の絶縁膜ILを貫通し、基板SUBとコンタクトする。具体的には、各ピラPの表面層(surface layer)Sは、第1タイプを有するシリコン物質を含んでもよく、チャンネル領域として機能する。一方、各ピラPの内部層Iは、シリコン酸化物のような絶縁物質またはエアギャップ(air gap)を含んでもよい。
隣接した2本の共通ソースラインCSL間の領域において、絶縁膜IL、ピラP及び基板SUBの露出された表面に沿って、電荷保存層(charge storage layer)CSが提供される。電荷保存層CSは、ゲート絶縁層(または、「トンネリング絶縁層」と称する)、電荷トラップ層及びブロッキング絶縁層を含んでもよい。例えば、電荷保存層CSは、ONO(oxide-nitride-oxide)構造を有する。また、隣接した2本の共通ソースラインCSL間の領域において、電荷保存層CSの露出された表面上に、選択ラインGSL、SSL及びワードラインWL1乃至WL8のようなゲート電極GEが提供される。
複数のピラP上には、ドレインまたはドレインコンタクトDRがそれぞれ提供される。例えば、ドレインまたはドレインコンタクトDRは、第2導電型を有する不純物がドーピングされたシリコン物質を含んでもよい。ドレインDR上に、第2方向(例えば、X方向)に伸び、第1方向に沿って特定距離ほど離隔されて配置されたビットラインBL1乃至BL3が提供される。
図22は、本発明の一実施形態による不揮発性メモリ装置を具備するコンピューティングシステム装置1000を示す図面である。
図22を参照すれば、コンピューティングシステム装置1000は、バス1060に電気的に連結されたCPU 1030、ユーザインターフェース1050、並びにメモリコントローラ1012及び不揮発性メモリ装置1011を具備する不揮発性メモリシステム1010を含む。
不揮発性メモリ装置1011は、図2及び図9に図示したデータ出力回路100、100b、及び図3及び図7に図示した出力ドライバ110、110bのうち少なくとも一つを含む。従って、不揮発性メモリ装置1011は、オン抵抗の大きさが一定であり、広範囲の電圧レベルを有する電源電圧が選択的に出力ドライバに印加され、電力消費が低減する。
コンピューティングシステム装置1000は、さらに、RAM(random access memory)1040及びパワー供給装置1020をさらに具備する。
コンピューティングシステム装置1000がモバイル装置である場合、コンピューティングシステムの動作電圧を供給するためのバッテリ及びベースバンドチップセット(baseband chip set)のようなモデムがさらに提供される。また、コンピューティングシステム装置1000には、応用チップセット(application chipset)、カメライメージプロセッサ(CIP:camera image processor)、モバイルDRAM(dynamic random access memory)などがさらに提供されることは、当該分野の当業者に自明な事項であり、さらに詳細な説明は、省略する。
メモリコントローラ1012と不揮発性メモリ装置1011は、例えば、データ保存に不揮発性メモリを使用するSSD(solid-state drive/disk)を構成する。
以上のように、図面及び明細書で例示的な実施形態を開示した。本明細書において、特定用語を使用して実施形態について説明したが、それらは、ただ本発明の技術的思想について説明するための目的で使用したものであり、意味を限定したり、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲を制限したりするために使用したものではない。従って、本技術分野の当業者であるならば、それらから多様な変形、及び均等な他の実施形態が可能であるという点を理解できる。従って、本発明の真の技術的保護範囲は、特許請求の範囲の技術的思想によって決められる。
本発明の不揮発性メモリ装置は、例えば、データ保存関連の技術分野に効果的に適用可能である。
1、1011 不揮発性メモリ装置
10 データ入出力回路
20 メモリセルアレイ
30 ロウデコーダ
40 ページバッファ回路
50 電圧生成部
60 制御ロジック
100、100b データ出力回路
110、110a、110b 出力ドライバ
111、111b プルアップドライバ
120、120b 駆動信号生成器
113、113a、113b プルダウンドライバ
120、120b 駆動信号生成器
1000 コンピューティングシステム装置
1010 不揮発性メモリシステム
1011 不揮発性メモリ装置
1012 メモリコントローラ
1020 パワー供給装置
1030 CPU
1040 RAM
1050 ユーザインターフェース
1060 バス

Claims (17)

  1. データ信号を出力する出力ドライバを含む不揮発性メモリ装置において、
    前記出力ドライバは、
    複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、
    複数のN型トランジスタを含むプルダウンドライバと、を含み、
    前記プルアップドライバは、互いに異なる電圧レベルを有する複数の電源電圧のうち一部が選択的に印加され、
    前記第1プルアップドライバは、第1電源電圧が印加され、前記第2プルアップドライバは、第2電源電圧が印加され
    前記出力ドライバは、前記出力ドライバに受信されるプルアップ駆動信号及びプルダウン駆動信号に基づいて駆動され、
    前記プルアップ駆動信号及び前記プルダウン駆動信号の周波数に基づいて、前記プルアップドライバに含まれた前記第1プルアップドライバ及び前記第2プルアップドライバのうち少なくとも一つが駆動されることを特徴とする不揮発性メモリ装置。
  2. 前記第1電源電圧及び前記第2電源電圧は、互いに異なる電圧レベルを有することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  3. 前記第1電源電圧及び前記第2電源電圧は、互いに同一電圧レベルを有することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  4. 前記出力ドライバは、
    前記プルアップドライバに印加される前記第1電源電圧及び前記第2電源電圧のレベルに基づいて、前記第1プルアップドライバ及び前記第2プルアップドライバのうち少なくとも一つが駆動することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  5. 前記第1プルアップドライバの複数のP型トランジスタは、ターンオフされることを特徴とする請求項4に記載の不揮発性メモリ装置。
  6. 前記第1プルアップドライバの複数のP型トランジスタは、ターンオフされることを特徴とする請求項に記載の不揮発性メモリ装置。
  7. 前記プルダウンドライバは、
    複数のP型トランジスタをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  8. データ信号を出力する出力ドライバと、
    前記出力ドライバを駆動させる複数の駆動信号を生成する駆動信号生成器と、を含み、
    前記出力ドライバは、
    複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、
    複数のN型トランジスタを含むプルダウンドライバと、を含み、
    前記プルアップドライバは、互いに異なる電圧レベルを有する複数の電源電圧のうち一部が選択的に印加され
    前記プルアップドライバの複数のP型トランジスタは、第1電源電圧が印加され、前記プルアップドライバの複数のN型トランジスタは、第2電源電圧が印加され、
    前記駆動信号生成器は、
    前記プルアップドライバに印加される前記第1電源電圧及び前記第2電源電圧のレベルに係る情報を受信し、
    前記第1電源電圧及び前記第2電源電圧のレベルに係る情報を基に、前記第1プルアップドライバと前記第2プルアップドライバのうち少なくとも1つを選択的に駆動させる前記複数の駆動信号を生成することを特徴とする不揮発性メモリ装置。
  9. 前記駆動信号生成器は、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第1プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号を、ハイレベルとローレベルとの間でトグリングするように生成し、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第2プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号を、ハイレベルとローレベルとの間でトグリングするように生成することを特徴とする請求項に記載の不揮発性メモリ装置。
  10. 前記駆動信号生成器は、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第1プルアップドライバに含まれた複数のP型トランジスタにそれぞれ伝送される駆動信号をハイレベルを有するように生成し、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第2プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号を、ハイレベルとローレベルとの間でトグリングするように生成し、
    前記第2プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号のハイレベルが有する電圧レベルは、前記第2電源電圧のレベルと同一であることを特徴とする請求項に記載の不揮発性メモリ装置。
  11. 前記駆動信号生成器は、クロック信号を受信し、
    前記クロック信号の周波数を基に、前記複数の駆動信号を生成することを特徴とする請求項に記載の不揮発性メモリ装置。
  12. 前記駆動信号生成器は、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第1プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号を、ハイレベルとローレベルとの間でトグリングするように生成し、
    前記複数の駆動信号のうち、前記第2プルアップドライバに伝送される少なくとも1つの駆動信号を、ハイレベルとローレベルとの間でトグリングするように生成することを特徴とする請求項11に記載の不揮発性メモリ装置。
  13. 前記プルダウンドライバは、複数のP型トランジスタをさらに含み、
    前記プルダウンドライバの複数のP型トランジスタは、第1プルダウンドライバを構成し、前記プルダウンドライバの複数のN型トランジスタは、第2プルダウンドライバを構成することを特徴とする請求項に記載の不揮発性メモリ装置。
  14. データ信号を出力する出力ドライバと、
    前記出力ドライバを駆動させる複数の駆動信号を生成する駆動信号生成器と、を含み、
    前記出力ドライバは、
    複数のP型トランジスタで構成される第1プルアップドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルアップドライバを含むプルアップドライバと、
    複数のP型トランジスタで構成される第1プルダウンドライバ、及び複数のN型トランジスタで構成される第2プルダウンドライバと、を含み、
    前記出力ドライバ、前記駆動信号生成器を含むデータ出力回路は、前記データ出力回路に入力されるクロック信号の周波数に基づいて、含まれた前記第1プルアップドライバ、前記第2プルアップドライバ、前記第1プルダウンドライバ及び前記第2プルダウンドライバを選択的に駆動させることを特徴とする不揮発性メモリ装置。
  15. 前記駆動信号生成器は、
    前記第1プルアップドライバ及び前記第2プルアップドライバのうち少なくとも一つを選択的に駆動させるプルアップ駆動信号を生成し、前記第1プルダウンドライバ及び前記第2プルダウンドライバのうち少なくとも一つを選択的に駆動させるプルダウン駆動信号を生成することを特徴とする請求項14に記載の不揮発性メモリ装置。
  16. 前記駆動信号生成器は、
    前記プルアップドライバに連結される電源電圧のレベルを基に、前記第1プルアップドライバ及び前記第2プルアップドライバのうち少なくとも一つを選択的に駆動させることを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
  17. 前記駆動信号生成器は、
    前記第1プルアップドライバ及び前記第2プルアップドライバを駆動させる前記プルアップ駆動信号を生成し、前記第1プルダウンドライバ及び前記第2プルダウンドライバを駆動させる前記プルダウン駆動信号を生成することを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。

JP2018204654A 2017-11-08 2018-10-31 不揮発性メモリ装置 Active JP7129312B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2017-0148320 2017-11-08
KR1020170148320A KR102491576B1 (ko) 2017-11-08 2017-11-08 비휘발성 메모리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019087296A JP2019087296A (ja) 2019-06-06
JP7129312B2 true JP7129312B2 (ja) 2022-09-01

Family

ID=66179033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018204654A Active JP7129312B2 (ja) 2017-11-08 2018-10-31 不揮発性メモリ装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10770149B2 (ja)
JP (1) JP7129312B2 (ja)
KR (1) KR102491576B1 (ja)
CN (1) CN109754838B (ja)
DE (1) DE102018127040A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10825506B2 (en) * 2018-02-17 2020-11-03 Micron Technology, Inc. Systems and methods for improving output signal quality in memory devices
US10951206B1 (en) 2020-08-05 2021-03-16 Nanya Technology Corporation Off chip driving system and signal compensation method
US11450378B2 (en) 2020-09-29 2022-09-20 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods of power supply control for threshold voltage compensated sense amplifiers
WO2022165791A1 (en) 2021-02-07 2022-08-11 Yangtze Memory Technologies Co., Ltd. Peak power management for multi-die operations

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4282496A (en) * 1979-08-29 1981-08-04 Rca Corporation Starting circuit for low power oscillator circuit
DE4128290C1 (ja) * 1991-08-27 1992-12-03 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon, Kr
KR100211758B1 (ko) * 1995-08-18 1999-08-02 윤종용 멀티 파워를 사용하는 데이터 출력버퍼
US5773999A (en) * 1995-09-28 1998-06-30 Lg Semicon Co., Ltd. Output buffer for memory circuit
US5838177A (en) 1997-01-06 1998-11-17 Micron Technology, Inc. Adjustable output driver circuit having parallel pull-up and pull-down elements
US5933041A (en) 1997-01-28 1999-08-03 Vlsi Technology, Inc. Output driver with constant source impedance
KR100422821B1 (ko) * 1997-06-30 2004-05-24 주식회사 하이닉스반도체 출력 버퍼 장치
JP2000049585A (ja) 1998-07-31 2000-02-18 Fujitsu Ltd 出力バッファ回路
US6141263A (en) * 1999-03-01 2000-10-31 Micron Technology, Inc. Circuit and method for a high data transfer rate output driver
US6281729B1 (en) 1999-06-07 2001-08-28 Sun Microsystems, Inc. Output driver with improved slew rate control
US6512401B2 (en) 1999-09-10 2003-01-28 Intel Corporation Output buffer for high and low voltage bus
JP2002367376A (ja) * 2001-06-12 2002-12-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6894529B1 (en) * 2003-07-09 2005-05-17 Integrated Device Technology, Inc. Impedance-matched output driver circuits having linear characteristics and enhanced coarse and fine tuning control
KR100543197B1 (ko) 2003-08-25 2006-01-20 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력드라이버
KR100729916B1 (ko) 2004-04-08 2007-06-18 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 회로
KR100670699B1 (ko) * 2004-11-01 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 회로를 갖는 반도체메모리소자
KR100714486B1 (ko) 2005-11-21 2007-05-07 삼성전자주식회사 출력 드라이버
US7471121B2 (en) 2006-12-21 2008-12-30 System General Corp. Transistor drive circuit of power converter operating in a wide voltage range
JP2009289308A (ja) * 2008-05-28 2009-12-10 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US8531898B2 (en) * 2010-04-02 2013-09-10 Samsung Electronics Co., Ltd. On-die termination circuit, data output buffer and semiconductor memory device
JP5319724B2 (ja) 2011-03-25 2013-10-16 株式会社東芝 出力ドライバ回路、出力ドライバシステム、および、半導体記憶装置
JP2015076655A (ja) 2013-10-07 2015-04-20 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
US10365833B2 (en) * 2016-01-22 2019-07-30 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for encoding and decoding of signal lines for multi-level communication architectures
US9911469B1 (en) * 2016-11-10 2018-03-06 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for power efficient driver circuits

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190052548A (ko) 2019-05-16
CN109754838B (zh) 2023-10-13
US20190139613A1 (en) 2019-05-09
US10770149B2 (en) 2020-09-08
JP2019087296A (ja) 2019-06-06
DE102018127040A1 (de) 2019-05-09
KR102491576B1 (ko) 2023-01-25
CN109754838A (zh) 2019-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102532998B1 (ko) 비휘발성 메모리 장치 및 비휘발성 메모리 장치의 프로그램 방법
CN108140416B (zh) 多层面存储器装置及操作方法
US10090053B2 (en) Apparatus, systems, and methods to operate a memory
USRE46994E1 (en) Flash memory devices having three dimensional stack structures and methods of driving same
CN110070900B (zh) 具有不同的伪字线的三维快闪存储器件和数据储存设备
US10714184B2 (en) Memory device with improved program performance and method of operating the same
JP3886673B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JP7129312B2 (ja) 不揮発性メモリ装置
CN108399931B (zh) 非易失性存储装置
JP7132443B2 (ja) メモリデバイス、システム、及び関連するメモリデバイスをプログラミングする方法
KR20130085154A (ko) 비휘발성 메모리 장치, 그것을 포함하는 비휘발성 메모리 시스템, 그것의 프로그램 방법, 그리고 그것을 제어하는 컨트롤러 동작 방법
KR20160057539A (ko) 비휘발성 메모리 장치, 그것의 소거 방법, 및 그것을 포함하는 메모리 시스템
US11881272B2 (en) Nonvolatile memory device and method of programming in a nonvolatile memory
JP2021007143A (ja) 3d不揮発性メモリのサブブロックサイズ低減
CN112447246A (zh) 用于减轻编程干扰的设备和方法
KR101458792B1 (ko) 플래시 메모리 장치
CN109524045B (zh) 非易失性存储器器件及其操作方法
TWI585777B (zh) 非揮發性半導體儲存裝置
KR102509909B1 (ko) 불휘발성 메모리 장치 및 불휘발성 메모리 장치를 포함하는 메모리 시스템
WO2006059375A1 (ja) 半導体装置および半導体装置の制御方法
CN111916129A (zh) 非易失性存储器设备及其操作方法以及存储系统
US11315646B2 (en) Memory device having improved data reliability by varying program sequences
KR20190113079A (ko) 복수의 수직 채널 구조체들을 갖는 3차원 메모리 장치
JP2010218623A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
CN106373608B (zh) 用以降低位线复原时间的非易失性存储器装置及编程方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210406

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220412

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220708

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220802

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220822

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7129312

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150