JP7064723B2 - 成膜方法 - Google Patents
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Description
また、本発明者らは、上記知見を得た後、さらに検討を重ねて本発明を完成させるに至った。
[1] 金属を含む原料溶液を霧化または液滴化して生成されるミストまたは液滴を、キャリアガスでもって基体まで搬送し、ついで該基体上で該ミストまたは液滴を熱反応させることにより、該基体上に導電性金属酸化膜を成膜する成膜方法であって、前記基体表面の一部または全部が、銅若しくはその合金、アルミニウム若しくはその合金、マグネシウム若しくはその合金またはステンレス鋼を主成分として含むことを特徴とする成膜方法。
[2] 導電性金属酸化膜が、2以上の多層膜である前記[1]記載の成膜方法。
[3] 前記金属が、周期律表第3周期~第5周期の金属である前記[1]または[2]に記載の成膜方法。
[4] 前記金属が、インジウム、錫、亜鉛およびクロムからなる群から選ばれる1種または2種以上の金属である前記[1]~[3]のいずれかに記載の成膜方法。
[5] 前記基体表面の一部または全部が、ステンレス鋼を主成分として含む前記[1]~[4]のいずれかに記載の成膜方法。
[6] 前記基体が板状であり、前記成膜を前記基体の両面上に行う前記[1]~[5]のいずれかに記載の成膜方法。
[7] 前記基体が、表面の一部又は全部に凸凹形状を有する前記[1]~[6]のいずれかに記載の成膜方法。
[8] 前記凸凹形状が、流路パターンを形成する前記[7]記載の成膜方法。
[9] 前記霧化または液滴化を、超音波振動を用いて行う前記[1]~[8]のいずれかに記載の成膜方法。
[10] 前記熱反応を、600℃以下の温度で行う前記[1]~[9]のいずれかに記載の成膜方法。
[11] 前記熱反応を、大気圧下で行う前記[1]~[10]のいずれかに記載の成膜方法。
[12] 基体上に直接または他の層を介して導電性金属酸化膜が形成されている導電性積層構造体であって、前記基体表面の一部または全部が、銅若しくはその合金、アルミニウム若しくはその合金、マグネシウム若しくはその合金またはステンレス鋼を主成分として含み、導電性金属酸化膜の膜厚が30nm以上であり、接触抵抗が100mΩcm2以下であることを特徴とする導電性積層構造体。
[13] 導電性金属酸化膜が、2以上の多層膜である前記[12]記載の導電性積層構造体。
[14] 導電性金属酸化膜が、インジウム、錫、亜鉛およびクロムからなる群から選ばれる1種または2種以上の金属の酸化物を含む前記[12]または[13]に記載の導電性積層構造体。
[15] 前記基体表面の一部または全部が、ステンレス鋼を主成分として含む前記[12]~[14]のいずれかに記載の導電性積層構造体。
[16] 前記基体が板状であり、前記基体の両面上に直接または他の層を介して導電性金属酸化膜が形成されている前記[12]~[15]のいずれかに記載の導電性積層構造体。
[17] 前記基体が、表面の一部又は全部に凸凹形状を有する前記[12]~[16]のいずれかに記載の導電性積層構造体。
[18] 前記凸凹形状が、流路パターンを形成する前記[17]記載の導電性積層構造体。
[19] 前記[12]~[18]のいずれかに記載の導電性積層構造体を含む電子装置。
原料溶液は、金属を含み、霧化または液滴化が可能なものであれば、特に限定されず、無機材料を含んでいても、有機材料を含んでいてもよい。前記金属は、金属単体であっても、金属化合物であってもよく、本発明の目的を阻害しない限り特に限定されない。本発明においては、前記金属が、周期律表第3周期~第5周期の金属であるのが好ましく、周期律表第4周期または第5周期の金属であるのがより好ましい。周期表第3周期の金属としては、マグネシウム(Mg)、アルミニウム(Al)、ケイ素(Si)、およびリン(P)から選ばれる1種または2種以上の金属等が挙げられる。周期律表第4周期の金属としては、例えば、チタン(Ti)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)およびガリウム(Ga)から選ばれる1種または2種以上の金属等が挙げられる。周期律表第5周期の金属としては、例えば、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(Nb)、モリブデン(Mo)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、銀(Ag)、インジウム(In)およびスズ(Sn)から選ばれる1種または2種以上の金属等が挙げられる。本発明においては、前記金属が、錫、亜鉛およびクロムからなる群より選ばれる1種または2種以上の金属であるのが好ましい。前記原料溶液中の前記金属の含有量は、特に限定されないが、好ましくは、0.001重量%~80重量%であり、より好ましくは0.01重量%~80重量%である。本発明においては、前記金属が、前記基体に含まれる金属と異なる金属であるのも、接触抵抗等の電気特性や特性安定性により優れた前記導電性積層構造体を得ることができるため、好ましい。
前記基体は、表面の一部または全部が、銅若しくはその合金、アルミニウム若しくはその合金、マグネシウム若しくはその合金またはステンレス鋼を主成分として含んでおり、前記膜を支持できるものであれば特に限定されない。本発明においては、前記基体表面の一部または全部がステンレス鋼を主成分として含むものであるのが好ましく、前記基体表面の全部がステンレス鋼を主成分として含むものであるのがより好ましく、前記基体がステンレス鋼を主成分として含むものであるのが最も好ましい。ここで、主成分とは、例えば、前記基体表面の一部または全部がステンレス鋼を主成分として含む場合、前記ステンレス鋼が、原子比で、前記基体表面の一部または全部を構成する成分中、好ましくは50%以上、より好ましくは70%以上、更に好ましくは90%以上含まれることを意味し、100%であってもよい。前記ステンレス鋼は、本発明の目的を阻害しない限り、特に限定されず、公知のステンレス鋼であってよい。前記ステンレス鋼としては、フェライト系ステンレス鋼、マルテンサイト系ステンレス鋼、オーステナイト系ステンレス鋼等が挙げられる。フェライト系ステンレス鋼としては、SUS430、SUS434、SUS405等が挙げられる。マルテンサイト系ステンレス鋼としては、SUS403、SUS410、SUS431等が挙げられる。前記オーステナイト系ステンレス鋼としては、例えば、JISに規格するSUS201、SUS304、SUS304L、SUS304LN、SUS310S、SUS316、SUS316L、SUS317J1、SUS317J2、SUS321、SUS329J1、SUS836、SUSXM7等が挙げられる。本発明においては、前記ステンレス鋼が、オーステナイト系ステンレス鋼であるのが好ましい。
前記凸凹形状は、凸部または凹部からなるものであれば特に限定されず、凸部からなる凸凹形状であってもよいし、凹部からなる凸凹形状であってもよいし、凸部および凹部からなる凸凹形状であってもよい。また、前記凸凹形状は、規則的な凸部または凹部から形成されていてもよいし、不規則な凸部または凹部から形成されていてもよい。本発明においては、前記凸凹形状が周期的に形成されているのが好ましく、前記凸凹形状が周期的かつ規則的なパターンを形成するのがより好ましい。また、本発明においては、前記凸凹形状が流路パターンを形成するのも、成膜後の前記基体を、例えば燃料電池用セパレータ等として好適に用いることができるため、好ましい。前記凸凹形状の周期的かつ規則的なパターンとしては、特に限定されず、例えば、ストライプ状、ドット状、格子状、メッシュ状などが挙げられるが、本発明においては、ストライプ状、ドット状または格子状が好ましい。前記流路パターンは、例えば、前記基体を、公知の手段を用いて燃料電池用セパレータとして適用した場合に、液体や気体の流路として機能するパターンであれば、特に限定されず、公知の流路パターンであってよい。前記流路パターンとしては、例えば、1または2以上の流路が蛇行状に設けられたサーペンタイン型の流路パターン、複数の直線状流路が並行して設けられた並行型の流路パターン、またはサーペンタイン型と並行型とを組み合わせた流路パターン等が挙げられる。本発明においては、前記流路パターンが、並行型の流路パターンであるのが好ましい。前記凸凹形状の凸部または凹部の断面形状としては、特に限定されないが、例えば、コの字型、U字型、逆U字型、波型、または三角形、四角形(例えば正方形、長方形若しくは台形等)、五角形若しくは六角形等の多角形等が挙げられる。また、前記凸凹形状の凸部または凹部の平面形状としては、円形、楕円形、三角形、四角形(例えば正方形、矩形若しくは台形等)、五角形若しくは六角形等の多角形等が挙げられるが、本発明においては、前記平面形状が、矩形状であるのが好ましい。
前記霧化・液滴化工程は、原料溶液を調整し、前記原料溶液を霧化してミストまたは液滴を発生させる。霧化手段は、前記原料溶液を霧化できさえすれば特に限定されず、公知の霧化手段であってよいが、本発明においては、超音波を用いる霧化手段であるのが好ましい。前記ミストは、初速度がゼロで、空中に浮遊するものが好ましく、例えば、スプレーのように吹き付けるのではなく、空間に浮かびガスとして搬送することが可能なミストであるのがより好ましい。ミストの液滴サイズは、特に限定されず、数mm程度の液滴であってもよいが、好ましくは50μm以下であり、より好ましくは1~10μmである。
前記搬送工程では、前記霧化・液滴化工程で生成されるミストまたは液滴を、キャリアガスでもって前記基体まで搬送する。キャリアガスの種類としては、本発明の目的を阻害しない限り特に限定されず、例えば、酸素、オゾン、窒素やアルゴン等の不活性ガス、または水素ガスやフォーミングガス等の還元ガスなどが好適な例として挙げられる。本発明においては、前記キャリアガスが、酸素又は不活性ガスであるのがより好ましい。また、キャリアガスの種類は1種類であってよいが、2種類以上であってもよく、キャリアガス濃度を変化させた希釈ガス(例えば10倍希釈ガス等)などを、第2のキャリアガスとしてさらに用いてもよい。また、キャリアガスの供給箇所も1箇所だけでなく、2箇所以上あってもよい。キャリアガスの流量は、特に限定されないが、0.01~20L/分であるのが好ましく、1~10L/分であるのがより好ましい。希釈ガスの場合には、希釈ガスの流量が、0.001~10L/分であるのが好ましく、0.1~5L/分であるのがより好ましい。
成膜工程では、前記ミストまたは前記液滴を熱反応させて、前記基体上に成膜する。前記熱反応は、熱でもって前記ミストが反応すればそれでよく、反応条件等も本発明の目的を阻害しない限り特に限定されない。本工程においては、前記熱反応を、通常、溶媒の蒸発温度以上の温度で行うが、高すぎない温度(例えば、800℃)以下が好ましく、600℃以下がより好ましく、500℃以下が最も好ましい。また、熱反応は、真空下、非酸素雰囲気下、還元ガス雰囲気下および酸素雰囲気下のいずれの雰囲気下で行われてもよく、また、大気圧下、加圧下および減圧下のいずれの条件下で行われてもよいが、本発明においては、大気圧下で行われるのが好ましい。
1.成膜装置
図1を用いて、本実施例で用いたミストCVD装置1を説明する。ミストCVD装置1は、キャリアガスを供給するキャリアガス源2aと、キャリアガス源2aから送り出されるキャリアガスの流量を調節するための流量調節弁3aと、キャリアガス(希釈)を供給するキャリアガス(希釈)源2bと、キャリアガス(希釈)源2bから送り出されるキャリアガス(希釈)の流量を調節するための流量調節弁3bと、原料溶液4aが収容されるミスト発生源4と、水5aが入れられる容器5と、容器5の底面に取り付けられた超音波振動子6と、成膜室7と、ミスト発生源4から成膜室7までをつなぐ供給管9と、成膜室7内に設置されたホットプレート8と、熱反応後のミスト、液滴および排気ガスを排気する排気口11とを備えている。なお、ホットプレート8上には、基板10が設置されている。
スズとアンチモンをモル比で0.2:0.01となるように水溶液を調整し、これを原料溶液とした。
上記2.で得られた原料溶液4aをミスト発生源4内に収容した。次に、基板10として、表面に凸凹形状を有するSUS基板からなるセパレータをホットプレート8上に設置し、ホットプレート8を作動させて基板温度を450℃にまで昇温させた。次に、流量調節弁3aを開いて、キャリアガス源であるキャリアガス供給手段2aからキャリアガスを成膜室7内に供給し、成膜室7の雰囲気をキャリアガスで十分に置換した後、キャリアガスの流量を0.5L/分に、キャリアガス(希釈)の流量を4.5L/分に調節した。なお、キャリアガスとして酸素を用いた。なお、基板10として用いた、SUS基板からなるセパレータの概略構成図を、図2に示す。本実施例で用いたセパレータは、並行型の流路パターンを有するセパレータであり、SUS基板13上に、スクリーン印刷によって形成された、流路パターンを構成するための流路形成層14および流路壁15、各単セルに反応ガスや冷媒を供給するためのマニホールド16が設けられた構成となっている。なお、本実施例で用いたセパレータの断面を模式的に示す図を、図3に示す。
次に、超音波振動子6を2.4MHzで振動させ、その振動を、水5aを通じて原料溶液4aに伝播させることによって、原料溶液4aを霧化させてミスト4bを生成させた。このミスト4bが、キャリアガスによって、供給管9内を通って、成膜室7内に導入され、大気圧下、450℃にて、基板10近傍でミストが熱反応して、基板10上に膜が形成された。なお、膜厚90nmであった。
上記4.で得られた膜は、剥離等が生じることなく、密着性に優れた膜であった。また、得られた膜につき、4探針法を用いて比抵抗測定を実施したところ、得られた膜の比抵抗は、7.7×10-4Ωcmであった。
基板として、SUS304基板を用いたこと、原料溶液として、クロムアセチルアセトナートを、0.05モル/Lとなるように調整した水溶液を用いたこと、成膜温度を400℃としたこと以外は、実施例1と同様にして、成膜を行った。得られた膜は、実施例1と同様に、剥離等が生じることなく密着性に優れた膜であった。
本発明の成膜方法によって得られた金属酸化膜の耐食性を確認するために、実施例2で得られた膜付きのSUS304基板に対して、耐食性試験を行った。耐食性試験では、実施例2で得られた膜付きのSUS304基板、および比較対象としてSUS304基板を、フッ化水素酸に浸漬させた。その結果、SUS304基板は、浸漬直後から表面の侵食が観察された。一方、実施例2で得られた膜付きのSUS304基板については、30分間浸漬を行っても、膜が形成された表面は侵食されることなく保たれていた。また、30分間の浸漬中に膜の剥離等が生じることはなく、金属酸化膜と基板との密着性も十分に保たれていた。このことから、本発明の成膜方法によって、フッ化水素酸に対して少なくとも30分間耐えうる耐食性がSUS基板に付与されたことがわかる。
SUS基板13の片面に代えて、SUS基板13の両面にそれぞれ成膜したこと以外は、実施例1と同様にして導電性積層構造体を得た。
SUS304基板の片面に代えて、SUS304基板の両面にそれぞれ成膜したこと以外は、実施例2と同様にして導電性積層構造体を得た。
スパッタリングで成膜したこと以外は、実施例3と同様にして導電性積層構造体を得た。
電気めっきで成膜したこと以外は、実施例3と同様にして導電性積層構造体を得た。
上記の実施例3、4および比較例1、2にて作製した導電性積層構造体について、導電性積層構造体の積層方向の接触抵抗の測定を行なった。具体的には、図4に示すように、作製した導電性積層構造体20を1対のガス拡散基材21で挟持し、得られた積層体をさらに1対の触媒層22で挟持し、その両端に電源を接続し、1MPaの荷重で保持して、測定装置を構成した。この測定装置に1Aの定電流を流し、その際の電圧値から、積層体の接触抵抗値(mΩcm2)を算出した。その結果を表1に示す。なお、表1中、接触抵抗が30mΩcm2以下である場合を「◎」とし、30~50mΩcm2である場合を「○」とし、50mΩcm2以上である場合を「×」とした。
多層膜の導電性の特性を確認する目的で、SUS基板に代えて、サファイア基板を用いたこと、および図5に示す条件でミストを熱反応させたこと以外は、実施例1と同様にして、導電性積層構造体を得た。なお、XRDの結果もあわせて図5に示す。得られた導電性積層構造体は、接触抵抗等において、予想に反して、他の導電性の単層膜等よりも格段に優れていた。このことからも明らかなように、本発明の導電性積層構造体における導電性金属酸化膜(多層膜)は、導電性に優れていることがわかる。
本発明の成膜方法によって得られた導電性金属酸化膜の導電性(比抵抗)を確認するために、表面に凸凹形状を有するSUS基板に代えて、絶縁基板(ガラス基板)を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、積層構造体を得た。得られた積層構造体の導電性金属酸化膜につき、4探針法を用いて比抵抗を測定したところ、導電性金属酸化膜の比抵抗は、2.0×10-3Ωcmであった。なお、得られた導電性金属酸化膜の膜厚は、400nmであった。
2a キャリアガス源
2b キャリアガス(希釈)源
3a 流量調節弁
3b 流量調節弁
4 ミスト発生源
4a 原料溶液
4b ミスト
5 容器
5a 水
6 超音波振動子
7 成膜室
8 ホットプレート
9 供給管
10 基板(基体)
11 排気口
12 セパレータ
13 SUS基板(基体)
14 流路形成層
15 流路壁
16 マニホールド
17 導電性金属酸化膜
17’ 導電性金属酸化膜
17a 第1の導電性金属酸化膜
17b 第2の導電性金属酸化膜
20 導電性積層構造体
21 ガス拡散基材
22 触媒層
23 凸凹形状
30 カソード(正極)
31 電解質
32 アノード(負極)
100 導電性積層構造体
200 導電性積層構造体(第1のセパレータ)
200’ 導電性積層構造体(第2のセパレータ)
1000 燃料電池
Claims (7)
- 基体上に直接または他の層を介して導電性金属酸化膜が形成されている導電性積層構造体であって、前記基体表面の一部または全部が、銅、アルミニウムもしくはマグネシウムを主成分として含むかまたは前記基体がステンレスの基体であり、前記導電性金属酸化膜の膜厚が30nm以上であり、前記導電性酸化膜が結晶膜であり、接触抵抗が50mΩcm2以下であることを特徴とする導電性積層構造体。
- 導電性金属酸化膜が、インジウム、錫、亜鉛およびクロムからなる群から選ばれる1種または2種以上の金属の酸化物を含む請求項1記載の導電性積層構造体。
- 前記基体が、ステンレス基板である請求項1または2に記載の導電性積層構造体。
- 前記基体が板状であり、前記基体の両面上に導電性金属酸化膜が形成されている請求項1~3のいずれかに記載の導電性積層構造体。
- 前記基体が、表面の一部又は全部に凸凹形状を有する請求項1~4のいずれかに記載の導電性積層構造体。
- 前記凸凹形状が、流路パターンを形成する請求項5記載の導電性積層構造体。
- 請求項1~6のいずれかに記載の導電性積層構造体を含む電子装置。
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