JP6954845B2 - レベルシフト装置、及びic装置 - Google Patents

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Description

本発明は、レベルシフト装置、及びIC装置に関する。
従来、レベルシフト装置として、第1の回路から入力される入力信号を、第2の回路に出力信号として出力するレベルシフト回路が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
このレベルシフト装置は、第1の電源電圧で動作する第1の回路と第1の電源電圧よりも高い第2の電源電圧で動作する第2の回路との間に接続され、一端に入力された信号を他端に出力する第1のスイッチ素子を有し、第1のスイッチ素子の他端に抵抗要素を介して第1または第2の電源電圧が供給される伝送回路と、第1のスイッチ素子がオフの状態になった場合に、第1のスイッチ素子の他端に抵抗要素を介して流れる電流と同一方向に電流を供給する制御回路と、を備えて構成されている。
特開2011−119979号公報
しかし、従来のレベルシフト装置は、上記示した第1の回路からレベルシフト装置に入力される入力信号は、上記示した第1の電源電圧で動作する信号である。このため、異なる電源電圧で規定される入力信号がある場合、例えば、5V系の信号と車両のバッテリ12Vで規定される信号がある場合は、それぞれの電圧系に対応したレベルシフト装置を使用する必要があった。
したがって、本発明の目的は、異なる電圧系に対応可能なレベルシフト装置、及び、そのレベルシフト装置を備えたIC装置を提供することにある。
[1]上記目的を達成するため、ゲートに内部電源部の電圧が印加され、ソース、ドレインの一方は、外部から外部入力信号が入力され、前記ソース、ドレインの他方は、前記外部入力信号と同位相の中間出力信号を出力する高耐圧素子と、前記中間出力信号を閾値と比較することにより前記内部電源部の電圧で規定されるHi/Lo信号に変換して内部の処理回路へ出力する比較部と、を備え、前記高耐圧素子、前記比較部、前記処理回路、及び前記内部電源部を内部に有する、レベルシフト装置を提供する。
[2]前記高耐圧素子は、DMOS素子(Double-Diffused MOS)である、上記[1]に記載のレベルシフト装置であってもよい。
[3]また、前記高耐圧素子は、前記ゲートに前記内部電源部の電圧が印加され、前記外部入力信号がHiレベル信号のときに、前記ドレインと前記ソース間を流れるドレイン電流が飽和する飽和領域となるように設定されている、上記[1]又は[2]に記載のレベルシフト装置であってもよい。
[4]また、前記高耐圧素子の前記中間出力信号の出力部には、前記出力部がLoレベルのときに確実にLoレベルにするためのプルダウン手段を備える、[1]から[3]のいずれか1に記載のレベルシフト装置であってもよい。
[5]また、前記プルダウン手段は、定電流源である、上記[1]から[4]のいずれか1に記載の入力装置であってもよい。
[6]また、前記閾値は、前記内部電源部の電圧の1/2に設定されている、上記[1]から[5]のいずれか1に記載の入力装置であってもよい。
[7]また、前記外部入力信号は、少なくとも車両のバッテリ電源電圧で規定される信号を含む、上記[1]から[6]のいずれか1に記載の入力装置であってもよい。
[8]また、上記[1]から[7]のいずれか1に記載の入力装置を備え、前記高耐圧素子、前記処理回路、前記比較部、及び前記電源電圧を前記内部に備えてパッケージングされて形成された、IC装置であってもよい。
本発明のレベルシフト装置、及び入力装置によれば、異なる電圧系に対応可能なレベルシフト装置、及び、そのレベルシフト装置を備えたIC装置が可能となる。
図1は、本発明の実施の形態に係るレベルシフト装置、IC装置の全体構成図である。 図2は、本発明の実施の形態に係るレベルシフト装置の回路構成図である。 図3は、DMOSのドレイン、ソース間電圧Vdsとドレイン電流Idの関係を示し、ゲート、ソース間電圧VgsをパラメータとしたときのDMOSの基本特性図である。 図4(a)は、外部入力信号の信号波形、図4(b)は、DMOSの中間出力信号波形Vm、図4(c)は、レベルシフト装置の出力信号Voutの信号波形である。 図5は、図2で示したレベルシフト装置の変形例であり、pチャネルのDMOS、定電流源にダイオードを使用した場合のレベルシフト装置の回路構成図である。
(本発明の実施の形態)
本発明の実施の形態に係るレベルシフト装置1は、ゲートGに内部電源部10の電圧VDDが印加され、ソースS、ドレインDの一方は、外部から外部入力信号Vinが入力され、ソースS、ドレインDの他方は、外部入力信号Vinと同位相の中間出力信号Vmを出力する高耐圧素子と、中間出力信号Vmを閾値Vthと比較することにより内部電源部10の電圧VDDで規定されるHi/Lo信号に変換して内部の処理回路40へ出力する比較部と、を備え、高耐圧素子としてのDMOS20、比較部としてのコンパレータ30、処理回路40、及び内部電源部10を内部に有して構成されている。
(レベルシフト装置1の構成)
図1は、本発明の実施の形態に係るレベルシフト装置1、IC装置100の全体構成図である。図1に示すように、レベルシフト装置1は、外部電源から供給される外部電源電圧Vに基づいて内部電圧VDDを生成するための内部電源部10、内部電圧VDDで動作するDMOS20、コンパレータ30、処理回路40で構成されている。
図1に示すように、レベルシフト装置1、IC装置100は、処理回路40の出力信号に基づいて出力端子に接続された負荷回路に電流を供給するための出力回路50を備えることができる。
また、図1に示すように、DMOS20の中間出力信号Vmの出力部には、出力部がLoレベルのときに確実にLoレベルにするためのプルダウン手段として定電流源35を備えることができる。
(内部電源部10)
内部電源部10は、図1に示すように、外部電源からレベルシフト装置1、IC装置100の内部に電源が供給される電源入力端子101と接続されている。また、内部電源部10で生成された内部電圧VDDを供給するDMOS20、コンパレータ30、処理回路40等と接続されている。
内部電源部10は、外部電源から供給される外部電源電圧Vに基づいて内部電圧VDDを生成する電源部である。外部電源電圧Vは、例えば、5V、車両のバッテリ電源電圧である12V等である。内部電圧VDDは、例えば、3.3V、5V等である。
(高耐圧素子としてのDMOS20)
図1に示すように、高耐圧素子として、nチャネルのDMOS20を使用するものとして説明する。なお、pチャネルのDMOSも使用でき、その場合は、ソースSが入力側、ドレインDが出力側に接続される。
DMOS(Double-Diffused MOS)は、パワーMOSFETの基本的な構造を有するものである。パワーDMOSは、大電力を取り扱うように設計されたDMOSのことで、他のパワーデバイスと比較するとスイッチング速度が速く、低電圧領域での変換効率が高い為、200V以下の領域で、主に、スイッチング電源や、DC−DCコンバータ等に用いられる。基本的な構造は、Nチャネルタイプの場合、N+基板の上に形成されたNエピタキシャル層表面側に低濃度のP型層(Pボディ)と高濃度のN型層を二重拡散で形成した構造を有し、この構造(単位セル)が多数並列接続されて構成されている。
図1、2に示すように、DMOS20のドレインDが抵抗Rを介して入力端子102に接続されている。この入力端子102には、外部電源電圧で規定される外部入力信号Vinが入力される。ゲートGは、内部電源部10に接続され、常時内部電圧VDDが印加される。また、ソースSは、コンパレータ30の非反転入力端子31、及び、定電流源35に接続されている。ソースSの出力は、中間出力信号Vmとして出力される。
本実施の形態では、図2に示すように、外部電源電圧を12V系、内部電源電圧を5V系として説明する。
(比較部としてのコンパレータ30)
コンパレータ30は、図1、2に示すように、例えば、オペアンプで構成される。コンパレータ30の非反転入力端子31には、中間出力信号Vmが印加される。また、定電流源35の一端が接続される。一方、反転入力端子32は、リファレンス電圧としての閾値電圧Vthが入力される。この閾値電圧Vthは、例えば、内部電源部10の電圧VDDの1/2、すなわち、約2.5Vに設定される。これらの構成により、コンパレータ30は、入力信号である中間出力信号Vmを閾値Vthと比較することにより内部電源部VDDの電圧で規定されるHi/Lo信号に変換して内部の処理回路40へ出力信号Voutを出力する。
なお、変形例として、コンパレータ30は、単純にインバータを使った構成とすることも可能である。インバータの閾値(内部での遷移電圧)と入力電圧を比較することにより、コンパレータとして機能させることができる。インバータを使用することでコンパレータよりも回路面積を小さく構成することができる。
図1、2に示すように、上記説明したDMOS20とコンパレータ30により、シフト回路部25を構成する。シフト回路部25の出力Voutは、処理回路40の処理を行なうための入力信号となる。
(定電流源35)
本実施の形態では、プルダウン手段として、定電流源35を備えている。プルダウン手段は、出力部がLoレベルのときに確実にLoレベルにするためのものである。定電流源35の一端は、DMOS20のソースS、コンパレータ30の反転入力端子32に接続され、他端は、グランドGNDに接続されている。定電流源35は、種々の回路により構成可能であり、例えば、トランジスタと抵抗で構成する定電流回路、複数のトランジスタで構成するミラー回路、等である。
(処理回路40)
処理回路40は、内部電源5Vで動作する、例えば、ロジック回路である。例えば、シフト回路部25の出力Voutにより所定のロジックにより出力を決定する回路構成とされている。一例を挙げれば、処理回路40は、出力端子104にLEDを接続した場合において、LEDの点灯、点滅、消灯を外部入力信号Vin、シフト回路部25の出力Voutにより制御するための制御信号を生成するものである。
(出力回路50)
出力回路50は、一例を挙げれば、出力端子にLEDを接続した場合において、負荷であるLEDに電流を供給するためのドライバ回路である。例えば、定電流出力、オープンドレイン出力等の回路構成とすることができる。
(レベルシフト装置1の動作)
図3は、DMOSのドレイン、ソース間電圧Vdsとドレイン電流Idの関係を示し、ゲート、ソース間電圧VgsをパラメータとしたときのDMOSの基本特性図である。また、図4(a)は、外部入力信号の信号波形、図4(b)は、DMOSの中間出力信号波形Vm、図4(c)は、レベルシフト装置の出力信号Voutの信号波形である。以下、図3、4に基づいて、レベルシフト装置1の動作を説明する。
図3に示すように、ドレイン、ソース間電圧Vdsがある一定値以上になると、ドレイン電流Idの値はほとんど変わらずほぼ一定になる。この特性は、ゲート、ソース間電圧Vgsをパラメータとして変化させた場合も同様である。
図3において、平坦な領域は飽和領域、ドレイン、ソース間電圧Vdsが小さくVdsの変化に応じてドレイン電流Idが変化する領域を線形領域という。あるゲート、ソース間電圧Vgsを設定した場合に、外部入力信号VinのHiレベルが飽和領域となり、Loレベルがゼロに近い線形領域となるように設定することにより、閾値を適正に設定することにより、外部入力信号Vinと同位相の信号を生成することができる。なお、この外部入力信号Vinと同位相の信号は、外部入力信号Vinに追従する信号であって、外部入力信号Vinと位相反転した信号も含まれるものである。
本実施の形態では、図3に示すように、ゲート、ソース間電圧Vgsが常時オンとなる5Vに設定し、特性が平坦になる飽和領域に外部入力信号VinのHiレベルが、ゼロに近い線形領域に外部入力信号VinのLoレベルが対応するように設定する。
図4(a)に示すように、外部入力信号Vinを、Hiレベル12V、Loレベル0(ゼロ)のパルス信号とする。ドレイン電流Idは、コンパレータ30の入力インピーダンスが十分大きいので、ほとんど全部が定電流源35を介してグランドGNDに流れる。DMOS20の中間出力信号Vmは、図2を参照すると、外部入力信号Vinから定電流源35の電圧降下分、約0.6V程度を引いたものであることから、Vmは、例えば、外部電源電圧Vに近い値となる。したがって、DMOS20の中間出力信号Vmは、図4(b)に示すように、外部入力信号Vinとほぼ同じレベルの同位相の信号となる。
図4(b)において、コンパレータ30の閾値電圧Vthを0(ゼロ)とVmの間に設定する。具体的には、例えば、閾値電圧VthをVDDの1/2、すなわち、約2.5Vとする。このような設定により、コンパレータ30の出力、シフト回路部25の出力Voutは、外部入力信号Vinと同位相で、Hiレベル5V、Loレベル0(ゼロ)のパルス信号となる。このシフト回路部25の出力Voutは、ロジック回路である処理回路40の入力信号とすることができる。
(変形例)
図5は、図2で示したレベルシフト装置の変形例であり、pチャネルのDMOS21、定電流源にダイオードD1、D2を使用した場合のレベルシフト装置の回路構成図である。pチャネルのDMOS21を使用するため、ソースSが入力側、ドレインDが出力側に接続されている。ドレインDにダイオードD2、D1が接続されてグランドGNDに接続されている。ダイオードD2、D1の間がコンパレータ30の非反転入力端子31に接続されている。その他の構成は、上記説明した構成と同様である。
このような構成においても、中間出力信号Vmは、外部入力信号VinからダイオードD1の電圧降下分、約0.6V程度を引いたものであることから、例えば、外部電源電圧Vに近い値である。したがって、DMOS21の中間出力信号Vmは、図4(b)に示すのと同様に、外部入力信号Vinとほぼ同じレベルの同位相の信号となる。
また、定電流源35、ダイオードD1の代わりに、プルダウン抵抗を使用することも可能である。プルダウン抵抗値を十分小さい値に設定することにより、定電流源35、ダイオードD1と同様に、出力部がLoレベルのときに確実にLoレベルにするためのプルダウン手段として機能させることが可能である。
(IC装置100としての実施形態)
上記説明したレベルシフト装置1を備え、高耐圧素子、処理回路、比較部、及び電源電圧を内部に備えてパッケージングされて形成されたIC装置100も本実施形態の1つでる。
IC装置100は、図1に示すように、内部電源部10、DMOS20、コンパレータ30、定電流源35、処理回路40、出力回路50等をIC内部に備えてパッケージングされて形成されている。IC装置100の端子として、バッテリ電源を入力するための電源入力端子101、外部入力信号Vinが入力される入力端子102、グランドGND端子103、負荷回路が接続される出力端子104等が備えられる。なお、入力端子102、出力端子104は、複数の端子とすることができる。
(実施の形態の効果)
本発明の実施の形態によれば、以下のような効果を有する。
(1)本発明の実施の形態に係るレベルシフト装置1は、ゲートGに内部電源部10の電圧VDDが印加され、ソースS、ドレインDの一方は、外部から外部入力信号Vinが入力され、ソースS、ドレインDの他方は、外部入力信号Vinと同位相の中間出力信号Vmを出力する高耐圧素子と、中間出力信号Vmを閾値Vthと比較することにより内部電源部10の電圧VDDで規定されるHi/Lo信号に変換して内部の処理回路40へ出力する比較部と、を備え、高耐圧素子としてのDMOS20、比較部としてのコンパレータ30、処理回路40、及び内部電源部10を内部に有して構成されている。DMOS20を高耐圧素子であるDMOSとして構成するので、外部入力信号Vinが内部電源部10の電圧VDDを超える場合でも破壊されない。すなわち、ドレイン電圧Vdsは、外部入力信号Vinに応じて変化するが、DMOSの電圧降下分のほとんどをこのDMOSで負担するため、中間出力信号Vmが、後段の低耐圧素子(コンパレータ30、処理回路40等)の破壊電圧を超えることがない。
(2)上記の構成により、バッテリ電圧入力可能な回路をIC内に取り込み、直接バッテリ電庄での入力を受けられるようにした。入力回路は、高耐圧素子を使用し、閾値を5V以下とすることで、バッテリ電圧駆動でない、5Vでの入力も可能な構成とすることにより、同一IC内で、5V入力、バッテリ電圧入力の両方に対応可能で、異なる電圧系に対応可能なレベルシフト装置が可能となる。
(3)また、外付け回路レスで、バッテリ電圧の入力ができるため、部品費低減、基板面積低減の効果がある。また、バッテリ入力仕様、5V入力仕様の両方の車両に同じICを使うことができ、量産効果によるIC価格の低減が見込めるという効果を有する。
以上、本発明のいくつかの実施の形態及び変形例を説明したが、これらの実施の形態及び変形例は、一例に過ぎず、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、これら新規な実施の形態及び変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更等を行うことができる。また、これら実施の形態及び変形例の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない。さらに、これら実施の形態及び変形例は、発明の範囲及び要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…レベルシフト装置、10…内部電源部、20…DMOS、25…シフト回路部、30…コンパレータ、31…非反転入力端子、32…反転入力端子、35…定電流源、40…処理回路、50…出力回路、100…IC装置、101…電源入力端子、102…入力端子、103…グランドGND端子、104…出力端子

Claims (8)

  1. 電源入力端子を介して入力する外部電源から供給される外部電源電圧に基づいて内部電圧を生成する内部電源部と、
    前記内部電源部が生成した前記内部電圧で動作する処理回路と、
    前記処理回路の出力信号に基づいて出力端子に電流を供給する出力回路と、
    ゲートに前記内部電源部の前記内部電圧が印加され、ソース、ドレインの一方は、入力端子を介して外部から外部入力信号が入力され、前記ソース、ドレインの他方は、前記外部入力信号と同位相の中間出力信号を出力する高耐圧素子、前記高耐圧素子の前記ソース、ドレインの他方に接続され、前記中間出力信号がLoレベルのときに確実にLoレベルにするための定電流源、及び前記中間出力信号を閾値と比較することにより前記内部電源部の前記内部電圧で規定されるHi/Lo信号に変換して前記処理回路へ出力する比較部を有するシフト回路部と、
    を備え、
    前記内部電源部、前記処理回路、前記出力回路及び前記シフト回路がパッケージングされたIC装置
  2. 前記出力端子は、発光素子に接続され、
    前記処理回路は、前記シフト回路部から出力される前記Hi/Lo信号に基づいて前記発光素子の点灯、点滅、消灯を制御するための制御信号を生成して前記出力回路に出力する、
    請求項1に記載のIC装置
  3. 複数の前記シフト回路部と、
    複数の前記シフト回路部ごとに設けられた前記入力端子と、
    前記入力端子に応じて設けられた複数の前記出力端子と、
    を備えた、
    請求項1又は2に記載のIC装置
  4. 前記高耐圧素子は、DMOS素子(Double-Diffused DMOS)である、
    請求項1乃至3のいずれか1項に記載のIC装置
  5. 前記高耐圧素子は、前記ゲートに前記内部電源部の前記内部電圧が印加され、前記外部入力信号がHiレベル信号のときに、前記ドレインと前記ソース間を流れるドレイン電流が飽和する飽和領域となるように設定されている、
    請求項1乃至4のいずれか1項に記載のIC装置
  6. 前記比較部は、非反転入力端子には前記中間出力信号が印加されると共に前記定電流源の一端が接続され、反転入力端子には前記閾値を形成するための閾値電圧が入力するコンパレータである、
    請求項1乃至5のいずれか1項に記載のIC装置
  7. 前記高耐圧素子は、前記ソースが前記入力端子側であり、前記ドレインが前記中間出力信号を出力する出力側であるpDMOS素子であり、
    前記定電流源は、第1のダイオード及び第2のダイオードを有し、前記ドレインに前記第2のダイオード及び前記第1のダイオードの順に接続され、
    前記第1のダイオードが接地され、
    前記第2のダイオードと前記第1のダイオードの間が前記比較部の前記非反転入力端子に接続された、
    請求項6に記載のIC装置
  8. 前記外部入力信号は、少なくとも車両のバッテリ電源電圧で規定される信号を含む、
    請求項1乃至7のいずれか1項に記載のIC装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7276749B2 (ja) * 2019-12-26 2023-05-18 株式会社東海理化電機製作所 入力回路

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4888501A (en) * 1988-10-19 1989-12-19 Ncr Corporation ECL to CMOS converter
US5406140A (en) * 1993-06-07 1995-04-11 National Semiconductor Corporation Voltage translation and overvoltage protection
US5646550A (en) * 1996-02-22 1997-07-08 Motorola, Inc. High reliability output buffer for multiple voltage system
US6147540A (en) * 1998-08-31 2000-11-14 Motorola Inc. High voltage input buffer made by a low voltage process and having a self-adjusting trigger point
US6181193B1 (en) * 1999-10-08 2001-01-30 International Business Machines Corporation Using thick-oxide CMOS devices to interface high voltage integrated circuits
US6853233B1 (en) * 2000-09-13 2005-02-08 Infineon Technologies Ag Level-shifting circuitry having “high” output impedance during disable mode
KR100378201B1 (ko) * 2001-06-29 2003-03-29 삼성전자주식회사 전원전압 이상의 입력신호를 용인하는 신호전송회로
TW200525867A (en) * 2004-01-21 2005-08-01 Renesas Tech Corp Voltage clamp circuit, switching power supply apparatus, semiconductor IC device, and voltage level converting circuit
US7173472B2 (en) * 2004-06-03 2007-02-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Input buffer structure with single gate oxide
US7236002B2 (en) 2005-09-15 2007-06-26 Dialog Semiconductor Gmbh Digital CMOS-input with N-channel extended drain transistor for high-voltage protection
US7336117B2 (en) * 2006-07-14 2008-02-26 Stmicroelectronics S.R.L. Enhancement of power on reliability in a dual power supply digital device with down converter
US7768309B2 (en) * 2007-12-03 2010-08-03 Luich Thomas M Low-noise PECL output driver
JP5228468B2 (ja) * 2007-12-17 2013-07-03 富士通セミコンダクター株式会社 システム装置およびシステム装置の動作方法
US7863962B2 (en) * 2008-04-17 2011-01-04 National Semiconductor Corporation High voltage CMOS output buffer constructed from low voltage CMOS transistors
US8106699B2 (en) * 2008-07-29 2012-01-31 Qualcomm Incorporated High signal level compliant input/output circuits
JP2011119979A (ja) * 2009-12-03 2011-06-16 Toshiba Corp レベルシフト回路
JP5719446B2 (ja) * 2011-09-30 2015-05-20 シャープ株式会社 レベルシフト回路
CN203086437U (zh) * 2012-12-06 2013-07-24 艾尔瓦特集成电路科技(天津)有限公司 电平转换电路
JP2017055214A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 株式会社東海理化電機製作所 レベルシフト回路
JP6775971B2 (ja) * 2016-03-16 2020-10-28 ローム株式会社 レベルシフト回路、電子機器および集積回路
JP6493933B2 (ja) * 2017-01-25 2019-04-03 株式会社東海理化電機製作所 レベルシフタ

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