JP6879808B2 - 熱処理装置 - Google Patents

熱処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6879808B2
JP6879808B2 JP2017079598A JP2017079598A JP6879808B2 JP 6879808 B2 JP6879808 B2 JP 6879808B2 JP 2017079598 A JP2017079598 A JP 2017079598A JP 2017079598 A JP2017079598 A JP 2017079598A JP 6879808 B2 JP6879808 B2 JP 6879808B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat treatment
gas
chamber
trap
exhaust port
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017079598A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018182065A (ja
Inventor
靖博 福本
靖博 福本
田中 裕二
裕二 田中
友宏 松尾
友宏 松尾
石井 丈晴
丈晴 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP2017079598A priority Critical patent/JP6879808B2/ja
Priority to PCT/JP2018/014432 priority patent/WO2018190224A1/ja
Priority to TW107112693A priority patent/TWI673771B/zh
Publication of JP2018182065A publication Critical patent/JP2018182065A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6879808B2 publication Critical patent/JP6879808B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Furnace Details (AREA)
  • Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)

Description

本発明は、半導体基板、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板に対して熱処理を行う熱処理装置に関する。
熱処理装置は、チャンバと、チャンバの内部に設けられた熱処理プレートとを備えている。熱処理プレートは、塗布液が塗布された基板に対して熱処理を行う。熱処理プレートによって基板が高温に加熱されると、塗布液から昇華物が発生し、発生した昇華物はチャンバ内の気体に含まれる。また、昇華物を含む気体が冷却されると、結晶化した昇華物がチャンバの内壁に付着および堆積する。そのため、熱処理装置は、チャンバ内の気体を排気するように構成されている。
特許文献1には、基板の上方に設けられた排気取入口と、排気取入口に接続され、熱線を有する配管と、配管に設けられ、昇華物を回収するトラップ部とを備えたベーク装置が
開示されている。特許文献2には、トラップ部までの配管の温度を検出し、検出した温度に基づいて配管の温度を調整することが開示されている。特許文献3には、トラップ部までの配管に設けられ、冷却水を用いて排気ガスを吸引するアスピレータが開示されている。
また、特許文献4には、図10のように、熱処理プレート202および基板Wの上方に設けられ、内壁面203Aがテーパ面で形成された内側カバー203と、その内側カバー203の中央部に設けられた排気口204とを備えた構成が開示されている。
特開平06−084782号公報 特許第4467266号公報 特許第4290579号公報 特開2008−016768号公報
しかしながら、従来の熱処理装置は、次のような問題がある。すなわち、図10に示す内側カバー203および排気口204のように、基板Wの上方で排気する場合、基板W上の塗布液から発生した昇華物が結晶化して内側カバー203および排気口204に付着する場合がある。付着した昇華物が落下すると、基板のパターン形成に悪影響を与えてしまう。また、チャンバ205内部(熱処理空間)に昇華物を含む気体が滞留することは、昇華物付着などの視点から好ましくない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつその気体を回収でき、また、基板上への昇華物の落下を抑えることができる熱処理装置を提供することを目的とする。
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、本発明に係る熱処理装置は、基板を収容するチャンバと、前記チャンバ内の下部に設けられ、基板を水平姿勢で載置した状態で熱処理する熱処理プレートと、前記チャンバ内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部と、前記チャンバの側壁に設けられた基板出入口と、前記基板出入口とは別に前記チャンバの側壁に設けられた水平方向に扁平な排気口であって、前記チャンバの内部の幅と同じ開口幅を有すると共に、前記チャンバの内部の高さと同じ開口高さを有する前記排気口と、前記チャンバ内の気体を回収する気体回収部であって、前記排気口と同じ大きさの開口部を一端に有し、前記一端の開口部を前記排気口に接続させて前記チャンバに取り付けられた前記気体回収部と、前記気体回収部の他端の開口部に接続され、前記気体回収部で回収された前記気体中における基板上の塗布液から発生した昇華物を除去するトラップ部と、を備えていることを特徴とするものである。
本発明に係る熱処理装置によれば、基板を収容するチャンバの側壁には、基板出入口とは別に、水平方向に扁平な排気口が設けられている。排気口は、チャンバの内部の幅と同じ開口幅を有すると共に、チャンバの内部の高さと同じ開口高さを有する。排気口がチャンバの側壁に設けられているので、仮に結晶化した昇華物が付着したとしても、基板上への昇華物の落下が抑えられる。また、排気口は、チャンバの内部の幅と同じ開口幅を有すると共に、チャンバの内部の高さと同じ開口高さを有するので、チャンバ内の昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口を通じてその気体を回収できる。
また、上述の熱処理装置において、前記排気口は、前記基板出入口に対向して設けられていることが好ましい。これにより、基板出入口から排気口までが一直線となる。基板出入口から排気口までが例えばL字になった場合、L字に折れ曲がった部分で気体を滞留させてしまう可能性がある。しかしながら、本発明により、気体を滞留させてしまう部分の発生を抑えることで、昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口を通じてその気体を回収できる。
また、上述の熱処理装置において、前記排気口は、平面視した場合に、前記排気口の中心を通り、かつ前記排気口と直交する直線が前記熱処理プレートの基板載置面の中心を通るように配置されていることが好ましい。平面視した場合に、基板載置面の中心、すなわち、基板の中心を基準として、昇華物を含む気体を、排気口を通じて回収できる。
また、上述の熱処理装置において、前記排気口は、前記熱処理プレートの基板載置面の高さが前記排気口の上縁と下縁との間に位置するように配置されていることが好ましい。これにより、基板載置面に沿って昇華物を含む気体を、排気口を通じて円滑に回収できる。
また、上述の熱処理装置において、前記トラップ部は、前記気体回収部で回収された前記気体を通すためのトラップ流路と、前記トラップ流路に接続され、前記トラップ部の下流に昇華物除去後の気体を送るための流出部と、前記トラップ流路の流入口と前記流出部との間の前記トラップ流路の外周に設けられ、前記トラップ流路に流れる前記気体を冷却する気体冷却部と、前記トラップ流路の下端よりも高い位置で前記流出部が前記トラップ流路に接続されることで形成される、前記昇華物を収集する昇華物収集部と、を備えていることが好ましい。
昇華物除去後の気体を送る流出部とトラップ流路の下端との間には、気体冷却部で結晶化された昇華物を収集する昇華物収集部が形成されている。これにより、結晶化された昇華物を昇華物収集部に収集させることができ、また、昇華物除去後の気体を、流出部を通じてトラップ部の下流に送ることができる。
また、上述の熱処理装置において、前記トラップ流路は、前記気体回収部の前記他端の開口部と前記気体冷却部との間における、前記気体の流れ方向と直交する断面積が、前記他端の開口部の開口面積と同じ、あるいは前記開口面積よりも広くなるように構成されていることが好ましい。
気体回収部の他端の開口と気体冷却部との間におけるトラップ流路の断面積が、他端の開口の開口面積よりも狭い場合、気体回収部で回収された気体を気体冷却部に送りにくくなる。また、狭くなった部分で昇華物が結晶化すると、結晶化された昇華物によって狭くなった部分を詰まらせてしまう可能性がある。本発明によれば、気体回収部で回収された気体を気体冷却部に円滑に素早く送ることができ、昇華物によってトラップ流路を詰まらせてしまうことを防止できる。
また、上述の熱処理装置において、前記気体回収部は、前記チャンバに対して着脱可能に構成されていることが好ましい。チャンバから気体回収部を取り外すことで、排気口が露出する。排気口は、基板の水平方向の投影長さ以上の開口幅を有している。そのため、排気口を通じて、基板を出し入れすることができ、また、清掃治具でチャンバ内を清掃するなどチャンバ内をメンテナンスすることができる。
また、上述の熱処理装置において、前記気体回収部は、前記チャンバに対して着脱可能に構成されていると共に、前記気体冷却部を含む前記トラップ部に対して着脱可能に構成されていることが好ましい。これにより、チャンバ内をメンテナンス等することができる。また、気体回収部は、気体冷却部を含むトラップ部以降の構成と分離できるので、チャンバに対する気体回収部の着脱を容易にすることができる。
また、上述の熱処理装置において、前記トラップ部は、平面視した場合に、前記排気口を挟んで前記熱処理プレートの反対側に設けられていることが好ましい。これにより、気体回収部とトラップ部とを近くに配置できるので、排気口から回収された気体をトラップ部に素早く送ることができる。
本発明に係る熱処理装置によれば、排気口がチャンバの側壁に設けられているので、仮に結晶化した昇華物が付着したとしても、基板上への昇華物の落下が抑えられる。また、排気口は、チャンバの内部の幅と同じ開口幅を有すると共に、チャンバの内部の高さと同じ開口高さを有するので、チャンバ内の昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口を通じてその気体を回収できる。
実施例に係る熱処理装置の概略構成図である。 (a)は、チャンバ等の平面図であり、(b)は、チャンバを正面から見たときの排気口およびチャンバのフランジを示す図である。 チャンバと気体回収部の連結部分を拡大した縦断面図である。 気体回収部およびトラップ部を示す斜視図である。 気体回収部およびトラップ部を示す概略構成図である。 (a)は、気体回収部がチャンバおよびトラップ下部に取り付けられている状態を示す図であり、(b)は、気体回収部がチャンバおよびトラップ下部から取り外された状態を示す図である。 変形例に係る気体回収部およびトラップ部を示す概略構成図である。 変形例に係る気体回収部およびトラップ部を示す概略構成図である。 変形例に係る気体回収部およびトラップ部を示す概略構成図である。 従来の熱処理装置の概略構成図である。
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図1は、実施例に係る熱処理装置の概略構成図である。
<熱処理装置1の構成>
熱処理装置1は、基板Wを熱処理するものである。熱処理装置1は、チャンバ2、熱処理プレート3、支持ピン昇降部4、ガス供給バッファ部5、不活性ガス供給部7、シャッター部9、排気ダクト部11、制御部13および設定部15を備えている。
なお、本実施例の熱処理装置1は、図10の従来の熱処理装置201のチャンバ205のように、外側カバー206を有する上部チャンバ205Aと、熱処理プレート202を有する下部チャンバ205Bとが分離可能に構成されていない。また、熱処理装置1は、エアシリンダなどのリフタ207により、上部チャンバ205Aを昇降させるように構成されていない。すなわち、本実施例の熱処理装置1は、内部圧力やガス濃度を調節するために密閉性能を得られる構成となっている。
チャンバ2は、基板Wを収容するものである。チャンバ2は、図1のように、基板出入口21、排気口23および上部開口部25を備えている。基板出入口21は、チャンバ2の側壁に設けられ、チャンバ2内に基板Wを搬出および搬入するための開口である。排気口23は、チャンバ2内の気体を排気するための開口である。排気口23等については後述する。上部開口部25は、上からチャンバ2内をメンテナンスするための開口である。
熱処理プレート3は、基板Wを水平姿勢で載置した状態で熱処理するものである。熱処理プレート3は、チャンバ2内の下部に設けられている。熱処理プレート3は、ベース板27に取り付けられており、チャンバ2の底部に設けられたもう1つの開口に挿入されることで配置される。ベース板27は、OリングRGを介在させてチャンバ2に取り付けられている。熱処理プレート3は、例えば、銅(Cu)やアルミニウム(Al)等の熱伝導率が高い金属を基材とする材料で構成されている。なお、OリングRGの劣化を防止するために、OリングRGの近傍に、冷却水が循環する冷却管28が設けられている。
熱処理プレート3は、ヒータ29を備えている。ヒータ29は、熱処理プレート3を温調し、例えば、300℃〜400℃の範囲で調節する。また、熱処理プレート3には、図示しないプロキシミティボールが埋設されている。これにより、基板Wの下面と熱処理プレート3の上面との間に所定の隙間を形成する(例えば0.1mm)。
支持ピン昇降部4は、3本の支持ピン31(図1では図示の関係上、2本のみ示す)、昇降部材33、およびアクチュエータ35を備えている。支持ピン31は、熱処理プレート3を貫通するように、設けられている。支持ピン31は、昇降部材33で支持されており、アクチュエータ35は、昇降部材33を介在させて支持ピン31を昇降させる。
ガス供給バッファ部5は、上部開口部25に蓋をするように、OリングRGを介在させてチャンバ2に取り付けられる。ガス供給バッファ部5は、チャンバ2に対して着脱可能に構成されている。ガス供給バッファ部5は、例えばパンチングメタルで構成された拡散板37を備えている。拡散板37は、不活性ガス供給部7により供給された窒素(N)ガスを、拡散板37の貫通口37Aを通じて、熱処理空間HSに拡散させる。なお、熱処理空間HSは、扁平な略直方体の形状で構成されている。
不活性ガス供給部7は、ガス供給バッファ部5を介して、不活性ガスとして窒素ガスをチャンバ2内に供給する。不活性ガス供給部7は、例えば2個の流体調整弁などを備え、窒素ガスの流量を二段階に切り替え可能に構成されている。
シャッター部9は、基板出入口21の前面に設けられている。シャッター部9は、シャッター本体39とアクチュエータ41とを備えている。アクチュエータ41は、シャッター本体39を上下方向に移動させる。これにより、シャッター本体39を実線または破線の位置に移動させて、基板出入口21を開閉する。また、シャッター本体39には、OリングRGが設けられており、シャッター本体39で基板出入口21を閉じた際に、OリングRGは、シャッター本体39とチャンバ2との間に配置される。
制御部13は、中央演算処理装置(CPU)、メモリ、タイマを備えている。制御部13は、熱処理プレート3、支持ピン昇降部4、不活性ガス供給部7、シャッター部9、排気ダクト部11などの熱処理装置1の各構成を制御する。メモリには、熱処理の手順を規定した複数個のレシピやその他熱処理装置1に必要な動作プログラムが記憶されている。設定部15は、オペレータによって操作されるものであり、複数個のレシピの一つを選択したり、レシピを編集したり、処理の開始を指示したり、警報発生時の操作を指示したりする。なお、設定部15は、液晶モニタなどの表示部並びに、マウス、キーボード、各種スイッチなどの入力部を備えている。なお、圧力センサPは、チャンバ2内の圧力を検出する。酸素濃度センサCは、チャンバ2内の酸素濃度を検出する。
<チャンバ2の排気口23等および排気ダクト部11の構成>
次に、チャンバ2の排気口23等および排気ダクト部11を説明する。図2(a)は、チャンバ2等の平面図であり、図2(b)は、チャンバ2を正面から見たとき(AA視)の排気口23およびチャンバ2のフランジ2Bを示す図である。
排気口23は、基板出入口21とは別にチャンバ2の側壁に設けられている。図2(a)のように、排気口23は、基板出入口21と対向するチャンバ2の側壁に設けられている。排気口23は、水平方向に扁平である。排気口23は、基板出入口21と略同じ大きさの開口を有している。具体的に、排気口23は、チャンバ2の内部の幅HA2と略同じ開口幅HA1を有する。すなわち、排気口23の開口幅HA1は、チャンバ2の左内側壁2Lと右内側壁2Rとの間の幅HA2と略同じである。このため、排気口23に排気ダクト部11が接続されていない場合、排気口23からも基板Wを出し入れできる。
排気口23は、図2(a)のように、熱処理プレート3を平面視した場合に、排気口23の中心を通り、かつ排気口23と直交する直線STが熱処理プレート3の基板載置面3Aの中心を通るように配置されている。平面視した場合に、基板載置面3Aの中心、すなわち、基板Wの中心を基準として、昇華物を含む気体を、排気口23を通じて回収できる。また、排気口23は、熱処理プレート3の基板載置面3Aの高さが排気口23の上縁23Uと下縁23Sとの間に位置するように配置されている。これにより、基板載置面3Aに沿って昇華物を含む気体を、排気口23を通じて回収できる。また、排気口23は、図2(b)、図3のように、チャンバ2の内部の高さTA2と略同じ開口高さTA1を有している。すなわち、排気口23の開口高さTA1は、チャンバ2の内部の天井2Uと基板載置面3Aとの間の高さTA2と略同じである。
なお、図2(a)において、符号2Aは、基板出入口21が形成されたフランジであり、符号2Cは、上部開口部25が形成されたフランジである。また、上部開口部25は、基板Wの直径よりも大きい直径の開口を有している。
図1に戻る。排気ダクト部11は、気体回収部51、トラップ部53、排気管55、開閉弁57,アスピレータ(aspirator)59、および空気供給部61を備えている。アスピレータ59は、ポンプとして機能し、気体回収部51等を通じてチャンバ2の内部の気体を排気するための吸引力を生成する。空気供給部61は、アスピレータ59を動作させるための空気を供給する。空気供給部61は、空気配管61A、2個の開閉弁61B、61C、および2個の流量調整弁61D,61Eを備えている。図1のように、空気供給部61は、空気の流量を二段階に切り替え可能に構成されている。
図3は、チャンバ2と気体回収部51の連結部分を拡大した縦断面図である。気体回収部51は、チャンバ2に対して着脱可能に構成されており、熱処理装置1は、チャンバ2に対して気体回収部51を着脱する例えばパッチン錠63を備えている。
パッチン錠63は、受け部材64とフック可動部65とを備えている。受け部材64は、チャンバ2のフランジ2Bに設けられている。フック可動部65は、気体回収部51に設けられている。フック可動部65は、受け部材64に引っ掛けるフック65Aと、フック65Aを操作するレバー65Bとを備えている。レバー65Bは、フック65Aを操作することで、受け部材64にフック65Aを引っ掛けながら、気体回収部51をチャンバ2(のフランジ2B)に押し付けて、この引っ掛けおよび押し付け状態を保持する。これにより、連結部分における、排気する気体の漏れを防止しつつ、気体回収部51をチャンバ2に取り付ける。一方、取り付けた状態において、レバー65Bは、フック65Aを操作することで、保持された引っ掛けおよび押し付け状態を解放する。これにより、気体回収部51をチャンバ2から取り外すことができる。なお、受け部材64が気体回収部51に設けられ、フック可動部65がチャンバ2に設けられていてもよい。
ここで、パッチン錠63を採用する効果を説明する。ボルトによって、気体回収部51をチャンバ2に取り付ける場合があるとする。この場合、熱処理装置1は熱処理を行うので、気体回収部51がチャンバ2に焼き付くだけでなく、取り付けるためのボルトもチャンバ2に焼き付いてしまう。これにより、ボルトを緩めることが困難な場合がある。更に、例えば六角に形成されたボルトの頭部がちぎれてしまう場合がある。ボルトの頭部がちぎれてしまうと、その後のケアが困難になる。そこで、パッチン錠63を用いる。これにより、焼き付きが生じても、チャンバ2に対して気体回収部51を容易に取り付けおよび取り外すことができる。また、工具を用いなくてもよい点からも、容易に取り付けおよび取り外すことができる。
図4は、気体回収部51およびトラップ部53を示す斜視図である。図5は、それらの概略構成図である。なお、図4の符号SEは、風速計または圧力計などのセンサが取り付けられる。
図2(a)、図4、図5に示す気体回収部51は、排気を行うために、チャンバ2内の気体を回収するものである。気体回収部51は、図2(a)、図2(b)に示す排気口23と略同じの大きさ(開口幅HA1および開口高さTA1)の開口部51Aを有している。そして、気体回収部51は、その一端の開口部51Aを排気口23に接続させてチャンバ2に取り付けられている。すなわち、開口部51Aと排気口23の位置が一致するように、気体回収部51がチャンバ2に取り付けられている。気体回収部51において、開口部51Aを通過した気体は、開口部51Aよりも大きさ(面積)が小さい他端の開口部51Bに集められる。
トラップ部53は、図5のように、気体回収部51の他端の開口部51Bに接続されている。トラップ部53は、気体回収部51で回収された気体中の昇華物を結晶化して昇華物を除去するものである。昇華物は、上述のように、基板W上の塗布液から発生する。図5のように、トラップ部53は、トラップ流路53A、流入口53B、連通口53C、流出口側流路53D、流出口53E、気体冷却部である冷却管53F、および昇華物収集部53Gを備えている。なお、連通口53C、流出口側流路53Dおよび流出口53Eは、本発明の流出部に相当する。
トラップ流路53Aは、気体回収部51で回収された気体を通すためのものである。トラップ流路53Aは、管状(中空円筒状)の部材の内部に形成され、下端53Hが閉ざされて構成されている。トラップ流路53Aは、略鉛直方向に真っ直ぐ延びて構成されている。
流入口53Bは、図5のように、気体回収部51の他端の開口部51Bと接続されている。流入口53Bを通って流入した気体は、トラップ流路53A、連通口53C、流出口側流路53Dを順番に通った後、流出口53Eから流出する。連通口53Cは、トラップ流路53Aと流出口側流路53Dとの繋ぎ目に位置する開口である。流出口側流路53Dは、連通口53Cから流出口53Eまでを繋ぐ流路である。連通口53C、流出口側流路53Dおよび流出口53Eは、トラップ部53の下流に昇華物除去後の気体を送る。
冷却管53Fは、トラップ流路53Aの流入口53Bと流出口側流路53D(または連通口53C)との間のトラップ流路53Aの外周に設けられている。冷却管53Fは、冷却水が循環するようになっており、トラップ流路53Aに流れる気体を冷却する。気体を冷却することにより、気体中の昇華物を結晶化(固化)させる。流出口側流路53D(または連通口53C)は、トラップ流路53Aの下端53Hよりも高い位置でトラップ流路53Aに接続される。これにより、流出口側流路53Dと下端53Hとの間には、冷却管53Fで結晶化された昇華物を収集する昇華物収集部53Gが形成されている。その結果、結晶化された昇華物を昇華物収集部53Gに収集させることができ、また、昇華物除去後の気体を、連通口53C、流出口側流路53D、流出口53Eを順番に通じてトラップ部53の下流の排気管55等に送ることができる。
また、トラップ部53は、熱処理プレート3を平面視した場合に、排気口23を挟んで熱処理プレート3の反対側に設けられている。これにより、気体回収部51とトラップ部とを近くに配置できるので、排気口23から回収された気体をトラップ部53に素早く送ることができる。また、トラップ部53は、気体回収部51の下方に設けられていることが好ましい。これにより、結晶化した昇華物が昇華物収集部53Gに回収しやすく、省スペースである。
また、トラップ流路53Aは、気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間(符号RA)における断面積SS1が、気体回収部51の他端の開口部51Bの開口面積SS2と略同じ面積となるように構成されている。すなわち、トラップ流路53Aは、直円柱状で構成されているので、流入口53Bから下端53Hまで同じ断面積SS1で構成される。また、トラップ流路53Aは、上述の断面積SS1が開口面積SS2よりも広くなるように構成されていてもよい。すなわち、流入口53Bと冷却管53Fとの間における断面積SS1が、開口面積SS2よりも狭くならないように構成されている。
気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間におけるトラップ流路53Aの断面積SS1が、他端の開口部51Bの開口面積SS2よりも狭い場合、気体回収部51で回収された気体を冷却管53Fに送りにくくなる。また、狭くなった部分で昇華物が結晶化すると、結晶化された昇華物によって狭くなった部分を詰まらせてしまう可能性がある。本実施例によれば、気体回収部51で回収された気体を冷却管53Fに円滑に素早く送ることができ、昇華物によってトラップ流路53Aを詰まらせてしまうことを防止できる。
なお、トラップ流路53Aの断面積SS1は、昇華物が除去された気体が通る流出口側流路53Dの断面積SS3よりも広くなるように構成されている。また、断面積SS1、SS3は、気体の流れ方向FDと直交する断面積である。
また、トラップ部53は、トラップ上部67とトラップ下部68とに分離可能に構成されている。トラップ上部67は、流入口53Bとトラップ流路53A1とを備えている。トラップ上部67は、気体回収部51に固定されている。すなわち、トラップ上部67と気体回収部51は、一体化されている。一方、トラップ下部68は、トラップ流路53A2と連通口53C,流出口側流路53D、流出口53E、冷却管53F、昇華物収集部53G、および下端53Hを備えている。
トラップ上部67とトラップ下部68の接続部分は、例えばクイックカップリングNWフランジ(KF型フランジとも呼ばれる)で構成されている。連結部材69は、トラップ上部67とトラップ下部68のフランジを固定して、それらを連結する。また、連結部材69の蝶ネジを緩めて連結部材69を取り外すことで、気体回収部51に固定されたトラップ上部67と、トラップ下部68は分離する。すなわち、気体回収部51は、冷却管53Fを含むトラップ下部68に対して着脱可能に構成されている。
<熱処理装置1の動作>
熱処理装置1の動作について、DSA(Directed Self-Assembly)プロセスの熱処理を一例に説明する。
まず、DSAプロセスの一連の流れを説明する。基板W上の全面に下地層を形成する。この下地層上に、フォトレジストのガイドパターンを形成する。そして、下地層の表面に沿って形成される複数のガイドパターンの間にスピン塗布などでブロック共重合体(block copolymer)の塗布液膜を形成する。この状態で熱処理装置1の熱処理を実行する。熱処理により、ブロック共重合体を相分離する。すなわち、2個のガイドパターンの間において、下地層の表面に沿って、一方の重合体の層と他方の重合体の層とが交互に配置させる。この後、2種類の重合体のいずれか一方の重合体を除去して、他方の重合体を残す。これにより、パターン形成する。
<<基板Wに対する熱処理>>
次に、基板Wに対する熱処理について説明する。上述のように、基板W上には、熱処理前のブロック共重合体の塗布液膜が形成されている。シャッター部9のアクチュエータ41は、シャッター本体39を下降させて、基板出入口21を開く。また、支持ピン昇降部4のアクチュエータ35は、支持ピン31を上昇させる。図1に示す基板搬送機構TRは、チャンバ2内の支持ピン31上に基板Wを搬送する。基板Wを搬送して、基板搬送機構TRがチャンバ2外に後退した後、シャッター本体39を上昇して、基板出入口21を閉じる。支持ピン31は、上昇したままである。
その後、チャンバ2内の気体を窒素ガスで置換する。すなわち、不活性ガス供給部7は、ガス供給バッファ部5を介してチャンバ2内の熱処理空間HSに窒素ガスを供給する。この際、排気ダクト部11において、空気供給部61によりアスピレータ59に空気を供給し、また、開閉弁57を開く。これにより、排気ダクト部11は、排気口23を通じて、チャンバ2内の気体を排気する。なお、チャンバ2への窒素ガスの供給、およびチャンバ2内の気体の排気は、予め設定されたレシピに従って調整される。
その後、レシピにより、酸素濃度が所定値以下になると、支持ピン31を下降して、基板Wを熱処理プレート3上に載置する。これにより熱処理を開始する。熱処理が終了すると、支持ピン31を上昇し、基板Wを冷却する。冷却後、窒素ガスの供給および排気を停止(開閉弁57等を閉じる)する。そして、基板出入口21が開いた後、基板搬送機構TRは、熱処理後の基板Wを搬送する。
<<気体回収部51とトラップ部53の動作>>
次に、排気ダクト部11における気体回収部51とトラップ部53の動作を説明する。基板Wは例えば350℃で熱処理される。その熱処理において、ブロック共重合体の塗布膜から昇華物(または気化物)が発生する。詳しくは、高温で熱処理されると、塗布液の溶剤に溶剤以外の成分が溶け出して、溶け出した溶剤以外の成分が溶剤と共に蒸発する。これにより、昇華物が発生する。発生した昇華物はチャンバ2内の気体に含まれる(混入する)。気体が冷却されて昇華物が結晶化(固化)する場合、結晶化された昇華物がチャンバ2の内壁に付着して、基板W上に落下することは好ましくない。
そこで、排気口23は、チャンバ2の側壁に設けられており、排気口23は、チャンバ2の内部の幅HA2と略同じ開口幅HA1を有している。また、気体回収部51は、排気口23と略同じ大きさの開口部51Aを一端に有し、その一端の開口部51Aを排気口23に接続させてチャンバ2に取り付けられている。そのため、図2(a)の符号YSで示す四隅で気体の滞留を抑制しつつ排気口23を通じて気体を回収することができる。また、排気口23および気体回収部51がチャンバ2の側壁に設けられていることで、仮に気体回収部51で気体中の昇華物が結晶化しても、基板W上に落下することを抑制することができる。
気体回収部51の一端の開口部51Aで回収された気体は、他端の開口部51B側に集められて、他端の開口部51Bに接続されるトラップ部53に送られる。トラップ部53に送られた気体は、流入口53B、トラップ流路53A、連通口53C、流出口側流路53D、を順番に流れて、流出口53Eに送られる。流入口53Bと流出口側流路53D等との間のトラップ流路53Aの外周には、冷却管53Fが設けられている。冷却管53Fは、通過する気体、すなわち、気体回収部51で回収された気体を冷却し、気体中の昇華物を結晶化する。結晶化した昇華物は、その自重で落下して、流出口側流路53Dと下端53Hとの間に形成された昇華物収集部53Gに収集される。一方、塗布液成分が除去された気体は、流出口側流路53D等を通って排気管55に送られる。排気管55に送られた気体は、開閉弁57、アスピレータ59を通って排気される。
<気体回収部51の着脱>
次に、図6(a)、図6(b)を参照して、気体回収部51およびトラップ部53の着脱について説明する。図6(a)において、気体回収部51は、パッチン錠63によりチャンバ2に取り付けられており、トラップ上部67とトラップ下部68は、連結部材69により固定されている。
〔ステップS01〕チャンバ2と気体回収部51の固定の解除
図3に示すパッチン錠63のレバー65Bを操作して、チャンバ2への気体回収部51の押し付けを解除しつつ、受け部材64からフック65Aを外す。これにより、工具を用いることなくチャンバ2から気体回収部51を取り外すことができる。また、チャンバ2と気体回収部51と焼き付きにより、それらが接着したとしても、硬くなったネジを緩めることが無いので、取り付け状態の解除が容易である。
〔ステップS02〕トラップ上部67とトラップ下部68の固定の解除
連結部材69の蝶ネジを緩めて、トラップ上部67およびトラップ下部68から連結部材69を取り外すことで、トラップ上部67とトラップ下部68との固定を解除する。ステップS01,S02により、図6(b)のように、気体回収部51とトラップ上部67とが一体となったものを、チャンバ2およびトラップ下部68から取り外すことができる。
チャンバ2から気体回収部51を取り外すことで、排気口23が露出する。排気口23は、チャンバ2の内部の幅HA2と同じ開口幅HA1を有している。そのため、排気口23を通じて、基板Wを出し入れすることができ、また、清掃治具でチャンバ2内を清掃するなどチャンバ2内をメンテナンスすることができる。
また、気体回収部51は、チャンバ2に対して着脱可能に構成されていると共に、冷却管53Fを含むトラップ部53に対して着脱可能に構成されている。これにより、チャンバ2内をメンテナンス等することができる。また、気体回収部51は、冷却管53Fを含むトラップ部53以降の構成と分離できるので、チャンバ2に対する気体回収部51の着脱を容易にすることができる。すなわち、トラップ下部68およびチャンバ2等が取り付けられるフレーム71からトラップ下部68を取り外したり、冷却管53Fに接続される冷却水循環用の配管(図示しない)、または、トラップ部53の流出口53Eに接続される排気管55を取り外したりすることがない。
なお、トラップ下部68をフレーム71から取り外せば、昇華物収集部53Gなどの清掃を行うことができる。
本実施例によれば、基板Wを収容するチャンバ2の側壁には、基板出入口21とは別に、水平方向に扁平な排気口23が設けられている。排気口23がチャンバ2の側壁に設けられているので、仮に結晶化した昇華物が付着したとしても、基板W上への昇華物の落下が抑えられる。また、排気口23は、チャンバ2の内部の幅HA2と略同じ開口幅HA1を有しているので、チャンバ2内の昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口23を通じて回収することができる。また、排気口23は、熱処理プレート3の基板載置面3Aが排気口23の上縁23Uと下縁23Sとの間に位置するように配置されている。これにより、基板載置面3Aに沿って昇華物を含む気体を、排気口を通じて円滑に回収できる。
また、排気口23は、基板出入口21に対向して設けられている。これにより、基板出入口21から排気口23までが一直線となる。基板出入口21から排気口23までがL字になった場合、L字に折れ曲がった部分で気体を滞留させてしまう可能性がある。しかしながら、本発明により、気体を滞留させてしまう部分の発生を抑えることで、昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口23を通じて回収できる。なお、排気口23は、必要により、基板出入口21と対向せずに、例えば、チャンバ2の左内側壁2Lまたは右内側壁2Rなどの側壁に設けられてもよい。
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
(1)上述した実施例では、トラップ部53のトラップ流路53Aは、気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間における断面積SS1が、他端の開口部51Bの開口面積SS2と同じ、あるいは前記開口面積よりも広くなるよう構成されていた。この点、図7のように、トラップ部53のトラップ流路53Aは、気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間における、気体の流れ方向FDと直交する断面積SS1が、他端の開口部51Bの開口面積SS2よりも狭くなるように構成されてもよい。
上述のように、図7の構成は、気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間において、断面積SS1が狭くなっているので、気体回収部51で回収された気体を冷却管53Fに素早く送れない。また、狭くなっている部分で結晶化した昇華物が付着すると、狭くなっている部分が詰まってしまう可能性がある。しかしながら、これ以外は、実施例と同様の効果を有する。
また、図7の構成の場合、狭くなっている部分の周囲をヒータで暖めて昇華物の結晶化を防止してもよい。しかしながら、構成が複雑になる。なお、図5の実施例の構成の場合は、気体回収部51からトラップ部53の冷却管53Fにかけてヒータは設けられていない。
また、図7において、気体回収部51の他端の開口部51Bには、中間ダクト73が接続されている。トラップ部53の流入口53Bと中間ダクト73は、管継手75で連結されている。トラップ部53の接続部53Jと中間ダクト73の接続部73Jは共に、ナット形状をしている。管継手75は、管状で構成され、上下に雄ネジが切られており、中央にボルトの頭部のように六角形の締め付け部を有する。その締め付け部でネジを回転することにより、管継手75が接続部53J、73Jに対して上下に移動する。これにより、気体回収部51および中間ダクト73と、トラップ部53とを分離することができる。
また、図5と図7の構成を組み合わせて、図8または図9のように、構成してもよい。すなわち、図8、図9において、トラップ部53のトラップ流路53Aは、気体回収部51の他端の開口部51Bと冷却管53Fとの間における、気体の流れ方向FDと直交する断面積SS1が、他端の開口部51Bの開口面積SS2と同じ、あるいは前記開口面積よりも広くなるよう構成されている。図8と図9の構成の違いは、冷却管53Fの位置である。
(2)上述した実施例および変形例(1)では、トラップ部53は、流出部として、連通口53C、流出口側流路53D、流出口53Eを備えていた。この点、流出部は、連通口53Cおよび流出口側流路53Dを備えておらず、流出口53Eを備えていてもよい。すなわち、トラップ流路53Aに直接、流出口53Eが形成されている構成であってもよい。
(3)上述した実施例および各変形例では、トラップ部53のトラップ上部67とトラップ下部68は、分離可能に構成されていた。この点、必要により、トラップ上部67とトラップ下部68は、分離できないように構成されていてもよい。
(4)上述した実施例および各変形例では、基板W上には、ブロック共重合体を含む塗布液の膜が形成されていたが、塗布液はブロック共重合体を含む塗布液に限定されない。例えば、反射防止膜(BARC: Bottom Anti-Reflective Coating)を形成するための塗布液であってもよい。
(5)上述した実施例および各変形例では、排気口23は、チャンバの内部の幅HA2と略同じ開口幅HA1を有していた。この点、図2(a)、図2(b)のように、排気口23の開口幅HA1は、チャンバ2の内部の幅HA2未満であってもよい。すなわち、排気口23は、熱処理プレート3上の基板Wを排気口23が設けられたチャンバ2の側壁に水平投影させた場合の水平方向の投影長さHA3以上の開口幅HA1を有してもよい。これにより、少なくとも基板Wの上方における昇華物を含む気体の滞留を抑制しつつ排気口23を通じて回収できる。
(6)上述した実施例および各変形例では、排気口23は、熱処理プレート3の基板載置面3Aが排気口23の上縁23Uと下縁23Sとの間に位置するように配置されている。この点、排気口23の上縁23Uと下縁23Sは共に、必要により、熱処理プレート3の基板載置面3Aよりも上方に位置してもよい。そのため、排気口23の上縁23Uは、少なくとも熱処理プレート3の基板載置面3Aよりも上方に位置されておればよい。排気口23の上縁23Uと下縁23Sは共に、基板載置面3Aよりも上方に位置するので、基板載置面3Aと排気口の下縁23Sとの段差で気体の滞留が発生する可能性があるが、それ以外は実施例の効果を有する。
(7)上述した実施例および各変形例では、図2(a)のように、熱処理プレート3の基板載置面3Aは円形であったが、矩形でもよい。また、基板Wは円形であったが、矩形でもよい。この場合、排気口23は、円形基板Wの幅HA3以上の開口幅HA1を有してもよい。
1 … 熱処理装置
2 … チャンバ
3 … 熱処理プレート
3A … 基板載置面
7 … 不活性ガス供給部
11 … 排気ダクト部
21 … 基板出入口
23 … 排気口
23U … 上縁
23S … 下縁
51 … 気体回収部
53 … トラップ部
51A … 一端の開口部
51B … 他端の開口部
53A … トラップ流路
53B … 流入口
53C … 連通口
53D … 流出口側流路
53E … 流出口
53F … 冷却管
53G … 昇華物収集部
53H … 下端
68 … トラップ下部
HA1 … 開口幅
HA2 … 幅
HA3 … 基板の水平方向の投影長さ
SS1 … 断面積
SS2 … 開口面積
FD … 流れ方向

Claims (9)

  1. 基板を収容するチャンバと、
    前記チャンバ内の下部に設けられ、基板を水平姿勢で載置した状態で熱処理する熱処理プレートと、
    前記チャンバ内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部と、
    前記チャンバの側壁に設けられた基板出入口と、
    前記基板出入口とは別に前記チャンバの側壁に設けられた水平方向に扁平な排気口であって、前記チャンバの内部の幅と同じ開口幅を有すると共に、前記チャンバの内部の高さと同じ開口高さを有する前記排気口と、
    前記チャンバ内の気体を回収する気体回収部であって、前記排気口と同じ大きさの開口部を一端に有し、前記一端の開口部を前記排気口に接続させて前記チャンバに取り付けられた前記気体回収部と、
    前記気体回収部の他端の開口部に接続され、前記気体回収部で回収された前記気体中における基板上の塗布液から発生した昇華物を除去するトラップ部と、
    を備えていることを特徴とする熱処理装置。
  2. 請求項1に記載の熱処理装置において、
    前記排気口は、前記基板出入口に対向して設けられていることを特徴とする熱処理装置。
  3. 請求項1または2に記載の熱処理装置において、
    前記排気口は、平面視した場合に、前記排気口の中心を通り、かつ前記排気口と直交する直線が前記熱処理プレートの基板載置面の中心を通るように配置されていることを特徴とする熱処理装置。
  4. 請求項1から3のいずれかに記載の熱処理装置において、
    前記排気口は、前記熱処理プレートの基板載置面の高さが前記排気口の上縁と下縁との間に位置するように配置されていることを特徴とする熱処理装置。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載の熱処理装置において、
    前記トラップ部は、前記気体回収部で回収された前記気体を通すためのトラップ流路と、前記トラップ流路に接続され、前記トラップ部の下流に昇華物除去後の気体を送るための流出部と、前記トラップ流路の流入口と前記流出部との間の前記トラップ流路の外周に設けられ、前記トラップ流路に流れる前記気体を冷却する気体冷却部と、前記トラップ流路の下端よりも高い位置で前記流出部が前記トラップ流路に接続されることで形成される、前記昇華物を収集する昇華物収集部と、を備えていることを特徴とする熱処理装置。
  6. 請求項5に記載の熱処理装置において、
    前記トラップ流路は、前記気体回収部の前記他端の開口部と前記気体冷却部との間における、前記気体の流れ方向と直交する断面積が、前記他端の開口部の開口面積と同じ、あるいは前記開口面積よりも広くなるように構成されていることを特徴とする熱処理装置。
  7. 請求項1から6のいずれかに記載の熱処理装置において、
    前記気体回収部は、前記チャンバに対して着脱可能に構成されていることを特徴とする熱処理装置。
  8. 請求項5または6に記載の熱処理装置において、
    前記気体回収部は、前記チャンバに対して着脱可能に構成されていると共に、前記気体冷却部を含む前記トラップ部に対して着脱可能に構成されていることを特徴とする熱処理装置。
  9. 請求項1から8のいずれかに記載の熱処理装置において、
    前記トラップ部は、平面視した場合に、前記排気口を挟んで前記熱処理プレートの反対側に設けられていることを特徴とする熱処理装置。
JP2017079598A 2017-04-13 2017-04-13 熱処理装置 Active JP6879808B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017079598A JP6879808B2 (ja) 2017-04-13 2017-04-13 熱処理装置
PCT/JP2018/014432 WO2018190224A1 (ja) 2017-04-13 2018-04-04 熱処理装置
TW107112693A TWI673771B (zh) 2017-04-13 2018-04-13 熱處理裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017079598A JP6879808B2 (ja) 2017-04-13 2017-04-13 熱処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018182065A JP2018182065A (ja) 2018-11-15
JP6879808B2 true JP6879808B2 (ja) 2021-06-02

Family

ID=63792660

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017079598A Active JP6879808B2 (ja) 2017-04-13 2017-04-13 熱処理装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6879808B2 (ja)
TW (1) TWI673771B (ja)
WO (1) WO2018190224A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114226842B (zh) * 2021-11-10 2024-05-14 铜陵有色股份铜冠电工有限公司 一种超大规模阳极磷铜球直杆盘圆剪切装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3619876B2 (ja) * 1998-07-22 2005-02-16 東京エレクトロン株式会社 加熱処理装置
US6143079A (en) * 1998-11-19 2000-11-07 Asm America, Inc. Compact process chamber for improved process uniformity
JP2005183638A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板熱処理装置
JP4535499B2 (ja) * 2005-04-19 2010-09-01 東京エレクトロン株式会社 加熱装置、塗布、現像装置及び加熱方法
JP5105396B2 (ja) * 2006-04-12 2012-12-26 東京応化工業株式会社 加熱処理装置
JP4737083B2 (ja) * 2006-12-28 2011-07-27 東京エレクトロン株式会社 加熱装置及び塗布、現像装置並びに加熱方法
JP5220517B2 (ja) * 2008-08-27 2013-06-26 株式会社Sokudo 基板処理装置
JP5541274B2 (ja) * 2011-12-28 2014-07-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018190224A1 (ja) 2018-10-18
TW201839805A (zh) 2018-11-01
JP2018182065A (ja) 2018-11-15
TWI673771B (zh) 2019-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201719743A (zh) 基板處理裝置及基板處理方法
JP6879808B2 (ja) 熱処理装置
US20210331192A1 (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP4776380B2 (ja) 処理装置及び処理方法
TW202201524A (zh) 基板處理方法及基板處理裝置
KR20200036027A (ko) 기판 건조 방법 및 기판 건조 장치
JP2008166604A (ja) 加熱装置及び塗布、現像装置並びに加熱方法
JP4290579B2 (ja) 基板加熱装置および基板加熱方法
JP4121122B2 (ja) 熱処理装置および熱処理装置内温度制御方法
TWI690989B (zh) 基板處理方法及基板處理裝置
US11011398B2 (en) Fume determination method, substrate processing method, and substrate processing equipment
JP3483376B2 (ja) 基板処理装置
TWI692003B (zh) 熱處理裝置及其保養維修方法
JP6978980B2 (ja) ヒューム判定方法、基板処理方法、および基板処理装置
JP2004103978A5 (ja)
JP3758636B2 (ja) 熱処理装置
JPH03261142A (ja) 半導体基板洗浄方法
JPH11335849A (ja) 成膜装置
JP4180304B2 (ja) 処理装置
JP3676957B2 (ja) レジスト剥離装置
JP2001215716A (ja) ワークとマスクの分離機構
US20040241996A1 (en) Apparatus and method for preventing substrates from being contaminated by condensed liquid
JP2005186028A (ja) 角形基板の端縁部処理方法および装置
JP7170506B2 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
TW202119524A (zh) 加熱處理裝置及加熱處理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210413

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210430

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6879808

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250