JP6854427B2 - 液体処理装置 - Google Patents

液体処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6854427B2
JP6854427B2 JP2018054790A JP2018054790A JP6854427B2 JP 6854427 B2 JP6854427 B2 JP 6854427B2 JP 2018054790 A JP2018054790 A JP 2018054790A JP 2018054790 A JP2018054790 A JP 2018054790A JP 6854427 B2 JP6854427 B2 JP 6854427B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
liquid
opening
gas phase
treatment tank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018054790A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019166442A (ja
Inventor
岳 三宅
岳 三宅
源一郎 松田
源一郎 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2018054790A priority Critical patent/JP6854427B2/ja
Priority to CN201811653962.1A priority patent/CN110294509B/zh
Priority to SG10201900871U priority patent/SG10201900871UA/en
Priority to US16/274,168 priority patent/US10934183B2/en
Publication of JP2019166442A publication Critical patent/JP2019166442A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6854427B2 publication Critical patent/JP6854427B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F1/00Treatment of water, waste water, or sewage
    • C02F1/46Treatment of water, waste water, or sewage by electrochemical methods
    • C02F1/4608Treatment of water, waste water, or sewage by electrochemical methods using electrical discharges
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F1/00Treatment of water, waste water, or sewage
    • C02F1/30Treatment of water, waste water, or sewage by irradiation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F1/00Treatment of water, waste water, or sewage
    • C02F1/30Treatment of water, waste water, or sewage by irradiation
    • C02F1/32Treatment of water, waste water, or sewage by irradiation with ultraviolet light
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F1/00Treatment of water, waste water, or sewage
    • C02F1/46Treatment of water, waste water, or sewage by electrochemical methods
    • C02F1/461Treatment of water, waste water, or sewage by electrochemical methods by electrolysis
    • C02F1/46104Devices therefor; Their operating or servicing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/48Generating plasma using an arc
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F2301/00General aspects of water treatment
    • C02F2301/02Fluid flow conditions
    • C02F2301/026Spiral, helicoidal, radial
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F2303/00Specific treatment goals
    • C02F2303/04Disinfection
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C02TREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02FTREATMENT OF WATER, WASTE WATER, SEWAGE, OR SLUDGE
    • C02F2305/00Use of specific compounds during water treatment
    • C02F2305/02Specific form of oxidant
    • C02F2305/023Reactive oxygen species, singlet oxygen, OH radical

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Hydrology & Water Resources (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Water Supply & Treatment (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Water Treatment By Electricity Or Magnetism (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

本発明は、液体を電気化学的に処理する液体処理装置に関する。より詳細には、本発明は、液体中でプラズマを発生させ、液体に含まれる汚濁物質又は菌がプラズマに直接触れることによる分解及び殺菌作用と、プラズマ放電により発生する紫外線及びラジカルなどによる分解及び殺菌作用とを同時に起こして、液体を処理する液体処理装置に関する。
図15に、特許文献1に記載に記載されている従来の液体処理装置の例を示す。液体処理装置100は、装置本体110、液体供給部150、配管151、貯留槽190、および電源160を備えている。装置本体110は、処理槽112、導入部115、排出部117、第1電極130、および第2電極131を備えている。
図16は、この液体処理装置が動作している状態を示す図である。処理槽112は円筒状になっており、円筒の接線方向に設けられた導入部115から、液体L1(例えば、水)を導入することで、旋回流F1を発生させる。旋回流F1によって処理槽112の中心軸X1の近傍の圧力が飽和水蒸気圧以下に低下し、中心軸X1付近において液体L1の一部が気化した水蒸気が発生することで、気相Gが生成される。第1電極130、および第2電極131の間に高電圧を印加することで、気相Gにプラズマ放電を発生させる。この時、プラズマが液体L1に直接触れることで、液体L1中に含まれる汚濁物質等が分解処理される。同時に、例えば、ヒドロキシルラジカル(OHラジカル)及び過酸化水素等の酸化力を持つ成分が生成され、それらの成分が液体L1中に含まれる汚濁物質等と反応することでも、分解処理が進展する。液体L1中にプラズマが発生することにより生成されるラジカルの中でも、特にOHラジカルは高い酸化力を有することが知られており、液体L1中に溶解している難分解性有機化合物を分解処理することが可能である。さらに、排出部117付近の酸化成分を含んだ気相Gは、貯留槽190内の液体L1の抵抗を受ける事でせん断され、酸化成分を含有した気泡Bを生じる。処理液L2には、OHラジカル及び過酸化水素などの酸化成分だけでなく、気泡Bも含まれるため、液体L1中に含まれる汚濁物質等をより効率的に分解することが可能である。
特開2017-225965号公報
しかしながら、特許文献1に記載の液体処理装置では、気相Gと第2電極131が液体L1を介して電気的に接続される構成になっているために、第1電極130と第2電極131との間に高電圧を印加した際に、電流の流れる経路が2つ存在することになる。1つは、第1電極130から気相Gに発生したプラズマを通る電流経路r11を通ったのちに、排出部117付近から液体L1を通る電流経路r21を通って第2電極131に流れる電流経路であり、もう1つは、第1電極130から液体L1を通って、直接、第2電極131に流れる電流経路r31である。液体L1の電気伝導度が高い場合には、プラズマを発生させたときに、プラズマを通らずに液体L1だけを流れる電流経路r31を流れる漏れ電流が大きくなってしまう。漏れ電流が大きくなると、電源から印加したエネルギーが液体処理に使われるのではなく、液体L1の温度上昇に使われてしまい、液体処理のエネルギー効率が低下してしまう。また、液体L1を循環させながら長時間処理を続けると液体L1の温度が上昇するために飽和蒸気圧が高くなり、結果として、気相Gの圧力が高くなってしまいプラズマ放電を安定して発生することができなくなる課題が発生する。
本発明はこのような点に鑑み、プラズマを通らずに液体だけを流れる漏れ電流を抑えることで、プラズマを効率良く発生させて液体を処理できるとともに、液体温度上昇も抑えることでプラズマを長時間安定して発生させることができる液体処理装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の1つの態様にかかる液体処理装置は、
一端側が閉口し他端側が開口した断面形状が円形である筒状の処理槽と、
記処理槽の前記円形筒状の接線方向から液体を前記処理槽内に導入することにより前記処理槽内で前記液体を前記処理槽の前記一端側から前記他端側に向けて前記処理槽の中心軸周りに旋回させ、前記液体の旋回流中に気相を発生させる液体導入口と、
前記処理槽の前記他端側に配置され、前記液体導入口から導入された前記液体を排出する排出部と、
前記処理槽の前記中心軸上の前記一端側に配置された棒状の第1電極と、
前記処理槽の前記他端側に、前記排出部内に部分的に露出するように配置された第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に電圧を印加して、前記第1電極と前記第2電極との間の前記気相内にプラズマを発生させる電源と、
を備え
前記第2電極は、前記排出部が配置された前記処理槽の壁面と接するとともに、前記第2電極の第2電極本体部が前記排出部の開口をまたぐことにより、前記排出部を前記処理槽の前記中心軸を中心とした回転対称に配置される複数の開口部に分割し、前記気相は、前記第1電極から前記第2電極の前記第2電極本体部に接触して形成可能とし、
前記開口部は、前記開口部を構成する前記複数の開口の外接円に対する開口率が、50%〜87%である。

本発明の前記態様にかかる液体処理装置によれば、気相に発生したプラズマが、第1電極と第2電極との両方に接触するため、プラズマを通らずに液体だけを流れる漏れ電流を少なくすることができる。このように漏れ電流が少ないため、液体の温度上昇を抑えることができて、プラズマを長時間安定して発生させることができる。また、漏れ電流が少ないため、高いエネルギー効率で液体の処理を行うことができる。さらに、液体の温度上昇を抑制することができるために、液体を循環させながら連続的に処理する場合にも、気相の圧力が上昇することがなく、プラズマが安定するために、設備を長時間稼動させることができる。
本発明の実施形態1にかかる液体処理装置の構成を示す側面断面図 本発明の実施形態1にかかる装置本体の側面断面図 本発明の実施形態1にかかる第2電極の正面図 図2の4―4線における断面図 処理槽の内部に旋回流が発生しており、電圧を印加していない状態を示す側面断面図 処理槽の内部に旋回流が発生しており、電圧を印加した状態を示す側面断面図 本発明の実施形態1にかかる液体処理装置の放電時における電流経路と等価回路を示す図 従来の液体処理装置の放電時における電流経路と等価回路を示す図 各扇形の開口の数での開口率およびプラズマ放電の可否を示す結果の説明図 本発明の実施形態1にかかる第2電極の変形例を示す図 半径が異なる円筒を組み合わせた処理槽を示す図 円錐形状の処理槽を示す図 本発明の実施形態2にかかる液体処理装置の構成を示す側面断面図 本発明の実施形態2にかかる第2電極の正面図 本発明の実施形態2にかかる液体処理装置の放電時における電流経路と等価回路を示す図 従来の液体処理装置の断面図 従来の液体処理装置の処理槽の内部に旋回流が発生しており、電圧を印加した状態を示す側面断面図
[実施形態1]
以下、図面を参照し、本発明の実施形態に係る液体処理装置1を詳しく説明する。図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。なお、説明を分かりやすくするために、以下で参照する図面においては、構成が簡略化または模式化して示されたり、一部の構成部材が省略されたりしている。また、各図に示された構成部材間の寸法比は、必ずしも実際の寸法比を示すものではない。
[全体構成]
まず、液体処理装置1の全体構成について説明する。
図1は、本発明の実施形態1にかかる液体処理装置1の構成を示す側面断面図である。以下の図では、矢印Fは液体処理装置1の前方向を示し、矢印Bは後方向を示す。矢印Uは上方向を示し、矢印Dは下方向を示す。矢印Rは後方向から見て右方向、矢印Lは後方向から見て左方向を示す。
図1に示す液体処理装置1は、貯留槽90に接続されている状態を示している。液体処理装置1は、液体中で放電することによって液体を処理する。本実施形態1では、汚濁物質が溶解した水溶液を処理する場合について説明する。貯留槽90には、液体処理装置1で処理された処理液が貯溜される。
液体処理装置1は、少なくとも、処理槽12と、第1電極30と、第2電極31と、電源60とを備えている。より具体的には、液体処理装置1は、装置本体10、液体供給部50、電源60を備えている。装置本体10は、処理槽12、液体導入口の一例として機能する導入部15、排出部17、第1電極30、および第2電極31を備えている。
処理槽12は、内部に導入された液体(例えば、水)を処理している部分である。処理槽12の正面断面形状は円形である(図4参照)。処理槽12は、処理槽12の液体L1の旋回軸X1(図2参照)沿いの一端側が断面形状が円形である円柱状の処理室を有している。処理槽12の一端には導入部15が配置され、処理槽12の他端には排出部17が配置されている。導入部15は、処理槽12に液体L1を処理槽12の中心軸X1と直交する円形の断面形状の接線方向から液体を導入する。導入部15は、配管51を介して液体供給部50に連通している。排出部17は、処理槽12で処理された処理液L2を処理槽12から排出させる。排出部17は、貯留槽90の取り入れ口91に接続されている。排出部17から排出された処理液は、貯留槽90に貯溜される。処理槽12の材質は絶縁体でもよいし、導体でもよい。導体の場合には、各電極30,31との間に絶縁体を介在する必要がある。排出部17の開口の内径は、後述する開口部311の開口311aの外接円外接円の径寸法と同じか、それ以上とする。
第1電極30は、板状、たとえは円板状であり、処理槽12の内部に配置されている。 第2電極31は、排出部17の近傍に配置されている。一例として、図1では、第2電極31は、処理槽12の排出部17が形成された壁面の外側、具体的には、貯留槽90と処理槽12との間に固定されている。
第1電極30は、電源60が接続されており、第2電極31は接地されている。第1電極30および第2電極31には、電源60により高電圧のパルス電圧が印加される。
液体供給部50は、一例として、処理槽12内に液体(例えば、水)を供給するポンプである。液体供給部50は、配管51に接続されている。配管51の一端は導入部15に接続されており、配管51の他端は図示しない液体供給源(例えば、水タンク80又は水道)又は貯留槽90の処理液を含んだ貯留水を循環できる形に接続されている(図1の一点鎖線の循環用配管81などを参照)。
電源60は、第1電極30と第2電極31との間に数kVの正もしくは負の高電圧のパルス電圧を印加する。電源60は、正のパルス電圧と負のパルス電圧とを交互に印加する、いわゆるバイポーラパルス電圧を印加することもできるが、正のパルス電圧のみを印加するモノポーラパルス電圧を印加する方が、エネルギー効率は良い。
[装置本体]
次に、装置本体10について詳細に説明する。図2は、装置本体10の側面断面図を示し、図3は、第2電極31の正面図である。
処理槽12は、第1内壁21、第2内壁22、および第3内壁23を有している。第1内壁21は、筒状の壁部である。第2内壁22は、第1内壁21の第1端部例えば図2の左端部に設けられている。第3内壁23は、第1内壁21の第2端部例えば図2の右端部に設けられている。第2内壁22および第3内壁23は、側面視では略円形である。第1内壁21、第2内壁22、および第3内壁23により、処理槽12の内部には、略円柱状の収容空間83が構成されている。第1内壁21の中心軸、つまり、処理槽12の内部に構成される略円柱状の収容空間83の仮想の中心軸を中心軸X1とする。
第2内壁22には、電極支持筒24が設けられている。電極支持筒24は、筒状であり図2の右方(第3内壁側)に延びている。電極支持筒24は、その中心軸が中心軸X1と一致するように配置されている。電極支持筒24の内側には、絶縁体53を介して第1電極30が支持されている。
第1電極30は棒状であり、絶縁体53は第1電極30の周囲に配置されている。第1電極30は、長手方向の軸が中心軸X1と一致するように配置されている。
導入部15は、装置本体10を貫通しており、一方の開口端16が第1内壁21に形成されている。導入部15は、側面視では、第2内壁22に隣接した位置に配置されている。また、図4は、図2の4―4線における断面図である。導入部15は、第1内壁21の壁面に配置されている。
排出部17は、第3内壁23の例えば中央部を貫通している。排出部17は、その中心軸が中心軸X1と一致するように形成されている。
第2電極31は、板状の金属部材であり、第2電極本体部31aの中央部に開口部311が貫通して形成されている。開口部311は、中心軸X1を中心として、第2電極31に回転対称に配置された複数の開口にて構成される。隣接する開口部311同士は、第2電極本体部31aを介して互いに分離されている。図3に、一例としての開口部311を有する第2電極31の正面図を示す。ここでは、開口部311は、第2電極本体部31aの中央部に、十字形状に第2電極本体部31aを残しつつ1つの円形開口を4分割したような形状の4つの開口311a、言い換えれば、互いに間隔をあけて配置された同じ扇形の4つの開口311aで構成されている。
なお、十字形状の第2電極本体部31aは、排出部17の開口から部分的に露出する第2電極31の機能を有しており、第2電極本体部31aの形状としては、十字形状に限らず、後述する図8に示すように、条件2,6,9のように排出部17の開口をまたぐように配置された棒状を含む線状であってもよいし、又は、条件4のように多数の線状すなわち径方向に放射状に排出部17の開口をまたぐように配置されていてもよい。このように、排出部17の開口をまたぐように線状の第2電極本体部31aを配置する場合、板状第2電極31での開口部311が実際に設けられているものではないが、排出部17の開口の残りの領域において、開口311aの外接円に対する開口率が50%〜87%となるように、排出部17の開口の内径又は線状の第2電極本体部31aの線の太さを設定することが好ましい。
[動作]
次に、液体処理装置1の動作について説明する。以下では、説明の便宜上、処理槽12の内部に気相Gを発生させる状態(図5)と、電源60から気相Gにパルス電圧を印加してプラズマPを発生させる状態(図6)を別図に分けて説明する。図5は、処理槽12の内部に旋回流F1が発生しており、パルス電圧を印加していない状態を示す側面断面図である。
まず、図5に示すように、水道水からポンプ50などを介するか、又は、ポンプ50で貯留槽90の液体L1を吸い込んで、導入部15から処理槽12に液体(例えば、水)L1が所定の圧力で導入されると、液体L1は、第1内壁21に沿って旋回流F1を発生させながら導入部15から図5の右方に向けて移動する。旋回しながら図5の右方に移動した旋回流F1は、排出部17に向けて移動する。
旋回流F1により、処理槽12の中心軸X1付近の圧力が飽和水蒸気圧以下に低下し、液体L1の一部が気化して気相Gが、第1内壁21の中心軸X1付近に生成される。気相Gは、旋回中心付近、具体的には、第1電極30の内端すなわち図5の右端部301から中心軸X1に沿って、第2電極31まで発生する。すなわち、気相Gは、第2電極31の中央の第2電極本体31aに接触するように、右端部301から延在している。
気相Gは、接している旋回流F1により、旋回流F1と同方向に旋回している。旋回している気相Gは、排出部17の近傍で貯留槽90内の液体の抵抗を受ける事で、マイクロバブル又はウルトラファインバブル(ナノバブル)にせん断され、排出部17から、排出部17に接続された取り入れ口91を介して貯留槽90に拡散される。
図6は、処理槽12の内部に旋回流F1が発生しており、電源60からパルス電圧を印加した状態を示す側面断面図である。図6に示すように、液体L1が気化した気相Gが第1電極30から第2電極31まで発生している状態で、電源60により、第1電極30と第2電極31の間に高電圧のパルス電圧を印加する。第1電極30と第2電極31とは、高電圧のパルス電圧が印加されると、気相G内にプラズマPが発生し、ラジカル(OHラジカル等)又はイオンを生成する。そのラジカル又はイオンは、気相Gから旋回流F1側へ溶解することで、液体L1中に溶解している汚濁物質を分解処理する。加えて、排出部17付近の気相G内のプラズマPは、貯留槽90内の液体L1の抵抗を受ける事でOHラジカル等を含有した大量の気泡Bを生じる。この様に、プラズマPにより発生したOHラジカル等により処理され、OHラジカル等を含有した気泡Bを含んだ状態の処理液L2が、排出部17から貯留槽90に向けて排出される。
つまり、プラズマPによって生成されたOHラジカル等は、直接もしくは気泡B内から貯留槽90内の処理液L2に溶解する。そして、一定時間が経過すると、比較的安定な過酸化水素に変質する。なお、高電圧のパルス電圧の印加によって生成したプラズマPは、電圧の印加を停止すると消失する。
なお、プラズマ放電が発生する際には、同時に紫外線が発生する。発生した紫外線が汚濁物質又は菌に照射されると、分解及び殺菌作用を発揮することができる。また、処理液中に発生した過酸化水素水に紫外線が照射されることで、前記したようにOHラジカルが発生し、これによっても分解及び殺菌作用が発揮される。
図7Aの(a)と(b)とに、本発明の実施形態1にかかる液体処理装置の放電時における電流経路と、その電流経路と等価な等価回路とを示す。また、図7Bの(a)と(b)とに、従来の液体処理装置の放電時における電流経路と、その電流経路と等価な等価回路を示す。図7A及び図7Bにおいて、R1は、気相Gの抵抗、R2は、気相Gから第2電極131までの間の液体の抵抗、R3は、第1電極30から第2電極31又は131までの間の液体の抵抗を示す。図7Aの(a)は、本発明の実施形態1の液体処理装置の放電時の電流経路を示している。ここでは、第1電極30から、気相Gを通って第2電極31の中央部の第2電極本体31aに流れる経路r1と、第1電極30から、液体を通って気相Gを通ることなく第2電極31に流れる経路r3とが存在する。この等価回路は、図7Aの(b)のように表すことができ、この時の合成抵抗値は、以下の式(1)のように表せる。
Figure 0006854427

同様に、図7Bの(a)は、先に説明した従来の液体処理装置の放電時の電流経路を示している。ここでも、第1電極130から、気相Gを通って第2電極131の近傍まで流れる経路r11と、経路r11の終わりの気相G中の第2電極131の近傍から、第2電極131の近傍の液体を通って第2電極131まで流れる経路r21と、第1電極130から、液体を通って気相Gを通ることなく第2電極131に流れる経路r31とが存在する。その等価回路は、図7Bの(b)のようになる。この時の合成抵抗値は、以下の式(2)のように表せる。
Figure 0006854427

従来の液体処理装置よりも本発明の実施形態1にかかる液体処理装置の方が、式(2)と式(1)との差である式(3)の分だけ、合成抵抗が小さくなることが分かる。つまり、電源60から投入されたエネルギーの損失が少なくなり、液体の温度上昇を抑制することができる。
Figure 0006854427

さらに、従来の液体処理装置では、経路r11と経路r21とでは、気相Gの抵抗R1と、気相Gから第2電極131までの間の液体の抵抗R2とが直列になるために、電源60から第1電極30と第2電極131の間に印加した電圧のR1/(R1+R2)しか、気相Gには印加されない。
一方、本実施形態1では、経路r1では、第1電極30と第2電極31との間に印加した電圧が、第1電極30と第2電極31との間に延在する気相Gに全て印加され、液体L1に印加されることはない。このため、絶縁破壊が発生しやすく、より安定的にプラズマ放電を起こすことが可能である。
本実施形態1では、第2電極31の中央部に設けられた開口部311は、図3に示すように、中心軸X1を中心として、第2電極31に回転対称に配置された4つの扇形の開口311aにて構成される形状である。しかしながら、同様の効果を得ることができる扇形の開口311aの数は、4つに限定されるわけではない。図8に、各扇形の開口311aの数で、プラズマ放電を安定して発生させることができたかどうかの結果の説明図を示す。ここでは、第2電極31に直径3mmの1つの円形の貫通穴を形成し、そこに、金属線を配置しない場合(開口率は100%)を条件1とする。第2電極31に形成した、直径3mmの1つの円形の貫通穴に対して、線幅が0.3mm、0.6mm、1mmの金属線をそれぞれ複数配置することによって、条件2〜10に示すように、扇形の開口の数および開口率が異なる9種類の開口部311を作成して評価を行った。
条件1は、従来の液体処理装置の場合であり、放電は出来るが、前述のように液体の例である水の水温上昇が発生してしまう課題が発生する。
条件2〜5は、金属体の線幅が0.3mmの場合であり、扇形開口の数が6以下(開口率は87.3〜61.9%)の場合に、水温上昇を抑えながら安定したプラズマ放電を発生させることができた。
同様に、条件6〜8は、金属体線幅が0.6mmの場合であり、扇形開口の数が4以下(開口率は49.4〜74.7%)の場合に安定した放電を確認できた。
条件9、10の金属体線幅1.0mmの場合には、扇形開口の数が2(開口率は58.4%)の場合に安定した放電を確認できた。
以上の結果から、水温上昇が発生することなく、安定したプラズマ放電を発生させるための条件は、扇形開口311aの数で決まるものではなく、中心軸X1を中心として回転対称に配置された開口311aの外接円に対する開口率に依存しており、開口率としては50%〜87%が好ましいことが分かった。
なお、開口部311は第2電極31に設けるのが簡単な構成で好ましい。しかしながら、このような構成の代わりに、第2電極31には、開口311aの外接円を、開口率が50%〜87%となる外接円よりも大きく形成し、排出部17の開口をそれよりも小さく形成して、結果的に、排出部17の開口から露出する開口311aの外接円に対する開口率が、50%〜87%となるように、構成することもできる。
以上、説明した本実施形態1によれば、気相Gに発生したプラズマPが、第1電極30と第2電極31とのどちらにも直接接触するため、プラズマPを通らずに液体L1だけを流れる漏れ電流を抑えることができる。このように漏れ電流が少ないため、プラズマPを効率良く発生させて高いエネルギー効率で液体L1を処理できるとともに、水温上昇も抑えることでプラズマPを長時間安定して発生させることができる。すなわち、液体を循環させながら連続的に処理する場合にも、気相Gの圧力が上昇することがなく、プラズマPが安定するために設備を長時間稼動させることができる。
なお、図8における開口部311を形成する扇形の開口311aの数は、偶数のみであったが、奇数の場合も開口率が50%〜87%であれば、同様の結果を得ることが可能である。このとき、扇形開口311aの配置については、気相Gを均一に形成するために、中心軸X1から点対称に配置されていることが好ましい。さらに、開口311aの形も扇形に限定されるわけではなく、中心軸X1を中心として配置した複数の開口311aの外接円に対する開口率が50%〜87%であれば、図9のように複数の円形の開口311bによって、開口部311が形成されていても同様の効果を得ることができる。
さらに、処理槽12は単純な円筒形状であったが、片方の端部が、閉口した断面形状が円形である筒状の処理槽であれば様々な形状をとることが可能である。例えば、図10に示すように、半径が異なる円筒を組み合わせた処理槽13、又は、図11に示す円錐形状の処理槽14であっても同様の効果が得られる。
[実施形態2]
本実施形態1では、第2電極31は、板状の金属部材で構成されており、全体が液体L1に直接接触する構成を取っていたために、第1電極30から、液体L1を通って気相Gを通ることなく第2電極31に流れる電流経路が存在していた。しかし、第2電極31で気相Gに接する箇所のみ電極を露出させ、他の部分を絶縁皮膜で覆うことで、液体L1を通って気相Gを通ることなく第2電極31に流れる電流を抑制することができ、より効率的に液体処理をしながら、水温上昇も抑えることができ、プラズマを長時間安定して発生させることが可能となる。
図12は、本発明の実施形態2の装置構成を示しており、図13は、本発明の実施形態2の第2電極の正面図を示している。実施形態1との違いは、開口部311を除いて少なくとも第2電極31の第1電極側の表面に設置された絶縁皮膜313と、絶縁皮膜313から露出した中央に円形の金属露出部312がある点である。絶縁皮膜313と、金属露出部312があるために、第2電極31において金属露出部312にだけ電流が流れるようになっている。絶縁皮膜313は、図12及び図14に示すように、第2電極31の第1電極側の表面とは反対側の表面の全面にも配置してもよい。なお、図13においては、絶縁皮膜313と金属露出部312と開口311aとを区別するため、絶縁皮膜313と金属露出部312とは異なるハッチングを付けて区別できるように図示している。
図14に、本実施形態2の液体処理装置の放電時における電流経路と、その電流経路と等価な等価回路とを示す。図14の(a)は、本実施形態2での液体処理装置の放電時の電流経路r15を示している。第2電極31の金属露出部312が気相Gで覆われるために、第1電極30から、気相Gを通って第2電極31に流れる経路r15だけが存在する。言い換えれば、第1電極30から液体L1を通って、直接、第2電極31に流れる電流経路r3が存在しない。この時の等価回路は、図14の(b)のように表すことができ、R1は、気相Gの抵抗である。
以上、説明した本実施形態2によれば、液体L1に流れる電流が無いため、より効率的に液体処理をしながら、水温上昇も抑えることができ、プラズマPを長時間安定して発生させることが可能となる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、上述した実施形態は本発明を実施するための例示に過ぎない。よって、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で上述した実施形態を適宜変形して実施することが可能である。例えば、前記様々な実施形態又は変形例のうちの任意の実施形態又は変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせ又は実施例同士の組み合わせ又は実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態又は実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
本発明の前記態様にかかる液体処理装置は、液体中でプラズマを発生させることにより、液体に含まれる汚濁物質又は菌がプラズマに直接触れることによる分解及び殺菌作用と、プラズマ放電により発生する紫外線又はラジカルなどによる分解及び殺菌作用を同時に起こして、液体を処理することが可能であり、殺菌、脱臭、又は各種の環境改善等に利用することが可能である。
1 液体処理装置
10 装置本体
12 処理槽
13 処理槽
14 処理槽
15 導入部
16 開口端
17 排出部
21 第1内壁
22 第2内壁
23 第3内壁
24 電極支持筒
30 第1電極
31 第2電極
31a 第2電極本体部
50 液体供給部
51 配管
53 絶縁体
60 電源
90 貯留槽
91 取り入れ口
311 開口部
311a,311b 開口
312 金属露出部
313 絶縁皮膜
80 水タンク
81 循環用配管
83 収容空間
L1 液体
L2 処理液
B 気泡
G 気相
P プラズマ
R1 気相の抵抗
R2 気相から第2電極までの間の液体の抵抗
R3 第1電極から第2電極までの間の液体の抵抗
r1,r2,r3,r11,r15,r21,r31 電流経路
100 液体処理装置
110 装置本体
112 処理槽
115 導入部
117 排出部
130 第1電極
131 第2電極
150 液体供給部
151 配管
160 電源
190 貯留槽

Claims (4)

  1. 一端側が閉口し他端側が開口した断面形状が円形である筒状の処理槽と、
    記処理槽の前記円形筒状の接線方向から液体を前記処理槽内に導入することにより前記処理槽内で前記液体を前記処理槽の前記一端側から前記他端側に向けて前記処理槽の中心軸周りに旋回させ、前記液体の旋回流中に気相を発生させる液体導入口と、
    前記処理槽の前記他端側に配置され、前記液体導入口から導入された前記液体を排出する排出部と、
    前記処理槽の前記中心軸上の前記一端側に配置された棒状の第1電極と、
    前記処理槽の前記他端側に、前記排出部内に部分的に露出するように配置された第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間に電圧を印加して、前記第1電極と前記第2電極との間の前記気相内にプラズマを発生させる電源と、
    を備え
    前記第2電極は、前記排出部が配置された前記処理槽の壁面と接するとともに、前記第2電極の第2電極本体部が前記排出部の開口をまたぐことにより、前記排出部を前記処理槽の前記中心軸を中心とした回転対称に配置される複数の開口部に分割し、前記気相は、前記第1電極から前記第2電極の前記第2電極本体部に接触して形成可能とし、
    前記開口部は、前記開口部を構成する前記複数の開口の外接円に対する開口率が、50%〜87%である液体処理装置。
  2. 前記第2電極は、前記排出部の前記開口をまたぐように配置された線状の電極である、
    請求項1に記載の液体処理装置。
  3. 前記第2電極は、前記処理槽の前記他端側に配置された板状の電極であり、
    前記開口部は、前記処理槽の前記中心軸を中心として、前記第2電極に回転対称に配置された複数の開口にて構成される開口部である
    請求項1に記載の液体処理装置。
  4. 前記第2電極は、前記開口部を除いて第1電極側の表面が絶縁皮膜で覆われており、前記第1電極に対向する面の中心部にのみ電気的に導通可能な電極露出部が設けられている、
    請求項1から3のいずれか一項に記載の液体処理装置。
JP2018054790A 2018-03-22 2018-03-22 液体処理装置 Active JP6854427B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054790A JP6854427B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 液体処理装置
CN201811653962.1A CN110294509B (zh) 2018-03-22 2018-12-29 液体处理装置
SG10201900871U SG10201900871UA (en) 2018-03-22 2019-01-30 Liquid processing apparatus
US16/274,168 US10934183B2 (en) 2018-03-22 2019-02-12 Liquid processing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054790A JP6854427B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 液体処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019166442A JP2019166442A (ja) 2019-10-03
JP6854427B2 true JP6854427B2 (ja) 2021-04-07

Family

ID=67984762

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018054790A Active JP6854427B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 液体処理装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10934183B2 (ja)
JP (1) JP6854427B2 (ja)
CN (1) CN110294509B (ja)
SG (1) SG10201900871UA (ja)

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU1246892A (en) * 1991-01-21 1992-08-27 Ishkov, Nikolai Vladimirovich Method and device for electroplasma separation of fat and oil from sewage
CA2047807A1 (fr) * 1991-07-24 1993-01-25 My Dung Nguyen Handfield Vitrification des cendres
CA2237414C (fr) * 1998-05-11 2004-10-19 Hydro-Quebec Traitement de residus humides contenant une charge polluante et/ou toxique
US8734654B2 (en) * 2001-07-16 2014-05-27 Foret Plasma Labs, Llc Method for treating a substance with wave energy from an electrical arc and a second source
US10188119B2 (en) * 2001-07-16 2019-01-29 Foret Plasma Labs, Llc Method for treating a substance with wave energy from plasma and an electrical arc
US7857972B2 (en) * 2003-09-05 2010-12-28 Foret Plasma Labs, Llc Apparatus for treating liquids with wave energy from an electrical arc
JP2006130410A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Kobe Steel Ltd 液体処理方法およびその装置
JP5295485B2 (ja) 2006-02-01 2013-09-18 株式会社栗田製作所 液中プラズマ型被処理液浄化方法及び液中プラズマ型被処理液浄化装置
CA2683165C (en) * 2006-04-05 2013-06-11 Foret Plasma Labs, Llc System, method and apparatus for treating liquids with wave energy from plasma
JP4844488B2 (ja) 2007-07-11 2011-12-28 株式会社Ihi 高電圧パルス制御による選択的液体処理方法
MY150298A (en) * 2007-07-17 2013-12-31 Plascoenergy Ip Holdings Slb A gas reformulation system comprising means to optimize the efectiveness of gas conversion
JP2012077955A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Daikin Industries Ltd 冷蔵庫用除菌装置及びそれを備えた冷蔵庫
US20130192979A1 (en) * 2011-01-17 2013-08-01 Greenville Envirotech Co Ltd Apparatus for plasmatizing solid-fuel combustion additive and method for using the same
JP5099612B2 (ja) 2011-04-26 2012-12-19 独立行政法人国立高等専門学校機構 液体処理装置
US20160325991A1 (en) 2014-01-08 2016-11-10 Drexel University Non-thermal plasma cleaning of dirty synthesis gas
CN103708582A (zh) * 2014-01-09 2014-04-09 南通大学 一种船舶压载水处理装置
US20150239759A1 (en) 2014-02-25 2015-08-27 Energy Onvector, LLC Microbubble Generator for Enhanced Plasma Treatment of Liquid
CN103979668B (zh) * 2014-06-05 2016-04-20 陕西瑞科特种设备技术有限公司 一种旋流气柱的气液界面放电等离子反应装置
CN104129833B (zh) * 2014-07-15 2016-01-20 中国科学院电工研究所 等离子体协同超声空化效应废水处理反应器
US10793447B2 (en) * 2014-09-15 2020-10-06 Energy Onvector, LLC System and method for plasma discharge in liquid
JP2016083658A (ja) * 2014-10-24 2016-05-19 パナソニックIpマネジメント株式会社 プラズマ生成装置
EP3023392B1 (en) 2014-11-21 2018-11-21 Iris S.r.l. Device, system and method for the treatment of liquid waste waters
US10703653B2 (en) * 2016-02-17 2020-07-07 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Liquid treatment device utilizing plasma
WO2017217170A1 (ja) * 2016-06-15 2017-12-21 パナソニックIpマネジメント株式会社 改質液生成装置および改質液生成方法
JP6667166B2 (ja) 2016-06-15 2020-03-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 改質液生成装置および改質液生成方法
JP6678336B2 (ja) * 2017-05-11 2020-04-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 洗濯機すすぎ水浄化装置及び洗濯装置
CN206912255U (zh) * 2017-05-22 2018-01-23 加拿大艾浦莱斯有限公司 一种基于等离子体雾化技术的金属粉末制备装置
JP6722903B2 (ja) * 2017-06-01 2020-07-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 空間改質装置
JP6587159B2 (ja) * 2017-06-26 2019-10-09 パナソニックIpマネジメント株式会社 液体処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019166442A (ja) 2019-10-03
SG10201900871UA (en) 2019-10-30
CN110294509B (zh) 2021-11-16
CN110294509A (zh) 2019-10-01
US10934183B2 (en) 2021-03-02
US20190292076A1 (en) 2019-09-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6861378B2 (ja) 改質液生成装置
JP5899455B2 (ja) 液体処理装置及び液体処理方法
CN108970322B (zh) 除臭装置以及除臭方法
CN109429494B (zh) 液体处理装置
JPWO2015072049A1 (ja) 液体処理装置及び液体処理方法
JP6854427B2 (ja) 液体処理装置
JP6817594B2 (ja) 液体処理装置
CN108862494B (zh) 洗涤机清洗水净化装置以及洗涤装置
JP6817595B2 (ja) 液体処理装置
JP2018204842A (ja) 加湿器
JP2018202282A (ja) 貯留タンク水処理装置及び貯留式給湯装置
JP6799824B2 (ja) 液体処理装置
JP7203324B2 (ja) 液体処理方法及び液体処理装置
JP7113349B2 (ja) 液体処理装置
WO2017217170A1 (ja) 改質液生成装置および改質液生成方法
JP6990866B2 (ja) 液体処理装置
JP7190696B2 (ja) 液体処理方法及び液体処理装置
JP2018196852A (ja) 液体処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191007

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200826

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200901

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201023

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210216

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210225

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6854427

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151