JP6853704B2 - リソグラフィ装置、および物品の製造方法 - Google Patents
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Description
本発明に係る第1実施形態のインプリント装置100について説明する。本実施形態のインプリント装置100は、インプリント処理をそれぞれ行う複数の処理部10を有する所謂クラスタ型のインプリント装置である。図1は、本実施形態のインプリント装置100を示す概略図である。インプリント装置100は、例えば、複数の処理部10(図1では6個の処理部10a〜10f)と、第2処理部20(前処理部)と、搬送部30と、制御部40とを含みうる。
本発明に係る第2実施形態のインプリント装置について説明する。第2実施形態のインプリント装置の装置構成は、第1実施形態のインプリント装置100と同様である。第2実施形態では、制御部40は、搬送路32に沿ったハンド31の移動中における温度センサ34の検出結果に基づいて、搬送路32の温度が目標温度になるように温調部33を制御する(搬送路32の温度を制御する)。搬送路32の目標温度は、例えば、複数の処理部10の各々における内部温度の目標温度と同じに設定されることが好ましい。このように、複数の処理部10の各々における内部温度と搬送路32の温度とを共通の温度センサ34による検出結果に基づいて制御することにより、当該内部温度と搬送路32の温度との差を低減させることができる。即ち、搬送路32と各処理部10の内部との温度差により生じる基板2の熱変形を低減させることができる。
本発明に係る第3実施形態について説明する。図5は、第3実施形態のインプリント装置300を示す図であり、搬送部30の構成以外は第1実施形態のインプリント装置100(図1)と同様である。第3実施形態のインプリント装置300では、搬送路32が複数の領域に区分けされており、当該複数の領域の各々に対して温調部33が設けられている。図5に示す例では、搬送路32は3つの領域32a〜32cに区分けされており、領域32aを温調する温調部33aと、領域32bを温調する温調部33bと、領域32cを温調する温調部33cとが設けられている。
本発明の実施形態にかかる物品の製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品の製造方法は、基板に塗布されたインプリント材に上記のインプリント装置を用いてパターンを形成する工程(基板にインプリント処理を行う工程)と、かかる工程でパターンを形成された基板を加工する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
Claims (9)
- 基板上にパターンを形成する処理をそれぞれ行う複数の処理部と、
前記複数の処理部の各々に基板を搬送する搬送部と、
前記複数の処理部の各々における内部温度を制御する制御部と、
を含み、
前記搬送部は、前記複数の処理部の各々に対する基板の搬送時に当該処理部の内部に挿入される部分に設けられた温度センサを有し、
前記制御部は、前記搬送部による基板の搬送時に得られた前記温度センサの検出結果に基づいて、前記複数の処理部間での内部温度の差が低減するように、前記複数の処理部の各々における内部温度を制御する、ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記複数の処理部の各々は、内部温度を調整する温調部を含み、
前記制御部は、前記搬送部による基板の搬送時に得られた前記温度センサの検出結果に基づいて、前記複数の処理部の各々における前記温調部を制御する、ことを特徴とすることを特徴とする請求項1に記載のリソグラフィ装置。 - 前記複数の処理部の各々は、内部温度を検出する第2温度センサを含み、
前記制御部は、前記搬送部による前記複数の処理部の各々への基板の搬送時に得られた前記温度センサの検出結果によって校正された前記第2温度センサの検出結果に基づいて、前記複数の処理部の各々における前記温調部を制御する、ことを特徴とする請求項2に記載のリソグラフィ装置。 - 前記搬送部は、基板を保持するハンドを有し、
前記温度センサは、前記ハンドに設けられている、ことを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - 前記温度センサは、前記ハンドにより保持された基板に接触しないように前記ハンドに設けられている、ことを特徴とする請求項4に記載のリソグラフィ装置。
- 前記搬送部は、前記複数の処理部の各々に基板を搬送する搬送路を含み、
前記制御部は、前記温度センサの検出結果に基づいて前記搬送路の温度を制御する、ことを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - 前記搬送路は、複数の領域に区分けされ、
前記制御部は、前記温度センサの検出結果に基づいて、前記搬送路における前記複数の領域の各々の温度を制御する、ことを特徴とする請求項6に記載のリソグラフィ装置。 - 基板の前処理を行う第2処理部を更に含み、
前記搬送部は、前記第2処理部から前記複数の処理部の各々に基板を搬送する、ことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - 請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置を用いてパターンを基板に形成する形成工程と、
前記形成工程で前記パターンが形成された前記基板を加工する加工工程と、
を含み、
前記加工工程で加工された前記基板から物品を製造することを特徴とする物品の製造方法。
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