JP6847997B2 - 低自己消費電流パワーオンリセット回路 - Google Patents

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Description

本文書は、一般に、電子回路、より詳細には電気システム用のリセット回路に関するが、これに限定するものではない。
順序論理回路を使用する電子システムは、通常、電源供給イベントに応答してこれらのシステムのメモリ素子を特定の状態、例えば、システムの電源が投入されたときに電源電圧が閾値動作電圧レベルを超えて立ち上がったり、システムの動作中に電源電圧が別の閾値動作電圧レベルを下回ったりするなどの状態に強制するためのリセット回路を含む。例えば、パワーオンリセット(POR)回路は、システムがオンにされた後にシステムに対し立ち上がる供給電圧を監視し、供給電圧がシステム内の他の回路が正常に機能するのに必要な電圧レベルまで立ち上がった後に、システム内の1つ以上のラッチを特定の状態にリセットするためのリセット信号を生成する。同様に、節電検出回路は、システムの動作中にシステムの供給電圧を監視し、供給電圧がシステム内の回路の通常機能に必要な電圧レベルよりも立ち下がると、システムをリセットするための信号を生成することができる。POR回路または節電検出回路の性能は、供給電圧が立ち上がりまたは立ち下がりする速度、およびこれらの回路によって消費される自己消費電流によって影響を受ける可能性がある。
本開示は、とりわけ、プロセス−電圧−温度(PVT)変動および電源ランプ特性に対して回復力がある低自己消費電流リセット回路、自己消費電流を減らすためにラッチ回路を用いて自動的に無効化され得るパワーオンリセット(POR)回路および節電検出回路を含む検出器回路を記載する。低自己消費電流リセット回路は、通常動作中の電力消費を低減することによって、バッテリ寿命および1つ以上の順序論理回路を有するシステムの安定性を向上させることができる。低自己消費電流リセット回路は、例えば、ある範囲の電源スルーレートおよびPVT変動に対する頑健性を提供するために、漏れ電流補償回路をさらに含む。これは、動作閾値を下回る供給電圧レベルのゆっくりとした立ち下がりのような低スルーレート電源供給の中断を検出し、そしてそれに応答するために特に有用であり得る。
様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路を有するシステムのブロック図を示す。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路に関連する供給電圧およびリセット信号の波形図の実施例を示す図である。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路を有するシステムにおいて電圧を検出するために使用されるゲート型電圧検出器回路の概略図を示す。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路を有するシステムにおいて電圧を検出するために使用されるゲート型電圧検出器回路の概略図を示す。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路の概略図を示す。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路のトランジスタレベルの概略図を示す。 様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路を動作させるための一連の動作を示す。
図面においては、必ずしも一定の縮尺で描かれているわけではなく、同様の数字は、種々の図において同様の構成要素を説明することがある。種々の文字の接尾辞を有する同様の数字は、同様の構成要素の種々の事例を表すことがある。図面は、概して、本文書で論じられる様々な実施形態を示すが、これに限定されるものではない。
本開示は、とりわけ、プロセス−電圧−温度(PVT)変動および電源ランプ特性に対して回復力がある低自己消費電流リセット回路、自己消費電流を減らすためにラッチ回路を用いて自動的に無効化され得るパワーオンリセット(POR)回路および節電検出回路を含む検出器回路を記載する。低自己消費電流リセット回路は、通常動作中の電力消費を低減することによって、バッテリ寿命および1つ以上の順序論理回路を有するシステムの安定性を向上させることができる。低自己消費電流リセット回路は、例えば、ある範囲の電源スルーレートおよびPVT変動に対する頑健性を提供するために、漏れ電流補償回路をさらに含む。これは、動作閾値を下回る供給電圧レベルのゆっくりとした立ち下がりのような低スルーレート電源供給の中断を検出し、そしてそれに応答するために特に有用であり得る。
図1Aは、様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路105を有するシステム100のブロック図を示す。システム100は、マイクロプロセッサ、有限状態機械、レジスタバンク、およびラッチ回路または他のメモリ素子を組み込んだ他の任意の回路など、1つ以上の順序論理回路125を有する電子装置を含むことができる。リセット回路105は1つ以上の順序論理回路125から分離しているように図示されているが、いくつかの装置では、リセット回路105は、電源投入時に既知の状態にマイクロプロセッサを初期化するオンチップリセット回路を含むマイクロプロセッサのような、1つ以上の順序論理回路内の装置または回路であり得る。
図1Aでは、リセット回路105は、電圧検出器回路115、節電検出器回路110、およびPORラッチ120を含むPOR回路を含むことができる。電圧検出器回路115は、供給電圧(V_BUS)が電源オフ電位から立ち上がり閾値電圧レベルまで立ち上がるにつれて、供給電圧(V_BUS)を監視することができる。立ち上がり閾値電圧レベルは、1つ以上の順序論理回路125が適切に動作することを可能にするのに必要とされる特定の最小供給電圧レベルであり得る。電圧検出器115は、出力端子Zにリセット信号を生成して、V_BUSが低電圧レベルまたは電源オフ電圧レベルから立ち上がり閾値電圧レベルまで立ち上がる間に、1つ以上の順序論理回路125をリセットすることができる。リセット信号の電圧は、高または論理1のリセット値を示すなどのために、V_BUSの立ち上がりに追従するか、または追跡することができる。リセット信号は、入力端子DでPORラッチ120によって受信されてもよく、1つ以上の順序論理回路125に提供されるように、出力端子PORに伝導されてもよい。
電圧検出器115は、V_BUSが立ち上がり閾値電圧レベルを超えて立ち上がったことを検出した後に、出力端子Zで生成されたリセット信号を低い値、すなわち論理値0に変更して、供給電圧が1つ以上の順序論理回路125の動作を有効にするのに十分なレベルまで立ち上がったことを示すことができる。PORラッチ120は、例えば、PORラッチの入力Dを電圧検出器115の出力端子Zから電気的に絶縁することによって、低値リセット信号をラッチまたは蓄積することができる。低値リセット信号は、リセット機能を無効化するなどのために、1つ以上の順序論理回路125に供給することができる。PORラッチ120はまた、電圧検出器回路によって消費される自己消費電流を低減するなどのために、電圧検出器回路を無効化するために、電圧検出器回路115のゲート端子ENに制御信号を提供することができる。PORラッチ120は、電圧検出器回路115が無効化された後に、低値リセット信号(ZN)を1つ以上の順序論理回路に供給し続けることができる。
図1Aにおいて、節電検出器回路110は、V_BUSを監視して、高立ち下がり閾値電圧レベルを下回る供給電圧の立ち下がりを検出することができる。高立ち下がり閾値電圧レベルは、本明細書に記載されたように、電圧検出器回路をオンにすることを遅延させるなど、オーバーヘッド動作電圧を提供するように選択された、システム100の最大または通常動作電圧より低い電圧であり得る。節電検出器回路110は、電圧検出器回路115と同様に、第2の電圧検出器回路をオンにして、V_BUSが低立ち下がり閾値電圧レベルよりも下回ることを検出することができる。低立ち下がり閾値電圧レベルは、供給電圧の立ち下がりに応答して1つ以上の順序論理回路125をリセットするための特定の最小電圧とすることができる。節電検出器回路110は、V_BUSが低立ち下がり閾値電圧レベルよりも下回ることを第2の電圧検出器回路が検出した後、PORラッチに高または論理1リセット値を蓄積させるように、端子RSTにリセット信号を生成してPORラッチ120をリセットすることができる。次いで、PORラッチ120は、第2の検出器回路によって消費される自己消費電流を低減するためなど、第2の検出器回路を無効化するために、節電検出器回路110のゲート端子ENにおいて第2の制御信号を生成する。PORラッチ120は、第2の電圧検出器回路が無効化された後に、高リセット信号を1つ以上の順序論理回路に供給し続けることができる。
図1Bは、様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路に関連する供給電圧およびリセット信号の波形を示す図の実施例を示す。そのような波形は、リセット回路100に印加される供給電圧V_BUS、および1つ以上の順序論理デバイス125をリセットするためにリセット回路によって生成されるリセット信号ZNの実施例であり得る。この図は、N型電界効果トランジスタ(NFET)動作閾値電圧レベルVTN、低立ち下がり閾値電圧レベルVPOR_FL、立ち上がり閾値電圧レベルVPOR_R、高立ち下がり閾値電圧レベルVPOR_FH、および最大または通常動作電圧レベルVMAXを示す。
領域Aの左側の領域は、電圧検出器115内のNFETデバイスなど、V_BUSがシステム内のNFETの閾値電圧VTNよりも下回る場合など、システム100が電源オフされる時間を示す。この領域では、電圧検出器115と節電検出器110内の電圧検出器の両方をオフにすることができる。領域AはV_BUSがVTNからVPOR_Rに立ち上がる期間を示す。領域Aでは、電圧検出器回路115をオンにして、V_BUSがVPOR_Rを超えて立ち上がりすることを検出するなど、V_BUSを監視することができる。この期間中に電圧検出器回路115に電流が流れ、電圧検出器回路115は電力を消費する。領域Bは、V_BUSがVPOR_RおよびVPOR_FHの両方よりも高い期間を示す。この領域では、電圧検出器115をオフにして、電圧検出器にほとんどまたは全く電流を流さないようにすることができる。その結果、どちらの電圧検出器も領域Bで電力を消費しない。領域Cは、節電検出器110内の第2の電圧検出器が起動してVPOR_FLを下回るV_BUSの立ち下がりを検出する期間を示す。第2の電圧検出器回路はこの期間中に電流を流し、第2の電圧検出器に電力を消費させる。領域Dは、V_BUSがVPOR_FLを下回り、PORラッチにリセット信号ZNの値を高に駆動させて、例えばZNをV_BUSに追従させるように、第2の電圧検出器にPORラッチ120をリセットさせる期間を示す。この期間中、第2の電圧検出器はオフにされ、第2の電圧検出器にはほとんどまたは全く電流を流さないようにする。その結果、どちらの電圧検出器もこの期間中電力を消費しない。領域Eは、領域Aに示される期間と同様に、システム100の立ち下がりリセットの後にV_BUSがVPOR_Rに立ち上がりする時間を示す。
いくつかの実施形態では、VPOR_FHは、領域Cにおいて第2の電圧検出器によって消費される電力を減らすため、または種々の電源スルーレートに対してリセット回路105を適合させるためなどに調整することができる。
本明細書に記載された技術によれば、周囲温度が摂氏100度より低いとき、本開示の様々なプロセスコーナー条件のリセット回路およびスルーレートなどのV_BUS特性を用いて、領域DのZNの波形を確実に生成することができる。電源電圧の立ち上がり時間と立ち下がり時間が10ミリ秒未満の場合、領域DのZNの波形は妥当なPVT変動に対して確実に生成される。さらに、領域EにおけるZNの波形は、PVTの変動および供給電圧の立ち上がりおよび立ち下がり時間とは無関係に確実に生成することができる。
図2Aは、様々な実施形態による、ゲート型電圧検出器回路(以下、「分圧器回路」)200の概略図を示す。電圧検出器回路200は、VPOR_Rなどの閾値電圧レベルを超えて立ち上がる供給電圧V_BUSを検出するように構成された電圧検出器回路115(図1A)の実施例とすることができる。このような電圧検出器回路は、ゲート回路201、分圧器回路203、およびインバータ205を含むことができる。ゲート回路201は、P型電界効果トランジスタ(PFET)M1を含むことができる。分圧器回路203は、ダイオード接続されたPFET M2および可調整抵抗R1を含み得る。さらに、インバータ回路205は、PFET M3およびNFET M4を含むことができる。
ゲート回路201および分圧器回路は、M2の特定のジオメトリ
Figure 0006847997
閾値電圧(VTP1)、およびプロセスファクタ(K)、ならびにM3の特定のジオメトリ
Figure 0006847997
閾値電圧(VTP2)、およびプロセスファクタ(K)、ならびにM4の特定のジオメトリ
Figure 0006847997
閾値電圧(VTN)、およびプロセスファクタ(K)に対して式(1)および式(2)を用いて立ち上がり閾値電圧(VPOR_R)を決定するために使用できる。一般に、VPOR_Rは、R1を調整することによって、またはジオメトリをM2、M3、またはM4に変更することによって決定できる。式(1)および式(2)における電圧Vgは、M1のゲート−ソース間電圧であり得る。
Figure 0006847997
電圧検出器回路200は、M1をオンにするなど、端子ENに低信号を提示することによってオンにすることができる。閾値電圧VPOR_Rは、インバータ205に高出力の生成から低出力への切り替えを引き起こすためにノードN1で必要とされる電圧を決定するなど、M4のバイアス電圧を決定することができる。V_BUSがグランドGNDのような低電位からVPOR_Rまで立ち上がると、ノードN1の電圧はこのバイアス電圧より低くなり、インバータ205は端子ZにV_BUSを厳密に追跡する高出力信号を発生する。V_BUSがVPOR_Rを超えて立ち上がると、ノードN1の電圧はM4のバイアス電圧を超えて立ち上がり、V_BUSが最小動作電圧レベルに達したことを示すように、インバータ205に出力信号を低に駆動させる。
出力信号は、PORラッチ回路120(図1)などのPORラッチ回路によって端子Zから取り込むことができる。次いで、電圧検出器200は、M1をオフにするなどのために端子ENに低信号を提示することによってオフにされるか、または無効化されることができる。ラッチ回路は、R1によって消費される電力よりも少ない電力を消費することができるので、ZをPORラッチに蓄積し、電圧検出器回路200を無効化することは、システムによっては電力消費を低減することができる。
図2Bは、様々な実施形態による、ゲート型電圧検出器回路210の別の実施例の概略図を示す。電圧検出器回路210は、節電検出器回路110(図1)に含まれる電圧検出器回路の実施例であり、VPOR_FLなどの閾値電圧レベルよりも立ち下がる供給電圧V_BUSを検出するように構成される。そのような電圧検出器回路は、ゲート回路211、分圧器回路213、およびインバータ215を含むことができる。ゲート回路201は、NFET M8を含むことができる。分圧器回路213は、ダイオード接続されたPFET M5および可調整抵抗R2を含み得る。さらに、インバータ回路215は、PFET M6およびNFET M7を含むことができる。トランジスタM5、M6、およびM7は、電圧検出器回路200のトランジスタM2、M3、およびM4と一致するように選択することができる。閾値電圧VPOR_FLは、VPOR_RにVPOR_FLを、R1にR2を代入することにより、式(1)および式(2)に従って決定することができる。例えば、VPOR_FLをVPOR_Rより低くさせるために、R2の値はR1の値より大きくてもよい。
電圧検出器回路210は、M8に低電圧を印加することによってオフにすることができ、またはM8に高電圧を印加することによってオンにすることができる。 オフ状態では、電圧検出器210はインバータ215に端子Zで低出力電圧を生成させることができる。オン状態では、電圧検出器はV_BUSがVPOR_FLよりも立ち下がるまで端子Zで低出力電圧を生成し続けることができる。電圧検出器210は、端子Zに高出力電圧を生成することができ、V_BUSはVPOR_FLよりも立ち下がる。
図3は、様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路300の概略図を示す。低自己消費電流リセット回路(以下、「リセット回路」)300は、リセット回路100(図1A)の実施例とすることができる。リセット回路300は、電圧検出器回路305、インバータ回路310、PORラッチ回路315、インバータ回路320、および節電検出器回路325を含むことができる。電圧検出器回路305は、電圧検出器回路115(図1A)または電圧検出器回路200(図2A)の実施例とすることができる。そのような回路は、本明細書に記載されたように、閾値電圧VPOR_Rを超える供給電圧V_BUSの増加を検出するように構成され得る(図1B)。
PORラッチ回路315とインバータ320との組み合わせは、PORラッチ回路120(図1)の実施例であり得る。PORラッチ回路315は、V_BUSが低電圧からVPOR_Rまで立ち上がるときに閉じるように、例えばPFET M17を用いることによって構成されたスイッチング回路313を含むことができる。V_BUSがVPOR_Rを下回っている間、電圧検出器305からの出力(高電圧)は、インバータ回路310によって反転され、PORラッチ回路315を通過して、高リセット信号ZNを生成することができる。電圧検出器回路305の反転出力は、電圧検出器回路305の端子ENを低に駆動するなどのために、PORラッチ回路315にノードN2の低出力を生成させることができる。これにより、ゲートトランジスタM1(図2A)を閉じることができ、電圧検出器回路305をオン状態に維持する。V_BUSがVPOR_Rよりも立ち上がると、電圧検出器回路305の出力は低電圧に切り替わる。この低出力は、インバータ310によって高に反転され、ラッチ回路315に渡される。この高入力は、PORラッチ回路315を、例えば、電圧検出器305から電気的に絶縁するために、電圧検出器回路305の反転された出力を取り込む、またはラッチするために、インバータ312にPFET M17のベースに高電圧を生成させることができる。ラッチされた(高電圧)出力は、PORラッチ回路315に、電圧検出器回路305をオフにする、または無効化するなどのために、ノードN2に高電圧を生成させることができる。
節電検出器回路325は、節電検出器回路110(図1A)の実施例とすることができ、閾値電圧VPOR_FL(図1B)を下回るV_BUSの立ち下がりを検出するように構成される。節電検出器回路325は、電荷蓄積回路330、漏れ電荷補償回路335、立ち下がり検出器回路340、電圧検出器350、およびリセット装置355を含むことができる。節電検出器回路325はまた、プルダウン回路345、リセットトランジスタM7、およびコンデンサC5を含むことができる。
電荷蓄積回路315は、ダイオードD1と蓄積容量C1とを含むことができる。電荷蓄積回路315は、電圧検出器回路350を起動するための閾値電圧VPOR_FH(図1B)を決定することができる。閾値電圧は、蓄積コンデンサC1の両端に生成される電圧を決定する1つ以上のダイオードD1を用いることによって決定できる。そのような閾値電圧(VPORFH)は、それぞれ順方向電圧Vを有するk個のダイオードD1と、PFET M9の閾値電圧VTPとが与えられた式(3)を用いて決定することができる。V_BUSが最大または通常の動作電圧V_BUSMAXまで立ち上がると、D1によって決定されるように、蓄積コンデンサC1をVPOR_FH(VPORFH)まで充電することができる。いくつかの実施形態では、例えば図1Bの領域Cの幅を決定することによって、電圧検出器350がオンにされる時間量を決定するために、VPOR_FHまたはダイオードD1の数(k)を選択することができる。
Figure 0006847997
立ち下がり検出器回路340は、V_BUSに結合されたゲートと蓄積コンデンサC1に結合されたソースとを有するPFET M9を含むことができる。立ち下がり検出器回路340は、V_BUSがVTPボルトよりもVPOR_FHよりも立ち下がったときに、蓄積コンデンサC1を放電するためにオンにすることにより、V_BUSがVPOR_FHよりも立ち下がることを検出するように構成され得る。V_BUSの立ち下がり時間が長いと、M9が部分的にオンになり、電荷が蓄積コンデンサC1から漏れる可能性がある。そのような漏洩は、V_BUSがVPOR_FHよりも立ち下がることを検出するM9の能力を制限する可能性がある。漏れ電荷補償回路は、例えば、NFET M10とNFET M11とによって形成されたカレントミラーが、漏れた電荷をM9のドレインにミラーするように、例えば、ダイオード接続されたPFET M8を用いてC1から漏れた電荷を検知することによって、蓄積コンデンサC1から漏れた電荷を制限することができる。この構成は、PVT変動に対する、およびC1からの電流漏れに影響を及ぼし得る種々の供給電圧特性に対する、節電検出器回路325の頑健性を改善することができる。
プルダウン回路345は、ダイオード接続NFET M12、M13、およびM14を含むことができる。この回路は、電圧検出器350を無効化するなどのために、M9がオフになったときに電圧検出器回路350内のゲートトランジスタから電荷を引き離すことができる。プルダウン回路345はまた、M9がオンにされたときにコンデンサC5の両端に立ち下がる電圧が、電圧検出器350内のゲートトランジスタをオンにするのに十分に大きいことを保証することができる。
電圧検出器350は、V_BUSが閾値電圧VPOR_FLよりも立ち下がることを検出するように構成された電圧検出器210(図2B)などの電圧検出器とすることができる。一旦オンにされると、電圧検出器350はV_BUSを監視し、V_BUSがVPOR_FLよりも立ち下がるまで端子Zに低出力電圧を生成することができる。V_BUSがVPOR_FLよりも立ち下がった後、電圧検出器350は、リセット回路355内のNFET M15およびNFET M16に、それぞれノードN3およびN4をプルダウンさせてPORラッチ回路315をリセットさせ、PORラッチに、低電圧または論理値0を蓄積させるように、端子Zで高出力電圧を駆動することができる。図1の領域Dに示すように、ラッチ回路315をリセットすることにより、インバータ回路320にZNを高に駆動させることができる。ZNを高に駆動すると、NFET M7をオンにし、電圧検出器回路350内のゲートトランジスタのゲートを低に引き下げ、電圧検出器回路350を無効化することができる。
図4は、様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路400の実施例のトランジスタレベル概略図を示す。リセット回路400は、リセット回路105(図1)またはリセット回路300(図3)の実施例とすることができる。リセット回路は、例えば、図3の電圧検出器305、インバータ320、PORラッチ回路415、インバータ310、および節電検出器回路325にそれぞれ対応するように、立ち上がり電圧検出器405、インバータ407、PORラッチ回路410、インバータ412、および節電検出器回路415を含むことができる。いくつかの実施形態では、リセット回路400は、本明細書に記載されたように、供給電圧の状態に応答して1つ以上の順序論理回路にリセット信号ZNを供給するような、集積回路に含めることができる。
図5は、様々な実施形態による、低自己消費電流リセット回路を動作させるための一組の動作500を示す。動作500は、図1BのVPOR_Rのように、立ち上がり閾値電圧レベルを超えて立ち上がりする供給電圧に応答して1つ以上の順序論理回路をリセットするために実行することができる。動作500はまた、供給電圧の立ち下がりに応答して1つ以上の順序論理回路をリセットし、図1BのVPOR_FLなどの立ち下がり閾値電圧レベルを下回る動作電圧を形成するように実行され得る。動作500は、1つ以上の順序論理回路を有する電子デバイスの供給電圧をランピングさせること、または増加させることなどによって、動作505で開始することができる。動作510を実行して、電圧検出器回路115(図1A)または電圧検出器回路200(図2A)などの立ち上がり電圧検出器回路などの第1の回路を用いて立ち上がり供給電圧を監視することができる。次に、動作515を実行して、論理1または高電圧などの第1の値を有するリセット信号を生成して、1つ以上の同期論理回路をリセットすることができる。動作520は、供給電圧が立ち上がり閾値電圧レベルより高いかどうかを判定するために実行され得る。動作500は、供給電圧が立ち上がり閾値電圧レベル以下であるときに動作510で継続することができる。あるいは、動作525は、供給電圧が立ち上がり閾値電圧よりも高いときに第2の値を有するリセット信号を生成するために実行され得る。動作525はさらに、PORラッチ回路120(図1)またはPORラッチ回路315(図3)などのメモリまたはラッチ回路に第2の値を蓄積するために実行され得る。第2の値は、論理0、または1つ以上の論理回路を動作させるために解放するように選択された低電圧であり得る。次に、動作530を実行して、本明細書に記載されたように、立ち上がり電圧検出器回路に関連するゲートトランジスタまたはゲート回路をオフにすることなどによって、第1の回路を無効化することができる。
動作535は、供給電圧を監視して供給電圧が図1BのVPOR_FHのような高立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がったかどうかを判定するために実行することができる。本明細書に記載されたように、動作535は、電荷蓄積回路および漏れ電流補償器と共に立ち下がり電圧検出器回路を用いて実行することができる。動作500の実行は、供給電圧が高立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がっていないとき、動作505または動作535で継続することができる。あるいは、動作500の実行は、供給電圧が高立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がったときに動作540で継続することができる。
本明細書に記載されたように、立ち下がり電圧検出器回路を用いることなどによって、立ち下がり電源電圧を監視して、図1BのVPOR_FLなどの低立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がった供給電圧を検出するために動作540を実行することができる。オペレーション500の実行は、供給電圧が低立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がるまでオペレーション540で継続することができ、一方、オペレーション500の実行は、オペレーション545に示すように、供給電圧が低立ち下がり電圧閾値レベルよりも立ち下がったときにオペレーション550で継続することができる。本明細書に記載されたように、動作550を実行して、PORラッチに第1の値を蓄積させるなど、PORラッチをリセットすることができる。次いで、動作555を実行して、立ち下がり電圧検出器回路を無効化することができる。
本明細書に記載された非限定的な態様または実施例のそれぞれは、それ自体で独立していてもよく、または様々な置換または1つ以上の他の実施例との組み合わせで組み合わされてもよい。
上記の詳細な説明は、詳細な説明の一部を形成する添付の図面の参照を含む。図面は、例示として、本発明を実施することができる特定の実施形態を示す。これらの実施形態は、本明細書では「実施例」とも呼ばれる。そのような実施例は、図示または説明されたものに加えてエレメントを含むことができる。しかしながら、図示または記載されたエレメントのみが提供される実施例が提供される。さらに、図示されまたは説明されたこれら構成要素(または、その1つ以上の態様)、特定の実施例(または、その1つ以上の態様)、本明細書で図示されまたは説明された他の実施例(または、その1つ以上の態様)のいずれかの任意の組み合わせまたは順列は、本開示の範囲内である。
本文書と参考として組み込まれている文書との間に一貫性のない使用がある場合は、この文書の使用が優先する。
本文書では、特許文書で一般的であるように、用語「1つ(a)」または「1つ(an)」は、「少なくとも1つ(at least one)」または「1つ以上(one or more)」といった他の事例または用い方とは無関係に、1つまたは1つ以上を含むように用いる。本明細書では、用語「または(or)」は、特に明記しない限り、非排他的に使用され、「AまたはB(A or B)」は、「AであってBでない(but not B)」、「BであってAでない(B but not A)」、および「AおよびB(A and B)」を含む。本文書では、用語「含む(including)」および「そのなかで(in which)」は、それぞれ、用語「含む(comprising)」および「ここで(wherein)」に等価な平易な英語として用いられる。また、以下の特許請求項において、「含む(including)」および「含む(comprising)」という用語は、制限するものではなくで、すなわち、請求項でそのような用語の後に列挙されたものに加えて、他の構成要素を含むシステム、デバイス、物品、組成物、処方、またはプロセスが依然としてその請求項の範囲内にあるとみなされる。さらに、以下の特許請求項において、「第1(first)」、「第2(second)」および「第3(third)」などの用語は単にラベルとして使用され、それらの対象に数値的な要件を課すことを意図するものではない。
本明細書に記載の方法の実施例は、少なくとも部分的に機械的にまたはコンピュータで実施することができる。いくつかの実施例は、上記の実施例に記載した方法を実行するよう電子デバイスを構成するのに動作可能な命令でコード化されたコンピュータ可読媒体または機械可読媒体を含むことができる。そのような方法の実施には、マイクロコード、アセンブリ言語コード、高水準言語コードなどのコードを含めることができる。そのようなコードは、様々な方法を実行するためのコンピュータ読取可能な命令を含むことができる。コードは、コンピュータプログラム製品の一部を形成してもよい。さらに、実施例では、コードは、実行中または他の時などに、1つ以上の揮発性、非一時的、または不揮発性の実体的コンピュータ読取可能媒体に実体的に格納することができる。これらの実体的コンピュータ読取可能媒体の例には、限定はされないが、ハードディスク、リムーバブル磁気ディスク、リムーバブル光ディスク(例えば、コンパクトディスクおよびデジタルビデオディスク)、磁気カセット、メモリカードまたはスティック、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読み出し専用メモリ(ROM)などを含めることができる。
上記記載は例示的なものであり、限定的なものではない。例えば、上記の実施例(またはその1つ以上の態様)は、互いに組み合わせて使用してもよい。上記の記載をよく調べることにより、当業者によって、他の実施形態を使用することができる。読者が技術的開示の性質を迅速に確認できるようにするために、米国特許法施行規則(37 C.F.R.§1.72(b))に従って要約が提供されている。それは、請求項または意味を解釈または制限するために使用されないという理解をして提出されている。また、上記の詳細な記載では、開示を効率化するために様々な特徴をグループ化することができる。これは、請求されていない開示の特徴がいずれかの請求項に不可欠であることを意図していると解釈されるべきではない。むしろ、本発明の主題は、開示された特定の実施形態のすべての特徴よりも少なくてもよい。したがって、添付の請求項は、実施例または実施形態としての発明の詳細な説明に組み込まれており、各請求項は別個の実施形態として独自の立場を有し、そのような実施形態は、様々な組み合わせまたは順列で互いに組み合わせることができる。本発明の範囲は、そのような請求項が権利化される等価物の全範囲とともに、添付の請求項を参照して決定されるべきである。
100 システム
105 リセット回路
110 節電検出器回路
115 電圧検出器回路
120 PORラッチ
125 順序論理回路

Claims (20)

  1. 供給電圧の状態に応答して電子システム内の1つ以上の順序論理回路にリセット信号を提供するための装置であって、前記装置は、
    前記供給電圧が第1の閾値電圧レベルに立ち上がりした後に第1のパルスを生成する第1の電圧検出器回路と、
    前記供給電圧が第2の閾値電圧レベルよりも立ち下がりした後に第2のパルスを生成する第2の電圧検出器回路と、
    ラッチ回路であって、
    前記供給電圧が前記第1の閾値電圧レベルに立ち上がりした後の前記第1のパルスに基づく第1の値を蓄積し、
    前記第1の値を蓄積した後に前記第1の電圧検出器回路を無効化し、
    前記第2の閾値電圧レベルを下回る前記供給電圧の立ち下がりを検出した後に前記第2の電圧検出器回路を有効化し、
    前記供給電圧が第3の閾値電圧レベルよりも立ち下がりした後に前記第2のパルスに基づく第2の値を蓄積するようにリセットし、
    前記リセットの後に前記第2の電圧検出器回路を無効化する、ラッチ回路と、
    を備える、装置。
  2. 前記第2の電圧検出器回路を選択的に制御するための節電検出器回路をさらに備え、前記節電検出器回路は、
    前記第2の電圧検出器回路と、
    第3の閾値電圧を生成する電荷蓄積回路と、
    前記第3の閾値電圧を下回る前記供給電圧の立ち下がりを検出した後に、前記第2の電圧検出器回路を起動するために前記電荷蓄積回路に結合された立ち下がり検出器回路と、
    前記電荷蓄積回路からの漏れ電流を制限するために、前記電荷蓄積回路および前記立ち下がり検出器回路に結合された補償器回路と、を備える、請求項1に記載の装置。
  3. 前記第3の閾値電圧は、前記供給電圧を生成する第1のレールと前記供給電圧を生成する低レールとの間に蓄積コンデンサと直列に結合されたダイオードによって決定される、請求項2に記載の装置。
  4. 前記補償器回路は、
    前記電荷蓄積装置から前記立ち下がり検出器回路の入力ノードへ漏れる前記漏れ電流を感知し、
    前記感知された漏れ電流に基づいて、前記立ち下がり検出器回路の出力ノードにミラー電流を生成する、カレントミラー回路を備える、請求項2に記載の装置。
  5. 前記カレントミラーは、前記電荷蓄積回路からの前記漏れ電流を感知するように構成されたダイオード接続P型電界効果トランジスタを備える、請求項4に記載の装置。
  6. 前記立ち下がり検出器回路は、前記電荷蓄積回路に蓄積された前記第3の閾値電圧によって決定されるバイアス電圧と、前記供給電圧によって決定されるゲート電圧とを有するトランジスタを備える、請求項2に記載の装置。
  7. 前記第1の電圧検出器回路は、
    前記第1の閾値電圧レベルを超えて立ち上がりする前記供給電圧を検出するインバータ回路と、
    前記インバータ回路の入力に結合されて、前記第1の閾値電圧レベルを決定するゲート型分圧器回路と、を備える請求項1に記載の装置。
  8. 前記ゲート型分圧器回路は、
    前記供給電圧を生成する第1のレールに結合されているダイオード接続トランジスタと、
    前記ダイオード接続トランジスタと前記供給電圧を生成する第2のレールとの間に結合された抵抗素子であって、前記ダイオード接続トランジスタの両端で立ち下がりした前記供給電圧の一部分と前記抵抗素子の両端で立ち下がりした供給電圧の一部分とに基づいて前記第1の閾値電圧を決定するように調整可能である、抵抗素子と、
    前記ラッチ回路が前記第1の値を蓄積した後に前記ダイオード接続トランジスタを前記第1のレールから切り離すためのゲート装置と、を備える、請求項7に記載の装置。
  9. 前記第2の電圧検出器回路がゲート型分圧器回路を備え、前記ゲート型分圧器回路は、
    前記供給電圧を生成する第1のレールに結合されているダイオード接続トランジスタと、
    前記ダイオード接続トランジスタと前記供給電圧を生成する第2のレールとの間に結合された抵抗素子であって、前記ダイオード接続トランジスタの両端で立ち下がりした前記供給電圧の一部分と前記抵抗素子の両端で立ち下がりした前記供給電圧の一部分とに基づいて前記第2の閾値電圧を決定するように調整可能である、抵抗素子と、
    前記ラッチ回路が前記第1の値を蓄積した後に前記抵抗素子を前記供給電圧の前記第2のレールから切り離すためのゲート装置と、を備える、請求項1に記載の装置。
  10. 供給電圧の状態に応答してシステム内の順序論理回路をリセットする低自己消費電流リセット回路を動作させるための方法であって、前記方法は、
    第1の回路を用いて立ち上がりする供給電圧を監視することと、
    前記供給電圧が第1の閾値電圧レベルより低い間にリセット信号を第1の値に駆動することと、
    前記供給電圧が第1の閾値電圧レベルよりも高く立ち上がりする場合、前記第1の回路を用いて前記リセット信号を第2の値に駆動することと、
    前記供給電圧が前記第1の閾値電圧レベルを超えて立ち上がりした後に第2の値をラッチ回路に蓄積することと、
    前記第2の値を蓄積した後に前記第1の回路を無効化することと、
    第2の閾値電圧レベルを下回る前記供給電圧の立ち下がりを検出することと、
    前記第2の閾値電圧レベルを下回る前記供給電圧の立ち下がりを検出した後に第2の回路を有効化することと、
    前記供給電圧が第3の閾値電圧レベルより高い間に前記第2の回路を用いて前記供給電圧を監視することと、
    前記供給電圧が前記第3の閾値電圧レベルよりも立ち下がりした場合、前記第1の値を前記ラッチ回路に蓄積することと、
    前記第3の閾値電圧レベルよりも立ち下がりするよう前記リセット信号を第1の値の供給電圧に駆動することと、
    前記供給電圧が前記第3の閾値電圧レベルよりも立ち下がりした後に前記第2の回路を無効化することと、
    を含む、方法。
  11. さらに、
    電荷蓄積回路を用いて前記第2の閾値電圧を生成することと、
    第2の閾値電圧レベルを下回る前記供給電圧の前記立ち下がりを検出したことに応答して、立ち下がり検出器回路を用いて前記電荷蓄積回路を放電することと、
    電流補償回路を用いて前記電荷蓄積回路の前記放電を制限することと、を含む、請求項10に記載の方法。
  12. さらに、
    前記電荷蓄積回路を放電することによって生成された電流を用いて、前記供給電圧を監視するよう前記第2の回路を起動することを含む、請求項11に記載の方法。
  13. 前記電流補償回路は、前記電荷蓄積回路の前記放電によって生成した電流をサンプリングし、前記放電によって生成した前記電流に比例する電流を立ち下がり電圧検出器回路の出力にミラーするように構成されたカレントミラー回路を備える、請求項11に記載の方法。
  14. さらに、
    前記電荷蓄積回路内のコンデンサに直列に結合されたダイオードを用いて前記第2の閾値電圧の値を決定することを含む、請求項11に記載の方法。
  15. さらに、
    可変抵抗素子と直列に結合されたダイオードを用いて前記第1の閾値電圧の値を決定することを含む、請求項10に記載の方法。
  16. 供給電圧の状態に応答してラッチ回路をリセットするための低自己消費電流リセット回路を有するシステムであって、前記システムは、
    1つ以上のラッチ回路を備える装置と、
    第1の電圧検出器回路であって、
    前記供給電圧の高レールと前記供給電圧の低レールとの間に可調整抵抗と直列に結合されたダイオード接続トランジスタによって形成されたゲート分圧器、および
    前記可調整抵抗と前記供給電圧の前記低レールとの間で立ち下がりした電圧を受信するためのインバータ回路、を備える、第1の電圧検出器回路と、
    前記インバータ回路の出力に結合された入力ノードと、前記第1の検出器回路の第1のゲート要素に結合された第1の出力ノードとを有するラッチ回路と、
    節電検出器回路であって、
    立ち下がり検出器回路に基準電圧を供給するための電荷蓄積回路、
    前記電荷蓄積回路および前記立ち下がり電圧検出器回路に結合された漏れ電流補償器回路、ならびに
    前記立ち下がり電圧検出器回路の第1の出力端子と前記漏れ電流補償器回路の第2の出力端子とによって形成されたノードに結合された第2のゲート要素、および前記ラッチ回路に結合された第2の出力ノードを有する第2の電圧供給検出器回路、を備える、節電検出器回路と、
    を備え、
    前記供給電圧が第1の閾値電圧レベルを超えて立ち上がりした後に前記第1の電圧検出器回路を無効化し、
    前記供給電圧が第2の閾値電圧レベルを下回る立ち下がりした後に前記第2の電圧供給検出器回路を有効化し、
    前記供給電圧が第3の閾値電圧レベルを下回る立ち下がりした後に前記第2の電圧供給検出器回路を無効化する、
    システム。
  17. 前記ラッチ回路は、前記供給電圧が立ち上がり閾値電圧レベルを超えて立ち上がりしたときに、前記第1のゲート要素に前記第1の検出器回路を無効化させる信号を前記第1の出力ノードに生成する、請求項16に記載のシステム。
  18. 前記立ち下がり検出器回路は、前記供給電圧が高立ち下がり閾値電圧レベルを下回るときに、前記立ち下がり電圧検出器回路の前記第1の出力端子と前記漏れ電流補償器回路の前記第2の出力端子とによって形成されるノードにおいて信号を生成して前記第2の電圧検出器回路を起動する、請求項16に記載のシステム。
  19. 前記第2の検出器回路は、前記供給電圧が低立ち下がり電圧レベルを下回ったときに前記ラッチ回路をリセットするための信号を生成し、前記低立ち下がり閾値電圧レベルが前記高立ち下がり閾値電圧レベルより低い、請求項18に記載のシステム。
  20. 前記ラッチ回路は、前記ラッチ回路をリセットするための前記信号を受信した後に、前記第2のゲート要素に前記第2の電圧検出器回路を無効化させるように構成されている、請求項19に記載のシステム。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2021223108A1 (zh) * 2020-05-06 2021-11-11 深圳市汇顶科技股份有限公司 像素、图像传感器及电子装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0575687B1 (en) 1992-06-26 1997-01-29 STMicroelectronics S.r.l. Power-on reset circuit having a low static consumption
US5497112A (en) * 1994-07-12 1996-03-05 General Instrument Corporation Of Delaware Power-out reset system
US5703510A (en) 1996-02-28 1997-12-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power on reset circuit for generating reset signal at power on
US5831460A (en) 1997-02-26 1998-11-03 Xilinx, Inc. Power-on reset circuit with separate power-up and brown-out trigger levels
US7225088B2 (en) * 1998-09-16 2007-05-29 Microchip Technology Incorporated Programmable power supply and brownout detector for electronic equipment
JP2001117654A (ja) * 1999-10-21 2001-04-27 Nec Kansai Ltd 基準電圧発生回路
US6515523B1 (en) 2001-05-23 2003-02-04 National Semiconductor Corporation Method and apparatus for generating a power-on reset with an adjustable falling edge for power management
US6894544B2 (en) 2003-06-02 2005-05-17 Analog Devices, Inc. Brown-out detector
US7057427B2 (en) 2004-07-15 2006-06-06 Freescale Semiconductor, Inc Power on reset circuit
JP4835856B2 (ja) * 2005-01-06 2011-12-14 日本電気株式会社 半導体集積回路装置
US7602222B2 (en) * 2005-09-30 2009-10-13 Mosaid Technologies Incorporated Power up circuit with low power sleep mode operation
JP4786369B2 (ja) * 2006-02-23 2011-10-05 富士通セミコンダクター株式会社 電源検出回路
DE102007030569B4 (de) * 2007-07-02 2012-11-08 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zum Auswerten eines Datensignals
US9369124B2 (en) * 2011-04-07 2016-06-14 Nxp B.V. Power-on-reset circuit with low power consumption
CN102291110B (zh) 2011-06-21 2013-01-02 东南大学 一种具有零静态电流消耗和稳定起拉电压的上电复位电路
JP5898593B2 (ja) * 2012-08-24 2016-04-06 日立オートモティブシステムズ株式会社 モータ駆動回路、モータ駆動システム、電動パワーステアリングシステム、電動ブレーキシステム、車両駆動システム
US8692593B1 (en) * 2012-09-14 2014-04-08 Nxp B.V. Zero or ultra-low DC current consumption power-on and brown-out detector
US9729138B1 (en) * 2015-12-16 2017-08-08 Adesto Technologies Corporation Circuits and systems having low power power-on-reset and/or brown out detection

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