JP6829467B2 - Double-sided polishing device - Google Patents

Double-sided polishing device Download PDF

Info

Publication number
JP6829467B2
JP6829467B2 JP2017075211A JP2017075211A JP6829467B2 JP 6829467 B2 JP6829467 B2 JP 6829467B2 JP 2017075211 A JP2017075211 A JP 2017075211A JP 2017075211 A JP2017075211 A JP 2017075211A JP 6829467 B2 JP6829467 B2 JP 6829467B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface plate
hook
groove
driver
double
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017075211A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2018176304A (en
Inventor
茂 小田桐
茂 小田桐
貴史 大山
貴史 大山
井上 裕介
裕介 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SpeedFam Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SpeedFam Co Ltd filed Critical SpeedFam Co Ltd
Priority to JP2017075211A priority Critical patent/JP6829467B2/en
Priority to CN201810201411.5A priority patent/CN108687650B/en
Priority to TW107111514A priority patent/TWI728241B/en
Priority to KR1020180038133A priority patent/KR102481144B1/en
Publication of JP2018176304A publication Critical patent/JP2018176304A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6829467B2 publication Critical patent/JP6829467B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/07Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
    • B24B37/08Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for double side lapping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers
    • B24B37/28Work carriers for double side lapping of plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/34Accessories
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B53/00Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces
    • B24B53/017Devices or means for dressing, cleaning or otherwise conditioning lapping tools

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Description

本発明は、下定盤と上定盤との間に配置されたワークの両面を研磨する両面研磨装置に関する発明である。 The present invention is an invention relating to a double-sided polishing apparatus for polishing both sides of a work arranged between a lower surface plate and an upper surface plate.

従来、装置上部に設置されたシリンダーシャフトにユニバーサルジョイントや調芯軸受を介して上定盤を接続すると共に、センタードラムの外周面に軸方向に形成された第1の溝と、第1の溝と異なる長さを有する第2の溝とを形成し、第1の溝又は第2の溝に上定盤に設けたフックを係合させて、センタードラムの回転力を上定盤に伝達する両面研磨装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, the upper surface plate is connected to the cylinder shaft installed on the upper part of the device via a universal joint or a centering bearing, and the first groove and the first groove formed in the axial direction on the outer peripheral surface of the center drum are formed. A second groove having a different length from the above is formed, and the hook provided on the upper surface plate is engaged with the first groove or the second groove to transmit the rotational force of the center drum to the upper surface plate. A double-sided polishing device is known (see, for example, Patent Document 1).

特開2017-1151号公報JP-A-2017-1151

従来の両面研磨装置では、ワーク研磨時に上定盤をワーク研磨位置まで下降させるため、第1の溝に上定盤に形成されたフックを挿入する。一方、上定盤に貼り付けられた研磨パッドを洗浄またはドレッシング(以下、「ドレッシング」という)するときには、第2の溝にフックを挿入する。そして、この第2の溝に形成されたフックを下方から支持する支持面にてフックを支持し、ワーク研磨位置よりも上方位置で上定盤を停止させた上、ドレッシング中の上定盤の水平状態を維持する。
しかしながら、この従来の両面研磨装置では、ワーク研磨時と研磨面ドレッシング時のいずれにおいても、フックを溝に挿入しなければならない。つまり、上定盤のドレッシング時においても、フックが所望の溝に挿入可能となるように、上定盤とセンタードラムとの相対回転角度を調整しなければならず、ドレッシング時の作業性が低下するという問題が生じる。
さらに、従来の両面研磨装置では、第2の溝を一対形成しているが、この一対の第2の溝の溝深さに、機械加工精度の問題により差が生じた場合には、ドレッシング時に上定盤が傾く懸念がある。
In the conventional double-sided polishing apparatus, a hook formed on the upper surface plate is inserted into the first groove in order to lower the upper surface plate to the work polishing position during work polishing. On the other hand, when cleaning or dressing the polishing pad attached to the upper surface plate (hereinafter referred to as "dressing"), a hook is inserted into the second groove. Then, the hook is supported by a support surface that supports the hook formed in the second groove from below, the upper surface plate is stopped at a position above the work polishing position, and then the upper surface plate during dressing is used. Maintain a horizontal position.
However, in this conventional double-sided polishing apparatus, the hook must be inserted into the groove at both the time of polishing the work and the time of dressing the polished surface. That is, even when dressing the upper surface plate, the relative rotation angle between the upper surface plate and the center drum must be adjusted so that the hook can be inserted into the desired groove, which reduces workability during dressing. The problem arises.
Further, in the conventional double-sided polishing apparatus, a pair of second grooves is formed, but if there is a difference in the groove depths of the pair of second grooves due to a problem of machining accuracy, during dressing. There is a concern that the upper surface plate will tilt.

本発明は、上記問題に着目してなされたもので、上定盤をドレッシングする際の作業性の低下を抑制しつつ、ドレッシング中に上定盤を水平に維持することができる両面研磨装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made by paying attention to the above problems, and is a double-sided polishing apparatus capable of keeping the upper surface plate horizontal during dressing while suppressing a decrease in workability when dressing the upper surface plate. The purpose is to provide.

上記目的を達成するため、本発明は、下定盤と上定盤とによりワークの両面を研磨する両面研磨装置において、ドライバーと、支持機構と、フックと、溝部と、当接領域と、突起部と、を備えている。
前記ドライバーは、下定盤の中心開口を貫通し、軸線に沿って配設された駆動軸と、駆動軸の先端に形成されて上定盤の中心開口に挿入可能なドライバー本体と、を有すると共に、軸周りに回転る。
前記支持機構は、上定盤を揺動可能且つ軸線周りに回転可能に吊り下げ支持し、上定盤を昇降させる。
前記フックは、上定盤の中心開口の周縁から上定盤の中心に向かって延びている。
前記溝部は、ドライバー本体の周面に形成されると共にドライバーの軸方向に延び、ドライバー本体の少なくとも上方向に開放している。
前記当接領域は、ドライバー本体上定盤に臨む上面に形成され、溝部の上端が開放している。
前記突起部は、当接領域から上方向かって突出している。
そして、フックは、上定盤が支持機構によって降下された際、溝部に対して上下方向に対向しないときに当接領域に当接すると共に、駆動軸の回転に伴って突起部が接触してドライバーから回転力が伝達され、溝部に対して上下方向に対向するときに溝部に挿入されると共に、駆動軸の回転に伴って溝部の内側面が接触してドライバーから回転力が伝達される。
In order to achieve the above object, the present invention is a double-sided polishing device for polishing both sides of a work by a lower surface plate and an upper surface plate, in which a driver, a support mechanism, a hook, a groove, a contact area, and a protrusion are provided. And have.
The driver, through the center opening of the lower stool is closed and the drive shaft disposed along the axis, and can be inserted driver body central opening of the upper surface plate is formed at the distal end of the drive shaft, the together, it rotates around the axis.
The support mechanism, the upper platen hanging support to rotatable around swingably and axially line, Ru is lower the upper platen.
The hook extends toward the center of the upper stool from the periphery of the central opening of the upper stool.
The groove extends in the axial direction of the driver is formed in a peripheral surface of the gun body, it is open at least in upward direction driver body.
The contact region is formed on the upper surface of the driver body facing the upper surface plate, and the upper end of the groove portion is open .
The protrusions that protrude from the contact region upward.
Then, when the upper platen is lowered by the support mechanism, the hook comes into contact with the contact area when it does not face the groove in the vertical direction, and the protrusion comes into contact with the driver as the drive shaft rotates. The rotational force is transmitted from the driver and is inserted into the groove when it faces the groove in the vertical direction, and the inner surface of the groove comes into contact with the rotation of the drive shaft to transmit the rotational force from the driver.

この結果、上定盤の研磨面をドレッシングする際の作業性の低下を抑制しつつ、ドレッシング中に上定盤を水平に維持することができる。 As a result, it is possible to keep the upper surface plate horizontal during dressing while suppressing a decrease in workability when dressing the polished surface of the upper surface plate.

実施例1の両面研磨装置の全体構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic about the whole structure of the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 実施例1の両面研磨装置の要部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the main part of the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 実施例1の両面研磨装置のドライバーを示す平面図である。It is a top view which shows the driver of the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 実施例1の両面研磨装置の上定盤の要部を示す平面図である。It is a top view which shows the main part of the upper surface plate of the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 実施例1の両面研磨装置において、ドレッシング時の平面図である。It is a top view at the time of dressing in the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 図5におけるA−A断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 実施例1の両面研磨装置において、ワーク研磨時の平面図である。It is a top view at the time of work polishing in the double-sided polishing apparatus of Example 1. FIG. 図7におけるB−B断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along line BB in FIG. 他の例の両面研磨装置の要部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the main part of the double-sided polishing apparatus of another example. 他の例の両面研磨装置において、ドレッシング時の平面図である。It is a top view at the time of dressing in the double-sided polishing apparatus of another example. 図10AにおけるC−C断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. 10A. 他の例の両面研磨装置において、ワーク研磨時の平面図である。It is a top view at the time of work polishing in the double-sided polishing apparatus of another example. 図11AにおけるD−D断面図である。11A is a cross-sectional view taken along the line DD in FIG. 11A. フック及び突起部の変形例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the deformation example of a hook and a protrusion. ドライバーの変形例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the modification of the driver.

以下、本発明の両面研磨装置を実施するための形態を、図面に示す実施例1に基づいて説明する。 Hereinafter, a mode for carrying out the double-sided polishing apparatus of the present invention will be described with reference to Example 1 shown in the drawings.

(実施例1)
まず、構成を説明する。
実施例1における両面研磨装置1は、半導体ウェーハ、水晶ウェーハ、サファイアウェーハ、ガラスウェーハ或いはセラミックウェーハといった、薄板状のワークWRの表裏両面を研磨加工するものである。以下、実施例1の両面研磨装置1の構成を、「全体構成」、「ドライバーの詳細構成」、「フックの詳細構成」に分けて説明する。
(Example 1)
First, the configuration will be described.
The double-sided polishing apparatus 1 in the first embodiment polishes both the front and back surfaces of a thin plate-shaped work WR such as a semiconductor wafer, a crystal wafer, a sapphire wafer, a glass wafer, or a ceramic wafer. Hereinafter, the configuration of the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment will be described separately for "overall configuration", "detailed configuration of driver", and "detailed configuration of hook".

[全体構成]
図1は、実施例1の両面研磨装置の全体構成を概略的に示す断面図である。以下、図1に基づき、実施例1の両面研磨装置の全体構成を説明する。
[overall structure]
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the overall configuration of the double-sided polishing apparatus of the first embodiment. Hereinafter, the overall configuration of the double-sided polishing apparatus of the first embodiment will be described with reference to FIG.

実施例1の両面研磨装置1は、図1に示すように、軸線L1を中心にして同心上に配置された下定盤2と、上定盤3と、下定盤2の中央に配置されたサンギヤ4と、下定盤2の外周を取り囲むように配置されたインターナルギヤ5と、を有している。 As shown in FIG. 1, the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment has a lower surface plate 2 arranged concentrically about an axis L1, an upper surface plate 3, and a sun gear arranged in the center of the lower surface plate 2. It has 4 and an internal gear 5 arranged so as to surround the outer periphery of the lower surface plate 2.

サンギヤ4と、下定盤2と、インターナルギヤ5とは、それぞれ駆動軸6,7,8を介して図示しない駆動源に連結され、回転駆動される。 The sun gear 4, the lower platen 2, and the internal gear 5 are connected to a drive source (not shown) via drive shafts 6, 7, and 8, respectively, and are rotationally driven.

一方、上定盤3は、上定盤3の上面に取り付けられた定盤吊り9aを介して、昇降用アクチュエータ9のロッド9cに吊り下げ支持されている。ここで、ロッド9cの先端部には、球面軸受等の調芯軸受9bが介装されている。これにより、上定盤3は、昇降用アクチュエータ9によって揺動可能且つ回転可能に吊り下げ支持される。つまり、昇降用アクチュエータ9及び調芯軸受9bによって上定盤3を吊り下げ支持する支持機構が構成されている。 On the other hand, the upper surface plate 3 is suspended and supported by the rod 9c of the elevating actuator 9 via the surface plate suspension 9a attached to the upper surface of the upper surface plate 3. Here, a centering bearing 9b such as a spherical bearing is interposed at the tip of the rod 9c. As a result, the upper surface plate 3 is swayably and rotatably suspended and supported by the elevating actuator 9. That is, a support mechanism for suspending and supporting the upper surface plate 3 is configured by the elevating actuator 9 and the centering bearing 9b.

また、上定盤3の下方には、下定盤2を貫通したドライバー10が設けられている。このドライバー10は、軸線L1に沿って延びる駆動軸10aと、駆動軸10aの先端に形成されたドライバー本体10bと、を有している。
そして、このドライバー10は、駆動軸10aが図示しない駆動源に接続されており、軸線L1周りに回転可能となっている。さらに、ドライバー本体10bの周面には、複数(ここでは4個)の溝部11が形成されている。一方、上定盤3の中心開口3bの周縁(内周縁)には、上定盤3の中心Oに向かって延びた複数(ここでは4個)のフック20が取り付けられている。
そして、ワークWRを研磨するときには、昇降用アクチュエータ9からロッド9cが突出して上定盤3が下降されると共に、各溝部11にフック20が一つずつそれぞれ挿入される。そして、溝部11とフック20とが周方向に干渉することで、ドライバー10の回転力が上定盤3へと伝達され、この上定盤3が回転駆動する。
Further, a driver 10 penetrating the lower surface plate 2 is provided below the upper surface plate 3. The driver 10 has a drive shaft 10a extending along the axis L1 and a driver body 10b formed at the tip of the drive shaft 10a.
The driver 10 has a drive shaft 10a connected to a drive source (not shown) and is rotatable around the axis L1. Further, a plurality of (here, four) groove portions 11 are formed on the peripheral surface of the driver body 10b. On the other hand, a plurality of (here, four) hooks 20 extending toward the center O of the upper surface plate 3 are attached to the peripheral edge (inner peripheral edge) of the central opening 3b of the upper surface plate 3.
Then, when polishing the work WR, the rod 9c protrudes from the elevating actuator 9 to lower the upper surface plate 3, and one hook 20 is inserted into each groove portion 11. Then, when the groove portion 11 and the hook 20 interfere with each other in the circumferential direction, the rotational force of the driver 10 is transmitted to the upper surface plate 3, and the upper surface plate 3 is rotationally driven.

下定盤2及び上定盤3の互いに対向した面には、それぞれ研磨パッド2a,3aが貼付されている。 Polishing pads 2a and 3a are attached to the surfaces of the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3 facing each other, respectively.

そして、この両面研磨装置1では、下定盤2と上定盤3の間に、キャリアプレートCAに保持されたワークWRが配置される。ここで、キャリアプレートCAは、図1に示すようにサンギヤ4及びインターナルギヤ5に噛合し、このサンギヤ4及びインターナルギヤ5の回転により自転及び公転する。そして、このキャリアプレートCAの自転及び公転により、キャリアプレートCAに保持されたワークWRは下定盤2と上定盤3の間で移動し、両面が研磨される。 Then, in this double-sided polishing apparatus 1, the work WR held by the carrier plate CA is arranged between the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3. Here, the carrier plate CA meshes with the sun gear 4 and the internal gear 5 as shown in FIG. 1, and rotates and revolves by the rotation of the sun gear 4 and the internal gear 5. Then, due to the rotation and revolution of the carrier plate CA, the work WR held by the carrier plate CA moves between the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3, and both sides are polished.

[ドライバーの詳細構成]
図2は、実施例1の両面研磨装置の要部を示す斜視図であり、図3は、実施例1のドライバーの平面図である。以下、図2及び図3に基づき、実施例1のドライバーの詳細構成を説明する。
[Detailed driver configuration]
FIG. 2 is a perspective view showing a main part of the double-sided polishing apparatus of the first embodiment, and FIG. 3 is a plan view of the driver of the first embodiment. Hereinafter, the detailed configuration of the driver of the first embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

ドライバー10は、上述のように図示しない駆動源によって回転駆動すると共に、上定盤3に回転力を伝達して、この上定盤3を回転駆動する。このドライバー10は、図2に示すように、駆動源に接続すると共に軸線L1に沿って配設された駆動軸10aと、駆動軸10aの先端に形成されたドライバー本体10bと、を有している。 As described above, the driver 10 is rotationally driven by a drive source (not shown) and transmits a rotational force to the upper surface plate 3 to rotationally drive the upper surface plate 3. As shown in FIG. 2, the driver 10 has a drive shaft 10a connected to a drive source and arranged along the axis L1, and a driver body 10b formed at the tip of the drive shaft 10a. There is.

駆動軸10aは、下定盤2の中心開口2bを貫通し、ドライバー本体10bを、下定盤2から上方に突出した位置で支持する(図1参照)。 The drive shaft 10a penetrates the central opening 2b of the lower platen 2 and supports the driver body 10b at a position protruding upward from the lower platen 2 (see FIG. 1).

ドライバー本体10bは、周面に複数(ここでは4個)の溝部11が形成され、上定盤3に臨む上面10cに当接領域12が形成され、この当接領域12に複数(ここでは2個)の突起部13が形成されている。 In the driver body 10b, a plurality of (4 in this case) groove portions 11 are formed on the peripheral surface, a contact region 12 is formed on the upper surface 10c facing the upper surface plate 3, and a plurality of (here, 2) contact regions 12 are formed. The protrusions 13 are formed.

溝部11は、図2に示すように、軸線L1つまりドライバー10の軸方向に沿って延びると共に、ドライバー本体10bの径方向及び上下方向に開放している。また、4個の溝部11のそれぞれの溝幅G1は、フック20が挿入可能な同一寸法に設定されている(図3参照)。なお、「溝幅G1」は、ドライバー本体10bの内側面11aの周方向の間隔寸法である。
さらに、この実施例1では、4個の溝部11が、ドライバー本体10bの周方向に沿って90°ごとに形成されており、これらの溝部11は、上定盤3の中心O(軸線L1が通る点)を対称点とする点対称位置に配置されている。
As shown in FIG. 2, the groove portion 11 extends along the axis L1, that is, the axial direction of the driver 10, and is open in the radial direction and the vertical direction of the driver main body 10b. Further, the groove width G1 of each of the four groove portions 11 is set to the same dimension into which the hook 20 can be inserted (see FIG. 3). The "groove width G1" is an interval dimension in the circumferential direction of the inner side surface 11a of the driver body 10b.
Further, in the first embodiment, four groove portions 11 are formed at intervals of 90 ° along the circumferential direction of the driver main body 10b, and these groove portions 11 have a center O (axis line L1) of the upper surface plate 3. It is arranged at a point-symmetrical position with the passing point) as the point of symmetry.

当接領域12は、フック20の先端部22の当接面22aが当接可能な領域であり、この当接面22aよりも十分に広い面積を有する。ここでは、図3に示すように、ドライバー本体10bの周縁部に沿った領域になっている。なお、この当接領域12には、溝部11が重複しており、溝部11の上端はこの当接領域12内で開放している。 The contact area 12 is a region where the contact surface 22a of the tip portion 22 of the hook 20 can be contacted, and has a sufficiently wider area than the contact surface 22a. Here, as shown in FIG. 3, the region is along the peripheral edge of the driver body 10b. The groove portion 11 overlaps the contact region 12, and the upper end of the groove portion 11 is open in the contact region 12.

突起部13は、当接領域12からドライバー10の軸方向(軸線L1)に沿って上方に向かって突出しており、当接領域12に接触した状態のフック20の先端部22の側面22bに接触可能になっている。ここで、突起部13は、図3に示すように、ドライバー本体10bの周方向に沿って湾曲しているが、その周方向寸法G2は、溝部11同士の間隔寸法よりも十分に小さい寸法に設定されている。つまり、溝部11の上端が当接領域12内で開放すると共に、突起部13が当接領域12に形成されているが、この当接領域12は、フック20の先端部22の当接面22aが当接する面積を十分に確保している。
なお、突起部13は、ドライバー本体10bとは別体に形成されて、図示しないネジや、溶接等によりドライバー本体10bに固定されてもよいし、ドライバー本体10bと一体に形成されてもよい。
The protrusion 13 projects upward from the contact region 12 along the axial direction (axis L1) of the driver 10 and contacts the side surface 22b of the tip 22 of the hook 20 in contact with the contact region 12. It is possible. Here, as shown in FIG. 3, the protrusion 13 is curved along the circumferential direction of the driver body 10b, but the circumferential dimension G2 is sufficiently smaller than the distance between the groove portions 11. It is set. That is, the upper end of the groove 11 is opened in the contact area 12, and the protrusion 13 is formed in the contact area 12, which is the contact surface 22a of the tip 22 of the hook 20. A sufficient area for contact is secured.
The protrusion 13 may be formed separately from the driver body 10b and fixed to the driver body 10b by screws (not shown), welding, or the like, or may be integrally formed with the driver body 10b.

[フックの詳細構成]
図4は、実施例1の上定盤の中央部分の平面図である。以下、図2及び図4に基づいて、実施例1の上定盤に設けられたフックの詳細構成を説明する。
[Detailed configuration of hook]
FIG. 4 is a plan view of the central portion of the upper surface plate of the first embodiment. Hereinafter, the detailed configuration of the hook provided on the upper surface plate of the first embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 4.

フック20は、上定盤3の中心開口3bの周縁部(内周縁)に固定され、上定盤3の中心Oに向かって延びている。このフック20は、図4に示すように、一端が上定盤3の上面に固定され、先端が上定盤3の中心開口3bの内側に突出した固定部21と、固定部21の先端に形成されて、下定盤2に向かって延在された先端部22と、を有している。ここで、固定部21は、図1及び図4に示すように、先端部22がドライバー本体10bの上面10cの上方に位置するまで延在されており、平面視した際、先端部22はドライバー本体10bの上面10cに対して重複する。 The hook 20 is fixed to the peripheral edge (inner peripheral edge) of the central opening 3b of the upper surface plate 3 and extends toward the center O of the upper surface plate 3. As shown in FIG. 4, one end of the hook 20 is fixed to the upper surface of the upper surface plate 3, and the tip of the hook 20 is attached to a fixing portion 21 protruding inward of the central opening 3b of the upper surface plate 3 and the tip of the fixing portion 21. It has a tip portion 22 that is formed and extends toward the lower surface plate 2. Here, as shown in FIGS. 1 and 4, the fixing portion 21 extends until the tip portion 22 is located above the upper surface 10c of the driver body 10b, and when viewed in a plan view, the tip portion 22 is the driver. It overlaps with the upper surface 10c of the main body 10b.

また、このフック20は、先端部22のフック幅W1が溝部11の溝幅G1よりも僅かに小さく、溝部11に挿入されたときに先端部22の側面22bが溝部11の内側面11aに接触する第1フック20Aと、先端部22のフック幅W2が溝部11の溝幅G1よりも十分に小さく、溝部11に挿入されたときに先端部22の側面22bが溝部11の内側面11aに接触しない第2フック20Bと、を有している。なお、「フック幅」とは、上定盤3の周方向のフック先端部寸法である。 Further, in this hook 20, the hook width W1 of the tip portion 22 is slightly smaller than the groove width G1 of the groove portion 11, and the side surface 22b of the tip portion 22 contacts the inner side surface 11a of the groove portion 11 when inserted into the groove portion 11. The first hook 20A and the hook width W2 of the tip portion 22 are sufficiently smaller than the groove width G1 of the groove portion 11, and the side surface 22b of the tip portion 22 contacts the inner side surface 11a of the groove portion 11 when inserted into the groove portion 11. It has a second hook 20B that does not. The "hook width" is the dimension of the hook tip portion in the circumferential direction of the upper surface plate 3.

そして、第1フック20Aと第2フック20Bとは、それぞれ2個ずつ設けられており、ここでは、上定盤3の周方向に沿って90°ごとに交互に配置されている。すなわち、図4に示すように、4個のフック20は、上定盤3の中心O(軸線L1が通る点)を対称点とする点対称位置に配置されると共に、第1フック20A同士で対向し、第2フック20B同士で対向する位置に配置されている。 Two first hooks 20A and two second hooks 20B are provided, and here, the first hook 20A and the second hook 20B are alternately arranged at 90 ° intervals along the circumferential direction of the upper surface plate 3. That is, as shown in FIG. 4, the four hooks 20 are arranged at point-symmetrical positions with the center O (the point through which the axis L1 passes) of the upper surface plate 3 as the symmetric point, and the first hooks 20A are connected to each other. The second hooks 20B are arranged at positions facing each other and facing each other.

次に、実施例1の両面研磨装置の作用を、「ドレッシング時上定盤支持作用」と、「ワーク研磨時上定盤支持作用」とに分けて説明する。 Next, the operation of the double-sided polishing apparatus of Example 1 will be described separately as "upper surface plate supporting action during dressing" and "upper surface plate supporting action during work polishing".

[ドレッシング時上定盤支持作用]
図5及び図6は、実施例1の両面研磨装置にて上定盤をドレッシングするときの要部を示す。以下、図5及び図6に基づいて、実施例1の両面研磨装置におけるドレッシング時上定盤支持作用を説明する。
[Upper surface plate support during dressing]
5 and 6 show the main parts when dressing the upper surface plate with the double-sided polishing apparatus of the first embodiment. Hereinafter, the action of supporting the upper surface plate during dressing in the double-sided polishing apparatus of Example 1 will be described with reference to FIGS. 5 and 6.

実施例1の両面研磨装置1では、ワーク研磨時、上定盤3を降下させ、下定盤2に載置されたワークWRを上定盤3と下定盤2とで挟み込む。
ここで、ワークWRやワークWRを保持するキャリアプレートCAの厚みにばらつきが生じてもワークWRに作用する押圧力を均一にするため、また、下定盤2の回転に伴う下定盤2の微小な上下振動(振れ)に上定盤3を追従させるために、上定盤3は、調芯軸受9bを介して昇降用アクチュエータ9に吊り下げ支持されており、水平方向に対しての偏角を許容することが可能になっている。
In the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment, the upper surface plate 3 is lowered at the time of polishing the work, and the work WR placed on the lower surface plate 2 is sandwiched between the upper surface plate 3 and the lower surface plate 2.
Here, in order to make the pressing force acting on the work WR uniform even if the thickness of the carrier plate CA holding the work WR and the work WR varies, and also to make the lower surface plate 2 minute as the rotation of the lower surface plate 2 occurs. In order to make the upper surface plate 3 follow the vertical vibration (swing), the upper surface plate 3 is suspended and supported by the elevating actuator 9 via the centering bearing 9b, and deviates in the horizontal direction. It is possible to tolerate it.

一方、下定盤2及び上定盤3には、それぞれ研磨パッド2a,3aが貼り付けられており、ワークWRは下定盤2、上定盤3及びキャリアプレートCAの回転、並びに研磨パッド2a,3aや不図示の供給機構から供給されるスラリーによって研磨される。しかし、両面研磨装置1を長時間使用すると、研磨パッド2a,3aにスラリーや切り粉等が入り込み、研磨パッド2a,3aが目詰まりを起こしたり、研磨パッド2a,3aの表面が変形したりする。そのため、研磨レートが著しく低下することから、研磨パッド2a,3aのドレッシングが行われる。 On the other hand, polishing pads 2a and 3a are attached to the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3, respectively, and the work WR is the rotation of the lower surface plate 2, the upper surface plate 3 and the carrier plate CA, and the polishing pads 2a and 3a. Is polished by a slurry supplied from a supply mechanism (not shown). However, if the double-sided polishing apparatus 1 is used for a long time, slurry, chips, etc. may enter the polishing pads 2a and 3a, causing clogging of the polishing pads 2a and 3a and deformation of the surfaces of the polishing pads 2a and 3a. .. Therefore, since the polishing rate is remarkably lowered, the polishing pads 2a and 3a are dressed.

ここで、研磨パッド2a,3aのドレッシングは、例えば、下定盤2及び上定盤3の間にドレッシング部材を差し込み、下定盤2及び上定盤3をそれぞれ回転させながら、さらにこのドレッシング部材を研磨パッド2a,3aの研磨面に押し付け、下定盤2及び上定盤3の外周部と内周部との間を往復移動させることにより行う。
このとき、ドレッシング部材を下定盤2と上定盤3の間に差し込む必要があるため、上定盤3は、下定盤2に対して隙間を開けた状態で保持される。しかし、上述のように、この上定盤3は調芯軸受9bを介して吊り下げ支持されているため、ドレッシング部材を上定盤3の研磨パッド3aに押し付けると、上定盤3の傾きが変化してしまい、上定盤3の研磨パッド3aに対してドレッシング部材を適切に接触させることができなくなる。
Here, in the dressing of the polishing pads 2a and 3a, for example, a dressing member is inserted between the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3, and the dressing member is further polished while rotating the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3, respectively. This is performed by pressing the pads 2a and 3a against the polished surface and reciprocating between the outer peripheral portion and the inner peripheral portion of the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3.
At this time, since it is necessary to insert the dressing member between the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3, the upper surface plate 3 is held with a gap with respect to the lower surface plate 2. However, as described above, since the upper surface plate 3 is suspended and supported via the centering bearing 9b, when the dressing member is pressed against the polishing pad 3a of the upper surface plate 3, the upper surface plate 3 is tilted. This will change and the dressing member will not be able to properly contact the polishing pad 3a of the upper surface plate 3.

これに対し、実施例1の両面研磨装置1では、図5及び図6に示すように、上定盤3が昇降用アクチュエータ9によって下降された際、上定盤3に設けられたフック20の先端部22の当接面22aが、ドライバー本体10bの上面10cに形成された当接領域12に当接する。これにより、上定盤3は、フック20を介してドライバー10の上面10cによって支持される。 On the other hand, in the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment, as shown in FIGS. 5 and 6, when the upper surface plate 3 is lowered by the elevating actuator 9, the hook 20 provided on the upper surface plate 3 The contact surface 22a of the tip portion 22 comes into contact with the contact region 12 formed on the upper surface 10c of the driver body 10b. As a result, the upper surface plate 3 is supported by the upper surface 10c of the driver 10 via the hook 20.

この結果、上定盤3をドレッシングする際にドレッシング部材を上定盤3の研磨パッド3aに押し付けても、フック20がドライバー10の上面10cに干渉することで上定盤3のぐらつきが阻止される。そのため、ドレッシング中に上定盤3を水平に維持することができる。 As a result, even if the dressing member is pressed against the polishing pad 3a of the upper surface plate 3 when dressing the upper surface plate 3, the hook 20 interferes with the upper surface 10c of the driver 10 to prevent the upper surface plate 3 from wobbling. To. Therefore, the upper surface plate 3 can be maintained horizontally during dressing.

また、フック20の先端部22の当接面22aが接触する当接領域12は、図5に示すように、ドライバー本体10bの周縁部に沿った領域である。また、この当接領域12には、溝部11の上端が開放すると共に、突起部13が形成されているが、フック20の先端部22の当接面22aが当接する面積が十分に確保されている。そのため、上定盤3とドライバー10との周方向の相対回転角度を厳密に調整することなく、上定盤3を降下させればフック20はドライバー本体10bの上面10cに形成された当接領域12に当接する。これにより、ドレッシング時の作業性の低下を抑制することができる。 Further, the contact region 12 with which the contact surface 22a of the tip portion 22 of the hook 20 comes into contact is a region along the peripheral edge portion of the driver body 10b, as shown in FIG. Further, in the contact region 12, the upper end of the groove 11 is opened and the protrusion 13 is formed, but a sufficient area for contact with the contact surface 22a of the tip 22 of the hook 20 is secured. There is. Therefore, if the upper surface plate 3 is lowered without strictly adjusting the relative rotation angle between the upper surface plate 3 and the driver 10 in the circumferential direction, the hook 20 is a contact region formed on the upper surface 10c of the driver body 10b. It comes into contact with 12. As a result, it is possible to suppress a decrease in workability during dressing.

そして、実施例1では、ドライバー本体10bの上面10cに形成された当接領域12に、ドライバー10の軸方向(軸線L1)に沿って上方に突出した突起部13が形成され、この突起部13が当接領域12に接触したフック20の先端部22の側面22bに接触可能になっている。
そのため、ドライバー10の駆動軸10aが回転すると、図5に示すように、突起部13がフック20の先端部22の側面22bと当接する。これにより、ドライバー10の回転力がフック20へと伝達され、上定盤3が回転する。
すなわち、この突起部13を介して、ドライバー10の回転力を上定盤3へと伝達することができ、上定盤3を回転させてドレッシングを行うことが可能になる。この結果、ドレッシング作業を適切に行うことができる。
Then, in the first embodiment, a protrusion 13 protruding upward along the axial direction (axis line L1) of the driver 10 is formed in the contact region 12 formed on the upper surface 10c of the driver body 10b, and the protrusion 13 is formed. Can come into contact with the side surface 22b of the tip portion 22 of the hook 20 which has come into contact with the contact area 12.
Therefore, when the drive shaft 10a of the driver 10 rotates, the protrusion 13 comes into contact with the side surface 22b of the tip 22 of the hook 20, as shown in FIG. As a result, the rotational force of the driver 10 is transmitted to the hook 20, and the upper surface plate 3 rotates.
That is, the rotational force of the driver 10 can be transmitted to the upper surface plate 3 through the protrusion 13, and the upper surface plate 3 can be rotated to perform dressing. As a result, the dressing work can be appropriately performed.

また、この実施例1では、フック20を4個設けたことに対して、2個の突起部13を設けている。つまり、突起部13の数(2個)は、フック20の数(4個)よりも少ない。そのため、図5に示すように、全てのフック20が突起部13に接触することがなく、突起部13に接触してドライバー10から回転力が伝達されるフック20(図5では、第2フック20B)と、突起部13に接触せず、回転力が伝達されないフック20(図5では、第1フック20A)とが生じる。
これにより、全てのフック20にドレッシング時に回転力が入力せず、上定盤3とドライバー10との周方向の相対回転角度によっては、ドレッシングを行うごとに回転力が入力するフック20を異ならせることができる。そのため、各フック20に作用する負担を分散することができる。これにより、フック20の破損や不具合を生じさせにくくすることができる。
Further, in the first embodiment, two protrusions 13 are provided as opposed to four hooks 20. That is, the number of protrusions 13 (2) is smaller than the number of hooks 20 (4). Therefore, as shown in FIG. 5, all the hooks 20 do not come into contact with the protrusions 13, but the hooks 20 come into contact with the protrusions 13 and the rotational force is transmitted from the driver 10 (the second hook in FIG. 5). 20B) and a hook 20 (first hook 20A in FIG. 5) that does not come into contact with the protrusion 13 and does not transmit a rotational force are generated.
As a result, the rotational force is not input to all the hooks 20 at the time of dressing, and the hook 20 to which the rotational force is input differs each time the dressing is performed, depending on the relative rotation angle in the circumferential direction between the upper surface plate 3 and the driver 10. be able to. Therefore, the load acting on each hook 20 can be dispersed. As a result, it is possible to prevent the hook 20 from being damaged or malfunctioning.

特に、図5に示すように、先端部22のフック幅W1が溝部11の溝幅G1よりも僅かに小さく、側面22bが溝部11の内側面11aに接触する第1フック20Aが突起部13に接触せず、先端部22のフック幅W2が溝部11の溝幅G1よりも十分に小さく、側面22bが溝部11の内側面11aに接触しない第2フック20Bが突起部13に接触した場合では、後述するように、ドライバー10からの回転力は、ワーク研磨時に、第1フック20Aのみに伝わり、ドレッシング時に、第2フック20Bのみに伝わることになる。
そのため、ワーク研磨時とドレッシング時とで、回転力が伝わるフック20を異ならせることができ、各フック20に作用する負担をさらに分散することができる。これにより、フック20の破損や不具合を生じさせにくくすることができる。
なお、第1フック20Aのフック幅W1と第2フック20Bのフック幅W2を同一のフック幅とすることも可能である。
In particular, as shown in FIG. 5, the hook width W1 of the tip portion 22 is slightly smaller than the groove width G1 of the groove portion 11, and the first hook 20A whose side surface 22b contacts the inner side surface 11a of the groove portion 11 is on the protrusion portion 13. When the hook width W2 of the tip portion 22 does not contact and the hook width W2 of the tip portion 22 is sufficiently smaller than the groove width G1 of the groove portion 11 and the side surface 22b does not contact the inner side surface 11a of the groove portion 11 when the second hook 20B contacts the protrusion portion 13. As will be described later, the rotational force from the driver 10 is transmitted only to the first hook 20A during work polishing, and is transmitted only to the second hook 20B during dressing.
Therefore, the hooks 20 to which the rotational force is transmitted can be made different between the time of polishing the work and the time of dressing, and the load acting on each hook 20 can be further dispersed. As a result, it is possible to prevent the hook 20 from being damaged or malfunctioning.
It is also possible that the hook width W1 of the first hook 20A and the hook width W2 of the second hook 20B have the same hook width.

[ワーク研磨時上定盤支持作用]
図7及び図8は、実施例1の両面研磨装置にてワークを研磨するときの要部を示す。以下、図7及び図8に基づいて、実施例1の両面研磨装置におけるワーク研磨時上定盤支持作用を説明する。
[Upper surface plate support during work polishing]
7 and 8 show the main parts when the work is polished by the double-sided polishing apparatus of the first embodiment. Hereinafter, the upper surface plate supporting action during workpiece polishing in the double-sided polishing apparatus of Example 1 will be described with reference to FIGS. 7 and 8.

上述のように、実施例1の両面研磨装置1では、上定盤3を降下させて下定盤2に上定盤3を載せてワークWRを研磨する。すなわち、ワークWRを研磨するには、まず、上定盤3とドライバー10との周方向の相対回転角度が所定の角度になるように、上定盤3の回転方向の角度又はドライバー10の回転方向の角度を調整する。なお、この「所定の角度」とは、上定盤3に設けたフック20とドライバー10に形成された溝部11とが上下方向に対向する角度である。 As described above, in the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment, the upper surface plate 3 is lowered and the upper surface plate 3 is placed on the lower surface plate 2 to polish the work WR. That is, in order to polish the work WR, first, the angle in the rotation direction of the upper surface plate 3 or the rotation of the driver 10 so that the relative rotation angle of the upper surface plate 3 and the driver 10 in the circumferential direction becomes a predetermined angle. Adjust the angle of direction. The "predetermined angle" is an angle at which the hook 20 provided on the upper surface plate 3 and the groove portion 11 formed in the driver 10 face each other in the vertical direction.

そして、上定盤3とドライバー10との周方向の相対回転角度が所定の角度になり、フック20と溝部11とが上下方向に対向したら、昇降用アクチュエータ9からロッド9cを突出させ、上定盤3を降下する。そして、図7及び図8に示すように、上定盤3の降下に伴って4個のフック20がそれぞれ4個の溝部11に挿入することで、フック20がドライバー本体10bに干渉することなく、上定盤3を下定盤2の上に載置することができる。 Then, when the relative rotation angle of the upper surface plate 3 and the driver 10 in the circumferential direction becomes a predetermined angle and the hook 20 and the groove portion 11 face each other in the vertical direction, the rod 9c is projected from the elevating actuator 9 to perform the upper surface plate. Descend board 3. Then, as shown in FIGS. 7 and 8, the four hooks 20 are inserted into the four groove portions 11 as the upper surface plate 3 descends, so that the hooks 20 do not interfere with the driver body 10b. , The upper surface plate 3 can be placed on the lower surface plate 2.

そして、このように溝部11内にフック20が挿入されたことで、ドライバー10の駆動軸10aが回転すると、図7に示すように、溝部11の内側面11aが第1フック20Aの側面22bと当接する。これにより、ドライバー10の回転力が第1フック20Aへと伝達され、上定盤3が回転する。
すなわち、この溝部11を介して、ドライバー10の回転力を上定盤3へと伝達することができ、上定盤3を回転させてワークWRの研磨を行うことが可能になる。この結果、ワーク研磨作業を適切に行うことができる。
Then, when the drive shaft 10a of the driver 10 rotates due to the hook 20 being inserted into the groove portion 11 in this way, the inner side surface 11a of the groove portion 11 becomes the side surface 22b of the first hook 20A as shown in FIG. Contact. As a result, the rotational force of the driver 10 is transmitted to the first hook 20A, and the upper surface plate 3 rotates.
That is, the rotational force of the driver 10 can be transmitted to the upper surface plate 3 through the groove portion 11, and the upper surface plate 3 can be rotated to polish the work WR. As a result, the work polishing work can be appropriately performed.

また、この実施例1では、図7から明らかなように、フック20のうち、先端部22のフック幅W1が溝部11の溝幅G1よりも僅かに小さい第1フック20Aの側面22bが溝部11の内側面11aに接触し、先端部22のフック幅W2が溝部11の溝幅G1よりも十分に小さい第2フック20Bの側面22bは、溝部11の内側面11aに接触しない。そのため、ドライバー10からの回転力は、第1フック20Aのみに伝わることになり、第2フック20Bには回転力が作用することがない。ワーク研磨時には、4個のフック20をそれぞれ4個の溝部11に挿入しなければならないが、第2フック20Bについては溝部11との間に要求される寸法精度を緩和させることができ、4個のフック20を溝部11に挿入させやすくすることができる。 Further, in the first embodiment, as is clear from FIG. 7, the side surface 22b of the first hook 20A in which the hook width W1 of the tip portion 22 is slightly smaller than the groove width G1 of the groove portion 11 is the groove portion 11. The side surface 22b of the second hook 20B, which is in contact with the inner side surface 11a of the second hook 20B and whose hook width W2 of the tip portion 22 is sufficiently smaller than the groove width G1 of the groove portion 11, does not contact the inner side surface 11a of the groove portion 11. Therefore, the rotational force from the driver 10 is transmitted only to the first hook 20A, and the rotational force does not act on the second hook 20B. When polishing the work, each of the four hooks 20 must be inserted into the four groove portions 11, but for the second hook 20B, the dimensional accuracy required between the two hooks 20 and the groove portion 11 can be relaxed, and the four hooks 20 can be relaxed. The hook 20 can be easily inserted into the groove 11.

なお、ワーク研磨時に溝部11の内側面11aに接触する第1フック20Aは、上述したように、ドレッシング時には少なくとも当接領域12に先端部22の当接面22aが当接し、上定盤3を支持することができる。つまり、この第1フック20Aは、ワーク研磨時の回転力伝達と、ドレッシング時の上定盤支持とを兼用して行うフックとなる。 As described above, the first hook 20A that comes into contact with the inner side surface 11a of the groove portion 11 during work polishing has the contact surface 22a of the tip portion 22 in contact with at least the contact region 12 during dressing, so that the upper surface plate 3 is pressed. Can be supported. That is, the first hook 20A is a hook that simultaneously transmits the rotational force during work polishing and supports the upper surface plate during dressing.

そして、実施例1において、4個のフック20と、4個の溝部11とは、それぞれ周方向に沿って90°ごとに形成されており、いずれも上定盤3の中心O(軸線L1が通る点)を対称点とする点対称位置に配置されている。
そのため、ドレッシング時に上定盤3を4個のフック20によってバランスよく支持することができ、ドレッシング中の上定盤3への力の作用方向に拘らず、上定盤3のぐらつきを抑制して水平状態を維持することができる。一方、ワーク研磨時には、各フック20をそれぞれ溝部11内に挿入することができ、ドライバー10が上定盤3の降下を阻害せず、ワークWRの研磨作業を適切に行うことができる。
Then, in the first embodiment, the four hooks 20 and the four groove portions 11 are formed at intervals of 90 ° along the circumferential direction, and both of them have the center O (axis line L1) of the upper surface plate 3. It is arranged at a point-symmetrical position with the passing point) as the point of symmetry.
Therefore, the upper surface plate 3 can be supported in a well-balanced manner by the four hooks 20 during dressing, and the wobbling of the upper surface plate 3 is suppressed regardless of the direction in which the force acts on the upper surface plate 3 during dressing. It can maintain a horizontal state. On the other hand, at the time of polishing the work, each hook 20 can be inserted into the groove portion 11, and the driver 10 does not hinder the lowering of the upper surface plate 3, and the work WR can be appropriately polished.

次に、効果を説明する。
実施例1の両面研磨装置1にあっては、下記に列挙する効果を得ることができる。
Next, the effect will be described.
In the double-sided polishing apparatus 1 of the first embodiment, the effects listed below can be obtained.

(1) 下定盤2と上定盤3とによりワークWRの両面を研磨する両面研磨装置1において、
前記下定盤2を貫通すると共に、軸周りに回転するドライバー10と、
前記上定盤3を揺動可能且つ回転可能に吊り下げ支持する支持機構(昇降用アクチュエータ9,調芯軸受9b)と、
前記上定盤3の中心開口3bの周縁から中心Oに向かって延びたフック20と、
前記ドライバー10の周面に形成されると共に前記ドライバー10の軸方向に延び、前記上定盤3と前記ドライバー10との周方向の相対回転角度が所定の角度のときに前記フック20を挿入可能な溝部11と、
前記ドライバー10の上面10cに形成された当接領域12と、
前記当接領域12に設けられ、前記フック20が前記当接領域12に当接した状態で前記フック20が接触する突起部13と、
を備えた構成とした。
これにより、上定盤3をドレッシングする際の作業性の低下を抑制しつつ、ドレッシング中に上定盤3を水平に維持することができる。
(1) In the double-sided polishing apparatus 1 for polishing both sides of the work WR by the lower surface plate 2 and the upper surface plate 3.
A driver 10 that penetrates the lower platen 2 and rotates around an axis,
A support mechanism (elevating actuator 9, centering bearing 9b) that suspends and supports the upper surface plate 3 so as to be swingable and rotatable, and
A hook 20 extending from the peripheral edge of the central opening 3b of the upper surface plate 3 toward the center O, and
The hook 20 can be inserted when the relative rotation angle between the upper surface plate 3 and the driver 10 in the circumferential direction is a predetermined angle while being formed on the peripheral surface of the driver 10 and extending in the axial direction of the driver 10. Groove 11 and
The contact region 12 formed on the upper surface 10c of the driver 10 and
A protrusion 13 provided in the contact area 12 and in contact with the hook 20 in a state where the hook 20 is in contact with the contact area 12.
The configuration was made with.
As a result, the upper surface plate 3 can be maintained horizontally during dressing while suppressing a decrease in workability when dressing the upper surface plate 3.

(2) 前記溝部11は、前記ドライバー10の周面に複数(4個)形成され、
前記フック20は、前記溝部11に挿入されたとき、該溝部11の内側面11aに接触する第1フック20Aと、前記溝部11に挿入されたとき、該溝部11の内側面11aに接触しない第2フック20Bと、を有する構成とした。
これにより、(1)の効果に加え、第2フック20Bと溝部11との間に要求される寸法精度を緩和させて、複数のフック20を溝部11に挿入させやすくすることができる。
(2) A plurality (4) of the groove portions 11 are formed on the peripheral surface of the driver 10.
The hook 20 has a first hook 20A that contacts the inner side surface 11a of the groove 11 when inserted into the groove 11, and a first hook 20A that does not contact the inner surface 11a of the groove 11 when inserted into the groove 11. It is configured to have two hooks 20B.
As a result, in addition to the effect of (1), the dimensional accuracy required between the second hook 20B and the groove portion 11 can be relaxed, and a plurality of hooks 20 can be easily inserted into the groove portion 11.

(3) 前記フック20及び前記溝部11は、いずれも前記上定盤3の中心Oを対称点とする点対称位置に複数設けられている構成とした。
これにより、(1)又は(2)の効果に加え、ドレッシング時には上定盤3を周方向にバランスよく支持することができる。
(3) The hook 20 and the groove portion 11 are both provided at a plurality of point-symmetrical positions with the center O of the upper surface plate 3 as a symmetric point.
As a result, in addition to the effects of (1) or (2), the upper surface plate 3 can be supported in a well-balanced manner in the circumferential direction during dressing.

(4) 前記突起部13の数(2個)は、前記フック20の数(4個)よりも少ない構成とした。
これにより、(1)〜(3)のいずれかの効果に加え、ドレッシングを行うごとに回転力が伝達されるフック20を異ならせることができ、各フック20に作用する負担を分散させて、フック20の破損や不具合を生じさせにくくすることができる。
(4) The number of protrusions 13 (2) is smaller than the number of hooks 20 (4).
As a result, in addition to the effect of any one of (1) to (3), the hook 20 to which the rotational force is transmitted can be made different each time the dressing is performed, and the load acting on each hook 20 can be dispersed. It is possible to prevent the hook 20 from being damaged or malfunction.

以上、本発明の両面研磨装置を実施例1に基づいて説明してきたが、具体的な構成については、この実施例に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。 Although the double-sided polishing apparatus of the present invention has been described above based on the first embodiment, the specific configuration is not limited to this embodiment, and the gist of the invention according to each claim in the claims. Design changes and additions are permitted as long as they do not deviate from.

実施例1では、ドライバー本体10bに4個の溝部11と、2個の突起部13を形成し、上定盤3には4個のフック20を設けた例を示した。しかしながら、溝部、突起部、フックの数はこれに限らず、それぞれ一つ以上設けられていればよい。すなわち、例えば、図9に示すように、ドライバー本体10bに3個の溝部11と、3個の突起部13を形成し、上定盤3に3個のフック20を設けてもよい。
この場合であっても、図10A及び図10Bに示すように、ドレッシング時には3個のフック20がそれぞれドライバー本体10bの上面10cに形成された当接領域12に当接し、上定盤3を周方向にバランスよく支持することができる。
In Example 1, four groove portions 11 and two protrusions 13 are formed on the driver body 10b, and four hooks 20 are provided on the upper surface plate 3. However, the number of grooves, protrusions, and hooks is not limited to this, and one or more of each may be provided. That is, for example, as shown in FIG. 9, three groove portions 11 and three protrusions 13 may be formed on the driver body 10b, and three hooks 20 may be provided on the upper surface plate 3.
Even in this case, as shown in FIGS. 10A and 10B, at the time of dressing, the three hooks 20 each contact the contact region 12 formed on the upper surface 10c of the driver body 10b and circulate around the upper surface plate 3. Can be supported in a well-balanced direction.

また、このとき、3個のフック20の先端部22のフック幅は、全て溝幅G1よりも僅かに小さい同じ寸法に設定される。そのため、図11A及び図11Bに示すように、ワーク研磨時にフック20を溝部11に挿入したとき、全てのフック20の側面22bが溝部11の内側面11aに接触する。一方、突起部13の数(3個)がフック20の数(3個)と同じであるので、ドレッシング時には全てのフック20が突起部13に接触する。
そのため、ドレッシング時及びワーク研磨時のいずれの場合であっても、ドライバー10から入力する回転力を全てのフック20によって受けることができ、回転力が分散して入力する。これにより、フック20に作用する回転力が集中せず、フック20の破損等の発生を防止することができる。
Further, at this time, the hook widths of the tip portions 22 of the three hooks 20 are all set to the same dimensions slightly smaller than the groove width G1. Therefore, as shown in FIGS. 11A and 11B, when the hooks 20 are inserted into the grooves 11 during work polishing, the side surfaces 22b of all the hooks 20 come into contact with the inner side surfaces 11a of the grooves 11. On the other hand, since the number of protrusions 13 (3) is the same as the number of hooks 20 (3), all the hooks 20 come into contact with the protrusions 13 during dressing.
Therefore, the rotational force input from the driver 10 can be received by all the hooks 20 in both the dressing and the work polishing, and the rotational force is distributed and input. As a result, the rotational force acting on the hook 20 is not concentrated, and it is possible to prevent the hook 20 from being damaged.

実施例1では、フック20がワーク研磨時に溝部11の内側面11aに接触する第1フック20Aと、ワーク研磨時に溝部11の内側面11aに接触しない第2フック20Bとを有する構成としたが、これに限らない。例えば、複数(4個)のフック20のフック幅を全て同じ寸法にしてもよい。
この場合では、ワーク研磨時にドライバー10から入力する回転力を全てのフック20によって受けることができ、回転力が分散して入力する。これにより、フック20に作用する力が集中せず、フック20の破損等の発生を防止することができる。
In the first embodiment, the hook 20 has a first hook 20A that comes into contact with the inner side surface 11a of the groove 11 during work polishing, and a second hook 20B that does not come into contact with the inner side surface 11a of the groove 11 during work polishing. Not limited to this. For example, the hook widths of the plurality of (4) hooks 20 may all have the same dimensions.
In this case, the rotational force input from the driver 10 at the time of polishing the work can be received by all the hooks 20, and the rotational force is distributed and input. As a result, the force acting on the hook 20 is not concentrated, and it is possible to prevent the hook 20 from being damaged or the like.

実施例1では、第1フック20Aのフック幅W1を溝部11の溝幅G1よりも僅かに小さくし、第2フック20Bのフック幅W2を溝部11の溝幅G1よりも十分に小さくすることで、側面22bが溝部11の内面11aに接触する第1フック20Aと、側面22bが溝部11の内面11aに接触しない第2フック20Bとを形成したが、これに限らない。例えば、複数のフック20のフック幅は全て同じ寸法に設定し、溝部11の溝幅を適宜異ならせることで、側面22bが溝部11の内面11aに接触する第1フック20Aと、側面22bが溝部11の内面11aに接触しない第2フック20Bとを形成してもよい。 In the first embodiment, the hook width W1 of the first hook 20A is made slightly smaller than the groove width G1 of the groove portion 11, and the hook width W2 of the second hook 20B is made sufficiently smaller than the groove width G1 of the groove portion 11. a first hook 20A of the side surface 22b comes into contact with the inner side surface 11a of the groove 11 has been formed and a second hook 20B of the side surface 22b does not contact the inner side surface 11a of the groove 11 is not limited thereto. For example, to set all the hook widths of the plurality of hooks 20 are the same size, by varying the groove width of the groove 11 as appropriate, and the first hook 20A of the side surface 22b comes into contact with the inner side surface 11a of the groove 11, the side surface 22b There may be formed a second hook 20B does not contact with the inner side surface 11a of the groove 11.

実施例1では、ドライバー本体10bの周面に形成した溝部11が、ドライバー本体10bの径方向及び上下方向に開放している例を示したが、これに限らない。この溝部11は、少なくとも上方に開放してフック20を挿入可能にすると共に、下定盤2に上定盤3が載置されるまで上定盤3を降下させることが可能な溝長さを有していればよいので、下方には開放していなくてもよい。 In the first embodiment, the groove portion 11 formed on the peripheral surface of the driver main body 10b is opened in the radial direction and the vertical direction of the driver main body 10b, but the present invention is not limited to this. The groove portion 11 has a groove length that allows the hook 20 to be inserted by opening at least upward and allows the upper surface plate 3 to be lowered until the upper surface plate 3 is placed on the lower surface plate 2. It does not have to be open downward as long as it is.

実施例1では、当接領域12を、ドライバー本体10bの周縁部に沿った領域とする例を示したが、これに限らない。この当接領域12は、少なくともドライバー本体10bの上面10cに形成され、フック20の先端部22の当接面22aが当接すればよい。すなわち、例えばフック20の固定部21が長い場合では、ドライバー本体10bの中心部分に当接領域12を設けてもよい。 In the first embodiment, an example is shown in which the contact region 12 is a region along the peripheral edge of the driver body 10b, but the present invention is not limited to this. The contact region 12 may be formed at least on the upper surface 10c of the driver body 10b, and the contact surface 22a of the tip portion 22 of the hook 20 may come into contact with the contact region 12. That is, for example, when the fixed portion 21 of the hook 20 is long, the contact region 12 may be provided at the central portion of the driver body 10b.

実施例1では、当接領域12から上定盤3に向かって突出した突起部13がフック20の先端部22の側面22bに接触する例を示したが、これに限らない。例えば、図12に示すように、フック20の先端部22に下方に開放した凹み部23を形成する。そして、フック20が当接領域12に当接する際、この凹み部23に突起部13を嵌め込むことで、突起部13にフック20を接触させてもよい。 In the first embodiment, an example is shown in which the protrusion 13 protruding from the contact region 12 toward the upper surface plate 3 comes into contact with the side surface 22b of the tip 22 of the hook 20, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 12, a recessed portion 23 that is open downward is formed at the tip portion 22 of the hook 20. Then, when the hook 20 comes into contact with the contact region 12, the hook 20 may be brought into contact with the protrusion 13 by fitting the protrusion 13 into the recess 23.

実施例1では、ドライバー本体10bの上面10cが平坦な面に形成されているが、これに限らない。例えば、図13に示すドライバー10のように、ドライバー本体10bの上面10cに、周縁に沿って一段下がった段差面10dを形成し、この段差面10dに当接領域12及び突起部13を形成すると共に、溝部11の上端を開放させてもよい。 In the first embodiment, the upper surface 10c of the driver body 10b is formed on a flat surface, but the present invention is not limited to this. For example, as in the driver 10 shown in FIG. 13, a stepped surface 10d lowered by one step along the peripheral edge is formed on the upper surface 10c of the driver body 10b, and a contact region 12 and a protrusion 13 are formed on the stepped surface 10d. At the same time, the upper end of the groove portion 11 may be opened.

さらに、上定盤に設けたフックが、駆動用フックと、この駆動用フックよりもドライバー本体までの軸方向距離が遠い当接用フックとを有し、ドライバー本体に形成した溝部が、駆動用溝と、退避用溝と、を有するものであってもよい。
この場合、ドレッシング時においては、当接用フックがドライバー本体の上面に形成された当接領域に当接し、上定盤はドライバー本体の上面によって支持される。一方、駆動用フックは駆動用溝に挿入され、この駆動用フックと駆動用溝とが干渉することでドライバー本体の回転駆動力が上定盤に伝達される。
ワーク研磨時においては、駆動用フックがドレッシング時と同様に駆動用溝に挿入され、この駆動用フックと駆動用溝との干渉によりドライバー本体の回転駆動力が上定盤に伝達される。このとき、当接用フックは退避用溝に挿入される。これにより、上定盤の下降を可能にし、上定盤を下定盤に載置してワークの研磨を可能にする。
Further, the hook provided on the upper surface plate has a drive hook and a contact hook whose axial distance to the driver body is longer than the drive hook, and the groove formed in the driver body is for drive. It may have a groove and a recessing groove.
In this case, at the time of dressing, the contact hook contacts the contact region formed on the upper surface of the driver body, and the upper surface plate is supported by the upper surface of the driver body. On the other hand, the drive hook is inserted into the drive groove, and the rotational drive force of the driver body is transmitted to the upper surface plate by the interference between the drive hook and the drive groove.
At the time of polishing the work, the driving hook is inserted into the driving groove as in the dressing, and the rotational driving force of the driver body is transmitted to the upper surface plate by the interference between the driving hook and the driving groove. At this time, the contact hook is inserted into the retracting groove. As a result, the upper surface plate can be lowered, and the upper surface plate is placed on the lower surface plate to enable polishing of the work.

1 両面研磨装置
2 下定盤
2a 研磨パッド
2b 中心開口
3 上定盤
3a 研磨パッド
3b 中心開口
9 昇降用アクチュエータ(支持機構)
9b 調芯軸受(支持機構)
10 ドライバー
10a 駆動軸
10b ドライバー本体
10c 上面
11 溝部
11a 内側面
12 当接領域
13 突起部
20 フック
20A 第1フック
20B 第2フック
21 固定部
22 先端部
1 Double-sided polishing device 2 Lower surface plate 2a Polishing pad 2b Center opening 3 Upper surface plate 3a Polishing pad 3b Center opening 9 Lifting actuator (support mechanism)
9b Alignment bearing (support mechanism)
10 Driver 10a Drive shaft 10b Driver body 10c Top surface 11 Groove 11a Inner side surface 12 Contact area 13 Protrusion 20 Hook 20A 1st hook 20B 2nd hook 21 Fixed part 22 Tip

Claims (4)

下定盤と上定盤によりワークの両面を研磨する両面研磨装置において、
前記下定盤の中心開口を貫通し、軸線に沿って配設された駆動軸と、前記駆動軸の先端に形成されて前記上定盤の中心開口に挿入可能なドライバー本体と、を有すると共に、前記周りに回転するドライバーと、
前記上定盤を揺動可能且つ前記軸線周りに回転可能に吊り下げ支持し、前記上定盤を昇降させる支持機構と、
前記上定盤の中心開口の周縁から前記上定盤の中心に向かって延びたフックと、
前記ドライバー本体の周面に形成されると共に前記ドライバーの軸方向に延び、前記ドライバー本体の少なくとも上方向に開放した溝部と、
前記ドライバー本体前記上定盤に臨む上面に形成され、前記溝部の上端が開放した当接領域と、
前記当接領域から上方向かって突出した突起部と、
を備え
前記フックは、前記上定盤が前記支持機構によって降下された際、前記溝部に対して上下方向に対向しないときに前記当接領域に当接すると共に、前記駆動軸の回転に伴って前記突起部が接触して前記ドライバーから回転力が伝達され、前記溝部に対して上下方向に対向するときに前記溝部に挿入されると共に、前記駆動軸の回転に伴って前記溝部の内側面が接触して前記ドライバーから前記回転力が伝達される
ことを特徴とする両面研磨装置。
In a double-sided polishing machine that polishes both sides of a work with a lower surface plate and an upper surface plate,
Through the central opening of the lower surface plate, a drive shaft disposed along the axis, and can be inserted driver body central opening of the upper surface plate is formed at the distal end of the drive shaft, as well as have a , and drivers for rotation about said axis,
The upper platen swingably and suspended rotatable around the axis supporting, with the support mechanism Ru is lifting the on plate,
A hook extending toward the center of the upper surface plate from the periphery of the central opening of the upper surface plate,
A groove formed on the peripheral surface of the driver body and extending in the axial direction of the driver and opening at least upward of the driver body .
A contact region formed on the upper surface of the driver body facing the upper surface plate and the upper end of the groove portion is open , and
A protrusion protruding upward from the contact area and
Equipped with a,
When the upper surface plate is lowered by the support mechanism, the hook comes into contact with the contact region when it does not face the groove in the vertical direction, and the protruding portion is brought along with the rotation of the drive shaft. Is in contact with the driver to transmit a rotational force, and the driver is inserted into the groove when it faces the groove in the vertical direction, and the inner surface of the groove comes into contact with the rotation of the drive shaft. A double-sided polishing apparatus characterized in that the rotational force is transmitted from the driver .
請求項1に記載された両面研磨装置において、
前記溝部は、前記ドライバー本体の周面に複数形成され、
前記フックは、前記溝部に挿入されたとき、該溝部の内側面に接触する第1フックと、前記溝部に挿入されたとき、該溝部の内側面に接触しない第2フックと、を有する ことを特徴とする両面研磨装置。
In the double-sided polishing apparatus according to claim 1,
A plurality of the grooves are formed on the peripheral surface of the driver body .
The hook has a first hook that contacts the inner surface of the groove when inserted into the groove and a second hook that does not contact the inner surface of the groove when inserted into the groove. A featured double-sided polishing device.
請求項1又は請求項2に記載された両面研磨装置において、
前記フック及び前記溝部は、いずれも前記上定盤の中心を対称点とする点対称位置に複数設けられている
ことを特徴とする両面研磨装置。
In the double-sided polishing apparatus according to claim 1 or 2.
A double-sided polishing apparatus characterized in that a plurality of the hook and the groove portion are provided at point-symmetrical positions with the center of the upper surface plate as a symmetric point.
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載された両面研磨装置において、
前記突起部の数は、前記フックの数よりも少ない
ことを特徴とする両面研磨装置。
In the double-sided polishing apparatus according to any one of claims 1 to 3.
A double-sided polishing apparatus characterized in that the number of protrusions is smaller than the number of hooks.
JP2017075211A 2017-04-05 2017-04-05 Double-sided polishing device Active JP6829467B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017075211A JP6829467B2 (en) 2017-04-05 2017-04-05 Double-sided polishing device
CN201810201411.5A CN108687650B (en) 2017-04-05 2018-03-12 Double-side grinding device
TW107111514A TWI728241B (en) 2017-04-05 2018-03-31 Double side polishing machine
KR1020180038133A KR102481144B1 (en) 2017-04-05 2018-04-02 Double surface polishing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017075211A JP6829467B2 (en) 2017-04-05 2017-04-05 Double-sided polishing device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018176304A JP2018176304A (en) 2018-11-15
JP6829467B2 true JP6829467B2 (en) 2021-02-10

Family

ID=63844503

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017075211A Active JP6829467B2 (en) 2017-04-05 2017-04-05 Double-sided polishing device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6829467B2 (en)
KR (1) KR102481144B1 (en)
CN (1) CN108687650B (en)
TW (1) TWI728241B (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020171996A (en) * 2019-04-11 2020-10-22 信越半導体株式会社 Double-sided polishing method
CN110202528B (en) * 2019-07-04 2023-11-17 山东太古飞机工程有限公司 Auxiliary fixture for removing tail spray of aircraft engine
TWI749916B (en) * 2020-11-30 2021-12-11 寅翊智造股份有限公司 Barrel changing apparatus of automatic processing machine
TWI749917B (en) * 2020-11-30 2021-12-11 寅翊智造股份有限公司 Barrel changing apparatus of automatic processing machine
CN116810669B (en) * 2023-08-30 2023-11-10 启东市洁慧新材料有限公司 High-precision grinding tool for grinding equipment and use method thereof

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3833774B2 (en) * 1997-04-02 2006-10-18 スピードファム株式会社 Planar polishing equipment with anti-vibration mechanism
JP3133300B2 (en) * 1999-03-24 2001-02-05 システム精工株式会社 Polishing method and polishing apparatus
JP2003205453A (en) * 2001-11-09 2003-07-22 Fujikoshi Mach Corp Both-sided polishing device
EP1489649A1 (en) * 2002-03-28 2004-12-22 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd Double side polishing device for wafer and double side polishing method
JP2007268679A (en) * 2006-03-31 2007-10-18 Speedfam Co Ltd Correction implement for polishing pad for double-sided polishing device and double-sided polishing device equipped therewith
JP2009028826A (en) * 2007-07-26 2009-02-12 Shimadzu Corp Double side polisher
CN102089121B (en) * 2008-07-31 2015-04-08 信越半导体股份有限公司 Wafer polishing method and double side polishing apparatus
WO2010150757A1 (en) * 2009-06-24 2010-12-29 旭硝子株式会社 Glass disc polishing device and glass disc polishing method
JP2011194517A (en) * 2010-03-19 2011-10-06 Hamai Co Ltd Double-side polishing device and machining method
JP5807583B2 (en) * 2012-02-20 2015-11-10 旭硝子株式会社 Carrier pressing mechanism, polishing apparatus, glass substrate polishing method, and glass substrate manufacturing method
JP6269450B2 (en) * 2014-11-18 2018-01-31 信越半導体株式会社 Workpiece processing equipment
JP6491024B2 (en) * 2015-04-20 2019-03-27 不二越機械工業株式会社 Double-side polishing apparatus and polishing method
JP6304132B2 (en) * 2015-06-12 2018-04-04 信越半導体株式会社 Workpiece processing equipment
CN106425830A (en) * 2016-11-14 2017-02-22 宜兴市晶科光学仪器有限公司 Double-side grinding and polishing machine

Also Published As

Publication number Publication date
KR102481144B1 (en) 2022-12-23
CN108687650B (en) 2022-05-03
JP2018176304A (en) 2018-11-15
TWI728241B (en) 2021-05-21
TW201902620A (en) 2019-01-16
CN108687650A (en) 2018-10-23
KR20180113175A (en) 2018-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6829467B2 (en) Double-sided polishing device
JP5826306B2 (en) Method for adjusting a polishing pad for simultaneous double-side polishing of a semiconductor wafer
JP5627685B2 (en) Double-side polishing apparatus and carrier therefor
JP2011194561A (en) Chamfering device for disk-like workpiece
JP7136953B2 (en) processing equipment
KR20100115819A (en) Polishing apparatus, polishing auxiliary apparatus and polishing method
JP2015044273A (en) Dressing device, chemical mechanical polishing apparatus having the same, and dresser disk used in the same
JP4521359B2 (en) Polishing method and polishing apparatus
JP6725831B2 (en) Work processing device
CN105881195B (en) Double end flat grinding device
JP2017205809A (en) Chamfering device and chamfering method
JPH1029142A (en) Mirror chamfering and machining method for disk semiconductor wafer chamfered section
JP4143563B2 (en) Work holding device and double-sided processing device
KR101871853B1 (en) Panel machining apparatus for flat type display
JP3139753U (en) Double-side polishing machine
JP2010173049A (en) Grinding machine, carrier for grinding machine, and grinding method
JP5265281B2 (en) Double-side polishing equipment
JP3230551U (en) Wafer polishing equipment
JP6888753B2 (en) Polishing equipment and dressing method for polishing pads
KR101177007B1 (en) Apparatus for grinding the substrate
JP2003145399A (en) Mirror chamfering method for chamfered portion of disc semiconductor wafer
KR20240027000A (en) Top ring and polishing device of polishing device
JP4352909B2 (en) Polishing apparatus, carrier for polishing apparatus and polishing method
JP2006116678A (en) Polishing method and device
JP2015230734A (en) Method for processing glass substrate for magnetic recording medium, method for manufacturing glass substrate for magnetic recording medium, and device for processing glass substrate for magnetic recording medium

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191016

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20201022

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201027

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201222

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210107

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6829467

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250