JP6816384B2 - ホイスラー型鉄系熱電材料 - Google Patents
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Description
そこでBi−Te系熱電材料の代替として、有害且つ希少元素を含まず、資源的な制約の少ない鉄系熱電材料として、比較的安価な元素で構成されたFe2VAl基ホイスラー化合物が注目されている。
また置換する元素を異ならせたり、置換量を変えることで価電子濃度を種々に変化させ制御することができる。
(Fe1-aM1a)2-x-y(V1-bM2b)1+x(Al1-cM3c)1+y・・・式(1)
但し、M1はCoまたはNiからなる群から選ばれた1種以上の元素、M2はTi、Zr、Cr、Mn、Mo、Wからなる群から選ばれた1種以上の元素、M3はSi、Ge、Sn、Sbからなる群から選ばれた1種以上の元素で、a≦0.2,b≦0.4,c≦0.4,|x|≦0.2,|y|≦0.2である(ただし、a,b,cのうち1つは0より大きい)。
先に述べた電気抵抗率ρと密接に結び付いているのは、このうち電子移動に由来する熱伝導率κeである。従って、電気抵抗率ρの上昇を抑えて熱伝導率κを低下させるには、格子振動の伝播に由来する熱伝導率κphを下げることが効果的であるとの着想の下、本発明者らは、格子振動の伝播を阻害するのに有効な手段を調査するなかで、Fe2VAl基ホイスラー化合物からなる母材の結晶粒内にCu相を分散析出させることで、熱伝導率κを低下させることが可能であることを突き止めた。本発明はこのような知見に基づいてなされたものである。
(Fe1-aM1a)2−x−y(V1−bM2b)1+x(Al1−cM3c)1+y・・・式(1)
ここでM1はFeを置換する元素で、3d,4d,5d遷移金属元素(Feを除く)から成る群から選ばれた1種以上の元素であり、式中a≦0.2である。
M2はVを置換する元素で、3d,4d,5d遷移金属元素(Vを除く)の群から選ばれた1種以上の元素であり、式中b≦0.4である。
M3はAlを置換する元素で、IIIb(Alを除く),IVb(Cを除く),Vb(Nを除く)族元素から成る群から選ばれた1種以上の元素であり、式中c≦0.4である。
(価電子濃度)=Σ[(元素のモル分率)×(価電子数)]・・・式(2)
式(1)中添え字のxおよびyは化学量論組成からのずれを示す。ホイスラー化合物はある程度化学量論組成から外れてもその構造を保つことができ、高いゼーベック係数を保つことができる。
本発明に係る熱電材料では、|x|および|y|を増やすことにより材料に軟化および延性を持たせることができ、材料の焼結および成形を容易にすることができる。
但し|x|および|y|が高すぎるとホイスラー構造が不安定になり、ゼーベック係数が低下するので|x|,|y|は何れも0.2以下とする。
これら元素Co,Ni,Cuは何れも周期表でFeよりも右側にある元素で、Feサイトの一部をこれら元素で置換すると合金全体の総価電指数が増加し、キャリアに占める電子の割合が増加してゼーペック係数は負の値を示すようになる。
これらの元素は何れも原材料コストをさほど上げることなく効果的にゼーベック係数を増大させあるいは電気抵抗率若しくは熱伝導率を減少させる作用がある。
このうちTiとZrは周期表でVよりも左側にある元素で、これらでVを部分置換すると総価電子数は減少し、キャリアに占める正孔の割合が増加してゼーベック係数は正の値を示すようになる。またCr,Mn,Mo,WはVよりも右側にある元素で、置換によりゼーべック係数は負の値を示すようになる。
これら置換元素のうちTi,Cr,Mnはいずれも原材料コストを下げ、かつゼーベック係数を増大させあるいは電気抵抗率若しくは熱伝導率を減少させる作用がある。
また、それ以外の元素は原材料コストをさほど上げることなく効果的にゼーベック係数を増大させあるいは電気抵抗率若しくは熱伝導率を減少させる作用がある。
このうちSi,Ge,Sn,Sbは電子の割合が増加してゼーベック係数は負の値を示すようになる。
Siは原材料コストを下げ、かつゼーベック係数を増大させあるいは電気抵抗率および熱伝導率を減少させる作用がある。
また、それ以外の元素は原材料コストをさほど上げることなく効果的にゼーベック係数を増大させあるいは電気抵抗率若しくは熱伝導率を減少させる作用がある。
高い熱電特性を得るには価電子濃度が6からわずかに大きい、若しくは小さい必要があるため、Feを置換する元素の量a、Vを置換する元素の量b、Alを置換する元素の量cのうち、少なくとも1つ以上は0より大きいことが好ましく、より好ましくは0.004以上である。
但し価電子濃度が6から大きくずれるとゼーベック係数は低下するため、置換最大量はaが0.2以下、bおよびcが0.4以下であることが必要である。
本実施形態のホイスラー型鉄系熱電材料の母材は、上記式(1)で表される組成を有するFe2VAl基ホイスラー化合物からなるものであるが、不可避的な不純物が含まれていても良い。
また、Fe2VAl基ホイスラー化合物からなる母材内に、詳しくは、その結晶粒内に分散析出するCu相は、Cuの単相よりなるものであるが、Cu相中には不可避的な不純物が含まれていても良い。Cu相の形状は、特に限定されるものではなく、その外形が比較的均一に整っていても良いし、その外形が不揃いであっても良い。
同図(A)で示す製造方法では、溶解工程10と、インゴット作製工程12と、熱処理工程14と、切断・切り出し工程16とが設けられている。
熱処理工程14では、温度:900〜1300℃で48時間加熱する均質化処理を行なった後、炉冷により24時間かけて室温まで冷却する。この熱処理工程14では、上記均質化処理により一旦母材内に固溶させたCuを、炉冷の過程で結晶粒界内に微細に分散析出させることができる。
図1(B)において、粉末作製工程18は、アトマイズ法を用いて溶湯から粉末を作製する工程である。ここでは、溶湯をノズルから流出させて溶湯流にガス噴霧、例えば窒素,アルゴン,ヘリウムの何れか1種若しくは2種以上による高圧ガス噴射を行い、溶湯を粉末化するガスアトマイズ法、或いは溶湯に対して水流ジェットを作用させて粉末化する水アトマイズ法その他の方法を用いることができる。
焼結方法は種々の方法を用いることができる。具体的には常圧焼結法、ホットプレス、HIP、放電プラズマ焼結法(SPS)などがある。これらの中でも、放電プラズマ焼結法は、短時間で緻密な焼結体を得ることができる。
尚、焼結条件は、Fe2VAl基ホイスラー化合物の組成や、使用する焼結方法に応じて適宜選択することができる。
下記表1、表2に示す組成になるように秤量した原料を、1torr以下で真空引きした後に0.5気圧の減圧Ar雰囲気中、耐火物坩堝内で高周波誘導加熱にて溶解した後に、タンディッシュを通じてArガス噴霧中に注ぎ急冷凝固してアトマイズ粉末を得た。
粉末を得るためのアトマイズ条件として、噴霧ガス圧を20〜40kgf/cm2,噴霧ガス流量10〜100L/分,注湯ノズル口径2.5〜6mmとした。
その後、熱処理が施された粉末を、図2に示す内径がφ10mmのカーボン型30を有する通電焼結装置31を用いて通電焼結(SPS:放電プラズマ焼結)した。
図2において32はダイス型、34はその内部に挿入されたパンチ型、36はパンチ電極で、この通電焼結装置31では一対のパンチ型34をダイス型32内に挿入して粉末25を加圧した状態で、パンチ電極36間にパルス電流を流し、粉末25を短時間焼結して、試験用の熱電材料(焼結体)を得た。
ここで焼結は温度1100℃,圧力40MPa,焼結時間3分,真空雰囲気中の条件で行った。
得られた焼結体を薄片状に切り出し、その断面組織をTEMにて観察した。観察したTEM像からランダムに選択した20箇所の析出相(Cu相)について、最近接にある析出相までの間隔(図3に示すL)を測定し、その値の平均値を平均析出間隔として求めた。ここで析出相同士の間隔Lとは、図3で示す、析出相40の中心同士の距離である。尚、析出相40が、長軸40aと、短軸40b(短軸40bは、長軸40aと直交する方向で、析出相の幅が最も長い位置に配される)と、を有している場合には、長軸40aと短軸40bの交点を析出相40の中心とする。
また上記20箇所の析出相について、析出相と同じ面積の円相当径を求め、その平均値を析出相の平均粒径とした。これらの結果が下記表1、表2に示してある。
焼結体から1.5mm×2mm×10mm程度の棒状の試料を切出し、大気雰囲気下、温度423K(150℃)で、試料の両端に1〜5℃だけ温度差ΔTを与えたときの電圧Vを5点測定して、そのときのΔTとVを最小二乗法によりV=aΔT+b(a,bは定数)で示したときのaの値をゼーベック係数Sとした。
また同時に両端に電流を流したときの試料中の電圧を測定することで電気抵抗を測定し、電圧測定端子間の距離と試料の断面積とから電気抵抗率ρを算出した。
焼結体からΦ10mm×2mmの円板状の試験片を作製し、JIS H 7801に規定されるレーザーフラッシュ法により423K(150℃)で試験片の熱伝導率κ(W/m/K)を測定した。即ち、レーザー発振器から発射したレーザー光を試験片に対して直角に照射し、そのとき試験片の背面から放射される熱量を赤外線検出器で測定して、比熱と熱拡散率を求め、最終的に熱伝導率(=比熱×熱拡散率×密度)を算出した。
上記のようにして得られたゼーベック係数S、電気抵抗率ρ、熱伝導率κ及び測定時の温度T(本例では423K)の値を用いて、ZT=(S2/ρκ)・Tの式で表される性能指数ZTを算出した。その測定結果が表1、表2に示してある。
Cu添加量が0.2質量%の比較例2では、Cu相の析出は認められず、比較例1に対する熱伝導率κの低下率は2%程度と微差である。
因みに、図4はCu相の分散析出が認められる実施例2のTEM画像である。同図において、白若しくは灰色で点在しているのがCu相である。
Cu添加量が0.2質量%の比較例4では、Cu相の析出は認められず、比較例3に対する熱伝導率κの低下率は2%程度と微差である。
Claims (3)
- 下記式(1)で表されるFe2VAl基ホイスラー化合物からなる結晶粒を有する母材と、
前記結晶粒内に分散したCu相と、からなるホイスラー型鉄系熱電材料。
(Fe1-aM1a)2-x-y(V1-bM2b)1+x(Al1-cM3c)1+y・・・式(1)
但し
M1はCoまたはNiからなる群から選ばれた1種以上の元素、
M2はTi、Zr、Cr、Mn、Mo、Wからなる群から選ばれた1種以上の元素、
M3はSi、Ge、Sn、Sbからなる群から選ばれた1種以上の元素で、
a≦0.2
b≦0.4
c≦0.4
|x|≦0.2
|y|≦0.2
である(ただし、a,b,cのうち1つは0より大きい)。 - 前記Cu相の平均析出間隔が27〜424nmであることを特徴とする請求項1に記載のホイスラー型鉄系熱電材料。
- Cuの含有量が1.0〜10質量%であることを特徴とする請求項1,2の何れかに記載のホイスラー型鉄系熱電材料。
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JP2017212414A (ja) | 2017-11-30 |
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