JP6697360B2 - メモリシステムおよびプロセッサシステム - Google Patents
メモリシステムおよびプロセッサシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6697360B2 JP6697360B2 JP2016183313A JP2016183313A JP6697360B2 JP 6697360 B2 JP6697360 B2 JP 6697360B2 JP 2016183313 A JP2016183313 A JP 2016183313A JP 2016183313 A JP2016183313 A JP 2016183313A JP 6697360 B2 JP6697360 B2 JP 6697360B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- volatile memory
- memory
- mram
- error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
- G11C11/165—Auxiliary circuits
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
- G06F3/0616—Improving the reliability of storage systems in relation to life time, e.g. increasing Mean Time Between Failures [MTBF]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/073—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a memory management context, e.g. virtual memory or cache management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1048—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using arrangements adapted for a specific error detection or correction feature
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
- G06F11/1608—Error detection by comparing the output signals of redundant hardware
- G06F11/1612—Error detection by comparing the output signals of redundant hardware where the redundant component is persistent storage
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
- G06F3/0619—Improving the reliability of storage systems in relation to data integrity, e.g. data losses, bit errors
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0629—Configuration or reconfiguration of storage systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0655—Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0683—Plurality of storage devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
- G11C11/165—Auxiliary circuits
- G11C11/1673—Reading or sensing circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/81—Threshold
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Memory System (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Retry When Errors Occur (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Description
前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1制御部と、
前記第1制御部が前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1期間と次にリフレッシュする第2期間との間の第3期間内に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする第2制御部と、を備える、メモリシステムが提供される。
図1は第1の実施形態によるメモリシステム1を備えたプロセッサシステム2の概略構成を示すブロック図である。図1のプロセッサシステム2は、プロセッサ(CPU:Central Processing Unit)3と、メモリシステム1とを備えている。プロセッサ3とメモリシステム1とは、バス4を介してデータ、アドレスおよび各種制御信号の送受を行う。バス4は、データを送受するデータバス、アドレスを送受するアドレスバス、各種制御信号を送受する制御信号バスなどの複数種類のバス4を含んでいる。
第2の実施形態は、MRAM6内のデータに誤りがある場合に、MRAM6のリフレッシュを行うものである。
第3の実施形態は、MRAM6内のデータの誤り頻度に応じて、MRAM6をリフレッシュするリフレッシュ周期を制御するものである。
第4の実施形態は、ECC(Error Checking and Correcting)による誤り訂正が可能なうちにMRAM6内のデータに存在するエラービットおよびラインに対して、MRAM6のリフレッシュを行うものである。
この第4の実施形態において、誤り検出部23と、誤り訂正部25はMRAM6の内部の読み出しおよび書き込み回路部分に実装してもよいしMRAMコントローラ13に実装してもよい。
Claims (13)
- 揮発メモリのメモリ容量以下のメモリ容量を有し、前記揮発メモリに格納されたデータの少なくとも一部が格納される不揮発メモリと、
前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1制御部と、
前記不揮発メモリにデータを書き込む際に、当該データをライトスルーにより前記揮発メモリに書き込む場合には、前記第1制御部が前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1期間と次にリフレッシュする第2期間との間の第3期間内に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする第2制御部と、を備える、メモリシステム。 - 前記第2制御部は、前記第3期間内に、前記不揮発メモリ内の少なくとも一部のメモリ領域に対して、前記揮発メモリから読み出したデータに対応するデータを上書きする、請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記不揮発メモリ内のデータのアドレスと前記揮発メモリ内のデータのアドレスとの関連付け情報を記憶する関連付け情報記憶部を備え、
前記第2制御部は、前記関連付け情報に基づいて、前記揮発メモリから読み出したデータに対応する前記不揮発メモリ内のデータを上書きする、請求項1または2に記載のメモリシステム。 - 前記第2制御部は、前記第1制御部による前記揮発メモリ内のデータのリフレッシュが終了した後、前記第3期間内に前記揮発メモリからデータを読み出して、読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載のメモリシステム。
- 前記第2制御部は、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きするか否かをビットもしくはライン単位で制御する、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のメモリシステム。
- 前記第2制御部は、プロセッサがスリープモードの期間内に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする、請求項1乃至5のいずれか一項に記載のメモリシステム。
- 前記揮発メモリから読み出したデータが前記不揮発メモリ内の対応するデータと異なっているか否かを検出する誤り検出部を備え、
前記第2制御部は、前記誤り検出部にて異なっていることが検出された場合に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする、請求項1乃至6のいずれか一項に記載のメモリシステム。 - 前記第2制御部は、前記誤り検出部の検出結果に基づいて、前記揮発メモリから読み出したデータのビット列のうち、前記不揮発メモリ内の対応するデータと異なるビットを上書きする、請求項7に記載のメモリシステム。
- 前記不揮発メモリ内に格納されたデータの誤り頻度を検出する誤り頻度検出部を備え、 前記第2制御部は、前記誤り頻度に基づいて、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きするリフレッシュ周期を制御する、請求項1乃至8のいずれか一項に記載のメモリシステム。
- 前記不揮発メモリ内のデータに含まれる所定ビット数以内の誤りビットを訂正する誤り訂正部と、
前記不揮発メモリから読み出したデータが前記誤り訂正部にて訂正可能か否かを判定する訂正可否判定部と、
前記不揮発メモリから読み出したデータに誤りがあり、かつ前記訂正可否判定部にて誤り訂正可能と判定された場合に、カウントアップするカウンタと、
前記カウンタのカウント値が所定の閾値を超えたか否かを判定するカウント値判定部と、
前記訂正可否判定部にて訂正可能でないと判定された場合、または前記カウント値判定部にて前記閾値を超えたと判定された場合にトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、を備え、
前記第2制御部は、前記トリガ信号が生成された以降であって、かつ前記第3期間内に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする、請求項9に記載のメモリシステム。 - 前記不揮発メモリは、前記揮発メモリよりもプロセッサによるアクセス優先度が高いキャッシュメモリであり、
前記プロセッサによる書込み要求に応じて前記不揮発メモリにデータを書き込む際には、このデータをライトスルーモードで前記揮発メモリに書き込むキャッシュコントローラを備える、請求項1乃至10のいずれか一項に記載のメモリシステム。 - 前記不揮発メモリは、MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)を備える、請求項1乃至11のいずれか一項に記載のメモリシステム。
- プロセッサと、
前記プロセッサによりアクセスされるメモリシステムと、を備え、
前記メモリシステムは、
揮発メモリのメモリ容量以下のメモリ容量を有し、前記揮発メモリに格納されたデータの少なくとも一部が格納される不揮発メモリと、
前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1制御部と、
前記不揮発メモリにデータを書き込む際に、当該データをライトスルーにより前記揮発メモリに書き込む場合には、前記第1制御部が前記揮発メモリ内のデータをリフレッシュする第1期間と次にリフレッシュする第2期間との間の第3期間内に、前記揮発メモリから読み出したデータを前記不揮発メモリに上書きする第2制御部と、を有する、プロセッサシステム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183313A JP6697360B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | メモリシステムおよびプロセッサシステム |
US15/456,209 US10528270B2 (en) | 2016-09-20 | 2017-03-10 | Memory system having nonvolatile memory and volatile memory and processor system |
TW106107901A TWI655574B (zh) | 2016-09-20 | 2017-03-10 | Memory system and processor system |
CN201710158475.7A CN107845397B (zh) | 2016-09-20 | 2017-03-17 | 存储器系统以及处理器系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183313A JP6697360B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | メモリシステムおよびプロセッサシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018049671A JP2018049671A (ja) | 2018-03-29 |
JP6697360B2 true JP6697360B2 (ja) | 2020-05-20 |
Family
ID=61618050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016183313A Active JP6697360B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | メモリシステムおよびプロセッサシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10528270B2 (ja) |
JP (1) | JP6697360B2 (ja) |
CN (1) | CN107845397B (ja) |
TW (1) | TWI655574B (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6083480B1 (ja) * | 2016-02-18 | 2017-02-22 | 日本電気株式会社 | 監視装置、フォールトトレラントシステムおよび方法 |
CN110729006B (zh) * | 2018-07-16 | 2022-07-05 | 超威半导体(上海)有限公司 | 存储器控制器中的刷新方案 |
US11516042B2 (en) * | 2018-07-19 | 2022-11-29 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | In-vehicle detection system and control method thereof |
US10847198B2 (en) * | 2018-11-01 | 2020-11-24 | Spin Memory, Inc. | Memory system utilizing heterogeneous magnetic tunnel junction types in a single chip |
US10971681B2 (en) | 2018-12-05 | 2021-04-06 | Spin Memory, Inc. | Method for manufacturing a data recording system utilizing heterogeneous magnetic tunnel junction types in a single chip |
JP7219397B2 (ja) * | 2019-01-18 | 2023-02-08 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、記憶制御装置および記憶制御プログラム |
CN111274162A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-06-12 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 储存级存储器的双列直插式存储模块装置及访问数据方法 |
WO2022095786A1 (zh) * | 2020-11-03 | 2022-05-12 | 北京灵汐科技有限公司 | 存储器及神经形态芯片、数据处理方法 |
JP2022094017A (ja) * | 2020-12-14 | 2022-06-24 | トヨタ自動車株式会社 | 車載システム |
US20240152279A1 (en) * | 2022-11-08 | 2024-05-09 | Micron Technology, Inc. | Memory sub-system for memory cell in-field touch-up |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS602861B2 (ja) | 1978-10-03 | 1985-01-24 | リズム時計工業株式会社 | モ−タ鉄心の製造方法 |
JPS5834303A (ja) | 1981-08-25 | 1983-02-28 | Toyoda Autom Loom Works Ltd | 穴ピツチ測定装置 |
US5197026A (en) * | 1989-04-13 | 1993-03-23 | Microchip Technology Incorporated | Transparent EEPROM backup of DRAM memories |
JP2742481B2 (ja) * | 1991-10-14 | 1998-04-22 | シャープ株式会社 | ダイナミック型半導体記憶装置 |
JP4049297B2 (ja) * | 2001-06-11 | 2008-02-20 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
US6704230B1 (en) * | 2003-06-12 | 2004-03-09 | International Business Machines Corporation | Error detection and correction method and apparatus in a magnetoresistive random access memory |
JP4118249B2 (ja) | 2004-04-20 | 2008-07-16 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
JP2009087509A (ja) | 2007-10-03 | 2009-04-23 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP5049733B2 (ja) * | 2007-10-17 | 2012-10-17 | 株式会社東芝 | 情報処理システム |
WO2010076828A1 (en) | 2008-12-30 | 2010-07-08 | Emanuele Confalonieri | Non-volatile memory with extended operating temperature range |
US8924661B1 (en) * | 2009-01-18 | 2014-12-30 | Apple Inc. | Memory system including a controller and processors associated with memory devices |
US20100195393A1 (en) * | 2009-01-30 | 2010-08-05 | Unity Semiconductor Corporation | Data storage system with refresh in place |
US8572455B2 (en) * | 2009-08-24 | 2013-10-29 | International Business Machines Corporation | Systems and methods to respond to error detection |
JP4956640B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2012-06-20 | 株式会社東芝 | 磁気メモリ |
DE112009005413B4 (de) * | 2009-12-02 | 2018-11-29 | Micron Technology, Inc. | Verfahren zur Aktualisierung für nichtflüchtige Speicher und Nichtflüchtiger-Speicher-Vorrichtung |
JP5454408B2 (ja) * | 2010-07-30 | 2014-03-26 | セイコーエプソン株式会社 | センシング装置及び電子機器 |
CN102569642B (zh) * | 2010-12-07 | 2016-08-03 | 三星电子株式会社 | 存储节点、包括该存储节点的磁存储器件及其制造方法 |
JP2013062419A (ja) | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Toshiba Corp | 半導体メモリ及びその製造方法 |
US9336133B2 (en) * | 2012-12-31 | 2016-05-10 | Sandisk Technologies Inc. | Method and system for managing program cycles including maintenance programming operations in a multi-layer memory |
JP2014157391A (ja) | 2013-02-14 | 2014-08-28 | Sony Corp | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システムおよび記憶制御方法 |
TWI489469B (zh) * | 2013-03-26 | 2015-06-21 | Phison Electronics Corp | 資料讀取方法、控制電路、記憶體模組與記憶體儲存裝置 |
TWI470431B (zh) * | 2013-06-14 | 2015-01-21 | Phison Electronics Corp | 資料寫入方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置 |
JP6275427B2 (ja) * | 2013-09-06 | 2018-02-07 | 株式会社東芝 | メモリ制御回路およびキャッシュメモリ |
CN103500131B (zh) * | 2013-09-18 | 2015-09-09 | 华为技术有限公司 | 一种存储系统掉电数据备份方法及存储系统控制器 |
US20150206574A1 (en) * | 2014-01-22 | 2015-07-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Relocating infrequently-accessed dynamic random access memory (dram) data to non-volatile storage |
US9887008B2 (en) * | 2014-03-10 | 2018-02-06 | Futurewei Technologies, Inc. | DDR4-SSD dual-port DIMM device |
KR20150120558A (ko) * | 2014-04-17 | 2015-10-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 휘발성 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈 및 메모리 모듈의 동작 방법 |
DE102014208609A1 (de) * | 2014-05-08 | 2015-11-26 | Robert Bosch Gmbh | Refresh eines Speicherbereichs einer nichtflüchtigen Speichereinheit |
KR102326018B1 (ko) * | 2015-08-24 | 2021-11-12 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 |
-
2016
- 2016-09-20 JP JP2016183313A patent/JP6697360B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-10 TW TW106107901A patent/TWI655574B/zh active
- 2017-03-10 US US15/456,209 patent/US10528270B2/en active Active
- 2017-03-17 CN CN201710158475.7A patent/CN107845397B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201814492A (zh) | 2018-04-16 |
TWI655574B (zh) | 2019-04-01 |
CN107845397B (zh) | 2021-07-27 |
JP2018049671A (ja) | 2018-03-29 |
US20180081570A1 (en) | 2018-03-22 |
CN107845397A (zh) | 2018-03-27 |
US10528270B2 (en) | 2020-01-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6697360B2 (ja) | メモリシステムおよびプロセッサシステム | |
KR102658230B1 (ko) | 반도체 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
CN110120243B (zh) | 半导体存储器装置、操作其的方法以及存储器系统 | |
US20210303395A1 (en) | Semiconductor memory devices and memory systems including the same | |
KR102499061B1 (ko) | 상 변화 메모리 장치를 포함하는 반도체 메모리 장치 및 상 변화 메모리 장치를 액세스하는 방법 | |
KR102434053B1 (ko) | 반도체 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 | |
US11269723B2 (en) | Memory controller and memory system including the same | |
KR101873526B1 (ko) | 에러 정정회로를 구비한 온 칩 데이터 스크러빙 장치 및 방법 | |
KR101046304B1 (ko) | 메모리 장치 및 리프레시 조정 방법 | |
US20140146624A1 (en) | Memory modules and memory systems | |
US11656935B2 (en) | Semiconductor memory devices and memory systems | |
KR20180060084A (ko) | 반도체 메모리 장치의 스크러빙 컨트롤러, 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR20220021097A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR20220094489A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
US9411678B1 (en) | DRAM retention monitoring method for dynamic error correction | |
TW201911049A (zh) | 用於在記憶體裝置中之多種操作模式的共享位址計數器 | |
KR20210088917A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR102076067B1 (ko) | 메모리 모듈 및 메모리 시스템 | |
KR20220039432A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR20220060156A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR20220081644A (ko) | 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 | |
JP6370528B2 (ja) | メモリデバイス群間でのチェックビットメモリデバイスの共有 | |
US11704055B2 (en) | Storage device, controller and method for operating thereof | |
US20180203775A1 (en) | Memory module, memory system including the same and operation method thereof | |
WO2016185574A1 (ja) | メモリ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180904 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190320 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190705 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190903 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191031 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20191205 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200403 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200424 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6697360 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |