JPS5834303A - 穴ピツチ測定装置 - Google Patents
穴ピツチ測定装置Info
- Publication number
- JPS5834303A JPS5834303A JP13383381A JP13383381A JPS5834303A JP S5834303 A JPS5834303 A JP S5834303A JP 13383381 A JP13383381 A JP 13383381A JP 13383381 A JP13383381 A JP 13383381A JP S5834303 A JPS5834303 A JP S5834303A
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- JP
- Japan
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- pin
- hole
- measurement
- measuring
- bushing
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/14—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
- G01B5/143—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures between holes on a workpiece
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、測定物におけるたとえば位置決め用としての
複数個のノック穴あるいは固定用のボルト穴やリベット
穴等の穴ピッチが正確に加工されているか否かを測定す
るための穴ピッチ測定装置に関する。
複数個のノック穴あるいは固定用のボルト穴やリベット
穴等の穴ピッチが正確に加工されているか否かを測定す
るための穴ピッチ測定装置に関する。
従来、穴ピツチ測定方法としては、測定物の穴にそれぞ
れ検査用のアーμを立て、高さゲージあるいは長さゲー
ジを用いて穴ピッチを測定する、実測鎮直読方法あるい
は測定物上に基準寸法に設定された穴を有するゲージを
セットし、一方の穴に基準ピンを立てるとともに他方の
穴にプラグゲージを差し込んで穴ピッチをチェックする
、限Ｗゲージ方式等が知られている。しかしながら、前
者の場合は測定作業が面倒で作業者の熟練度によって測
定精度が左右され、また穴径の加工精度が穴ピッチの測
定精度に悪影響を及ぼすものであり、また後者の場合は
測定作業自体は比較的簡単であるものの、穴ピッチの数
値的管理ができず、かつ作業者の熟練度が測定精度に大
きく′＃響するものであり、いずれも信頼性に乏しいと
いう問題がある。
れ検査用のアーμを立て、高さゲージあるいは長さゲー
ジを用いて穴ピッチを測定する、実測鎮直読方法あるい
は測定物上に基準寸法に設定された穴を有するゲージを
セットし、一方の穴に基準ピンを立てるとともに他方の
穴にプラグゲージを差し込んで穴ピッチをチェックする
、限Ｗゲージ方式等が知られている。しかしながら、前
者の場合は測定作業が面倒で作業者の熟練度によって測
定精度が左右され、また穴径の加工精度が穴ピッチの測
定精度に悪影響を及ぼすものであり、また後者の場合は
測定作業自体は比較的簡単であるものの、穴ピッチの数
値的管理ができず、かつ作業者の熟練度が測定精度に大
きく′＃響するものであり、いずれも信頼性に乏しいと
いう問題がある。
本発明の目的は、上述した従来の問題点に鑑み、穴ピッ
チが規定の寸法公差内にあるか否かを数値的にかつ精度
良く測定することが可能でしかも取扱いの簡１更な穴ピ
ツチ測定装置を提供することにある。
チが規定の寸法公差内にあるか否かを数値的にかつ精度
良く測定することが可能でしかも取扱いの簡１更な穴ピ
ツチ測定装置を提供することにある。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体的に説明す
る。図において１は測定装置における横長の平板状に形
成された基板であり、咳基板１の一側に下端部が貫入さ
れかつボルト２にて固定されたブツシュ３には、下端に
テーバピン部４＆を有しかつ上端には撮み部４ｂを有し
た基準ピン４が上下動可能にに通されている。基準ピン
４の背面上部には基板１上に立設したガイド板６に形成
されたフック状のガイド孔Ｚ内に嵌入する保合ピン５が
横向きに突設されておシ、該係合ピン５をガイド孔７の
フック部７ａＫｇＡ止させることで基準ピン４を基板１
の下面から引込んだ引上げ位置に保持することができる
。
る。図において１は測定装置における横長の平板状に形
成された基板であり、咳基板１の一側に下端部が貫入さ
れかつボルト２にて固定されたブツシュ３には、下端に
テーバピン部４＆を有しかつ上端には撮み部４ｂを有し
た基準ピン４が上下動可能にに通されている。基準ピン
４の背面上部には基板１上に立設したガイド板６に形成
されたフック状のガイド孔Ｚ内に嵌入する保合ピン５が
横向きに突設されておシ、該係合ピン５をガイド孔７の
フック部７ａＫｇＡ止させることで基準ピン４を基板１
の下面から引込んだ引上げ位置に保持することができる
。
一方、基板１の他側において、前記ブツシュ３から一定
の間隔を置いた位置、すなわち測定すべき穴ピッチの規
定の基準寸法２位ｊ々には基板１の厚みとほぼ等しい高
さをもつ基準寸法設定用のマスターブツシュ８が圧入さ
れ、また基板１の上面にはマスターブツシュ８の孔と同
心（必ずしも同心である必要はない。）でかつ大径の１
従孔９を有するスライドガイドベース１０がボルト１２
にて固着されている。スフイドガイドベース１０は前記
基準ビン用のブツシュ３とマスターブツシュ８の中心相
互を結ぶ直線と平行な方向のガイド溝１１を有し、この
ガイドｍ１１にはスライダ１３がライナ１４を介して水
平に［ｄ助可能に嵌合されている。スライダ１′５には
マスターブツシュ８の孔ト同−内径の孔をもつ可動ブツ
シュ１５が該マスターブツシュ８と同心的に１入固定さ
れ、ｒｔｌＪ動ブッＶユ１５には下端にテーバピン部１
６ＪＬを有しかつ上端部には撮み部１６ｂを有した測定
用作動ピン１６が上下動可能に縦通されている。なお、
可動ブツシュ１５の下部は前記スフイドガイドベース１
０の縦孔９に透液されている。すなわち、測定用作動ビ
ン１６はスライダ１５およびｉ−＋Ｊ動プッＶ１１５を
介してブツシュ３．８の中心、つまヤ基準ピン４と測定
用ｆＭＩピン１６との中心を結ぶ直線に沿った横方向へ
の水平移動が許容されている。なお、スライドガイドベ
ース１０の上端には前記可動ブツシュ１５の水平移動を
許容する楕円形の縦孔１７を有した被板１８がライナ１
９を介してボルト２０にて固定され、スライダ１！ｉの
浮き上りを抑えている。また、測定用作動ピン１６の背
面上部には前述の基準ピン４の場合と同様、係合ピン２
１が突設されており、該保合ビン２１を基板１に立設さ
れたガイド板２２におけるガイド孔２５のフック部２！
ｌａに係止させることで測定用作動ピン１６を基板１の
下面から引込んだ引上げ位置に保持できるようになって
いる。ただし、このガイド孔２５の孔幅は測定用作動ピ
ン１６の水平移動に伴う保合ピン２１の動きを許容すべ
くピン条よりも広幅に作られている。
の間隔を置いた位置、すなわち測定すべき穴ピッチの規
定の基準寸法２位ｊ々には基板１の厚みとほぼ等しい高
さをもつ基準寸法設定用のマスターブツシュ８が圧入さ
れ、また基板１の上面にはマスターブツシュ８の孔と同
心（必ずしも同心である必要はない。）でかつ大径の１
従孔９を有するスライドガイドベース１０がボルト１２
にて固着されている。スフイドガイドベース１０は前記
基準ビン用のブツシュ３とマスターブツシュ８の中心相
互を結ぶ直線と平行な方向のガイド溝１１を有し、この
ガイドｍ１１にはスライダ１３がライナ１４を介して水
平に［ｄ助可能に嵌合されている。スライダ１′５には
マスターブツシュ８の孔ト同−内径の孔をもつ可動ブツ
シュ１５が該マスターブツシュ８と同心的に１入固定さ
れ、ｒｔｌＪ動ブッＶユ１５には下端にテーバピン部１
６ＪＬを有しかつ上端部には撮み部１６ｂを有した測定
用作動ピン１６が上下動可能に縦通されている。なお、
可動ブツシュ１５の下部は前記スフイドガイドベース１
０の縦孔９に透液されている。すなわち、測定用作動ビ
ン１６はスライダ１５およびｉ−＋Ｊ動プッＶ１１５を
介してブツシュ３．８の中心、つまヤ基準ピン４と測定
用ｆＭＩピン１６との中心を結ぶ直線に沿った横方向へ
の水平移動が許容されている。なお、スライドガイドベ
ース１０の上端には前記可動ブツシュ１５の水平移動を
許容する楕円形の縦孔１７を有した被板１８がライナ１
９を介してボルト２０にて固定され、スライダ１！ｉの
浮き上りを抑えている。また、測定用作動ピン１６の背
面上部には前述の基準ピン４の場合と同様、係合ピン２
１が突設されており、該保合ビン２１を基板１に立設さ
れたガイド板２２におけるガイド孔２５のフック部２！
ｌａに係止させることで測定用作動ピン１６を基板１の
下面から引込んだ引上げ位置に保持できるようになって
いる。ただし、このガイド孔２５の孔幅は測定用作動ピ
ン１６の水平移動に伴う保合ピン２１の動きを許容すべ
くピン条よりも広幅に作られている。
ｎ１１１定用作妨ピン１６の水平移動量すなわち穴ピッ
チの偏位緻を測定するためのダイヤルゲージ２４は、測
定子２５の軸線が前記両ピン４，１６の中心相互を結ぶ
直線と整合するようにゲージ固定板２６を介して前記被
板１８に取付けられている。ゲージ固定板２６および被
板１８にに設された孔内には測定ロッド２７がダイヤル
ゲージ２４の測定子２５と同心的に挿入されており、該
測定ロッド２７は被板１８側においてブツシュ２８を介
して摺動可能に支持されるとともに、基端が測定子２５
の先端と当接され先端が前記作動ビン１６用の可動ブツ
シュ１５の外周面に当接されている。また、ゲージ固定
板２６の孔内には測定ロッド２７のフランジ２７＆を介
して該測定ロッド２７を可動ブツシュ１５側に向けて付
勢するスプリング２９が収容されている。なお、５０は
測定ロッド２７の回ヤ止め用の止めビン、５１は基板１
上に立設された左右一対の把手である。
チの偏位緻を測定するためのダイヤルゲージ２４は、測
定子２５の軸線が前記両ピン４，１６の中心相互を結ぶ
直線と整合するようにゲージ固定板２６を介して前記被
板１８に取付けられている。ゲージ固定板２６および被
板１８にに設された孔内には測定ロッド２７がダイヤル
ゲージ２４の測定子２５と同心的に挿入されており、該
測定ロッド２７は被板１８側においてブツシュ２８を介
して摺動可能に支持されるとともに、基端が測定子２５
の先端と当接され先端が前記作動ビン１６用の可動ブツ
シュ１５の外周面に当接されている。また、ゲージ固定
板２６の孔内には測定ロッド２７のフランジ２７＆を介
して該測定ロッド２７を可動ブツシュ１５側に向けて付
勢するスプリング２９が収容されている。なお、５０は
測定ロッド２７の回ヤ止め用の止めビン、５１は基板１
上に立設された左右一対の把手である。
本実施例は上述のように構成したものであり。
以下その作用を説明する。測定物Ｗにおける穴ａ。
ｂのピッチ測定に１祭しては、まず、＆＄ピン４につい
てはこれを引き上げるとともに、ガイド孔７のフック部
７ａに保合ビン５を係止させて引上げ位置に保時し、−
力測定用作動ピン１６については必要に応じてダイヤル
ゲージ２４の零合せ、すなわち第４図に示すように測定
用作動ピン１６を可・助ブツシュ１５との嵌合部がマス
ターブツシュ８に及ぶように深く差し込むことによって
両プツシ、１５．８の心合せを行った状態で、ダイヤル
ゲージ２４の凋整撮み２４ａを操作して零合せを行い、
かくして両ピン４，１６の間隔を規定の基準寸法Ｐに設
定したのち、基準ピン４と同様に引き上げてガイド孔２
５のフック部２′５ａに保合ピン２１を係止することに
より測定用作動ピン１６を引上げ位置に保持する。
てはこれを引き上げるとともに、ガイド孔７のフック部
７ａに保合ビン５を係止させて引上げ位置に保時し、−
力測定用作動ピン１６については必要に応じてダイヤル
ゲージ２４の零合せ、すなわち第４図に示すように測定
用作動ピン１６を可・助ブツシュ１５との嵌合部がマス
ターブツシュ８に及ぶように深く差し込むことによって
両プツシ、１５．８の心合せを行った状態で、ダイヤル
ゲージ２４の凋整撮み２４ａを操作して零合せを行い、
かくして両ピン４，１６の間隔を規定の基準寸法Ｐに設
定したのち、基準ピン４と同様に引き上げてガイド孔２
５のフック部２′５ａに保合ピン２１を係止することに
より測定用作動ピン１６を引上げ位置に保持する。
斯る状態で測定物Ｗ上に本装置を載置してから、保合ピ
ン５をフック部７ａから外して基準ピン４を下降させ下
端のテーパピン部４ａを測定すべき一方の穴ａ内に差し
込む（このとき、穴とのガタッキがテーパによって吸収
される）とともに、同様の要領で測定用作動ピン１６を
下降させ下端のテーパビン部１６ａをマスターブツシュ
８ｔ−Ｍして他方の穴す内に差し込む（同様に穴とのガ
タッキがテーパによって吸収される）と、穴ピッチに偏
位が存在する場合は、該偏位量に応じてスライダ１３、
可動ブツシュ１５および測定用作動ピン１６の３部材が
左右いずれかの側へ慴動するため、その動きは測定ロッ
ド２７および測定子２５を介してダイヤルゲージ２４に
表示される。従って、作業者はダイヤルゲージ２４の指
針によって穴ピッチが規定の基準寸法Ｐの公差内にある
か否かを数値的に判断することができるものであり、こ
の場合ゲージ本体である基板１の上面に測定寸法公差を
表示しておけば、測定する上で便利であり、また必要な
らば測定箇所（適用製品名）やダイヤルゲージ２４の許
容範囲を表示することが望ましい。
ン５をフック部７ａから外して基準ピン４を下降させ下
端のテーパピン部４ａを測定すべき一方の穴ａ内に差し
込む（このとき、穴とのガタッキがテーパによって吸収
される）とともに、同様の要領で測定用作動ピン１６を
下降させ下端のテーパビン部１６ａをマスターブツシュ
８ｔ−Ｍして他方の穴す内に差し込む（同様に穴とのガ
タッキがテーパによって吸収される）と、穴ピッチに偏
位が存在する場合は、該偏位量に応じてスライダ１３、
可動ブツシュ１５および測定用作動ピン１６の３部材が
左右いずれかの側へ慴動するため、その動きは測定ロッ
ド２７および測定子２５を介してダイヤルゲージ２４に
表示される。従って、作業者はダイヤルゲージ２４の指
針によって穴ピッチが規定の基準寸法Ｐの公差内にある
か否かを数値的に判断することができるものであり、こ
の場合ゲージ本体である基板１の上面に測定寸法公差を
表示しておけば、測定する上で便利であり、また必要な
らば測定箇所（適用製品名）やダイヤルゲージ２４の許
容範囲を表示することが望ましい。
なお、保合ピン５．２１を基準ピン４、測定用作動ピン
１６から抜脱したシ、あるいはガイド板６゜２２を基板
１から取外したりすれば、基準ピン４および測定用作動
ピン１６はそれぞれプッＶ、３゜１５から抜き取ること
ができるので、必要に応じてテーバピン部４ ＆、１６
＆のピン径の異なるものと交換することで穴径または
穴径公差の異なる測定物への適用が可能である。
１６から抜脱したシ、あるいはガイド板６゜２２を基板
１から取外したりすれば、基準ピン４および測定用作動
ピン１６はそれぞれプッＶ、３゜１５から抜き取ること
ができるので、必要に応じてテーバピン部４ ＆、１６
＆のピン径の異なるものと交換することで穴径または
穴径公差の異なる測定物への適用が可能である。
つぎに、本発明の他の実施例を第５図および第６図に基
づいて説明する。この実施例は測定すべき穴径公差や穴
ピッチの異なる数種の測定に利用できるように改良した
ものである。すなわち、基板１における基準ピン４の中
心を通る同一直線上にたとえば４個のマスターブツシュ
８を所定ピッチＰ １．Ｐ ２．Ｐ ５．Ｐ ４を置い
て設置する一方、該基板１上面にＲｔＶｉ Ｍと平行な
溝１ａを形成するとともに、前述の実施例と同様、ヌフ
イドガイドペー７１０にスライダ１′５、可動ブツシュ
１５、測定用作動ピン１６およびダイヤルゲージ２４等
を組付けたもの（以下、ダイヤルゲージ付きのスライダ
機構内蔵ユニットという）自体を前記溝１ａに嵌合し、
そしてこのスライド機構内蔵ユニット５２を、所要のマ
スタープ、ツＶユ８上にたとえばロックビンやノックピ
ン等を用いて位置決めセットできるようにしである。従
って、測定に１祭しては、測定しようとする穴ピツチ寸
法に対応するマスク−ブツシュ８上゛にセットするとと
もに、必要に応じてテーパビン部４ ａ、１６ ａのピ
ン径の異なるビンと交換し、かつダイヤルゲージ２４の
零合せを行えば、その磯は前述の実施例と同様の要領で
穴ピッチの測定を行うことができる。従って、この実施
例によるときは１つの測定装置をもって穴径公差ならび
に穴ピッチの異なる数種の測定に適用できるため、測定
装置の点数が減少でき、製作費の削減、装置の保守管理
、保管の面で有利である。
づいて説明する。この実施例は測定すべき穴径公差や穴
ピッチの異なる数種の測定に利用できるように改良した
ものである。すなわち、基板１における基準ピン４の中
心を通る同一直線上にたとえば４個のマスターブツシュ
８を所定ピッチＰ １．Ｐ ２．Ｐ ５．Ｐ ４を置い
て設置する一方、該基板１上面にＲｔＶｉ Ｍと平行な
溝１ａを形成するとともに、前述の実施例と同様、ヌフ
イドガイドペー７１０にスライダ１′５、可動ブツシュ
１５、測定用作動ピン１６およびダイヤルゲージ２４等
を組付けたもの（以下、ダイヤルゲージ付きのスライダ
機構内蔵ユニットという）自体を前記溝１ａに嵌合し、
そしてこのスライド機構内蔵ユニット５２を、所要のマ
スタープ、ツＶユ８上にたとえばロックビンやノックピ
ン等を用いて位置決めセットできるようにしである。従
って、測定に１祭しては、測定しようとする穴ピツチ寸
法に対応するマスク−ブツシュ８上゛にセットするとと
もに、必要に応じてテーパビン部４ ａ、１６ ａのピ
ン径の異なるビンと交換し、かつダイヤルゲージ２４の
零合せを行えば、その磯は前述の実施例と同様の要領で
穴ピッチの測定を行うことができる。従って、この実施
例によるときは１つの測定装置をもって穴径公差ならび
に穴ピッチの異なる数種の測定に適用できるため、測定
装置の点数が減少でき、製作費の削減、装置の保守管理
、保管の面で有利である。
なお、スライド機構内破ユニット！＋２側に代えて基準
ピン４側を変位させる構成とすることも可能である。
ピン４側を変位させる構成とすることも可能である。
以上詳述したように、本発明の穴ピツチ測定装置は装置
自体に基準寸法設定のだめのマスター機能をもたせてあ
り、しかも基準寸法の設定後における実際の測定は基準
ピンと測定用作動ピンとを測定物の穴にそれぞれ差し込
むことによって穴ピッチが規定の寸法公差内にあるか否
かを数値的に判読できるため、特別にマスターを用ばす
る必要がなく、測定に際しての８仮いが曜めて簡便であ
るとともに、熟練度に関係なく測定誤差の少ない高精度
の測定が可能となシ、穴ピツチ測定装置としては信頼性
の高いものである。
自体に基準寸法設定のだめのマスター機能をもたせてあ
り、しかも基準寸法の設定後における実際の測定は基準
ピンと測定用作動ピンとを測定物の穴にそれぞれ差し込
むことによって穴ピッチが規定の寸法公差内にあるか否
かを数値的に判読できるため、特別にマスターを用ばす
る必要がなく、測定に際しての８仮いが曜めて簡便であ
るとともに、熟練度に関係なく測定誤差の少ない高精度
の測定が可能となシ、穴ピツチ測定装置としては信頼性
の高いものである。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は穴ピッチ測定装
置Ｉｇ全体の平面図、第２図は同じく一部切断正面図、
第５図は本発明の要部を示す正断面図、第４図は基準寸
法設定時を示す正断面図、第５図は本発明の他の実施例
を示す平面図、第６図は同じく一部切断正面図である。
置Ｉｇ全体の平面図、第２図は同じく一部切断正面図、
第５図は本発明の要部を示す正断面図、第４図は基準寸
法設定時を示す正断面図、第５図は本発明の他の実施例
を示す平面図、第６図は同じく一部切断正面図である。
Claims (1)
- 基板の一側には測定すべき一方の穴に挿入可能のテーバ
ピン部を有する基準ピンをブツシュを介して上下動可能
に取付け、基板の他側には基準寸法役宇用のマスタープ
ッＶ！を取付け、このマスターブツシュの上方には測定
すべき他方の穴にマスターブツシュを通して挿入可能の
テーバピン部を有する測定用作動ピンを可動ブツシュを
介して上下動可能に配設するとともに、この可動ブツシ
ュを基板上にスライダを介して前記基準ピン用のグツＶ
８中心とマスターブツシュの中心とを結ぶ直線と平行な
水平方向に移動可能となし、さらに基板には前記測定用
作動ピンの水平方向の偏位量をＩｔｌｌｌ定するダイヤ
ルゲ、−ジを設置せしめたことを特徴とする穴ピツチ測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13383381A JPS5834303A (ja) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | 穴ピツチ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13383381A JPS5834303A (ja) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | 穴ピツチ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5834303A true JPS5834303A (ja) | 1983-02-28 |
Family
ID=15114100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13383381A Pending JPS5834303A (ja) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | 穴ピツチ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5834303A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2972953A1 (fr) * | 2011-03-24 | 2012-09-28 | Peugeot Citroen Automobiles Sa | Gabarit de controle de la position d'une zone fonctionnelle sur une piece, notamment une piece en tole pour vehicule automobile |
| CN105466312A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-04-06 | 重庆长安工业(集团)有限责任公司 | 高精度组合量规孔距位移调整法 |
| CN105953702A (zh) * | 2016-06-03 | 2016-09-21 | 马鞍山方圆动力科技有限公司 | 一种孔距检具 |
| CN109612361A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-04-12 | 芜湖卓越空调零部件有限公司 | 空调消音器检测装置 |
| US10528270B2 (en) | 2016-09-20 | 2020-01-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system having nonvolatile memory and volatile memory and processor system |
| CN111121596A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-05-08 | 大连德迈仕精密科技股份有限公司 | 轴类螺纹孔距测量胎具 |
-
1981
- 1981-08-25 JP JP13383381A patent/JPS5834303A/ja active Pending
Cited By (6)
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|---|---|---|---|---|
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