JP6629455B2 - 外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 - Google Patents
外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6629455B2 JP6629455B2 JP2018534759A JP2018534759A JP6629455B2 JP 6629455 B2 JP6629455 B2 JP 6629455B2 JP 2018534759 A JP2018534759 A JP 2018534759A JP 2018534759 A JP2018534759 A JP 2018534759A JP 6629455 B2 JP6629455 B2 JP 6629455B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- cylindrical body
- color space
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F21V7/00—Reflectors for light sources
- F21V7/04—Optical design
- F21V7/043—Optical design with cylindrical surface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21Y—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
- F21Y2107/00—Light sources with three-dimensionally disposed light-generating elements
- F21Y2107/10—Light sources with three-dimensionally disposed light-generating elements on concave supports or substrates, e.g. on the inner side of bowl-shaped supports
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
- G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8845—Multiple wavelengths of illumination or detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
Description
好ましくは、前記第2の光源は、前記第1の光源の発する光の波長よりも短い波長の光を発する。
好ましくは、前記第1の光源及び前記第2の光源は、それぞれ複数の光源体により構成される。
さらに好ましくは、前記第1の光源及び前記第2の光源は、前記複数の光源の範囲が発光する際に、径方向に正対する光源範囲が存在しない分割数で分割される。
また、好ましくは、前記第1の光源は、光軸が前記第1の円筒体の径方向に向くよう設置され、前記第2の光源は、光軸が前記対象物に向くよう設置されている。
また、上記した目的を達成するために、本発明に係る照明装置は、対象物を照明する照明装置であって、鏡筒内反射可能な内面を有し、中心軸線上に前記対象物が位置するよう配置され、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出し内面が黒色である円環状のリブを有している第1の円筒体と、前記第1の円筒体の内面に環状に配置される第1の光を発する第1の光源と、前記第1の円筒体よりも前記対象物側に配置され、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出した円環状のリブを有している前記第1の円筒体と同心の円筒形状をなす第2の円筒体と、前記第2の円筒体の内面に環状に配置され第2の光を発する第2の光源と、を備え、前記第1の光源を発光させることで、前記第1の光を前記第1の円筒体により鏡筒内反射させて前記対象物に照射するとともに、前記第2の光源を発光させることで、前記第2の光の直接光及び前記第2の円筒体にて反射した反射光を前記対象物に照射する。
好ましくは、前記第1の光源及び前記第2の光源は、各複数の光源により構成され、前記複数の光源が複数の範囲に分割され、前記分割された複数の光源の範囲を円周方向に順次発光する。
2撮影照明装置
3制御部
4 ベルトコンベア(運搬部)
10 演算部
11 記憶部
12 入力部
13 出力部
21 撮影制御部(画像入力部)
22 前処理部
23 色空間処理部
24 不良箇所指定部
25 学習部
26 判定部
30 チャンバボックス
31(31a、31b) カバー
32 天板
33 中間プレート
34 カメラ(撮影部)
35 第1の円筒体
36 第2の円筒体
37 第1の光源
38 第2の光源
39 製品検知センサ
40 反射板
T 製品
O 中心軸
L1 白色光(第1の光)
L2 青色光(第2の光)
Claims (18)
- 対象物を照明する照明装置であって、
鏡筒内反射可能な内面を有し、中心軸線上に前記対象物が位置するよう配置され、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出し内面が黒色である円環状のリブを有している第1の円筒体と、
前記第1の円筒体の内面に環状に配置され、第1の光を発する第1の光源と、
前記第1の円筒体よりも前記対象物側に配置され、前記第1の円筒体と同心の円筒形状をなす第2の円筒体と、
前記第2の円筒体の内面に環状に配置され、第2の光を発する第2の光源と、を備え、
前記第1の光源を発光させることで、前記第1の光を前記第1の円筒体により鏡筒内反射させてコヒーレント性を有する面光として前記対象物に照射するとともに、前記第2の光源を発光させることで、前記第2の光の直接光及び前記第2の円筒体にて反射した反射光を前記対象物に照射する照明装置。 - 前記第2の光源は、前記第1の光源の発する光の波長よりも短い波長の光を発する請求項1記載の照明装置。
- 前記第1の光源は白色光である前記第1の光を発し、前記第2の光源は青色光である前記第2の光を発する請求項1又は2記載の照明装置。
- 前記第1の光源及び前記第2の光源は、それぞれ複数の光源体により構成される請求項1から3のいずれか一項に記載の照明装置。
- 前記第1の光源及び前記第2の光源は、それぞれ円周方向において分割された複数の範囲に区分されており、各範囲内の前記複数の範囲のそれぞれにおいて同時に前記複数の光源体が円周方向に順次発光する請求項4記載の照明装置。
- 前記第1の光源及び前記第2の光源は、前記複数の範囲が発光する際に、径方向に正対する光源範囲が存在しない分割数で分割される請求項5記載の照明装置。
- 前記第2の円筒体は、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出した円環状のリブを有している請求項1から6のいずれか一項に記載の照明装置。
- 前記第1の光源は、光軸が前記第1の円筒体の径方向に向くよう設置され、
前記第2の光源は、光軸が前記対象物に向くよう設置されている請求項1から7のいずれか一項に記載の照明装置。 - 請求項1から8のいずれか一項に記載の照明装置と、
前記第1の円筒体及び前記第2の円筒体の中心軸線上に配置され、前記照明装置により照明された前記対象物を撮影する撮影部と、
を備える撮影照明装置。 - 請求項9に記載の撮影照明装置と、
前記撮影部により撮影された画像に対してカラープロファイル変換による色空間処理を行い前記対象物の検査処理を行う制御部と、を備える外観検査装置。 - 前記制御部は、前記色空間処理を行った画像の光干渉を生じる波長域に該当する色域により、前記対象物の検査処理を行う請求項10記載の外観検査装置。
- 検査対象である前記対象物を前記撮影部により撮影可能に前記撮影照明装置又は前記対象物を相対的に移動させる運搬部を備える請求項11記載の外観検査装置。
- 請求項9に記載の撮影照明装置と、
前記撮影照明装置で撮影された前記対象物の含まれた画像が入力される画像入力部と、
前記画像入力部に入力された画像に対し、前記対象物上の所定の特徴が強調される色空間処理を行うことで色空間処理画像を生成する色空間処理部と、
前記色空間処理画像に基づき前記対象物の良否判定を行う判定部と、を備える外観検査装置。 - 前記色空間処理部は、前記色空間処理により色空間の波長が異なる複数の前記色空間処理画像を生成する請求項13記載の外観検査装置。
- 前記判定部は、前記色空間処理画像に基づき前記対象物の良否判定を機械学習した学習済みモデルにより、前記対象物の良否判定を行う請求項13又は14記載の外観検査装置。
- 前記色空間処理部による前記色空間処理前に、前記画像入力部に入力された画像に対して、前記対象物の位置決め及び背景除去を行う前処理部を有する請求項13から15のいずれか一項に記載の外観検査装置。
- 対象物を照明する照明装置であって、
鏡筒内反射可能な内面を有し、中心軸線上に前記対象物が位置するよう配置され、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出し内面が黒色である円環状のリブを有している第1の円筒体と、
前記第1の円筒体の内面に環状に配置され、第1の光を発する第1の光源と、
前記第1の円筒体よりも前記対象物側に配置され、前記対象物から遠い側の縁に中心軸側に突出した円環状のリブを有している前記第1の円筒体と同心の円筒形状をなす第2の円筒体と、
前記第2の円筒体の内面に環状に配置され、第2の光を発する第2の光源と、を備え、
前記第1の光源を発光させることで、前記第1の光を前記第1の円筒体により鏡筒内反射させて前記対象物に照射するとともに、前記第2の光源を発光させることで、前記第2の光の直接光及び前記第2の円筒体にて反射した反射光を前記対象物に照射する照明装置。 - 前記第1の光源及び前記第2の光源は、それぞれ複数の光源体により構成されており、且つ、それぞれ円周方向において分割された複数の範囲に区分されており、各範囲内の複数の光源体が円周方向に順次発光する請求項17記載の照明装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019219963A JP6945245B2 (ja) | 2017-02-20 | 2019-12-04 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017028787 | 2017-02-20 | ||
| JP2017028787 | 2017-02-20 | ||
| PCT/JP2017/027908 WO2018150607A1 (ja) | 2017-02-20 | 2017-08-01 | 外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019219963A Division JP6945245B2 (ja) | 2017-02-20 | 2019-12-04 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2018150607A1 JPWO2018150607A1 (ja) | 2019-02-21 |
| JP6629455B2 true JP6629455B2 (ja) | 2020-01-15 |
Family
ID=63169369
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018534759A Active JP6629455B2 (ja) | 2017-02-20 | 2017-08-01 | 外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 |
| JP2019219963A Active JP6945245B2 (ja) | 2017-02-20 | 2019-12-04 | 外観検査装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019219963A Active JP6945245B2 (ja) | 2017-02-20 | 2019-12-04 | 外観検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10890537B2 (ja) |
| JP (2) | JP6629455B2 (ja) |
| WO (1) | WO2018150607A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6936650B2 (ja) * | 2017-07-27 | 2021-09-22 | 三菱パワー株式会社 | モデル学習装置、学習済みモデルの生成方法、プログラム、学習済みモデル、監視装置、および監視方法 |
| RU2685744C1 (ru) * | 2018-04-23 | 2019-04-23 | Родион Николаевич Юрьев | Способ расшифровки дефектограмм и оцифрованных сигналов исследования твёрдых тел |
| JP7054450B2 (ja) * | 2018-09-10 | 2022-04-14 | 日本電気硝子株式会社 | ワーク検査方法 |
| CN112789499A (zh) * | 2018-10-01 | 2021-05-11 | 世高株式会社 | 教师数据生成装置和教师数据生成程序 |
| JP7119949B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-08-17 | セイコーエプソン株式会社 | 判定装置及び判定方法 |
| JP7273358B2 (ja) * | 2019-01-22 | 2023-05-15 | ブラザー工業株式会社 | 画像処理装置、学習済みモデル、コンピュータプログラム、および、属性情報の出力方法 |
| JP6742037B1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-08-19 | 株式会社 システムスクエア | 学習モデルの生成方法、学習モデル、検査装置、異常検出方法、及びコンピュータプログラム |
| JP6749655B1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-02 | 株式会社 システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
| KR102252592B1 (ko) * | 2019-08-16 | 2021-05-17 | 라온피플 주식회사 | 기판 불량 검사 장치 및 방법 |
| JP7458158B2 (ja) * | 2019-09-06 | 2024-03-29 | 清水建設株式会社 | 外観検査システム、及び外観検査方法 |
| KR102775308B1 (ko) * | 2020-04-13 | 2025-03-05 | 삼성전자주식회사 | 광원 정보를 출력하는 방법 및 장치 |
| TWI729836B (zh) * | 2020-06-04 | 2021-06-01 | 和碩聯合科技股份有限公司 | 發光元件檢測裝置 |
| JP7509033B2 (ja) * | 2020-12-25 | 2024-07-02 | 新東工業株式会社 | 検査装置、検査方法、機械学習装置、及び機械学習方法 |
| JP7043645B1 (ja) | 2021-03-03 | 2022-03-29 | Dmg森精機株式会社 | 基板検査方法 |
| KR102360140B1 (ko) * | 2021-06-17 | 2022-02-08 | 박성수 | 부품검사용 비전 검사 장치 |
| JP7672104B2 (ja) * | 2021-07-21 | 2025-05-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 学習装置、学習方法、および非破壊検査システム |
| JP7227522B1 (ja) * | 2021-09-14 | 2023-02-22 | ダイキン工業株式会社 | ひび割れ検査システム |
| KR20230067759A (ko) * | 2021-11-08 | 2023-05-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 광학 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법 |
| JP2023117036A (ja) * | 2022-02-10 | 2023-08-23 | レーザーテック株式会社 | 画像処理装置、欠陥検出システム、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
| JP7544364B2 (ja) * | 2022-09-21 | 2024-09-03 | 株式会社御池鐵工所 | 再生材製造設備及び再生材製造方法 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05332753A (ja) * | 1992-06-01 | 1993-12-14 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | 半導体ウェハ上のパターン異常検出方法およびその装置 |
| JP3216876B2 (ja) | 1997-11-07 | 2001-10-09 | 株式会社之技術綜合 | シート包装検査装置 |
| CN1260876A (zh) | 1997-06-17 | 2000-07-19 | 株式会社之技术综合 | 片材包装检查装置 |
| JP3883663B2 (ja) | 1997-09-02 | 2007-02-21 | 大日本印刷株式会社 | 金属試料表面の外観検査方法および外観検査装置 |
| JP4558112B2 (ja) * | 1998-10-13 | 2010-10-06 | 山形カシオ株式会社 | 部品搭載装置用の照明装置とその照明装置を備える部品搭載装置 |
| JP2000258353A (ja) | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Kobe Steel Ltd | 欠陥検査方法及びその装置 |
| JP2001141657A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-25 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | マクロ検査用照明装置、マクロ検査装置及び該方法 |
| JP3496644B2 (ja) | 2001-01-12 | 2004-02-16 | シーシーエス株式会社 | 検査用照明装置 |
| JP2003247953A (ja) | 2002-02-25 | 2003-09-05 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル外観検査方法及び検査装置 |
| JP2004191112A (ja) | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検査方法 |
| JP4493048B2 (ja) * | 2007-08-03 | 2010-06-30 | 第一実業ビスウィル株式会社 | 検査装置 |
| JP3140462U (ja) | 2008-01-11 | 2008-03-27 | 名古屋電機工業株式会社 | 基板検査装置 |
| CN201765193U (zh) | 2008-11-26 | 2011-03-16 | 康代有限公司 | 用于检查物体的系统 |
| JP5168215B2 (ja) * | 2009-04-10 | 2013-03-21 | 株式会社デンソー | 外観検査装置 |
| JP2011191252A (ja) | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Nippon Steel Engineering Co Ltd | 金属の表面品質評価方法および金属の表面品質評価装置 |
| JP5546317B2 (ja) | 2010-03-31 | 2014-07-09 | 株式会社デンソーアイティーラボラトリ | 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム |
| JP5664167B2 (ja) * | 2010-11-22 | 2015-02-04 | セイコーエプソン株式会社 | 検査装置 |
| JP5510398B2 (ja) | 2011-06-17 | 2014-06-04 | 株式会社デンソー | 溶接部検査装置 |
-
2017
- 2017-08-01 JP JP2018534759A patent/JP6629455B2/ja active Active
- 2017-08-01 US US16/487,271 patent/US10890537B2/en active Active
- 2017-08-01 WO PCT/JP2017/027908 patent/WO2018150607A1/ja not_active Ceased
-
2019
- 2019-12-04 JP JP2019219963A patent/JP6945245B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US10890537B2 (en) | 2021-01-12 |
| JP6945245B2 (ja) | 2021-10-06 |
| JPWO2018150607A1 (ja) | 2019-02-21 |
| US20200018707A1 (en) | 2020-01-16 |
| JP2020042044A (ja) | 2020-03-19 |
| WO2018150607A1 (ja) | 2018-08-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6629455B2 (ja) | 外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 | |
| KR102178903B1 (ko) | 외관 검사 장치, 및 외관 검사 장치의 조명 조건 설정 방법 | |
| KR101338576B1 (ko) | 화상 해석에 의해서 결함 검사를 실시하는 결함검사장치 | |
| TWI590725B (zh) | 印刷電路板外觀的檢查裝置及檢查方法 | |
| CN108445007A (zh) | 一种基于图像融合的检测方法及其检测装置 | |
| US20190244336A1 (en) | Defect inspection apparatus and defect inspection method | |
| KR101203210B1 (ko) | 결함 검사장치 | |
| US6864971B2 (en) | System and method for performing optical inspection utilizing diffracted light | |
| JP2017198612A (ja) | 検査装置、検査システム、および物品製造方法 | |
| JP2008249568A (ja) | 外観検査装置 | |
| TWI495867B (zh) | Application of repeated exposure to multiple exposure image blending detection method | |
| JP2018025439A (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
| CN113252706B (zh) | 图像检查装置、存储介质以及照明设定装置 | |
| JP5608925B2 (ja) | ガラスびんの印刷検査装置 | |
| JP6859628B2 (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
| JP6647903B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 | |
| JP7136064B2 (ja) | 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法 | |
| JP2012237585A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP5959430B2 (ja) | ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法 | |
| JP2018132355A (ja) | スクリーン版の検査方法 | |
| JP2020193867A (ja) | 画像処理装置、制御方法、制御プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | |
| KR101876391B1 (ko) | 단색광 모아레의 다채널 이미지를 이용한 3차원 검사 장치 | |
| JP4967132B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
| JP2020016497A (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
| KR102171773B1 (ko) | 검사 영역 결정 방법 및 이를 이용하는 외관 검사 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180629 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180629 |
|
| AA64 | Notification of invalidation of claim of internal priority (with term) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A241764 Effective date: 20180911 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181005 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190730 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190927 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191105 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191204 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6629455 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |