JP6859628B2 - 外観検査方法および外観検査装置 - Google Patents
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Description
検査面上の撮影装置に一番近い点と撮影装置とを結ぶ直線が当該点における検査面の垂線に対して成す角度が、撮影装置に一番近い点への拡散光の入射角よりも大きい位置から、拡散光が照射されている、筒状の検査対象物の内周面に含まれる検査面を撮影装置によって撮影することによって、検査面で鏡面反射した反射光が撮影装置に入射することが防止される。そのため、検査面から撮影装置に入射する光のうちの拡散反射して入射する反射光の割合を高くすることができる。その結果、シューマークなどの表面粗さの違いによって拡散反射して入射する光量の領域ごとの差異についての、撮影装置に入射する光量全体に対する割合を大きくすることができる。それによって、撮影装置による撮影画像における表面粗さの違いに基づいた色の濃淡のコントラストが大きくなる。そのため、撮影画像における色の濃淡に基づいて、検査面に存在するシューマークなどの表面粗さの違いを高精度に検出することができる。
第1の検査面上の撮影装置に一番近い位置と撮影装置とを結ぶ直線が当該位置における第1の検査面の垂線に対して成す角度が、撮影装置に一番近い位置への拡散光の入射角よりも大きい位置に撮影装置が配置されていることによって、第1の検査面で鏡面反射した反射光が撮影装置に入射することが防止される。そのため、第1の検査面から撮影装置に入射する光のうちの拡散反射して入射する反射光の割合を高くすることができる。その結果、シューマークなどの表面粗さの違いによって拡散反射して入射する光量の領域ごとの差異についての、撮影装置に入射する光量全体に対する割合を大きくすることができる。それによって、撮影装置による撮影画像における表面粗さの違いに基づいた色の濃淡のコントラストが大きくなる。そのため、撮影画像における色の濃淡に基づいて、第1の検査面に存在するシューマークなどの表面粗さの違いを高精度に検出することができる。
この構成によって、上記のように、内周面が円周面である検査対象物の内周面を検査面とした外観検査の精度を向上させることができる。
これにより、第1の検査面が撮影装置の撮影範囲よりも広い場合であっても、同じ条件で比較的容易に第1の検査面の外観検査を可能とする。
これにより、上記のように、転がり軸受の内輪の内周面に含まれる第1の検査面を検査面とした外観検査の精度を向上させることができる。
これにより、撮影装置によって第1の検査面を撮影する際に、変位センサが当該撮影装置の撮影範囲に入りこむことがない。そのために、第1の検査面を検査面とした外観検査の動作の際に、変位センサから第2の検査面までの距離を検査することができる。これにより、両検査をそれぞれ異なる検査動作で行うよりも検査時間を短縮することができると共に、両検査用の検査装置をそれぞれ別に用意するよりも検査装置全体を小型化することができる。
<全体構成>
本実施の形態にかかる外観検査装置100は、表面が高反射率である、つまり表面が光沢を有する工業製品の外観検査を行う。特に、外観検査装置100は、円筒状の工業製品の内周面の検査を行う。外観検査装置100による検査対象物は、たとえば転がり軸受である。以降の説明では、外観検査装置100が転がり軸受の内輪の内周に含まれる検査面を検査するものとする。なお、外観検査装置100による外観検査の対象物となる転がり軸受300は、外輪301、内輪302、複数の転動体303、保持器304、および軸受シール305を有している。
外観検査装置100は、第1の検査面K1に照明装置10によって拡散光を照射する。そして、第1の検査面K1で反射してカメラ20に入射した光量に基づいて、第1の検査面K1の欠陥の有無を検査する。外観検査装置100の検査する第1の検査面K1の欠陥は、たとえば、シューマークと呼ばれる、製造工程のうちの主に表面研磨の工程において表面に研磨屑などの異物が接触することによって生じる表面粗さの違い程度の微量の凹凸である。表面が研磨されたり、コーティングされたりすることによって光沢を有する工業製品は、表面での反射率が高い。転がり軸受300も表面が研磨されるため、反射率が高い。第1の検査面K1に上記欠陥を有する範囲と有さない範囲とがある場合、各範囲からの反射量が異なる。そこで、外観検査装置100はこの反射量の差異を利用して、第1の検査面K1からの反射量に基づいて第1の検査面K1の欠陥の有無を検査する。
外観検査装置100におけるカメラ20と照明装置10との位置関係を、図3を用いて説明する。図3は、外観検査装置100の要部を示す概略平面図であって、中心軸Cとカメラ20とを含む面(基準面)による内輪302の断面の一部を示している。なお、図3において、光源10Aはy方向にて点e2と同じ高さに位置している。
従来の外観検査装置による検査結果と比較して本実施の形態にかかる外観検査装置100による外観検査の効果を確認する。図5は、検査結果として従来の外観検査装置で撮影された撮影画像である。図6は、比較に用いた従来の外観検査装置の構成の概略図である。図5の撮影画像は、図4の撮影画像と同じ転がり軸受を被写体とし、内輪の内周面全体を検査面Kとして撮影されたものである。
なお、図4の撮影画像は、第1の検査面K1が内輪302の内周面の一部である場合の例である。第1の検査面K1は、図4の撮影画像よりも広い範囲、たとえば、内輪302の内周面全体であってもよい。この場合、外観検査装置100ではPC500の制御に従って回転台30が回転し、その回転に伴う所定のタイミングでPC500がカメラ20に撮影を行わせる。これによって、たとえば内輪302の内周面全体である第1の検査面K1が複数回に分けて撮影される。
なお、上の例では、光源10Aおよび照明装置10は回転軸Cを含む直線上に配置されているものとしている。この位置に配置されることによって、第2の実施の形態にかかる外観検出装置100のように転がり軸受300が回転台30によって回転した場合でも、第1の検査面K1と照明装置10との位置関係が固定される。そのため、撮影画像における色の濃淡が安定する。
第4の実施の形態にかかる外観検査装置100は、図1に表されたように、さらにセンサ40を含む。センサ40は変位センサである。センサ40は、回転台30に配置された転がり軸受300表面に含まれる第2の検査面K2までの距離を、レーザ光などを利用して非接触にて測定する。たとえば、センサ40は、回転台30に配置された転がり軸受300の+y向きの端面に設けられた密封装置までの距離を、レーザ光などを利用して非接触にて測定する。密封装置は、たとえば、図1に示されたように転がり軸受300の端面に設けられた軸受シール305である。密封装置は、他の例として、シールド板であってもよい。センサ40は、転がり軸受300の端面の軸受シール305が配置された面に含まれる面を第2の検査面K2として、第2の検査面K2までの距離を測定する。センサ40は、回転台30に配置された転がり軸受300の軸受シール305の上方(+y向きに離れた位置)であり、かつ、第1の検査面K1上のどの位置とカメラ20とを結ぶ直線も遮らない位置に設けられている。この位置に設けられることによって、カメラ20が第1の検査面K1を撮影する際に撮影範囲にセンサ40が写りこむことがなく、第1の検査面K1の外観検査と、第2の検査面K2の外観検査とを同時に行うことができる。
Claims (6)
- 筒状の検査対象物の内周面に含まれる検査面を撮影装置によって撮影して得られる撮影画像を用いる、前記検査対象物の外観検査方法であって、
少なくとも一部が前記内周面に囲まれた空間内にあるように配置された、光源を含む照明装置によって拡散光を前記検査面に照射するステップと、
前記拡散光が照射されている前記検査面を、前記検査面上の前記撮影装置に一番近い位置と前記撮影装置とを結ぶ直線が当該位置における前記検査面の垂線に対して成す角度が、前記撮影装置に一番近い位置への前記拡散光の入射角よりも大きい位置から、前記撮影装置によって撮影するステップと、を備える、外観検査方法。 - 筒状の検査対象物の内周面に含まれる第1の検査面を撮影する撮影装置と、
少なくとも一部が前記内周面に囲まれた空間内にあるように配置された、光源からの光を拡散光として前記第1の検査面に照射する照明装置と、を備え、
前記撮影装置は、前記第1の検査面上の前記撮影装置に一番近い位置と前記撮影装置とを結ぶ直線が当該位置における前記第1の検査面の垂線に対して成す角度が、前記撮影装置に一番近い位置への前記拡散光の入射角よりも大きい位置に配置される、外観検査装置。 - 前記照明装置は、前記第1の検査面上のすべての位置において、当該位置と前記撮影装置とを結ぶ直線を遮らない位置に配置される、請求項2に記載の外観検査装置。
- 前記撮影装置と前記検査対象物との少なくとも一方を前記検査対象物の中心軸を中心として回転させることによって、前記撮影装置と前記検査対象物との位置関係を相対的に変化させる移動装置をさらに備え、
前記撮影装置は、前記移動装置によって前記位置関係を変化させながら複数回、撮影することによって前記内周面全体を撮影する、請求項2または請求項3に記載の外観検査装置。 - 前記検査対象物は、内輪および外輪を含む転がり軸受であって、
前記第1の検査面は前記内輪の内周面に含まれる、請求項2〜請求項4のいずれか一項に記載の外観検査装置。 - 前記検査対象物の、前記第1の検査面とは異なる第2の検査面までの距離を測定可能な変位センサをさらに含み、
前記変位センサは、前記第1の検査面上のすべての位置に対して、当該位置と前記撮影装置とを結ぶ直線を遮らない位置に配置される、請求項2〜請求項5のいずれか一項に記載の外観検査装置。
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