JP6619757B2 - 低誘電樹脂組成物 - Google Patents
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Description
また、従来より、FPCには、密着性、耐熱性及び回路埋まり性等の特性に優れることが求められている。
したがって、FPC用材料には、密着性、耐熱性及び回路埋まり性等に優れることに加えて、高周波領域での低誘電率や低誘電正接などの低誘電特性に優れることへの要求が高まってきている。
特許文献2には、イミド結合含有ウレタン樹脂と、エポキシ樹脂と、難燃剤とを必須成分とする難燃性接着剤組成物が接着性と電気絶縁性の両立、可とう性と耐熱性の両立という点で優れていることが開示されている。
特許文献3には、多孔性物質内に低誘電率化成分が埋め込まれた低誘電率化剤と、絶縁性樹脂組成物を含む低誘電率絶縁性樹脂組成物が開示されている。
特許文献2に開示される難燃性接着剤組成物は、極性が大きいイミド基を含んでいるため、誘電率及び誘電正接が悪化するという問題がある。また、特許文献2に開示される難燃性接着剤組成物では、十分な可とう性が得られているとはいい難い。
特許文献3に開示される低誘電率絶縁性樹脂組成物は、樹脂組成物全体に対して、低誘電率化剤の占める割合が多いため、電子材料分野、特にフレキシブルプリント配線分野で用いる上で、十分な可とう性を有する樹脂組成物を得にくい。
[1]
(A)ポリカーボネートジオールとイソシアネートを反応させて得られるウレタン樹脂と、(B)エポキシ樹脂と、(C)フィラーと、を含有し、
(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基当量が、1,100〜5,700g/当量であり、
(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基1当量に対して、(B)エポキシ樹脂のエポキシ当量が0.3〜4.5当量であり、
(A)ウレタン樹脂の重量平均分子量が5,000〜80,000であり、
(A)ウレタン樹脂中のポリカーボネート含有量が35質量%以下であり、
(A)ウレタン樹脂100質量部に対して、(C)フィラーを50質量部以下で含有し、
樹脂組成物中に、イミド基を実質的に含まない、低誘電樹脂組成物。
[2]
(A)ウレタン樹脂中のポリカーボネート含有量が20〜35質量%である、[1]に記載の低誘電樹脂組成物。
[3]
(C)フィラーが、有機フィラーである、[1]又は[2]に記載の低誘電樹脂組成物。
[4]
有機フィラーが、有機リン化合物、ホスファゼン化合物、及びメラミンからなる群から選択される1種である、[3]に記載の低誘電樹脂組成物。
[5]
(D)スチレン樹脂をさらに含有する、[1]〜[4]のいずれかに記載の低誘電樹脂組成物。
[6]
[1]〜[5]のいずれかに記載の低誘電樹脂組成物を含む、カバーレイ。
[7]
[1]〜[5]のいずれかに記載の低誘電樹脂組成物を含む、ボンディングシート。
[8]
[1]〜[5]のいずれかに記載の低誘電樹脂組成物を含む、樹脂付き銅箔。
[9]
[1]〜[5]のいずれかに記載の低誘電樹脂組成物を含む、積層板。
本実施形態における低誘電樹脂組成物は、(A)ポリカーボネートジオールとイソシアネートを反応させて得られるウレタン樹脂と、(B)エポキシ樹脂と、(C)フィラーと、を含有し、(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基当量が、1,100〜5,700g/当量であり、(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基1.0当量に対して、(B)エポキシ樹脂のエポキシ当量が0.3〜4.5当量であり、(A)ウレタン樹脂の重量平均分子量が5,000〜80,000であり、(A)ウレタン樹脂中のポリカーボネート含有量が35質量%以下であり、(A)ウレタン樹脂100質量部に対して、(C)フィラーを5
0質量部以下で含有し、樹脂組成物中に、イミド基を実質的に含まない。
本発明の低誘電樹脂組成物は、樹脂組成物の使用可能期間が長く、製品ライフ性及びワニスライフ性に優れる。
また、低誘電樹脂組成物を硬化した場合の樹脂組成物の特性として、低誘電率及び/又は低誘電正接という低誘電特性を発現する。
また、本発明の低誘電樹脂組成物は、FPC用材料として、可とう性及び絶縁信頼性を有し、且つ、密着性、耐熱性及び回路埋まり性にも優れる。
具体的には、本実施形態の低誘電樹脂組成物において、誘電率が3.0未満であり、誘電正接が0.010未満であることが好ましい。
本実施形態における(A)ウレタン樹脂とは、ポリカーボネートジオールとイソシアネートとを反応させて得られるウレタン構造を有する樹脂を意味する。
(A)ウレタン樹脂は、ポリカーボネートジオールに他のジオール化合物及び/又はポリオールを混合して製造してもよい。
本実施形態における(A)ウレタン樹脂は、下記構造で示される部分構造をさらに有していてもよい。
ポリカーボネートジオールは1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
ジオール化合物としては、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、1,2−プロパンジオール、1,3−プロパンジオール、2−メチル−1,3−プロパンジオール、2,2−ジメチル−1,3−プロパンジオール、2,2−ジエチル−1,3−プロパンジオール、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオール、2−ペンチル−2−プロピル−1,3−プロパンジオール、1,2−ブタンジオール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、1,5−ペンタンジオール、1,5−ヘキサンジオール、1,6−ヘキサンジオール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、及び2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール等が挙げられる。
ジオール化合物としては、1,4-ブタンジオール、1,5-ペンタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、2,2−ジエチル−1,3−プロパンジオール、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオール、及び2−ペンチル−2−プロピル−1,3−プロパンジオールが好ましく、可とう性、密着性及び/又は回路埋まり性の観点で、1,4-ブタンジオール、1,5-ペンタンジオール、及び1,6−ヘキサンジオールがより好ましく、1,6−ヘキサンジオールがさらに好ましい。
ポリカーボネートジオールを製造する際に、ジオール化合物以外にもポリオール化合物として、1分子中に3個以上の水酸基を有する化合物を用いてもよい。
ジオール化合物は1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
炭酸エステルとしては、低誘電樹脂組成物における誘電特性により、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネート、及びジブチルカーボネートなどのジアルキルカーボネートが好ましい。
イソシアネートとしては、1分子中に遊離のイソシアネート基を2個有する化合物であるジイソシアネートが好ましく用いられる。
ジイソシアネートとしては、例えば、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、リジンジイソシアネート、及びトリメチレンジイソシアネートなどの脂肪族ジイソシアネート;イソホロンジイソシアネート、メチレンビス(シクロヘキシルイソシアネート)、及びシクロヘキサンジイソシアネートなどの脂環族ジイソシアネート;キシレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネート、及びビフェニレンジイソシアネートなどの芳香族ジイソシアネート等が挙げられる。
ジイソシアネートとしては、低誘電樹脂組成物における誘電特性により、脂肪族イソシアネートが好ましく、ヘキサメチレンジイソシアネート及びトリメチルヘキサメチレンジイソシアネートがより好ましい。
ジイソシアネート以外にもポリイソシアネートとして、1分子中に3個以上のイソシアネート基を有する化合物を用いてもよい。
イソシアネートは1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
ポリカーボネート含有量が、35質量%以下であることにより、密着性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができる。
重量平均分子量が、5,000以上であることにより、可とう性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができ、80,000以下であることにより、良好な流動性を有し、回路埋まり性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができる。回路埋まり性に優れることにより、低誘電樹脂組成物及びその硬化の加工性に優れ、ボイドや浮きの発生を防止することができる。
カルボキシル基が、1,100g/当量以上であることにより、エポキシ基と反応するカルボキシル基の数を減らすことができる。これにより、加熱前の所謂ワニス状態において、エポキシ基とカルボキシル基との反応が抑制されるため、ワニスライフ性が向上する。
また、加熱時(カバーレイ等の製品への加工時)にカルボキシル基がエポキシ基と全て反応し、加熱後(加工後)は、硬化反応がそれ以上進まないため製品ライフ性が向上する。
さらに製品の積層工程における加圧加熱時において、未反応のカルボキシル基が存在しないため、誘電特性が良好となる。
また、カルボキシル基が、5,700g/当量以下であることにより、誘電特性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができ、三次元網目構造が効率的に形成されやすくなるため、耐熱性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができる。
本実施形態において、エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及び縮合多縮型エポキシ樹脂等が挙げられる。
これらの中では、極性を有するベンゼン環を含まず、且つ、耐熱性が良好な剛直骨格を有する、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂が好ましい。
(B)エポキシ樹脂は1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基1当量に対して、(B)エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは0.3〜4.5当量であり、より好ましくは0.5〜4.0当量である。
エポキシ当量が0.3当量以上であることにより、耐熱性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができ、4.5当量以下であることにより、誘電特性に優れ、また、絶縁信頼性にも優れる低誘電樹脂組成物とすることができる。
フィラーとしては、フィラーとして用いられるものであれば特に限定されるものではないが、有機フィラー及び無機フィラー等が挙げられる。
フィラーは1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
フィラーを50質量部以下で含有することにより、フィラー以外の樹脂組成成分がフィルム、銅箔等の基材と接触し易くなるため、密着性が向上する。また、樹脂組成物全体に占めるフィラーの割合が少なくなるため、誘電特性に優れる低誘電樹脂組成物とすることができる。
本実施形態において、「実質的に含まない」とは、低誘電樹脂組成物における誘電特性へ影響を与えない程度にしかイミド基を含んでいないことを意味する。
具体的には、本実施形態における低誘電樹脂組成物として、低誘電率及び低誘電正接に優れた誘電特性を発現するのであれば、極微量のイミド基を含むことを排除していないことを意味している。好ましくは、低誘電樹脂組成物の成分としてイミド基を含まない。
本実施形態において、スチレン樹脂とは、モノマーとして、スチレンを含む重合体であれば特に限定されるものではないが、他のモノマーとの共重合体であってもよい。
スチレン樹脂が共重合体である場合、不飽和結合の一部が水素添加されたスチレン重合体ブロックとブタジエン重合体ブロックを含むブロック共重合体、スチレン共重合体ブロックとブタジエン重合体ブロック、ブチレン共重合体ブロックを含む共重合体、スチレン共重合体ブロックとエチレン重合体ブロック、及びブチレン共重合体ブロックを含む共重合体等が挙げられる。
スチレン樹脂中に、カルボキシル基及びオキサゾリン基のような官能基が含まれていてもよい。官能基が含まれるスチレン樹脂としては、例えば、カルボキシル基含有スチレン樹脂及びオキサゾリン基含有スチレン樹脂等が挙げられる。スチレン樹脂にこれらの官能基が含まれることで、加熱時又は加圧加熱時にエポキシ樹脂のエポキシ基と前記官能基が反応し、樹脂組成物内に三次元網目構造が形成される。この結果、硬化後の樹脂組成物の耐熱性が向上する。
スチレン樹脂は1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
溶剤は1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
添加剤は1種で用いてもよく、2種以上を併用して用いてもよい。
添加剤の配合量は、発明の効果を損なわない範囲で、目的に応じて適宜調整することができる。
かかる用途における低誘電樹脂組成物層の厚さは、特に限定されるものではないが、好ましくは10〜50μmであり、より好ましくは15〜30μmである。
基材フィルムを形成する樹脂としては、例えば、ポリイミド、液晶ポリマー、ポリフェニレンスルファイド、シンジオタクチックポリスチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエーテルエーテルケトン、及びフッ素樹脂等が挙げられる。
フッ素樹脂としては、例えば、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)、PFA(ポリテトラフルオロエチレン−パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体)、FEP(テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体)、ETFE(テトラフルオロエチレンーエチレン共重合体)、PCTFE(ポリクロロトリフルオロエチレン)、及びPVDF(ポリビニリデンフルオライド)等が挙げられる。
セパレータとしては、異物除去のために使用され、十分なラミネート性、及び剥離時の手扱い性が良好であれば、特に限定されるものではないが、紙、ポリエチレンテレフタレート、及びポリプロピレン等のセパレータを用いることができる。
離型処理フィルムを形成する樹脂としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、及びポリブチレンテレフタレート等が挙げられ、中でも、製造コストを低減する観点から、ポリプロピレン、ポリエチレン、及びポリエチレンテレフタレートが好ましい。離型処理フィルムとしては、樹脂フィルム以外に離型紙を使用してもよい。
積層板としては、基材フィルムに低誘電樹脂組成物を塗布し、銅箔とラミネートした銅張積層板であってもよい。
カバーレイがセパレータを含む場合は、例えば、低誘電樹脂組成物層が設けられた面に、セパレータを貼り合わせることにより製造することができる。
ボンディングシートの製法は、特に限定されず、例えば、離型処理フィルムに低誘電樹脂組成物のワニスを塗布し、Bステージまで乾燥させる工程により、ボンディングシートを得ることができる。
ボンディングシートがセパレータを含む場合は、例えば、低誘電樹脂組成物層が設けられた面に、セパレータを対向させて貼り合わせることにより製造することができる。
樹脂付き銅箔の製法は、特に限定されず、例えば、銅箔に低誘電樹脂組成物のワニスを塗布し、Bステージまで乾燥させる工程により、樹脂付き銅箔を得ることができる。
基材フィルムに低誘電樹脂組成物のワニスを塗布し、次いで、銅箔を貼りあわせて、銅張積層板としてもよい。なお、このときの樹脂組成物はBステージよりも硬化度合いが進んだCステージまで硬化させている。
ワニスの乾燥は、インラインドライヤー等により実施することができ、乾燥条件は、低誘電樹脂組成物に応じて適宜調整することができる。
貼り合わせ条件は、例えば、温度40〜120℃、圧力0.1〜3.0MPaの範囲で行うことができる。
実施例及び比較例において、各物性の測定及び評価は以下の方法により行った。
JIS K 7252−1に準拠して測定した。
具体的には、以下のとおりに測定した。GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)測定装置(HLC−8120、東ソー社製)を用いた。溶離液テトラヒドロフランに溶解した試料をカラム(TSK gel super H、東ソー社製)のM−Mを1本、2000を2本、直列に3本接続し、流速0.3mL/分、温度40℃の条件で行い、リテンションタイムを測定し、標準ポリスチレン換算の重量平均分子量を算出した。
JIS K1557−5に準拠して測定した。
具体的には、以下のとおりに測定した。2−プロパノール200mL、水100mL及びブロモチモールブルーのメタノール溶液を7滴加え、0.02mol/L水酸化カリウムのメタノール溶液で緑色になるまで滴定し、これに試料を50g溶解させた。0.02mol/L水酸化カリウムのメタノール溶液にて滴定し、以下の計算式により、カルボキシル基当量を算出した。
カルボキシル基当量(g/当量)=(56100×3(g/試料採取量)/((1.122×(滴定量mL)×0.02(滴定液濃度))
得られたウレタン樹脂の全分子量に対し、カーボネート基の理論分子量の割合にて算出した。
セパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がした。カバーレイの接着層面と、圧延銅箔(BHY−22B−T(35μm)、JX日鉱日石金属社製)の光沢面とを貼り合わせ、160℃、3.0MPa(1cm2当たりの圧力)、60分の条件で加熱加圧し、幅10mm×長さ100mmの大きさにカットした。
オートグラフ(AGS−500、島津製作所社製)を用いて、得られた評価サンプルの90°方向における引き剥がし力を測定した。
JPCA−BM02に準拠して、5回の測定の平均から以下のとおり評価した。
◎:引き剥がし力が10N/cm以上。
○:引き剥がし力が5N/cm以上、10N/cm未満。
×:引き剥がし力が5N/cm未満。
セパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がした。カバーレイの接着層面と、圧延銅箔(BHY−22B−T(35μm)、JX日鉱日石金属社製)の光沢面とを貼り合わせ、160℃、3.0MPa(1cm2当たりの圧力)、60分の条件で加熱加圧し、50mm×50mmの大きさにカットした。
得られたサンプルを40℃、90%RHの条件で96時間処理したものを処理済み評価サンプルとし、未処理のものを未処理評価サンプルとした。
ピーク温度が260℃、ピーク温度の暴露時間が10秒、搬送スピードが300mm/minになるように設定したはんだリフロー炉内に、処理済み評価サンプル及び未処理評価サンプルを流した。
はんだリフロー炉を通過した後の各評価サンプルにおいて、膨れ及び剥がれがあるかを目視により確認することにより評価を行った。
○:膨れ及び剥がれは認められなかった。
×:膨れ又は剥がれが認められた。
被着体として、電解銅箔(JX日鉱日石金属社製、厚さ18μm)の粗面に厚さ25μmのポリイミド層が構成された2層基板の銅箔光沢面にL/S=50/50の回路パターンが形成されたものを用いた。
セパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がした。カバーレイの接着面と、被着体の回路パターン形成面とを貼りあわせ、160℃、3.0MPa(1cm2当たりの圧力)、60分の条件で加熱加圧し、評価サンプルを得た。
評価サンプルに、85℃、85%RHの条件で、DC100Vを印加し、1,000時間保持した後の短絡の有無を確認することにより評価を行った。
○:1,000時間後も短絡はなかった。
×:1,000時間に到達する前に短絡した。
絶縁信頼性試験と同様にして、評価サンプルを作製した。
得られた評価サンプルを、基材フィルム側を谷折りして折り畳み、さらに厚さ1mmのアルミ板2枚で挟んだ。
アルミ板2枚で挟んだ評価サンプルを、23℃、0.5MPa(1cm2当たりの圧力)、0.5m/分の条件でラミネートした後、目視でクラックの有無を確認することにより、5回の測定の平均から以下のとおり評価を行った。
ラミネートは、クラックが確認されるまで、最大で10回繰り返した。
◎ラミネート回数が10回時点で、クラックは確認されなかった。
○ラミネート回数が5回以上、10回以下で、クラックが確認された。
×ラミネート回数が5回未満で、クラックが確認された。
セパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がし、カバーレイを評価サンプルとして用いた。
Agilent Technologies社製の85071E−300SPDR(共振器法)を用いて、23℃雰囲気下、周波数5GHzの条件で誘電率及び誘電正接の測定を行って、5回の測定の平均から以下のとおり評価した。
誘電率
◎:3.0未満
○:3.0以上、3.2未満
×:3.2以上
誘電正接
◎:0.010未満
○:0.010以上、0.015未満
×:0.015以上
被着体として、圧延銅箔(JX日鉱日石金属社製、厚さ35μm)の粗面に厚さ25μmのポリイミド層が構成された2層基板の銅箔光沢面にL/S=n/n、6n/n、及び10n/n(n=50〜100)の回路パターンが形成されたものを用いた。
セパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がした。カバーレイの接着面と被着体の回路パターン形成面とを貼りあわせ、160℃、3.0MPa(1cm2当たりの圧力)、60分の条件で加熱加圧し、評価サンプルを得た。
評価サンプルの目視と光学顕微鏡による表面、断面観察により、ボイド、浮きの有無を確認することにより評価を行った。
◎:全ての回路パターンにおいて、ボイド及び浮きは確認されなかった。
○:L/S=10n/nは、ボイド及び浮きが確認されたが、L/S=6n/nでは、ボイド及び浮きは確認されなかった。
×:全ての回路パターンにおいて、ボイド及び浮きが確認された。
各実施例で得られた樹脂組成物を、十分に撹拌した後、25℃、50%RHの条件で、3日間保管した。保管後の樹脂組成物の状態を目視で観察したところ、ゲル化は確認されなかった。
被着体として、圧延銅箔(JX日鉱日石金属社製、厚さ35μm)の粗面に厚さ25μmのポリイミド層が構成された2層基板の銅箔光沢面にL/S=100/100の回路パターンが形成されたものを用いた。
各実施例で得られたセパレータを含むカバーレイからセパレータを剥がした。カバーレイの接着面と被着体の回路パターン形成面とを貼りあわせ、160℃、3.0MPa(1cm2当たりの圧力)、60分の条件で加熱加圧し、評価サンプルを得た。評価サンプルの目視と光学顕微鏡による表面、断面観察により、ボイド及び浮きは確認されなかった。5℃で3ヶ月間保存した後のセパレータを含むカバーレイを用いて、同様の試験を行ったところ、ボイド及び浮きは確認されなかった。
(ポリカーボネートジオールの作製)
ガラス製フラスコに、ジメチルカーボネートを100質量部、1,6−ヘキサンジオールを132質量部仕込んだ。触媒としてチタンテトラブトキシド0.015質量部を加え、常圧で撹拌・加熱した。反応温度を140℃〜150℃、圧力を3.0kPaとした際に生成するメチレングリコールとメチレンカーボネートの混合物を留去しながら20時間撹拌・加熱した。その後、0.5kPaまで減圧し、ジメチルカーボネートと1,6−ヘキサンジオールを留去しながら150〜160℃でさらに10時間撹拌・加熱し、ポリカーボネートジオールを作製した。
(ウレタン樹脂の作製)
冷却管、温度計、原料導入口、撹拌装置を備えた4口のガラス製フラスコに、ヘキサメチレンジイソシアネート100質量部、上記ポリカーボネートジオール498質量部、ジメチロールブタン酸10質量部を加え、90℃で撹拌を開始した。開始から30分おきにガラス製フラスコから組成物の一部を取り出し、取り出した組成物に脱イオン水を加え反応を停止させた。その後、メチルエチルケトンにより反応溶液を抽出し、反応溶液中の重量平均分子量をGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)により測定した。開始から6時間後の反応溶液の重量平均分子量が20,000に到達したため、フラスコを冷却し、反応を停止させた。停止後、反応溶液をトルエンで希釈することでウレタン樹脂Aを作製した。
ポリカーボネートジオール作製時の反応時間の変更やウレタン樹脂反応時間の変更及び、ジメチロールブタン酸の仕込み量を変えた以外は、製造例1と同様の方法により、ウレタン樹脂B〜Lを作製した。
なお、ウレタン樹脂Bの作製においては、10時間撹拌・加熱した後、5時間の撹拌・加熱に変更し、ウレタン樹脂Hの作製においては
、50時間撹拌・加熱した後、20時間の撹拌・加熱に変更した。
ポリカーボネートジオールの代わりに1,6−ヘキサンジオールを246質量部を用い、ヘキサメチレンジイソシアネートの仕込み量を352質量部とした以外は、製造例1と同様の方法により、ウレタン樹脂Mを作製した。
反応容器の中に、ウレタン樹脂A100質量部を加え、エポキシ樹脂(HP7200、エポキシ当量265g/当量、DIC社製)を13.9質量部、フィラー(OP930、クラリアント社製)15質量部、及びメチルエチルケトンを30質量部加えて撹拌し、樹脂組成物を得た。
得られた樹脂組成物を、乾燥後の厚さが25μmとなるように12.5μmのポリイミドフィルム(カプトン50EN、東レデュポン社製)に塗布し、160℃で5分の条件で半硬化状態(Bステージ)になるまで硬化・乾燥させ、カバーレイを得た。
カバーレイの接着層面と、片面に離型処理が施されたPETフィルム(リンテック社製)の離型処理面と、をラミネートして、セパレータを含むカバーレイを得た。
ウレタン樹脂Aに代えて、表2及び表3に記載のウレタン樹脂を用い、エポキシ樹脂の含有量を調整した以外は、実施例1と同様の方法により、樹脂組成物を得、次いで、セパレータを含むカバーレイを得た。
なお、表2及び表3において、(B)エポキシ樹脂のカラムの下段は、(A)ウレタン樹脂100質量部に対する含有量(質量部)を示し、上段は、カルボキシル基1当量に対する(B)エポキシ樹脂のエポキシ当量を示す。
ウレタン樹脂Aのカルボキシル基1当量に対するエポキシ樹脂の当量比を変更した以外は、実施例1と同様の方法により、樹脂組成物を得、次いで、セパレータを含むカバーレイを得た。
フィラーの含有量を変更した以外は、実施例1と同様の方法により、樹脂組成物を得、次いで、セパレータを含むカバーレイを得た。
ウレタン樹脂Aとスチレン樹脂(タフテックM1913、カルボキシル基当量5610g/当量、旭化成ケミカルズ社製)を表2に記載の量比とし、エポキシ樹脂の含有量を調整した以外は、実施例1と同様の方法により、樹脂組成物を得、次いで、セパレータを含むカバーレイを得た。
イミド樹脂(V−8000、カルボキシル基当量1450g/当量、DIC社製)を30質量部をさらに加え、エポキシ樹脂の含有量を調整した以外は、実施例1と同様の方法により、樹脂組成物を得、次いで、セパレータを含むカバーレイを得た。
表2及び3の結果から、樹脂組成物中にイミド基を含まないことにより、優れた低誘電特性、可とう性及び絶縁信頼性を有し、且つ、密着性、耐熱性及び回路埋まり性に優れる樹脂組成物とすることができる。
Claims (7)
- (A)ポリカーボネートジオールとイソシアネートを反応させて得られるウレタン樹脂と、(B)エポキシ樹脂と、(C)フィラーと、を含有し、
(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基当量が、1,100〜5,700g/当量であり、
(A)ウレタン樹脂のカルボキシル基1.0当量に対して、(B)エポキシ樹脂のエポキシ当量が0.3〜4.5当量であり、
(A)ウレタン樹脂の重量平均分子量が5,000〜80,000であり、
(A)ウレタン樹脂中のポリカーボネート含有量が35質量%以下であり、
(A)ウレタン樹脂100質量部に対して、(C)フィラーを50質量部以下で含有し、
(C)フィラーが有機リン化合物、ホスファゼン化合物、メラミン、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、及びシリカからなる群から選択される少なくとも1種であり、
樹脂組成物中に、イミド基を実質的に含まない、低誘電樹脂組成物。 - (A)ウレタン樹脂中のポリカーボネート含有量が20〜35質量%である、請求項1に記載の低誘電樹脂組成物。
- (D)スチレン樹脂をさらに含有する、請求項1又は2に記載の低誘電樹脂組成物。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の低誘電樹脂組成物を含む、カバーレイ。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の低誘電樹脂組成物を含む、ボンディングシート。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の低誘電樹脂組成物を含む、樹脂付き銅箔。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の低誘電樹脂組成物を含む、積層板。
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