JP6586637B2 - 物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置 - Google Patents

物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置 Download PDF

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Description

本発明は、物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置に関する。
スーパーコンピュータやPCクラスタ技術などを用いることにより、電子機器に含まれるLSI(Large Scale Integration)やPCB(Printed Circuit Board)、モータ、機構部品、筐体を含む装置全体の解析などの大規模なモデルに対して数値計算を行うことができる。例えば、計算結果である物理量の分布データは大規模となる。このため、物理量分布を可視化装置により可視化する際に、可視化装置の画素数が、物理量の計算が行われる格子点の数よりも少ない場合がある。例えば、1画素に対応する格子点が複数ある場合、格子点についての物理量から最大値を1画素に対応する物理量として可視化する技術がある(例えば、以下特許文献1参照。)。
また、先行技術としては、例えば、デジタル信号波形の各データ値の中心点のデータ値と中心点の前後の中点のデータ値との差が、各データ値の差の最大値よりも大きい場合、中心点のデータ値はスパイク上のノイズのデータ値であると判定する技術がある(例えば、以下特許文献2参照。)。
特開平6−245111号公報 特開平8−330905号公報
しかしながら、従来技術では、例えば、1画素に対応する複数の格子点についての物理量から最大値などを1画素に対応する物理量とした場合に、局所的な物理量により可視化される場合があるという問題点がある。例えば、局所的に発生したノイズにより1画素に対応する複数の格子点のうち1格子点だけ物理量が多い場合に、ノイズ成分である物理量が画素に対応する物理量として選択されて可視化される。
1つの側面では、本発明は、局所的なノイズが除去でき、定常的な物理量分布を可視化することができる物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置を提供することを目的とする。
本発明の一側面によれば、数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させるコンピュータに、前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置が提案される。
本発明の一態様によれば、局所的なノイズが除去でき、定常的な物理量を可視化することができる。
図1は、情報処理装置による一動作例を示す説明図である。 図2は、ノイズ成分が強調表示される例を示す説明図である。 図3は、情報処理装置のハードウェア構成例を示す説明図である。 図4は、情報処理装置の機能的構成例を示すブロック図である。 図5は、1次元空間の格子点の例を示す説明図である。 図6は、物理量分布データ例を示す説明図である。 図7は、グループ化例を示す説明図である。 図8は、特徴量データ例を示す説明図である。 図9は、格子点と画素との対応付け例を示す説明図である。 図10は、画素ごとの特性値の決定例を示す説明図である。 図11は、格子点幅と最大特徴量を示す説明図である。 図12は、特性値の可視化例を示す説明図である。 図13は、画素ごとに最大の特性値を対応付けた例を示す説明図である。 図14は、情報処理装置が行う処理手順例を示すフローチャートである。 図15は、図14で示したグループ化処理の詳細な説明を示すフローチャートである。 図16は、図14で示した対応付け処理の詳細な説明を示すフローチャートである。 図17は、図14で示した決定処理の詳細な説明を示すフローチャートである。
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる物理量分布計算プログラム、物理量分布計算方法、および情報処理装置の実施の形態を詳細に説明する。
図1は、情報処理装置による一動作例を示す説明図である。情報処理装置100は、解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させることを支援するコンピュータである。
解析対象の空間は、コンピュータ上におけるシミュレーション空間であってもよいし、実際の空間であってもよい。また、解析対象の空間は、例えば、1次元空間から3次元空間などである。図1の例では、1次元空間を複数の格子点によって区切られた例を挙げる。格子点は、例えば、分布点などとも称する。図1の例では、格子点はd1〜d9である。2次元空間や3次元空間の場合、格子点によって空間が分割することをメッシュ分割とも称する。1次元空間の場合、空間が格子点によって複数の範囲に区切られる。解析対象の空間を離散化するために、解析対象の空間に複数の格子点が定義される。
コンピュータを用いた構造解析や電磁界解析や流体解析などでは、解析の対象空間を格子点によって編み目に分割することにより対象空間をモデル化し、格子点ごとに方程式を解くなどの数値解析が行われる。そして、数値解析によって得られる物理量分布が可視化される。また、対象空間における離散化だけでなく、時間領域についても離散化が行われてもよい。例えば、時間的変化を解析するために、解析時間のうち所定時間間隔ごとに数値計算が行われる。
解析対象の空間には、例えば、半導体装置や電子機器などの実際の製品やシミュレーション空間に模擬された製品などが設けられていてもよい。解析が電磁界解析の場合、物理量は、例えば、電磁界強度、方向、電磁界強度変化量である。ここでの方向とは、電界の向きまたは電力進行方向である。電磁界強度変化量とは、時間的な電磁界強度の変化量である。解析が構造解析の場合、物理量は、例えば、応力、応力変化量などが挙げられる。解析が流体解析の場合、物理量は、圧力、密度といった流れの物理量である。
例えば、開発者は、電磁界強度の分布特性を分析し、電子機器装置のEMC(Electro Magnetic Compatibility)対策設計条件を検討する。この検討には、電子機器装置の内外の高精度な電磁界分布の特性が用いられるため、物理量の分布データは大規模となる。
また、上述したように、近年、スーパーコンピュータやPC(Personal Computer)クラスタ技術などを用いることにより、大規模なモデルに対して数値計算を行うことができる。このように、スーパーコンピュータやPCクラスタ技術などを用いれば、計算結果である物理量の分布データは大規模となる。また、近年、リモートデスクトップ技術などを使用して、サーバが、物理量の解析を行い、解析結果として物理量分布の画像を示す画像情報を生成してクライアント端末装置へ当該画像情報を送信する。そして、クライアント端末装置は当該画像情報を受信して、当該画像情報が示す画像を表示する。クライアント端末装置は、画像を表示するだけであるため、クライアント端末装置の計算能力が低くても、サーバの計算能力が高ければ、大規模な分析を行うことができ、計算結果である物理量の分布データは大規模となる。
このため、物理量分布を可視化装置により可視化する際に、可視化装置の表示解像度が、物理量の計算が行われる格子点の数よりも少ない場合がある。ここで、表示解像度は、例えば、表示される画像の画素数である。可視化装置については、単独の装置であってもよいし、数値解析を行う装置であってもよい。電磁界解析を例に挙げると、マクスウェルの方程式を空間領域と時間領域の差分方程式に展開して解くFDTD(Finite−Difference Time−Domain method)法を用いた3次元電磁界解析では、物理量のデータ数は、格子点数×解析時間における解析回数である。格子点の数が「2,000×2,000×2,000」であり、時間刻みが「10[ps]」、解析時間が「1[ns]」とすると、物理量のデータ数は、「2,000×2,000×2,000×1[ns]/10[ps]」であり、「800,000,000,000個」となる。
可視化装置の表示解像度が、「1,024×768」の「786,432画素」を例に挙げる。可視化装置に3次元の解析対象の空間におけるZ軸平面上の物理量分布を可視化する場合、1計算時刻当たりの格子点の数は、「2,000×2,000」の「4,000,000個」となる。可視化装置の1画素に対応する格子点の数は「4,000,000個/786,432画素」により約5個となる。
このため、従来技術では、例えば、1画素に対応する格子点が複数ある場合、格子点についての物理量から最大値を1画素に対応する物理量として可視化する。また、例えば、最大値以外では、例えば、最小値、中間値、平均値などを1画素に対応する物理量として可視化することがあり得る。
従来技術では、例えば、1画素に対応する複数の格子点についての物理量から最大値などを1画素に対応する物理量とした場合に、局所的な物理量により可視化される場合があるという問題点がある。例えば、局所的に発生したノイズにより1画素に対応する複数の格子点のうち1格子点だけ物理量が多い場合に、ノイズ成分である物理量が画素に対応する物理量として選択されて可視化される。これにより、例えば、物理量分布の空間的な分布形状が部分的に欠落してしまう。そして、解析結果の分析において正しい判断を行うことが困難となる恐れがある。
そこで、本実施の形態では、情報処理装置100は、同一の物理量であって隣接する格子点ごとに分類したグループのうち、可視化用の画素に応じた各格子点のいずれかを含み、格子点数が最多のグループの格子点についての物理量を該画素の物理量とする。これにより、局所的なノイズが除去でき、定常的な物理量分布を可視化することができる。したがって、物理量分布の空間的な分布形状を欠落させることを抑制でき、解析結果の分析において正しい判断が行われることを支援できる。
情報処理装置100は、対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、複数の格子点の各々について数値解析によって得られる物理量とに基づいて、複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化する。ここでの同一とは、例えば誤差など同一とみなせるものも同一とする。同一とみなせるとは、誤差が閾値以内である場合である。また、グループ化する前に、物理量について量子化処理を行ってもよい。
図1の例では、対象空間が1次元空間である。図1の例では、格子点d1〜d9が、対象空間に一定間隔で順に定義される。複数の格子点の各々についての位置を示す情報は、例えば、格子点の座標値によって表されてもよい。また、位置を示す情報は、例えば、複数の格子点の各々を識別可能な格子点番号と、格子点によって計算される対象空間の範囲の幅と、によって表されてもよい。図1の左側の例に示すように、格子点d2の物理量がノイズ成分である。
図1の例では、格子点の数が9に対して、画素の数が3である。このため、画素に対応する格子点の数は複数となる。画素p1に対応する格子点はd1〜d3である。画素p2に対応する格子点はd4〜d6である。画素p3に対応する格子点はd7〜d9である。
図1の右側の例では、グループg1には格子点d1が含まれる。グループg2には格子点d2が含まれる。グループg3には格子点d3〜d5が含まれる。グループg4には格子点d6と格子点d7が含まれる。グループg5には格子点d8と格子点d9が含まれる。
情報処理装置100は、複数の画素の各々について、複数のグループの中で、複数の格子点のうち画素に対応する複数の格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、当該グループに含まれる格子点の数が最も多いグループを特定する。そして、情報処理装置100は、特定したグループに含まれる格子点についての物理量を、画素によって可視化される物理量に決定する。複数の画素は、複数の格子点の各々について解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、複数の格子点よりも少ない数の可視化装置の表示用の画素である。
画素p1に対応する格子点d1〜d3の少なくともいずれかを含むグループはg1〜g3である。そして、情報処理装置100は、グループg1〜g3のうち、当該グループに含まれる格子点の数が最も多いグループg3に含まれる格子点についての物理量を、画素p1によって可視化される物理量に決定する。
画素p2に対応する格子点d4〜d6の少なくともいずれかを含むグループはg3とg4である。そして、情報処理装置100は、グループg3とグループg4のうち、当該グループに含まれる格子点の数が最も多いグループg3に含まれる格子点についての物理量を、画素p2によって可視化される物理量に決定する。
画素p3に対応する格子点d7〜d9の少なくともいずれかを含むグループはg4とg5である。そして、情報処理装置100は、グループg4とグループg5のうち、当該グループに含まれる格子点の数が最も多いグループg5に含まれる格子点についての物理量を、画素p3によって可視化される物理量に決定する。
これにより、画素p1と画素p2とは同じ物理量となり、画素p3はグループg5についての物理量となる。このように、格子点d2のようなノイズ成分が可視化されない。
これにより、局所的なノイズが除去でき、定常的な物理量の分布を可視化することができる。したがって、物理量分布の空間的な分布形状を欠落させることを抑制でき、解析結果の分析において正しい判断が行われることを支援できる。
図2は、ノイズ成分が強調表示される例を示す説明図である。図2の左側は、図1の左側と同じである。図2の例では、格子点d2にはノイズ成分が含まれる。図1と同様に、格子点の数が9に対して、画素の数が3である。このため、画素に対応する格子点の数は複数となる。画素p1に対応する格子点はd1〜d3である。画素p2に対応する格子点はd4〜d6である。画素p3に対応する格子点はd7〜d9である。
上述したように、最大値によって格子点d2についての物理量が可視化される。例えば、画素p1に対応する格子点d1〜d3の各々についての物理量のうち、最大値は、格子点d2についての物理量である。このため、図2の右側に示すように、画素p1に対応する物理量として、ノイズ成分である格子点d2が選ばれる。このため、図2の左側に示すように、ノイズ成分は格子点d2の物理量だけであるにも関わらず、可視化の際に、ノイズ成分が選択されると、ノイズ成分が強調表示される。そして、ノイズ成分が強調表示されると、開発者が、物理量分布の分析を円滑に行うことができない場合がある。
そこで、図1で説明したように、本実施の形態では、情報処理装置100は、同一の物理量であって隣接する格子点同士をグループ化し、画素に応じた複数の格子点を含み、格子点数が最多のグループの格子点についての物理量を該画素の物理量とする。これにより、局所的なノイズが除去でき、定常的な物理量の分布を可視化することができる。したがって、物理量分布の空間的な分布形状を欠落させることを抑制でき、解析結果の分析において正しい判断が行われることを支援できる。
(情報処理装置100のハードウェア構成例)
図3は、情報処理装置のハードウェア構成例を示す説明図である。情報処理装置100は、CPU(Central Processing Unit)301と、ROM(Read Only Memory)302と、RAM(Random Access Memory)303と、ディスクドライブ304と、ディスク305と、を有する。情報処理装置100は、I/F(Inter/Face)306と、キーボード307と、マウス308と、ディスプレイ309と、を有する。また、CPU301と、ROM302と、RAM303と、ディスクドライブ304と、I/F306と、キーボード307と、マウス308と、ディスプレイ309とは、バス300によってそれぞれ接続される。
ここで、CPU301は、情報処理装置100の全体の制御を司る。ROM302は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶する。RAM303は、CPU301のワークエリアとして使用される。ディスクドライブ304は、CPU301の制御にしたがってディスク305に対するデータのリード/ライトを制御する。ディスク305は、ディスクドライブ304の制御で書き込まれたデータを記憶する。ディスク305としては、磁気ディスク、光ディスクなどが挙げられる。
I/F306は、通信回線を通じてLAN(Local Area Network)、WAN(Wide Area Network)、インターネットなどのネットワーク310に接続され、このネットワーク310を介して他の装置に接続される。そして、I/F306は、ネットワーク310と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。I/F306には、例えばモデムやLANアダプタなどを採用することができる。
キーボード307やマウス308は、利用者の操作により、各種データの入力を行うインターフェースである。ディスプレイ309は、CPU301の指示により、データを出力するインターフェースである。
また、図示を省略するが、情報処理装置100には、カメラから画像や動画を取り込む入力装置やマイクから音声を取り込む入力装置が設けられていてもよい。また、図示を省略するが、情報処理装置100には、プリンタなどの出力装置が設けられていてもよい。
また、本実施の形態では、情報処理装置100のハードウェア構成として、PCを例に挙げているが、これに限らず、サーバなどであってもよい。情報処理装置100がサーバである場合、情報処理装置100は、利用者の操作可能なクライアント端末装置に含まれるディスプレイ309などがネットワーク310を介して接続されてもよい。
図示省略するが、情報処理装置100を含むシステムとして、リモートデスクトップのシステムが利用されてもよい。例えば、情報処理装置100がサーバであり、情報処理装置100が、電磁界分布の画像に含まれる画像情報を生成し、利用者が操作可能なクライアント端末装置に生成した画像情報を送信してもよい。そして、クライアント端末装置が、画像情報に含まれる画像をディスプレイなどに表示する。
(情報処理装置100の機能的構成例)
図4は、情報処理装置の機能的構成例を示すブロック図である。情報処理装置100は、設計データ作成部401と、解析モデル作成部402と、電磁界計算部403と、グループ化部404と、決定部405と、可視化部406と、を有する。設計データ作成部401から可視化部406までの制御部の処理は、例えば、図3に示すCPU301がアクセス可能なROM302、RAM303、ディスク305などの記憶装置に記憶されたプログラムにコーディングされている。そして、CPU301が記憶装置から該プログラムを読み出して、プログラムにコーディングされている処理を実行する。これにより、制御部の処理が実現される。また、制御部の処理結果は、例えば、RAM303、ROM302、ディスク305などの記憶装置に記憶される。
設計データ作成部401は、例えば、CAD(Computer Aided Design)によって解析対象の物体を表す設計データ421を生成する。生成された設計データ421はROM302、RAM303、ディスク305などの記憶装置に記憶される。ここで、設計データ421は、例えば、3次元の物体であれば、物体をポリゴンで表した3次元形状の立体モデルの設計データ421である。例えば、CADが、3次元のアセンブリの設計を行うためのものである場合、解析対象の物体は、例えば、2つ以上の部品によって形成されるアセンブリモデルである。物体は、例えば、半導体装置、PC、タブレットPC、サーバ、携帯情報端末、スマートフォンなどの電子機器装置、自動車、家電製品などの機械製品などをコンピュータ上に仮想化したアセンブリモデルである。
つぎに、解析モデル作成部402は、例えば、設計データ421が表す物体を解析用にモデル化した解析モデルを表す解析モデルデータ422を生成する。生成された解析モデルデータ422はROM302、RAM303、ディスク305などの記憶装置に記憶される。ここで、解析データは、物体の形状を表す情報を含む。解析モデル作成部402は、例えば、物体を含む解析対象の空間を格子に分けることによって作成される解析モデルを表す解析モデルデータ422を生成する。解析モデルデータ422は、例えば、物体の形状を表す情報を含む。解析モデルは、例えば、格子点などによって解析対象の空間を表す。格子点は、解析領域を格子に分けることによって得られる各頂点などである。
図5は、1次元空間の格子点の例を示す説明図である。ここで、X軸方向にある1次元の解析の対象空間500が、X1〜X12の各範囲に分割される。そして、範囲X1〜X12のそれぞれに仮想的に設けた解析用の計算点が格子点である。格子点は範囲の端に設けられてもよいし、範囲内の中間の位置に設けられてもよいし、特に限定しない。図5の例では、範囲X1〜X12はすべて同じ幅であるが、これに限らず、異なる幅であってもよい。ここでの幅を格子点幅とも称する。また、格子点幅は、格子点間の幅でもある。
図示省略するが、解析モデルデータ422は、例えば、数値解析の対象空間500に設けられた複数の格子点の各々について、格子点と位置とを対応付けて表す情報を含む。図5の例では、格子点d1〜d12の順に等間隔に設けられており、格子点の位置関係が判別可能である。例えば、格子点d2に隣接する点は格子点d1と格子点d3である。
図4に示す電磁界計算部403は、例えば、解析モデルデータ422に基づいて、解析モデルと電磁場の相互作用を解析することにより各格子点における電磁界を解析する。これにより、物理量分布データ423を得る。生成された物理量分布データ423はROM302、RAM303、ディスク305などの記憶装置に記憶される。
図6は、物理量分布データ例を示す説明図である。物理量分布データ423は、例えば、格子点ごとに、特性値、方向、特性値変化量を有する。格子点は、例えば、d1〜d1である。電磁界解析の場合を例に挙げると、特性値は、例えば、電磁界強度[dB]である。ここでは、特性値は、Sによっても表す。方向は、例えば、電磁界の向きまたは電力進行方向である。方向はDによっても表す。電磁界の向きまたは電力進行方向は、例えば、「+」または「−」のいずれかである。特性値変化量とは、例えば、電磁界強度変化量であり、電磁界強度の時間的な変化量である。特性値変化量は、例えば、Δによっても表す。
ここで、図6に示す特性値や特性値変化量については、例えば、量子化された後の特性値や特性値変化量であってもよい。グループ化部404は、例えば、複数の格子点の各々について物理量を量子化する。グループ化部404は、例えば、格子点の各々について、特性値や特性値変化量を量子化し、量子化後の特性値や特性値変化量を物理量分布データ423に設定してもよい。量子化の方法は特に限定しない。また、例えば、小数点以下を指定された数までしか表さないように四捨五入や切り捨て、切り上げなどをしてもよい。例えば、特性値が、0〜0.4の間の値であれば、小数点以下が何であっても0と表すようにしてもよいし、0.1〜0.9の値であれば、1と表すようにしてもよい。
図4に示すグループ化部404は、物理量分布データ423に基づいて、複数の格子点のうち、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化する。これにより、グループ化部404は、特徴量データ424を生成する。格子点diのグループ番号を格納可能な変数を特徴量とも称する。
物理量として、特性値、方向、特性値変化量を扱う。このため、グループ化部404は、物理量分布データ423に基づいて、複数の格子点のうち、特性値、方向、および特性値変化量が同一であって隣接する格子点同士でグループ化する。以降の詳細例では、グループ化部404は、特性値が0の場合、隣接していない格子点であっても同一のグループとするが、これに限らず、特性値が0であっても、隣接していない分岐点同士であれば、異なるグループとしてもよい。
図7は、グループ化例を示す説明図である。グループ化部404は、格子点d1と格子点d12とを、特性値が0であるため、同一のグループg0とする。ここで、格子点diのグループ番号を格納可能な変数を特徴量Giと表す。特徴量G1は、グループg0である。
グループ化部404は、例えば、格子点d1〜d4についての特性値がそれぞれ異なるため、格子点d1〜格子点d4を異なるグループとする。例えば、グループ化部404は、格子点d2の特徴量G2をグループg1とする。グループ化部404は、格子点d3の特徴量G3をグループg2とする。グループ化部404は、格子点d4の特徴量G4をグループg3とする。
グループ化部404は、例えば、格子点d4〜d6については特性値、方向、および特性値変化量が同一であり、隣接しているため同一のグループとする。このため、グループ化部404は、格子点d5および格子点d6の特徴量をグループg3とする。
つぎに、グループ化部404は、例えば、格子点d4〜d6と、格子点d7とについての特性値および方向が同一であるが、特性値変化量が異なるため、格子点d4〜格子点d6と、格子点d7とを異なるグループとする。このため、グループ化部404は、格子点d7の特徴量をグループg4とする。グループ化部404は、格子点d7と格子点d8とについての特性値が異なるため、格子点d7と格子点d8とを異なるグループとする。格子点d8の特徴量G8はグループg7とする。
グループ化部404は、例えば、格子点d8と格子点d9とについての特性値は同一であるが、方向および特性値変化量が異なるため、格子点d8と格子点d9とを異なるグループとする。そして、グループ化部404は、例えば、格子点d9と格子点d10とについての特性値、方向、特性値変化量が同一であるため、格子点d9と格子点d10とを同じグループとする。グループ化部404は、例えば、格子点d9の特徴量G9と格子点d10の特徴量G10とをグループg6とする。
グループ化部404は、例えば、格子点d10と格子点d11とについての特性値が異なるため、格子点d10と格子点d11とを異なるグループとする。格子点d11の特徴量G11は、グループg7とする。
図8は、特徴量データ例を示す説明図である。ここで、jは、0〜7である。グループg1は、例えば、特性値Sが5であり、方向Dが+であり、特性値変化量Δが1であり、格子点数が1である。グループg2は、例えば、特性値Sが3であり、方向Dが+であり、特性値変化量Δが2であり、格子点数が1である。
つぎに、グループg3は、例えば、特性値Sが1であり、方向Dが+であり、特性値変化量Δが−2であり、格子点数が3である。そして、グループg4は、例えば、特性値Sが1であり、方向Dが+であり、特性値変化量が−1であり、格子点数が1である。つぎに、グループg5は、例えば、特性値Sが3であり、方向Dが−であり、特性値変化量が−1であり、格子点数が1である。
そして、グループg6は、例えば、特性値Sが3であり、方向Dが+であり、特性値変化量が1であり、格子点数が2である。さらに、グループg7は、例えば、特性値Sが1であり、方向Dが+であり、特性値変化量が0であり、格子点数が1である。
つぎに、図4に示す決定部405は、複数の画素の各々について、複数のグループの中で、複数の格子点のうち画素に対応する格子点を含むグループのうち、当該グループに含まれる格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、画素に対応する物理量に決定する。複数の画素は、例えば、可視化装置に含まれるディスプレイ309の画素であり、格子点の総数よりも少ない。このため、画素1つに対して複数の格子点が対応する。
決定部405は、例えば、表示解像度設定部411と、最大特徴量特定部412と、を有する。まず、表示解像度設定部411は、例えば、複数の画素の各々について、画素と格子点とを対応付ける。つぎに、最大特徴量特定部412は、例えば、画素に対応する格子点を含むグループのうち、グループの含まれる点の数が最も多いグループに含まれる点についての物理量を、画素に対応する物理量に決定する。
表示解像度設定部411は、例えば、可視化装置によって定義された表示解像度として総画素数を取得する。ここでは、画素が1次元に並べられ、総画素数は3を例に挙げて説明する。
図9は、格子点と画素との対応付け例を示す説明図である。格子点d1〜格子点d12までの各々の格子点幅が10の場合を例に挙げる。表示解像度設定部411は、例えば、格子点d1〜格子点d12までの格子点幅の合計値を、総画素数によって除算することにより、1画素あたりの格子点幅を決定する。
例えば、格子点d1〜格子点d12までの格子点幅の合計値は12×10=120である。そして、1画素あたりの格子点幅は、120/3=40である。表示解像度設定部411は、例えば、格子点d1〜格子点d4までの格子点幅の合計値が40となるため、画素Px1と格子点d1〜格子点d4とを対応付ける。表示解像度設定部411は、例えば、格子点d5〜格子点d8までの格子点幅の合計値が40となるため、画素Px2と格子点d5〜格子点d8とを対応付ける。表示解像度設定部411は、例えば、格子点d9〜格子点d12までの格子点幅の合計値が40となるため、画素Px3と格子点d9〜格子点d12とを対応付ける。
最大特徴量特定部412は、例えば、複数の画素の各々について、画素に対応する格子点を含むグループのうち、グループに含まれる格子点の数が最も多いグループを特定する。最大特徴量特定部412は、例えば、複数の画素の各々について、最も多いグループに含まれる格子点についての特性値を、画素に可視化される特性値として決定する。決定結果は可視化データ425としてROM302、RAM303、ディスク305などの記憶装置に記憶される。
図10は、画素ごとの特性値の決定例を示す説明図である。具体的に、画素p1に対応する格子点はd1〜d4である。格子点d1はグループg0に含まれる。格子点d2はグループg1に含まれる。格子点d3はグループg2に含まれる。格子点d3はグループg3に含まれる。最大特徴量特定部412は、グループg0〜グループg3のうち、格子点数が最も多いグループとしてグループg3を特定する。格子点数が最も多いグループは最大特徴量とも称する。そして、最大特徴量特定部412は、グループg3に含まれる格子点d3についての特性値を画素p1に対応する特性値とする。ここでは、画素p1に対応する特性値は「1」となる。
また、画素p2に対応する格子点はd5〜d8である。格子点d5,d6はグループg3に含まれる。格子点d7はグループg4に含まれる。格子点d8はグループg5に含まれる。最大特徴量特定部412は、グループg3〜グループg5のうち、最大特徴量としてグループg3を特定する。そして、最大特徴量特定部412は、グループg3に含まれる格子点d3についての特性値を画素p2に対応する特性値とする。ここでは、画素p2に対応する特性値は「1」となる。
また、画素p3に対応する格子点d9〜d12である。格子点d9,d10はグループg6に含まれる。格子点d11はグループg7に含まれる。格子点d12はグループg0に含まれる。ここで、グループg6とグループg7とグループg0のうち、格子点数が最も多いグループはグループg6とグループg0である。
このように、最大特徴量が一意に決まらない場合、最大特徴量特定部412は、画素に対応する格子点の合計格子点幅に対してグループに含まれる格子点の格子点幅が示す割合が大きいグループを最大特徴量として選択する。格子点幅は、例えば、対象空間のうち格子点によって解析される領域や範囲の幅である。格子点d9〜格子点d12の格子点幅はそれぞれ10である。
画素p3対応する格子点間の合計格子点幅に対してグループg6に含まれる格子点d9,d10の格子点幅が占める割合は、50[%]である。画素p3対応する格子点間の合計格子点幅に対してグループg7に含まれる格子点d11の格子点幅が占める割合は、25[%]である。画素p3対応する格子点間の合計格子点幅に対してグループg0に含まれる格子点d12の格子点幅が占める割合は、25[%]である。このため、最大特徴量特定部412は、最大特徴量として、グループg6を選択する。このため、最大特徴量特定部412は、グループg6に含まれる格子点d9,d10についての特性値を、画素p3に対応する特性値とする。ここでは、画素p3に対応する特性値は「3」となる。
また、最大特徴量特定部412は、特性値が0の格子点を含むグループg0については最大特徴量として選択しないようにしてもよい。
図11は、格子点幅と最大特徴量を示す説明図である。例えば、画素p1に対応する格子点の合計格子点幅に対して、格子点d1の格子点幅が占める割合は大きいが、最大特徴量特定部412は、最大特徴量として、格子点d1を含むグループg1でなくグループg4を特定する。
格子点は多いほど、計算精度が高くなるが、計算時間が長くなる。そこで、格子点を部分的に減らす場合がある。図11の例では、格子点d1の格子点幅が他の格子点d2〜d10の格子点幅の3倍であり、格子点d1を含む範囲は計算精度が低くなる。このため、グループg1よりもグループg4の方が格子点数が多く、精度が高いため、画素p1について最大特徴量として、グループg1でなくグループg4が特定されることにより、定常的な物理量を選択することが可能となる。
図4に示す可視化部406は、複数の画素の各々について、画素に対応する特性値を可視化する。
図12は、特性値の可視化例を示す説明図である。図12は、画素に対応する電解の強さに応じて表示模様を決定することにより電磁界分布が可視化された例を示す。図12の例では、解析時間が0.336[ns]であり、解析時間のうちのいずれかの時刻における電解強度の分布を示す。図12の例では、電解強度の最大値は126[dB]である。
可視化方法については特に限定しない。例えば、可視化部406は、画素に対応する特性値を、特性値に応じて色分けすることにより、可視化してもよい。または、可視化部406は、例えば、画素に対応する特性値を、特性値に応じて高さを変更することにより可視化してもよい。
図13は、画素ごとに最大の特性値を対応付けた例を示す説明図である。図13には、単に画素に対応する格子点の特性値のうち、最大の特性値が画素に対応する特性値として選ばれた場合の例を示す。画素p1に対応する特性値として「5」が選ばれ、画素p2に対応する特性値として「3」が選ばれ、画素p3に対応する特性値として「3」が選ばれる。このため、格子点d4〜d7に分布している特性値「1」が可視化されず、極値である特性値「5」と「3」が可視化される。
これに対して、最大特徴量の特性値には、本実施の形態における最大特徴量の特性値が画素に対応する特性値として選ばれた場合の例を示す。画素p1に対応する特性値として「1」が選ばれ、画素p2に対応する特性値として「1」が選ばれ、画素p3に対応する特性値として「3」が選ばれる。
最大特性値が画素に対応する特性値に選ばれる場合、画素に対応する複数の格子点や画素の周辺にある格子点において、局所的な特性値が、画素に対応する特性値に選ばれることがある。これに対して、本実施の形態のように最大特徴量の特性値が選ばれると、画素に対応する複数の格子点や画素の周辺にある格子点において、定常的な特性値が画素に対応する特性値に選ばれる。
このように、局所的なノイズを除去でき、定常的な物理量分布を可視化することができる。これにより、ノイズが除去され、解析結果の分析作業の容易化を図ることができる。
また、上述例では、1次元空間を挙げたが、これに限らず、2次元や3次元空間が解析の対象空間であってもよい。例えば、解析の対象空間が3次元空間の場合、情報処理装置100は、1次元要素に分割して対象空間に定義されたX軸、Y軸およびZ軸の各々についてグループ化を行えばよいため、解析の対象空間が1次元の場合と同様にグループ化を行うことができる。
(情報処理装置100が行う処理手順例)
図14は、情報処理装置が行う処理手順例を示すフローチャートである。まず、情報処理装置100は、例えば、物理量分布データ423を取得する(ステップS1401)。つぎに、情報処理装置100は、例えば、グループ化処理を行う(ステップS1402)。そして、情報処理装置100は、例えば、画素と格子点との対応付け処理を行う(ステップS1403)。
つぎに、情報処理装置100は、例えば、画素に対応する物理量の決定処理を行う(ステップS1404)。これにより、画素によって可視化される物理量が決まる。そして、情報処理装置100は、例えば、決定結果に基づき可視化を行い(ステップS1405)、一連の処理を終了する。
図15は、図14で示したグループ化処理の詳細な説明を示すフローチャートである。情報処理装置100は、Sb=0、Db=0、Δb=0に設定する(ステップS1501)。つぎに、情報処理装置100は、i=1,G_NO=0に設定する(ステップS1502)。そして、情報処理装置100は、i≦nであるか否かを判断する(ステップS1503)。nは、格子点の数である。
i≦nであると判断された場合(ステップS1503:Yes)、情報処理装置100は、格子点iの特性値Siが0であるか否かを判断する(ステップS1504)。格子点iの特性値Siが0であると判断された場合(ステップS1504:Yes)、情報処理装置100は、格子点iの特徴量Gi=0に設定する(ステップS1505)。ここでは、例えば、格子点iの特徴量Giはグループ番号を表す。このため、格子点iの特徴量Giが0に設定されると、格子点iはグループg0に属することになる。このように、ステップS1504およびステップS1505によって、特性値が0であれば、格子点がグループg0に属するようにできる。
そして、情報処理装置100は、例えば、Sb=Si、Db=Di、Δb=Δiに設定する(ステップS1506)。つぎに、情報処理装置100は、i=i+1に設定し(ステップS1507)、ステップS1503に戻る。
また、ステップS1504において、格子点iの特性値Siが0でないと判断された場合(ステップS1504:No)、情報処理装置100は、格子点iの特性値Siが特性値Sbであるか否かを判断する(ステップS1508)。特性値Sbは、直前に処理対象となった格子点i−1の特性値である。格子点iの特性値Siが特性値Sbでないと判断された場合(ステップS1508:No)、情報処理装置100は、ステップS1511へ移行する。格子点iの特性値Siが特性値Sbであると判断された場合(ステップS1508:Yes)、情報処理装置100は、格子点iの方向Diが方向Dbであるか否かを判断する(ステップS1509)。方向Dbは直前に処理対象となった格子点i−1の方向である。
格子点iの方向Diが方向Dbでないと判断された場合(ステップS1509:No)、情報処理装置100は、ステップS1511へ移行する。一方、格子点iの方向Diが方向Dbであると判断された場合(ステップS1509:Yes)、情報処理装置100は、ステップS1510へ移行する。つぎに、情報処理装置100は、格子点iの変化量Δiが変化量Δbであるか否かを判断する(ステップS1510)。
格子点iの変化量Δiが変化量Δbでないと判断された場合(ステップS1510:No)、情報処理装置100は、ステップS1511へ移行する。格子点iの変化量Δiが変化量Δbであると判断された場合(ステップS1510:Yes)、情報処理装置100は、ステップS1512へ移行する。
ステップS1508、ステップS1509、およびステップS1510においてNoの場合に、情報処理装置100は、G_NO=G_NO+1、GPG#NO=0に設定する(ステップS1511)。つぎに、情報処理装置100は、Gi=G_NO、GPG#NO=GPG#NO+1に設定し(ステップS1512)、ステップS1506へ移行する。
ステップS1503において、i≦nでないと判断された場合(ステップS1503:No)、情報処理装置100は、一連の処理を終了する。
図16は、図14で示した対応付け処理の詳細な説明を示すフローチャートである。情報処理装置100は、L=0、L0=0、PXsize=0に設定する(ステップS1601)。つぎに、情報処理装置100は、i=1に設定する(ステップS1602)。そして、情報処理装置100は、i≦nであるか否かを判断する(ステップS1603)。nは格子点の数である。i≦nであると判断された場合(ステップS1603:Yes)、情報処理装置100は、L=L+Wiに設定する(ステップS1604)。そして、情報処理装置100は、i=i+1に設定し(ステップS1605)、ステップS1603へ戻る。ステップS1603〜ステップS1605によって格子点の各範囲の合計の幅が算出される。
i≦nでないと判断された場合(ステップS1603:No)、情報処理装置100は、PXsize=L/PXnum、L=0、L0=PXsizeに設定する(ステップS1606)。PXnumは画素数であり、PXsizeは1画素当たりの格子点の分布幅である。
そして、情報処理装置100は、i=1、j=1に設定する(ステップS1607)。情報処理装置100は、i≦nであるか否かを判断する(ステップS1608)。i≦nであると判断された場合(ステップS1608:Yes)、情報処理装置100は、L=L+Wiに設定する(ステップS1609)。そして、情報処理装置100は、L≦L0であるか否かを判断する(ステップS1610)。
L≦L0でないと判断された場合(ステップS1610:No)、情報処理装置100は、j=j+1、L0=PXsize×jに設定し(ステップS1611)、ステップS1612へ移行する。L≦L0であると判断された場合(ステップS1610:Yes)、情報処理装置100は、PXi=jに設定する(ステップS1612)。つぎに、情報処理装置100は、i=i+1に設定し(ステップS1613)、ステップS1608へ戻る。
ステップS1608において、i≦nでないと判断された場合(ステップS1608:No)、情報処理装置100は、一連の処理を終了する。
図17は、図14で示した決定処理の詳細な説明を示すフローチャートである。情報処理装置100は、k≦mであるか否かを判断する(ステップS1701)。mは、画素の総数である。k≦mであると判断された場合(ステップS1701:Yes)、情報処理装置100は、st=画素pkの格子点開始番号、ed=画素pkの格子点終了番号に設定する(ステップS1702)。
情報処理装置100は、GMAXk=0、GPmax=0に設定する(ステップS1703)。情報処理装置100は、i=stに設定する(ステップS1704)。つぎに、情報処理装置100は、i≦edであるか否かを判断する(ステップS1705)。i≦edであると判断された場合(ステップS1705:Yes)、情報処理装置100は、j=Giに設定する(ステップS1706)。そして、情報処理装置100は、GPmax<GPjであるか否かを判断する(ステップS1707)。
GPmax<GPjであると判断された場合(ステップS1707:Yes)、情報処理装置100は、GPmax=GPj、GMAXk=jに設定する(ステップS1708)。つぎに、情報処理装置100は、i=i+1に設定し(ステップS1709)、ステップS1705へ戻る。一方、ステップS1707において、GPmax<GPjでないと判断された場合(ステップS1707:No)、情報処理装置100は、ステップS1709へ移行する。
また、ステップS1705において、i≦edでないと判断された場合(ステップS1705:No)、情報処理装置100は、k=k+1に設定し(ステップS1710)、ステップS1701へ戻る。
また、ステップS1701において、k≦mでないと判断された場合(ステップS1701:No)、情報処理装置100は、一連の処理を終了する。
以上説明したように、情報処理装置100は、同一の物理量であって隣接する格子点ごとに分類したグループのうち、可視化用の画素に応じた各格子点のいずれかを含み、格子点数が最多のグループの格子点についての物理量を該画素の物理量とする。これにより、ノイズ成分を除去した定常的な物理量分布を可視化できる。したがって、物理量分布の空間的な分布形状を欠落させることを抑制でき、解析結果の分析において正しい判断が行われることを支援できる。
また、電磁界解析の場合、物理量として電磁界強度を用いる。これにより、局所的なノイズを除去し、定常的な電磁界強度の分布を得ることができる。例えば、定常的な電磁界強度の分布が表示されることにより、電子機器装置においてEMC対策設計条件の決定の容易化を図ることができる。また、定常的な電流分布に起因するEMI(Electro Magnetic Interference)放射ノイズなどの原因調査、対策検討を円滑に行うことができる。
また、物理量として、電磁界強度と、電力進行方向と、当該電磁界強度と前時刻における電磁界強度との電磁界強度差分値と、があり、情報処理装置100は、電磁界強度と、電力進行方向と、電磁界強度差分値と、が同一の格子点同士をグループ化する。例えば、電磁界強度が同じ格子点同士であっても、電磁界強度の差分値が異なれば、いずれか一方の格子点の電磁界強度はノイズの可能性がある。このように、電磁界強度の分布の特性を精度よく区別してグループ化でき、局所的なノイズをより精度よく除外することができる。
また、情報処理装置100は、複数の格子点の各々について物理量を量子化し、量子化後の物理量によって複数の格子点をグループ化する。これにより、同じような物理量を同一のグループに分類することが可能となり、局所的な物理量と、定常的な物理量とを区別することができる。
また、格子点数が最も多いグループが複数あり、最も多いグループが一意に決まらない場合がある。このような場合、情報処理装置100は、最も多いグループのうち、画素に対応する各格子点の合計幅に対する、当該グループに含まれる画素に対応する格子点の格子点幅の割合が最も大きいグループに含まれる格子点についての物理量を画素の物理量に決定する。
なお、本実施の形態で説明した物理量分布計算方法は、予め用意された物理量分布計算プログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本物理量分布計算プログラムは、磁気ディスク、光ディスク、USB(Universal Serial Bus)フラッシュメモリなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、物理量分布計算プログラムは、インターネット等のネットワーク310を介して配布してもよい。
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させるコンピュータに、
前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
処理を実行させることを特徴とする物理量分布計算プログラム。
(付記2)前記数値解析が電磁界解析である場合において、前記物理量は、前記電磁界解析によって得られる電磁界強度であることを特徴とする付記1に記載の物理量分布計算プログラム。
(付記3)前記数値解析を行う解析時間内の第1の時刻における前記電磁界解析と、前記解析時間内の前記第1の時刻よりも前の第2の時刻における前記電磁界解析と、が行われた場合において、前記複数の格子点の各々についての前記第1の時刻における前記電磁界解析によって得られる物理量を含む情報は、前記第1の時刻における電磁界強度と、前記第1の時刻における電力進行方向と、前記第1の時刻における電磁界強度と前記第2の時刻における電磁界強度との差分値と、を含み、
前記グループ化する処理では、
前記複数の格子点を、前記物理量を含む情報に含まれる電磁界強度と電力進行方向と差分値とが同一であって隣接する格子点同士でグループ化し、
前記決定する処理では、
前記複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を含む情報を、前記画素によって可視化される物理量を含む情報に決定する、
ことを特徴とする付記2に記載の物理量分布計算プログラム。
(付記4)前記コンピュータに、
前記複数の格子点の各々について物理量を量子化する、
処理を実行させ、
前記グループ化する処理では、
前記複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々についての量子化後の物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化する、
ことを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載の物理量分布計算プログラム。
(付記5)前記決定する処理では、
前記最も多いグループが複数ある場合、前記最も多いグループのうち、前記対象空間のうちの前記画素に対応する各格子点によって解析される範囲に対する、前記対象空間のうちの当該グループに含まれる格子点によって解析される範囲の割合が最も大きいグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
ことを特徴とする付記1〜4のいずれか一つに記載の物理量分布計算プログラム。
(付記6)数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させるコンピュータが、
前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
処理を実行することを特徴とする物理量分布計算方法。
(付記7)数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させる場合に、 前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
制御部を有することを特徴とする情報処理装置。
100 情報処理装置
401 設計データ作成部
402 解析モデル作成部
403 電磁界計算部
404 グループ化部
405 決定部
406 可視化部
411 表示解像度設定部
412 最大特徴量特定部
421 設計データ
422 解析モデルデータ
423 物理量分布データ
424 特徴量データ
425 可視化データ
d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7,d8,d9,d10,d11,d12 格子点
g0,g1,g2,g3,g4,g5,g6,g7 グループ
G1,G2,G3,G4,G5,G6,G7,G8,G9,G10,G11 特徴量

Claims (6)

  1. 数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させるコンピュータに、
    前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
    前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
    処理を実行させることを特徴とする物理量分布計算プログラム。
  2. 前記数値解析が電磁界解析である場合において、前記物理量は、前記電磁界解析によって得られる電磁界強度であることを特徴とする請求項1に記載の物理量分布計算プログラム。
  3. 前記数値解析を行う解析時間内の第1の時刻における前記電磁界解析と、前記解析時間内の前記第1の時刻よりも前の第2の時刻における前記電磁界解析と、が行われた場合において、前記複数の格子点の各々についての前記第1の時刻における前記電磁界解析によって得られる物理量を含む情報は、前記第1の時刻における電磁界強度と、前記第1の時刻における電磁界の向きまたは電力進行方向と、前記第1の時刻における電磁界強度と前記第2の時刻における電磁界強度との差分値と、を含み、
    前記グループ化する処理では、
    前記複数の格子点を、前記物理量を含む情報に含まれる電磁界強度と電磁界の向きまたは電力進行方向と差分値とが同一であって隣接する格子点同士でグループ化し、
    前記決定する処理では、
    前記複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を含む情報を、前記画素によって可視化される物理量を含む情報に決定する、
    ことを特徴とする請求項2に記載の物理量分布計算プログラム。
  4. 前記決定する処理では、
    前記最も多いグループが複数ある場合、前記最も多いグループのうち、前記対象空間のうちの前記画素に対応する各格子点によって解析される範囲に対する、前記対象空間のうちの当該グループに含まれる格子点によって解析される範囲の割合が最も大きいグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の物理量分布計算プログラム。
  5. 数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させるコンピュータが、
    前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
    前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
    処理を実行することを特徴とする物理量分布計算方法。
  6. 数値解析の対象空間の物理量分布を可視化装置によって可視化させる場合に、
    前記対象空間に定義された複数の格子点の各々についての位置を示す情報と、前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量とに基づいて、前記複数の格子点を、同一の物理量であって隣接する格子点同士でグループ化し、
    前記複数の格子点の各々について前記数値解析によって得られる物理量を可視化して表示する際に用いる、前記複数の格子点よりも少ない前記可視化装置の複数の画素の各々について、前記グループ化した複数のグループの中で、前記複数の格子点のうち前記画素に対応する各格子点の少なくともいずれかを含むグループのうち、格子点の数が最も多いグループに含まれる格子点についての物理量を、前記画素によって可視化される物理量に決定する、
    制御部を有することを特徴とする情報処理装置。
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JPH08330905A (ja) 1995-05-29 1996-12-13 Meidensha Corp スパイクノイズの除去方法
JP3428232B2 (ja) * 1995-06-16 2003-07-22 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JP2005055573A (ja) * 2003-08-01 2005-03-03 Fujitsu Ltd 高速表示処理装置
JP4772413B2 (ja) * 2005-07-29 2011-09-14 三菱電機株式会社 シミュレーション装置及びシミュレーション方法
US20070046924A1 (en) * 2005-08-30 2007-03-01 Chang Nelson L A Projecting light patterns encoding correspondence information
JP2008190979A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Fujifilm Corp 電磁解析装置およびそのプログラム
JP5218109B2 (ja) * 2009-01-30 2013-06-26 富士通株式会社 可視化データ処理装置、可視化データ処理装置の制御方法、及び可視化データ処理装置の制御プログラム
JP5890963B2 (ja) * 2011-03-17 2016-03-22 富士通株式会社 データ保存プログラム及びデータ保存方法

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