JP6540610B2 - 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 - Google Patents
伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6540610B2 JP6540610B2 JP2016116760A JP2016116760A JP6540610B2 JP 6540610 B2 JP6540610 B2 JP 6540610B2 JP 2016116760 A JP2016116760 A JP 2016116760A JP 2016116760 A JP2016116760 A JP 2016116760A JP 6540610 B2 JP6540610 B2 JP 6540610B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ports
- port
- transmission
- mode
- transmission lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートが定義された被測定物のSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定されたSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出する。
前記Sパラメータは6ポートSパラメータであり、
少なくとも6個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートを、それぞれ前記被測定物の6個のポートに接続して、前記Sパラメータを測定する。
前記Sパラメータは3種類の4ポートSパラメータを含み、
前記被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路に対応する4個の前記ポートに、4個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートをそれぞれ接続し、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートを無反射終端して、4ポートSパラメータを測定する手順を、前記伝送特性測定装置に接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定する。
少なくとも6個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の6個の前記ポートに、それぞれ前記テストポートが接続された状態で6ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された6ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する。
4個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路の4個の前記ポートに、4個の前記テストポートがそれぞれ接続され、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートが無反射終端された状態で4ポートSパラメータを測定する手順を、4個の前記テストポートに接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された3種類の前記4ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する。
さらに、入力装置を有し、
前記被測定物の6個の前記ポートのうち、4つの前記テストポートにそれぞれ接続されている4個の前記ポートを示す情報が、前記入力装置を通して入力されることにより、測定される前記4ポートSパラメータと、測定対象の前記ポートとを関連付ける。
前記被測定物の6個の前記ポートのうち4つの前記テストポートにそれぞれ接続すべき4個の前記ポートを示す情報を、前記表示装置に表示し、
前記表示装置に表示された情報に基づいて、測定される前記4ポートSパラメータと、前記被測定物の前記ポートとを関連付ける。
図1Aから図6までの図面を参照して、実施例1による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。
図4Aに、6ポート回路部品のポートP1〜P6と、各ポートの入出力信号との関係を示す。ポートP1とポートP2とが、それぞれAラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当する。同様に、ポートP3とポートP4とが、それぞれBラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当し、ポートP5とポートP6とが、それぞれCラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当する。ポートPi(iは1、2、3、4、5、または6)への入力信号をaiと表し、ポートPiからの出力信号をbiと表す。ここで、ai、biは、信号電力の平方根を表している。
B=SA・・・(1)
と表すことができる。
Bm=SmAm・・・(2)
と表すことができる。
Bm=MB・・・(6)
ここで、行列A、B、Am、Bmは、図4B及び図5Bで定義された通りである。
MB=MSA=MSEA=MSM−1MA・・・(7)
ここで、M−1は行列Mの逆行列であり、Eは単位行列である。
Bm=MSM−1Am・・・(8)
Sm=MSM−1・・・(9)
次に、図7Aから図7Cまでの図面を参照して、実施例2による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例1との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
次に、図8を参照して実施例3による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例2との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。実施例3では、実施例2と同様に、伝送特性測定装置20(図7A〜図7C)として4つのテストポートT1〜T4を持つネットワークアナライザを用いる。
次に、図9を参照して実施例4による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例3との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。実施例3では、被測定物10のポートと、伝送特性測定装置20のテストポートとの接続構成を、オペレータが入力した(図8のステップ43)。
11 部品実装用基板
12A、12B、12C 伝送線路
15 部品実装箇所
20 伝送特性測定装置
21 表示装置
22 入力装置
30〜33、41〜47、51〜54 ステップ
P1〜P6 被測定物のポート
T1〜T6 テストポート
Claims (9)
- 3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートが定義された被測定物のSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定されたSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出する伝送特性測定方法。 - 前記Sパラメータは6ポートSパラメータであり、
少なくとも6個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートを、それぞれ前記被測定物の6個のポートに接続して、前記Sパラメータを測定する請求項1に記載の伝送特性測定方法。 - 前記Sパラメータは3種類の4ポートSパラメータを含み、
前記被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路に対応する4個の前記ポートに、4個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートをそれぞれ接続し、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートを無反射終端して、4ポートSパラメータを測定する手順を、前記伝送特性測定装置に接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定する請求項1に記載の伝送特性測定方法。 - 前記被測定物の3本の前記伝送線路の各々は、一方のポートから他方のポートまで連続している請求項1乃至3のいずれか1項に記載の伝送特性測定方法。
- 前記被測定物の3本の前記伝送線路にノイズフィルタが挿入されている請求項1乃至3のいずれか1項に記載の伝送特性測定方法。
- 少なくとも6個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の6個の前記ポートに、それぞれ前記テストポートが接続された状態で6ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された6ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する伝送特性測定装置。 - 4個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路の4個の前記ポートに、4個の前記テストポートがそれぞれ接続され、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートが無反射終端された状態で4ポートSパラメータを測定する手順を、4個の前記テストポートに接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された3種類の前記4ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する伝送特性測定装置。 - さらに、入力装置を有し、
前記被測定物の6個の前記ポートのうち、4つの前記テストポートにそれぞれ接続されている4個の前記ポートを示す情報が、前記入力装置を通して入力されることにより、測定される前記4ポートSパラメータと、測定対象の前記ポートとを関連付ける請求項7に記載の伝送特性測定装置。 - 前記被測定物の6個の前記ポートのうち4つの前記テストポートにそれぞれ接続すべき4個の前記ポートを示す情報を、前記表示装置に表示し、
前記表示装置に表示された情報に基づいて、測定される前記4ポートSパラメータと、前記被測定物の前記ポートとを関連付ける請求項7に記載の伝送特性測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016116760A JP6540610B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 |
CN201710293528.6A CN107490732B (zh) | 2016-06-13 | 2017-04-28 | 传输特性测定方法以及传输特性测定装置 |
US15/586,754 US10732211B2 (en) | 2016-06-13 | 2017-05-04 | Transmission characteristics measuring method and transmission characteristics measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016116760A JP6540610B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017223445A JP2017223445A (ja) | 2017-12-21 |
JP6540610B2 true JP6540610B2 (ja) | 2019-07-10 |
Family
ID=60572614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016116760A Active JP6540610B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10732211B2 (ja) |
JP (1) | JP6540610B2 (ja) |
CN (1) | CN107490732B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102627073B1 (ko) | 2016-11-30 | 2024-01-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 백라이트 유닛, 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
CN108562769B (zh) * | 2018-05-29 | 2019-12-27 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种针对差分夹具的s参数提取方法 |
KR102394417B1 (ko) * | 2019-12-31 | 2022-05-06 | (주) 와이팜 | 결합 선로의 특성 파라미터들을 모델링하는 방법 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5677633A (en) * | 1995-09-15 | 1997-10-14 | Datacom Technologies, Inc. | Cable test instrument having interchangeable performance modules |
US5793213A (en) * | 1996-08-01 | 1998-08-11 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for calibrating a network analyzer |
US6920407B2 (en) * | 2000-09-18 | 2005-07-19 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT |
WO2002023212A1 (en) * | 2000-09-18 | 2002-03-21 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for linear characterization of multiterminal single-ended or balanced devices |
JP2002323524A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Advantest Corp | 回路網解析装置 |
CN1251468C (zh) * | 2003-02-18 | 2006-04-12 | 联想(北京)有限公司 | 传输线特性阻抗的测试方法 |
JP2005274373A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Fujitsu Ltd | Sパラメータ算出装置,sパラメータ算出方法,sパラメータ算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP4703435B2 (ja) * | 2006-02-28 | 2011-06-15 | 株式会社デンソー | 特性決定方法,コモンモードフィルタおよび通信システム |
US7414411B2 (en) * | 2006-08-23 | 2008-08-19 | Tektronix, Inc. | Signal analysis system and calibration method for multiple signal probes |
JP5463781B2 (ja) * | 2009-08-03 | 2014-04-09 | 富士通株式会社 | パラメータ算出装置、シミュレーション装置およびパラメータ算出プログラム |
US20120109566A1 (en) * | 2010-11-02 | 2012-05-03 | Ate Systems, Inc. | Method and apparatus for calibrating a test system for measuring a device under test |
CN202256521U (zh) * | 2011-09-05 | 2012-05-30 | 瞿纯昊 | S参数测量装置 |
CN102361533B (zh) * | 2011-09-30 | 2013-11-13 | 北京航空航天大学 | 一种优化pcb板电源分配网络的电磁带隙结构及其构建方法 |
CN103177150B (zh) * | 2012-11-14 | 2016-04-13 | 西安石油大学 | 声波钻柱信道fir理论模型的建立方法 |
US9276731B2 (en) * | 2013-08-08 | 2016-03-01 | Qualcomm Incorporated | N-phase signal transition alignment |
JP6405707B2 (ja) * | 2014-05-28 | 2018-10-17 | 富士ゼロックス株式会社 | 差動ケーブルの評価方法 |
US9473291B2 (en) * | 2014-07-08 | 2016-10-18 | Intel Corporation | Apparatuses and methods for reducing switching jitter |
TWI732753B (zh) * | 2015-05-13 | 2021-07-11 | 日商新力股份有限公司 | 傳送線路 |
-
2016
- 2016-06-13 JP JP2016116760A patent/JP6540610B2/ja active Active
-
2017
- 2017-04-28 CN CN201710293528.6A patent/CN107490732B/zh active Active
- 2017-05-04 US US15/586,754 patent/US10732211B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107490732A (zh) | 2017-12-19 |
CN107490732B (zh) | 2019-11-29 |
JP2017223445A (ja) | 2017-12-21 |
US10732211B2 (en) | 2020-08-04 |
US20170356940A1 (en) | 2017-12-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6540610B2 (ja) | 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 | |
CN100495046C (zh) | 夹具特性测定装置、方法以及网络分析器、半导体试验装置 | |
JP2005140785A (ja) | 負荷を利用してsパラメータを求めるためのシステム及び方法 | |
KR101152046B1 (ko) | 측정오차의 보정방법 및 전자부품특성 측정장치 | |
JP5483132B2 (ja) | 電子部品の高周波特性誤差補正方法 | |
KR20130117841A (ko) | 측정 오차의 보정방법 및 전자부품 특성 측정장치 | |
JPH0862316A (ja) | 回路網測定装置の校正方法 | |
JP4703435B2 (ja) | 特性決定方法,コモンモードフィルタおよび通信システム | |
WO2015114677A1 (ja) | 設計支援装置、設計支援方法、プログラムおよびメモリ媒体 | |
CN114137332A (zh) | 信号测试装置、方法、计算机设备和存储介质 | |
JPWO2006030547A1 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP4816173B2 (ja) | 測定誤差補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
KR20090069501A (ko) | 연결배선 커패시턴스 분석용 테스트 패턴 | |
JP2005140784A (ja) | Sパラメータ測定システム | |
JP4478879B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP5507345B2 (ja) | 測定装置および測定方法 | |
JP5458817B2 (ja) | 電子部品の電気特性測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP5153456B2 (ja) | 過剰雑音比導出装置、雑音指数導出装置、方法、プログラム、記録媒体 | |
JP4670549B2 (ja) | 測定誤差の補正方法 | |
KR20060039777A (ko) | 2포트 네트워크 분석기를 이용한 차동전송선의 등가회로모델링 방법 | |
JP4525391B2 (ja) | π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置 | |
JP6300048B2 (ja) | 電気回路網のsパラメータ導出方法 | |
JP2023092370A (ja) | 差動通信装置の耐ノイズ性能推定方法、解析モデル作成方法、及び一括治具 | |
JP2010085202A (ja) | プリント配線板の信号減衰量評価方法 | |
US20110320183A1 (en) | Computing device and method for analyzing differential transmission lines port relationships |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181023 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190514 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190527 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6540610 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |