JP6540610B2 - 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 - Google Patents

伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 Download PDF

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Description

本発明は、伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置に関する。
モバイル機器内の集積回路素子と、ディスプレイやカメラモジュールとの間の信号インタフェースとして、MIPI D−PHY規格が規定されている。MIPI(Mobile Industry Processor Interface)は、モバイル機器の内部インタフェースの一種であり、D−PHY規格においては、2本のワイヤを伝送される信号が相互に逆相の関係を有する差動伝送方式が用いられる。
差動伝送方式の伝送線路に挿入される部品や、伝送線路が形成されている基板の評価指標として、ミックストモードSパラメータが用いられる。ミックストモードSパラメータは、通常のSパラメータ(シングルエンデッドSパラメータと呼ばれる。)から算出することができる。ミックストモードSパラメータを用いることにより、ノーマルモード及びコモンモードといったモードごとに信号の伝送特性を容易に評価することができる。
mipi D-PHY 規格書 v1.2 (http://mipi.org/specifications/physical-layer#D-PHY Specification)
近年、3ライン伝送方式(MIPI C−PHY規格)が提案されている。MIPI C−PHY規格の伝送方式では、MIPI D−PHY規格の伝送方式に比べて信号伝送の高速化が可能である。MIPI C−PHY規格の伝送方式で伝送される信号に対してノイズ対策が行われている。有効なノイズ対策を行うために、3ライン伝送方式の伝送線路に接続される部品や、伝送線路が形成されている基板の特性を客観的に評価する方法が望まれている。
従来の2ライン差動伝送方式に適用される部品の特性は、従来のミックストモードSパラメータを用いて評価することが可能である。ところが、MIPI C−PHY規格の伝送方式では、3本の伝送線路を用いて信号伝送が行われることに加え、信号の伝送パターンも複雑であるため、従来のミックストモードSパラメータを用いて、MIPI C−PHY規格の伝送方式に適用される部品の評価を行うことは困難である。
本発明の目的は、3ライン伝送方式に適用される伝送線路や部品の伝送特性の評価に適した伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置を提供することである。
本発明の第1の観点による伝送特性測定方法は、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートが定義された被測定物のSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定されたSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出する。
3本の伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じたミックストモードSパラメータを用いることにより、3ライン伝送方式に適用される伝送線路や部品の伝送特性を評価することができる。
3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンはコモンモードノイズに相当する。この遷移パターンを1つのモードと定義することにより、コモンモードノイズを評価することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定方法では、第の観点による伝送特性測定方法に加えて、
前記Sパラメータは6ポートSパラメータであり、
少なくとも6個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートを、それぞれ前記被測定物の6個のポートに接続して、前記Sパラメータを測定する。
被測定物と伝送特性測定装置との接続構成を変えることなく、6ポートを有する被測定物のミックストモードSパラメータを算出することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定方法では、第の観点による伝送特性測定方法に加えて、
前記Sパラメータは3種類の4ポートSパラメータを含み、
前記被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路に対応する4個の前記ポートに、4個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートをそれぞれ接続し、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートを無反射終端して、4ポートSパラメータを測定する手順を、前記伝送特性測定装置に接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定する。
4ポートの伝送特性測定装置を用いて、6ポートの被測定物のミックストモードSパラメータを算出することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定方法では、第1乃至の観点による伝送特性測定方法に加えて、前記被測定物の3本の前記伝送線路の各々は、一方のポートから他方のポートまで連続している。
伝送線路自体の伝送特性を評価することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定方法では、第1乃至の観点による伝送特性測定方法に加えて、前記被測定物の3本の前記伝送線路にノイズフィルタが挿入されている。
ノイズフィルタの伝送特性を評価することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定装置は、
少なくとも6個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の6個の前記ポートに、それぞれ前記テストポートが接続された状態で6ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された6ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する。
被測定物と伝送特性測定装置との接続構成を変えることなく、6ポートSパラメータを測定することができる。表示装置に表示された算出結果により、ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を容易に知ることができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定装置は、
4個のテストポートと、
表示装置と
を有し、
3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路の4個の前記ポートに、4個の前記テストポートがそれぞれ接続され、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートが無反射終端された状態で4ポートSパラメータを測定する手順を、4個の前記テストポートに接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定し、
3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された3種類の前記4ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
算出結果を前記表示装置に表示する。
4ポートの伝送特性測定装置を用いて、6ポートの被測定物の6ポートSパラメータを測定することができる。表示装置に表示された算出結果により、ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を容易に知ることができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定装置は、第の観点による伝送特性測定装置に加えて、
さらに、入力装置を有し、
前記被測定物の6個の前記ポートのうち、4つの前記テストポートにそれぞれ接続されている4個の前記ポートを示す情報が、前記入力装置を通して入力されることにより、測定される前記4ポートSパラメータと、測定対象の前記ポートとを関連付ける。
入力装置を通して入力された情報により、4ポートSパラメータと、測定対象のポートとを関連付けることができる。これにより、4ポートSパラメータから6ポートの被測定物のミックストモードSパラメータを算出することができる。
本発明の第の観点による伝送特性測定装置では、第の観点による伝送特性測定装置に加えて、
前記被測定物の6個の前記ポートのうち4つの前記テストポートにそれぞれ接続すべき4個の前記ポートを示す情報を、前記表示装置に表示し、
前記表示装置に表示された情報に基づいて、測定される前記4ポートSパラメータと、前記被測定物の前記ポートとを関連付ける。
オペレータは、表示装置に表示された情報を見て、被測定物と伝送特性測定装置とを接続すればよい。
3本の伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じたミックストモードSパラメータを用いることにより、3ライン伝送方式に適用される伝送線路や部品の伝送特性を評価することができる。
図1A及び図1Bは、実施例による伝送特性測定方法で用いられる部品実装用基板の一例を示す平面図である。 図2は、被測定物と伝送特性測定装置との接続構成の一例を示す図である。 図3は、MIPI C−PHY規格に準拠するレベル遷移パターンをモードごとに分類した結果を示す図である。 図4Aは、6ポート回路部品のポートと、各ポートの入出力信号との関係を示す図であり、図4Bは、入力信号、出力信号、及びSパラメータの関係を示す図である。 図5Aは、モード空間における6個のポートと、入出力モードとの関係を示す図であり、図5Bは、入力モード、出力モード、及びミックストモードSパラメータの関係を示す図である。 図6は、実施例1による伝送特性測定方法のフローチャートである。 図7A、図7B、及び図7Cは、実施例2による伝送特性測定方法を測定するときの伝送特性測定装置と被測定物との接続構成を示す図である。 図8は、実施例3による伝送特性測定方法のフローチャートである。 図9は、実施例4による伝送特性測定方法のフローチャートである。
[実施例1]
図1Aから図6までの図面を参照して、実施例1による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。
図1Aに、実施例による伝送特性測定方法で用いられる部品実装用基板11の平面図を示す。部品実装用基板11に、3値信号が伝送される3本の伝送線路12A、12B、12Cが形成されている。伝送線路12A、12B、12Cは、例えばマイクロストリップ線路で構成される。伝送線路12A、12B、12Cの特性インピーダンスは、例えば50Ωである。伝送線路12A、12B、12Cの各々の長さ方向のほぼ中央に、部品実装箇所15が設けられている。部品実装箇所15において、伝送線路12A、12B、12Cの各々が切断されている。切断された部分を回路部品で接続することにより、伝送線路12A、12B、12Cに回路部品が挿入される。
測定対象の回路部品の例として、ノイズフィルタ等が挙げられる。ノイズフィルタとして、3ライン用のコモンモードチョークコイル、相互に独立した等価な3つのインダクタ等が挙げられる。部品実装箇所15で切断されている伝送線路12A、12B、12Cの各々を短絡してもよい。切断箇所を短絡すると、伝送線路12A、12B、12Cが、それぞれ一方のポートから他方のポートまで連続する。これにより、伝送線路自体の伝送特性を測定することができる。
部品実装用基板11の部品実装箇所15に測定対象の回路部品を実装するか、または伝送線路12A、12B、12Cの切断箇所を短絡することにより被測定物10が得られる。1本の伝送線路は信号の入出力のための一対のポートを有し、被測定物10は合計で6個のポートを有する。具体的には、被測定物10は、1本目の伝送線路12Aの入力側のポートP1、出力側のポートP2、2本目の伝送線路12Bの入力側のポートP3、出力側のポートP4、及び3本目の伝送線路12Cの入力側のポートP5、出力側のポートP6を含む。
伝送線路12A、12B、12Cは、部品実装箇所15から両側に向かって、ある地点Rまで相互に平行に延びる。中央の伝送線路12Bは、地点Rを越えても、そのまま直線的に延びる。伝送線路12Bの両脇に配置された伝送線路12A、12Cは、地点Rにおいて、中央の伝送線路12Bから遠ざかる向きに斜めに折れ曲がっている。伝送線路12Aと伝送線路12Cとは、中央の伝送線路12Bに関して線対称の関係を有する。
図1Bに示すように、部品実装箇所15から放射状に伝送線路12A、12B、12Cが延びる構成としてもよい。
図2に、被測定物10と伝送特性測定装置20との接続構成の一例を示す。伝送特性測定装置には、例えば6ポートネットワークアナライザを用いることができる。伝送特性測定装置20は、少なくとも6個のテストポートT1〜T6、表示装置21、及び入力装置22を有する。なお、伝送特性測定装置20として、6ポートネットワークアナライザに代えて、7個以上のテストポートを有するネットワークアナライザを用いてもよい。入力装置22を通してオペレータが伝送特性測定装置20に種々の指令を入力する。伝送特性測定装置20は、表示装置21に測定結果等の種々の情報を表示する。
伝送特性測定装置20のテストポートT1〜T6に、それぞれ被測定物10のポートP1〜P6を接続する。伝送特性測定装置20は、6ポート回路部品の一般的なSパラメータ(シングルエンデッドSパラメータ)を測定する機能を有する。
次に、図3を参照してMIPI C−PHY規格に準拠する信号のレベル遷移パターンを複数のモードに分類する手法について説明する。
図3に、MIPI C−PHY規格に準拠する信号のレベル遷移パターンを複数のモードに分類した結果を示す。図3において、もっとも太い実線がAライン(例えば図1Aの伝送線路12A)を表し、破線がBライン(例えば図1Aの伝送線路12B)を表し、細い実線がCライン(例えば図1Aの伝送線路12C)を表す。各ラインを、3値信号、例えばLレベル、Mレベル、Hレベルの値を取り得る信号が伝送される。
MIPI C−PHY規格においては、Aライン、Bライン、Cラインの信号レベルが、Lレベル、Mレベル、Hレベルの3値のいずれかのレベルになり、複数のラインが同一のレベルになることはない。例えば、図3の1行1列目のレベル遷移パターンは、AラインがLレベルからHレベルに遷移し、BラインがHレベルからMレベルに遷移し、CラインがMレベルからLレベルに遷移することを意味している。
Aライン、Bライン、及びCラインの信号レベルの変動が等価な複数のレベル遷移パターンを1つのモードとして定義する。いずれか1本のラインにおけるレベル遷移がLレベルとHレベルとの間で行われ、他の2本のラインにおけるレベル遷移が、LレベルとMレベルとの間、またはMレベルとHレベルとの間で行われる遷移パターンをXモードということとする。いずれか1本のラインにおいて信号レベルが遷移せず、他の2本のラインにおいて信号レベルが相互に逆相に遷移する遷移パターンをYモードということとする。
Xモードのうち、Aラインの信号レベルがLレベルとHレベルとの間で遷移する遷移パターンをXAモードといい、Bラインの信号レベルがLレベルとHレベルとの間で遷移する遷移パターンをXBモードといい、Cラインの信号レベルがLレベルとHレベルとの間で遷移する遷移パターンをXCモードということとする。Yモードのうち、Aラインの信号レベルが遷移しない遷移パターンをYAモードといい、Bラインの信号レベルが遷移しない遷移パターンをYBモードといい、Cラインの信号レベルが遷移しない遷移パターンをYCモードということとする。すべてのラインの信号レベルが同相に変化するコモンモードをZモードということとする。Zモードの信号レベルの遷移幅は特に限定されず、図3に示した信号レベルの変化は一例である。
次に、図4A及び図4Bを参照して、6ポート回路部品のSパラメータについて説明する。
図4Aに、6ポート回路部品のポートP1〜P6と、各ポートの入出力信号との関係を示す。ポートP1とポートP2とが、それぞれAラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当する。同様に、ポートP3とポートP4とが、それぞれBラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当し、ポートP5とポートP6とが、それぞれCラインへの信号の入出力が行われる一対のポートに相当する。ポートPi(iは1、2、3、4、5、または6)への入力信号をaと表し、ポートPiからの出力信号をbと表す。ここで、a、bは、信号電力の平方根を表している。
図4Bに、入力信号a、出力信号b、及びSパラメータの関係を示す。入力信号aを表す行列をA、出力信号bを表す行列をB、Sパラメータを表す行列をSで表すと、
B=SA・・・(1)
と表すことができる。
次に、図5A及び図5Bを参照して、3ライン6ポート回路部品のミックストモードSパラメータについて説明する。ミックストモードSパラメータは、信号レベルの遷移パターンが等価なものをまとめて1つのモードと定義したとき、複数のモードからなるモード空間で定義される。
図5Aに、モード空間における6個のポートと、入出力モードとの関係を示す。ポートPX1とポートPX2とが、それぞれXモードの信号が入出力される一対のポートに相当する。ポートPY1及びポートPY2が、それぞれYモードの信号が入出力される一対のポートに相当する。ポートPZ1及びポートPZ2が、それぞれZモードの信号が入出力される一対のポートに相当する。ポートPi(iはX1、X2、Y1、Y2、Z1、またはZ2)への入力モード信号をaと表し、ポートPiからの出力モード信号をbと表す。
図5Bに、入力モード信号a、出力モード信号b、及びミックストモードSパラメータの関係を示す。入力モード信号aを表す行列をAm、出力モード信号bを表す行列をBm、ミックストモードSパラメータを表す行列をSmで表すと、
Bm=SmAm・・・(2)
と表すことができる。
まず、モード空間において回路部品に入力されるXモードがXAモードであり、YモードがYAモードである場合について考察する。XAモードでは、Aラインにおける信号レベルの変動が「1」である場合、Bライン及びCラインにおける信号レベルの変動は「−1/2」に相当する。YAモードでは、Bラインにおける信号レベルの変動が「1」である場合、Cラインにおける信号レベルの変動は「−1」に相当し、Aラインにおける信号レベルの変動は「0」に相当する。Zモードでは、すべてのラインの信号レベルの変動が「1」である。
モード空間における各モードの入出力は、6ポートの入出力信号を用いて以下のように表すことができる。
Figure 0006540610
式(3)は、下記の式(4)に示す行列Mを用いて、式(5)、(6)のようにまとめることができる。
Figure 0006540610
Am=MA・・・(5)
Bm=MB・・・(6)
ここで、行列A、B、Am、Bmは、図4B及び図5Bで定義された通りである。
式(1)に左から行列Mを掛けると、以下の式が得られる。
MB=MSA=MSEA=MSM−1MA・・・(7)
ここで、M−1は行列Mの逆行列であり、Eは単位行列である。
式(7)は、式(5)及び(6)を用いて、以下のように表すことができる。
Bm=MSM−1Am・・・(8)
式(2)と、式(8)とを比較すると、6ポートのSパラメータとミックストモードSパラメータとは、以下の関係を有することが分かる。
Sm=MSM−1・・・(9)
式(9)を用いて各モードの透過特性を計算すると、ミックストモードSパラメータのSXAXA21、SYAYA21、SZZ21が以下のように求まる。
Figure 0006540610
同様に、XBモード、XCモード、YBモード、YCモードについても計算すると、以下の式が得られる。
Figure 0006540610
上述の式(10)及び(11)に示すように、MIPI C−PHY規格に準拠した3ラインの信号レベルの遷移パターンに対応した各モードの透過特性を表すミックストモードSパラメータを、6ポートSパラメータから算出することができる。
同様の方法で、ミックストモードSパラメータのモード変換に対応する成分を算出することができる。例えば、ZモードからXAモードへのモード変換透過特性を表すSXAZ21は、以下の式で表すことができる。
Figure 0006540610
XAモードからZモードへのモード変換透過特性を表すSZXA21は、以下の式で表すことができる。
Figure 0006540610
図6に、実施例1による伝送特性測定方法のフローチャートを示す。ステップ31において、部品実装用基板11(図1A、図1B)の部品実装箇所15に、測定対象である回路部品を実装する。これにより、測定対象の回路部品が伝送線路12A、12B、12Cに挿入される。部品実装箇所15において、伝送線路12A、12B、12Cの各々を短絡してもよい。
ステップ32において、伝送特性測定装置20(図2)のテストポートT1〜T6を、それぞれ被測定物10のポートP1〜P6に接続する。ステップ33において、伝送特性測定装置20により、被測定物10の6ポートSパラメータを測定する。
ステップ34において、6ポートSパラメータの測定値に基づいて、ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータSXAXA21、SXBXB21、SXCXC21、SYAYA21、SYBYB21、SYCYC21、及びSZZ21を算出する。これらのパラメータの算出には、上述の式(10)及び式(11)を用いることができる。式(12)及び式(13)等を用いて、モード変換透過特性を表すパラメータSXAZ21、SZXA21等を算出してもよい。
伝送特性測定装置20(図2)で測定されたSパラメータの測定値をリムーバブルメディア等に記録して、パソコン等でミックストモードSパラメータを算出する計算を行うことができる。伝送特性測定装置20に、Sパラメータの測定結果からミックストモードSパラメータを計算する機能を持たせてもよい。この場合、伝送特性測定装置20に、ミックストモードSパラメータの算出結果を、表示装置21に数値またはグラフ形式で表示する機能を持たせてもよい。
[実施例2]
次に、図7Aから図7Cまでの図面を参照して、実施例2による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例1との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
実施例1では、伝送特性測定装置20(図2)として、少なくとも6個のテストポートを持つネットワークアナライザを用いた。実施例2では、伝送特性測定装置20として、4個のテストポートを持つネットワークアナライザを用いる。
図7Aに示すように、伝送特性測定装置20が、4個のテストポートT1〜T4、表示装置21、及び入力装置22を有する。入力装置22を通してオペレータが伝送特性測定装置20に種々の指令を入力する。伝送特性測定装置20は、表示装置21に測定結果等の種々の情報を表示する。
被測定物10の3本の伝送線路12A、12B、12Cのうち、2本の伝送線路12A、12Bの4個のポートP1〜P4に、伝送特性測定装置20の4個のテストポートT1〜T4をそれぞれ接続する。残りの1本の伝送線路12Cの2つのポートP5、P6に50Ωの終端抵抗RTを接続することにより無反射終端とする。この状態で、4ポートSパラメータを測定する。
図7B及び図7Cに示すように、4ポートSパラメータを測定する手順を、伝送特性測定装置20に接続する2本の伝送線路の組み合わせを変えて実行する。これにより、3種類の4ポートSパラメータが得られる。図7Bは、被測定物10の伝送線路12A、12CのポートP1、P2、P5、P6が伝送特性測定装置20に接続され、ポートP3、P4が無反射終端されている接続構成を示している。図7Cは、被測定物10の伝送線路12B、12CのポートP3〜P6が伝送特性測定装置20に接続され、ポートP1、P2が無反射終端されている構成を示している。
3種類の4ポートSパラメータの測定結果から、公知の手法を用いて6ポートSパラメータを算出する。6ポートSパラメータの算出は、パソコン等を用いて行うことができる。
実施例2においては、4個のテストポートしか持たないネットワークアナライザを用いて、6ポートの被測定物10のミックストモードSパラメータを求めることができる。
[実施例3]
次に、図8を参照して実施例3による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例2との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。実施例3では、実施例2と同様に、伝送特性測定装置20(図7A〜図7C)として4つのテストポートT1〜T4を持つネットワークアナライザを用いる。
図8に、実施例3による伝送特性測定方法のフローチャートを示す。ステップ41において、例えば図7Aに示すように、被測定物10の伝送線路12A、12Bに対応する4つのポートP1〜P4を、伝送特性測定装置20の4つのテストポートT1〜T4に接続し、残りの2つのポートP5、P6を無反射終端する。ステップ42において、4ポートSパラメータを測定する。ステップ43において、オペレータが、被測定物10のポートP1〜P4と、伝送特性測定装置20の4つのテストポートT1〜T4との接続構成を、入力装置22を通して伝送特性測定装置20に入力する。これにより、伝送特性測定装置20は、測定された4ポートSパラメータと、被測定物10の4つのポートP1〜P4とを関連付けることができる。
ステップ44において、被測定物10の3本の伝送線路の全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が終了したか否かを判定する。この判定は、オペレータが行う。3本の伝送線路の全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が終了していない場合には、未測定の組み合わせについてステップ41からステップ43まで実行する。これにより、図7A、図7B及び図7Cに示した全ての接続構成について4ポートSパラメータの測定が行われる。
ステップ45において、伝送特性測定装置20が、測定された3種類の4ポートSパラメータに基づいて、6ポートSパラメータを算出する。ステップ46において、伝送特性測定装置20は、算出された6ポートSパラメータに基づいて、ミックストモードSパラメータを算出する。この算出には、実施例1のステップ34(図6)と同一の手法を用いることができる。ステップ47において、伝送特性測定装置20は、算出されたミックストモードSパラメータを表す情報を表示装置21(図7A等)に表示する。
実施例3においては、4ポートのネットウェアークアナライザが、3種類の4ポートSパラメータから6ポートSパラメータを算出する機能、及び6ポートSパラメータからミックストモードSパラメータを算出する機能を有する。これにより、パソコン等を用いることなく、ミックストモードSパラメータを算出することができる。
[実施例4]
次に、図9を参照して実施例4による伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置について説明する。以下、実施例3との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。実施例3では、被測定物10のポートと、伝送特性測定装置20のテストポートとの接続構成を、オペレータが入力した(図8のステップ43)。
図9に、実施例4による伝送特性測定方法のフローチャートを示す。実施例4では、ステップ51において、伝送特性測定装置20が表示装置21に、被測定物10の4つのポートと、伝送特性測定装置20のテストポートとの接続構成を示す情報、及び残りの2つのポートを無反射終端するように促す情報を表示する。ステップ52において、オペレータは、表示装置21に表示された通りに接続を行う。
ステップ53において、伝送特性測定装置20が4ポートSパラメータを測定する。ステップ54において、被測定物10の3本の伝送線路の全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が終了したか否かを判定する。この判定は、伝送特性測定装置20が行う。
3本の伝送線路の全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が終了していない場合には、未測定の組み合わせについてステップ51からステップ53までを実行する。これにより、図7A、図7B及び図7Cに示した全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が行われる。3本の伝送線路の全ての組み合わせについて4ポートSパラメータの測定が終了した後のステップ45からステップ47までの処理は、図8に示した実施例3の処理と同一である。
実施例4では、オペレータは伝送特性測定装置20の指示通りに接続を行うことにより、測定を行うことができる。
上述の各実施例は例示であり、異なる実施例で示した構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることは言うまでもない。複数の実施例の同様の構成による同様の作用効果については実施例ごとには逐次言及しない。さらに、本発明は上述の実施例に制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
10 被測定物
11 部品実装用基板
12A、12B、12C 伝送線路
15 部品実装箇所
20 伝送特性測定装置
21 表示装置
22 入力装置
30〜33、41〜47、51〜54 ステップ
P1〜P6 被測定物のポート
T1〜T6 テストポート

Claims (9)

  1. 3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートが定義された被測定物のSパラメータを測定し、
    3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定されたSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出する伝送特性測定方法。
  2. 前記Sパラメータは6ポートSパラメータであり、
    少なくとも6個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートを、それぞれ前記被測定物の6個のポートに接続して、前記Sパラメータを測定する請求項に記載の伝送特性測定方法。
  3. 前記Sパラメータは3種類の4ポートSパラメータを含み、
    前記被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路に対応する4個の前記ポートに、4個のテストポートを持つ伝送特性測定装置の前記テストポートをそれぞれ接続し、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートを無反射終端して、4ポートSパラメータを測定する手順を、前記伝送特性測定装置に接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定する請求項に記載の伝送特性測定方法。
  4. 前記被測定物の3本の前記伝送線路の各々は、一方のポートから他方のポートまで連続している請求項1乃至のいずれか1項に記載の伝送特性測定方法。
  5. 前記被測定物の3本の前記伝送線路にノイズフィルタが挿入されている請求項1乃至のいずれか1項に記載の伝送特性測定方法。
  6. 少なくとも6個のテストポートと、
    表示装置と
    を有し、
    3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の6個の前記ポートに、それぞれ前記テストポートが接続された状態で6ポートSパラメータを測定し、
    3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された6ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
    算出結果を前記表示装置に表示する伝送特性測定装置。
  7. 4個のテストポートと、
    表示装置と
    を有し、
    3値信号が伝送される3本の伝送線路を含み、3本の前記伝送線路の各々が一対のポートを有し、合計で6個のポートを有する被測定物の3本の前記伝送線路のうち、2本の前記伝送線路の4個の前記ポートに、4個の前記テストポートがそれぞれ接続され、残りの1本の前記伝送線路の2つの前記ポートが無反射終端された状態で4ポートSパラメータを測定する手順を、4個の前記テストポートに接続する2本の前記伝送線路の組み合わせを変えて実行することにより、3種類の前記4ポートSパラメータを測定し、
    3本の前記伝送線路において、信号レベルの変動が等価な遷移パターンを1つのモードと定義し、3本の前記伝送線路のすべてにおいて信号レベルの変動が同一である遷移パターンを他の1つのモードと定義し、ミックストモードSパラメータを、複数のモードを含むモード空間で定義したとき、測定された3種類の前記4ポートSパラメータに基づいて、3本の前記伝送線路の信号レベルの遷移パターンに応じた前記ミックストモードSパラメータのうち各モードの透過特性を表すパラメータを算出し、
    算出結果を前記表示装置に表示する伝送特性測定装置。
  8. さらに、入力装置を有し、
    前記被測定物の6個の前記ポートのうち、4つの前記テストポートにそれぞれ接続されている4個の前記ポートを示す情報が、前記入力装置を通して入力されることにより、測定される前記4ポートSパラメータと、測定対象の前記ポートとを関連付ける請求項に記載の伝送特性測定装置。
  9. 前記被測定物の6個の前記ポートのうち4つの前記テストポートにそれぞれ接続すべき4個の前記ポートを示す情報を、前記表示装置に表示し、
    前記表示装置に表示された情報に基づいて、測定される前記4ポートSパラメータと、前記被測定物の前記ポートとを関連付ける請求項に記載の伝送特性測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102627073B1 (ko) 2016-11-30 2024-01-19 삼성디스플레이 주식회사 백라이트 유닛, 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
CN108562769B (zh) * 2018-05-29 2019-12-27 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种针对差分夹具的s参数提取方法
KR102394417B1 (ko) * 2019-12-31 2022-05-06 (주) 와이팜 결합 선로의 특성 파라미터들을 모델링하는 방법

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5677633A (en) * 1995-09-15 1997-10-14 Datacom Technologies, Inc. Cable test instrument having interchangeable performance modules
US5793213A (en) * 1996-08-01 1998-08-11 Motorola, Inc. Method and apparatus for calibrating a network analyzer
US6920407B2 (en) * 2000-09-18 2005-07-19 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT
WO2002023212A1 (en) * 2000-09-18 2002-03-21 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for linear characterization of multiterminal single-ended or balanced devices
JP2002323524A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Advantest Corp 回路網解析装置
CN1251468C (zh) * 2003-02-18 2006-04-12 联想(北京)有限公司 传输线特性阻抗的测试方法
JP2005274373A (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Fujitsu Ltd Sパラメータ算出装置,sパラメータ算出方法,sパラメータ算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP4703435B2 (ja) * 2006-02-28 2011-06-15 株式会社デンソー 特性決定方法,コモンモードフィルタおよび通信システム
US7414411B2 (en) * 2006-08-23 2008-08-19 Tektronix, Inc. Signal analysis system and calibration method for multiple signal probes
JP5463781B2 (ja) * 2009-08-03 2014-04-09 富士通株式会社 パラメータ算出装置、シミュレーション装置およびパラメータ算出プログラム
US20120109566A1 (en) * 2010-11-02 2012-05-03 Ate Systems, Inc. Method and apparatus for calibrating a test system for measuring a device under test
CN202256521U (zh) * 2011-09-05 2012-05-30 瞿纯昊 S参数测量装置
CN102361533B (zh) * 2011-09-30 2013-11-13 北京航空航天大学 一种优化pcb板电源分配网络的电磁带隙结构及其构建方法
CN103177150B (zh) * 2012-11-14 2016-04-13 西安石油大学 声波钻柱信道fir理论模型的建立方法
US9276731B2 (en) * 2013-08-08 2016-03-01 Qualcomm Incorporated N-phase signal transition alignment
JP6405707B2 (ja) * 2014-05-28 2018-10-17 富士ゼロックス株式会社 差動ケーブルの評価方法
US9473291B2 (en) * 2014-07-08 2016-10-18 Intel Corporation Apparatuses and methods for reducing switching jitter
TWI732753B (zh) * 2015-05-13 2021-07-11 日商新力股份有限公司 傳送線路

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