JP6405707B2 - 差動ケーブルの評価方法 - Google Patents
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Description
本発明は、差動ケーブルの評価方法に関する。
特許文献１には、平衡ケーブルの両端で平衡ケーブルのシールド導体をシールドケースの筐体に接続するとともに、平衡ケーブルの線路導体をシールドケースの筐体内に配備された不平衡線路の一端に接続し、一方のシールドケースの不平衡線路の他端を出力ポートに接続し、他方のシールドケースの不平衡線路の他端に該シールドケースの筐体に接地された終端抵抗を接続し、平衡ケーブルにノイズを注入するために平衡ケーブルの予め定めた位置の近傍に平衡ケーブルと電磁結合された結合器を配備し、結合器に入力ポートが接続されるので、平衡ケーブル固有の伝送モードである差動モードおよびコモンモードを考慮しており、平衡ケーブルのシールド性能評価を可能としたシールド性能評価回路が記載されている。
特許文献２には、被測定機器の一主面に対し予め定めた間隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブを含む電波照射部と、前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供給する送信装置と、前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電波耐性を算出する判定装置と、算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを備える電波耐性試験装置が記載されている。
本発明の目的は、ネットワークアナライザのポート数より多いポート数を有する、差動ケーブルを含む被測定物を測定値の確度を確保して評価できる差動ケーブルの評価方法を提供する。
請求項１に記載の発明は、一対の信号線を有する差動ケーブルと、当該差動ケーブルの外側に配置されて当該差動ケーブルと相互作用させる測定子と、を含み、複数のポートを備える被測定物に対して、当該被測定物の当該複数のポート数より少ないポート数を有するネットワークアナライザにて、当該差動ケーブルを評価する差動ケーブルの評価方法であって、前記被測定物の複数のポートから、前記ネットワークアナライザのポート数以下のポートを選択して、Ｓパラメータを測定するステップと、測定の確度を評価するステップと、を含み、前記被測定物の前記複数のポートのうち、選択されなかったポートがなくなるまでポートの組み合わせを変更しつつ、前記Ｓパラメータを測定するステップを繰り返して当該被測定物の当該複数のポートの全てに対するＳパラメータを取得するとともに、前記Ｓパラメータを測定するステップの繰り返しにおいて、前記被測定物の全てのポートの番号を添え字として含む複数のＳパラメータを重複して測定し、前記測定の確度を評価するステップにおいて、重複して測定した前記Ｓパラメータの差が、予め定められた閾値以下である割合により、測定の確度を評価することを特徴とする差動ケーブルの評価方法である。
請求項２に記載の発明は、前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートと前記測定子の１ポートである場合に、ポート数が４の前記ネットワークアナライザにより、当該被測定物のＳパラメータの測定を、当該一対の信号線の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、当該測定子の１ポートを含めて選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項１に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項３に記載の発明は、前記差動ケーブルにおいて、当該差動ケーブルの信号が伝達される方向における複数の位置に前記測定子を配置し、その位置ごとに、前記Ｓパラメータを測定するステップを繰り返すことにより、前記被測定物のＳパラメータを測定することを特徴とする請求項１又は２に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項４に記載の発明は、繰り返される前記Ｓパラメータを測定するステップには、前記差動ケーブルの前記複数の位置に複数の測定子を配置し、当該複数の測定子のうち少なくとも２つの測定子を含むようにポートを選択した当該Ｓパラメータを測定するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項５に記載の発明は、前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートであって、前記差動ケーブルに信号を送信する送信部側、当該差動ケーブルから信号を受信する受信部側、当該差動ケーブルの中央部のそれぞれに設置した複数の測定子に対して、４ポートの前記ネットワークアナライザにて、当該被測定物のＳパラメータを測定する場合において、前記被測定物の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、前記複数の測定子のうち２つの測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップと、当該複数の測定子のうち選択されなかった測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項４に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項２に記載の発明は、前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートと前記測定子の１ポートである場合に、ポート数が４の前記ネットワークアナライザにより、当該被測定物のＳパラメータの測定を、当該一対の信号線の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、当該測定子の１ポートを含めて選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項１に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項３に記載の発明は、前記差動ケーブルにおいて、当該差動ケーブルの信号が伝達される方向における複数の位置に前記測定子を配置し、その位置ごとに、前記Ｓパラメータを測定するステップを繰り返すことにより、前記被測定物のＳパラメータを測定することを特徴とする請求項１又は２に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項４に記載の発明は、繰り返される前記Ｓパラメータを測定するステップには、前記差動ケーブルの前記複数の位置に複数の測定子を配置し、当該複数の測定子のうち少なくとも２つの測定子を含むようにポートを選択した当該Ｓパラメータを測定するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項５に記載の発明は、前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートであって、前記差動ケーブルに信号を送信する送信部側、当該差動ケーブルから信号を受信する受信部側、当該差動ケーブルの中央部のそれぞれに設置した複数の測定子に対して、４ポートの前記ネットワークアナライザにて、当該被測定物のＳパラメータを測定する場合において、前記被測定物の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、前記複数の測定子のうち２つの測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップと、当該複数の測定子のうち選択されなかった測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項４に記載の差動ケーブルの評価方法である。
請求項１の発明によれば、被測定物のポート数以上のポート数を備えるネットワークアナライザを用いることなく、ネットワークアナライザのポート数より多いポート数を有する、差動ケーブルを含む被測定物を測定値の確度を確保して評価できる。
請求項２の発明によれば、４ポートのネットワークアナライザにより、５ポートの被測定物のＳパラメータが測定の回数を抑制して測定できる。
請求項３の発明によれば、一か所に測定子を固定して配置する場合に比べ、差動ケーブルの特性がより正確に評価できる。
請求項４、５の発明によれば、測定子ごとに測定する場合に比べ、Ｓパラメータを測定するステップの数を抑制できる。
請求項２の発明によれば、４ポートのネットワークアナライザにより、５ポートの被測定物のＳパラメータが測定の回数を抑制して測定できる。
請求項３の発明によれば、一か所に測定子を固定して配置する場合に比べ、差動ケーブルの特性がより正確に評価できる。
請求項４、５の発明によれば、測定子ごとに測定する場合に比べ、Ｓパラメータを測定するステップの数を抑制できる。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
［第１の実施の形態］
（差動ケーブル１０）
図１は、第１の実施の形態の差動ケーブルの評価方法が適用される差動ケーブル１０を含む被測定物１（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）を示す図である。
ＤＵＴ１は、差動ケーブル１０と差動ケーブル１０の外側に差動ケーブル１０を取り巻くように設けられた測定子の一例としての電流クランプ２０とを備えている。
そして、差動ケーブル１０は、一対の信号線１１、１２とそれを包む被覆部１３とを備えている。なお、被覆部１３は、信号線１１、１２の保護及び絶縁のために設けられたプラスティックで構成されたフィルム層であってもよく、金属の編線で構成された電磁シールド層をさらに含んでもよい。
また、電流クランプ２０は、差動ケーブル１０と相互作用して、外部から差動ケーブル１０に入るノイズ等が差動ケーブル１０に与える影響を評価する。電流クランプ２０の代わりに、電極、プローブ、探針などであってもよい。
［第１の実施の形態］
（差動ケーブル１０）
図１は、第１の実施の形態の差動ケーブルの評価方法が適用される差動ケーブル１０を含む被測定物１（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）を示す図である。
ＤＵＴ１は、差動ケーブル１０と差動ケーブル１０の外側に差動ケーブル１０を取り巻くように設けられた測定子の一例としての電流クランプ２０とを備えている。
そして、差動ケーブル１０は、一対の信号線１１、１２とそれを包む被覆部１３とを備えている。なお、被覆部１３は、信号線１１、１２の保護及び絶縁のために設けられたプラスティックで構成されたフィルム層であってもよく、金属の編線で構成された電磁シールド層をさらに含んでもよい。
また、電流クランプ２０は、差動ケーブル１０と相互作用して、外部から差動ケーブル１０に入るノイズ等が差動ケーブル１０に与える影響を評価する。電流クランプ２０の代わりに、電極、プローブ、探針などであってもよい。
差動ケーブル１０における一対の信号線１１、１２の一端部は、それぞれポート（Ｐｏｒｔ）１、ポート２であって、送信部２に接続されている。信号線１１、１２の他端部は、それぞれポート３、ポート４であって、受信部３に接続されている。すなわち、差動ケーブル１０は、送信部２と受信部３との間に設けられている。そして、送信部２からポート１、ポート２に送信された差動信号は、一対の信号線１１、１２を伝搬し、ポート３、ポート４から受信部３に受信される。
また、電流クランプ２０は、ポート５に接続され、ポート５は、ノイズ発生源４に接続されている。
すなわち、図１に示すＤＵＴ１は、５ポート回路である。
また、電流クランプ２０は、ポート５に接続され、ポート５は、ノイズ発生源４に接続されている。
すなわち、図１に示すＤＵＴ１は、５ポート回路である。
“ポート”という用語は、ＤＵＴ１において、信号の入出力に使用される端子に対して、広く用いられている。また、“ポート”という用語は、ネットワークアナライザ（ＮＡ：Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａｎａｌｉｚｅｒ）（後述する図２のＮＡ５、図３のＮＡ６参照）において、信号の入出力に使用される端子にも広く用いられている。
そこで、ＤＵＴ１のポートとＮＡ５のポートとを区別するため、図１に示すように、ＤＵＴ１のポート１〜５を、ポートＤ１〜Ｄ５と表記する。そして、これ以降の図において、ＤＵＴ１のポート１〜５を、Ｄ１〜Ｄ５と表記する。ＮＡ５、ＮＡ６については、後述する。
そこで、ＤＵＴ１のポートとＮＡ５のポートとを区別するため、図１に示すように、ＤＵＴ１のポート１〜５を、ポートＤ１〜Ｄ５と表記する。そして、これ以降の図において、ＤＵＴ１のポート１〜５を、Ｄ１〜Ｄ５と表記する。ＮＡ５、ＮＡ６については、後述する。
なお、図１では、差動ケーブル１０の左側に送信部２が、右側に受信部３が設けられているが、逆であってもよい。
（Ｓパラメータの測定方法）
図２は、第１の実施の形態において、５ポートのＤＵＴ１を５ポートのＮＡ５に接続するとした場合の接続図、目的Ｓマトリクスを示す図である。図２（ａ）が接続図、図２（ｂ）が目的Ｓマトリクスである。
ＮＡ５は、ポート１〜５を備えている。ここで、ＤＵＴ１のポートと区別するために、ＮＡ５のポート１〜５を、ポートＮ１〜Ｎ５と表記する。そして、これ以降の図において、ＮＡ５のポート１〜５を、Ｎ１〜Ｎ５と表記する。
図２は、第１の実施の形態において、５ポートのＤＵＴ１を５ポートのＮＡ５に接続するとした場合の接続図、目的Ｓマトリクスを示す図である。図２（ａ）が接続図、図２（ｂ）が目的Ｓマトリクスである。
ＮＡ５は、ポート１〜５を備えている。ここで、ＤＵＴ１のポートと区別するために、ＮＡ５のポート１〜５を、ポートＮ１〜Ｎ５と表記する。そして、これ以降の図において、ＮＡ５のポート１〜５を、Ｎ１〜Ｎ５と表記する。
図２（ａ）に示すように、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５は、それぞれがＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５に接続されている。ＤＵＴ１はポートＤ１〜Ｄ５を備えた５ポート回路であるので、５ポートを備えたＮＡ５を用いれば、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５がそれぞれ対応して、ＤＵＴ１のＳマトリクスの測定が１回で行える。
そして、図２（ｂ）に示すように、５×５の要素（Ｓパラメータ）を有するＳマトリクスが得られる。このＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＤＵＴ１のポートの番号であるが、ＮＡ５のポートの番号に一致する。
そして、図２（ｂ）に示すＳマトリクスが測定において目的とする（求めたい）Ｓマトリクス（以下では、目的Ｓマトリクスと表記する。）である。なお、目的Ｓマトリクスと測定Ｓマトリクス（後述する図３参照）とを区別しない場合、又は両者を含める場合にはＳマトリクスと表記する。
なお、Ｓマトリクス及びその要素であるＳパラメータは、高周波回路の評価に使用されているので、詳細な説明を省略する。
そして、図２（ｂ）に示すように、５×５の要素（Ｓパラメータ）を有するＳマトリクスが得られる。このＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＤＵＴ１のポートの番号であるが、ＮＡ５のポートの番号に一致する。
そして、図２（ｂ）に示すＳマトリクスが測定において目的とする（求めたい）Ｓマトリクス（以下では、目的Ｓマトリクスと表記する。）である。なお、目的Ｓマトリクスと測定Ｓマトリクス（後述する図３参照）とを区別しない場合、又は両者を含める場合にはＳマトリクスと表記する。
なお、Ｓマトリクス及びその要素であるＳパラメータは、高周波回路の評価に使用されているので、詳細な説明を省略する。
図１に示すように、電流クランプ２０を備えない差動ケーブル１０は４ポートであるので、その評価は、４ポートのネットワークアナライザで足りる。よって、ポート数が４以下のネットワークアナライザが普及している。一方、ポート数が５以上のネットワークアナライザは、高価である。
よって、ここでは、図１に示した５ポートのＤＵＴ１を、４ポートのネットワークアナライザ（後述する図３のＮＡ６参照）を用いて測定する。
よって、ここでは、図１に示した５ポートのＤＵＴ１を、４ポートのネットワークアナライザ（後述する図３のＮＡ６参照）を用いて測定する。
図３は、第１の実施の形態における５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを４ポートのＮＡ６で測定する場合の接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図３（ａ）が測定１、図３（ｂ）が測定２、図３（ｃ）が測定３である。図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、左側（左図）に接続図、右側（右図）にＳマトリクスを示している。
すなわち、ＮＡ６は、ポート数が４（ポートＮ１〜Ｎ４）であって、ＤＵＴ１のポート数（５）より少ない。
ここでは、４ポートのＮＡ６による５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスの測定は、測定１〜測定３の３回の測定（ステップ）で行われる。なお、４ポートのネットワークアナライザをＮＡ６とし、５ポートのネットワークアナライザであるＮＡ５と区別している。
すなわち、ＮＡ６は、ポート数が４（ポートＮ１〜Ｎ４）であって、ＤＵＴ１のポート数（５）より少ない。
ここでは、４ポートのＮＡ６による５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスの測定は、測定１〜測定３の３回の測定（ステップ）で行われる。なお、４ポートのネットワークアナライザをＮＡ６とし、５ポートのネットワークアナライザであるＮＡ５と区別している。
ここで、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続について説明する。
ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５には、それぞれコネクタが設けられている。そして、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４にも、それぞれコネクタが設けられている。そして、一端部にＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５の各コネクタと接続できるコネクタを備え、他端部にＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の各コネクタと接続できるコネクタを備えたケーブル（接続ケーブル）が用意されている。そして、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５のそれぞれのコネクタとＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４のそれぞれのコネクタとが接続ケーブルで接続される。
なお、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４は４個であるので、ＤＵＴ１の５個のポートＤ１〜Ｄ５のすべてを同時に接続することができない。よって、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４とＤＵＴ１の５個のポートＤ１〜Ｄ５との接続関係を変えながら、複数のステップ（測定１〜３）によって、ＤＵＴ１のＳマトリクスを測定する。
ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５には、それぞれコネクタが設けられている。そして、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４にも、それぞれコネクタが設けられている。そして、一端部にＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５の各コネクタと接続できるコネクタを備え、他端部にＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の各コネクタと接続できるコネクタを備えたケーブル（接続ケーブル）が用意されている。そして、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５のそれぞれのコネクタとＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４のそれぞれのコネクタとが接続ケーブルで接続される。
なお、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４は４個であるので、ＤＵＴ１の５個のポートＤ１〜Ｄ５のすべてを同時に接続することができない。よって、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４とＤＵＴ１の５個のポートＤ１〜Ｄ５との接続関係を変えながら、複数のステップ（測定１〜３）によって、ＤＵＴ１のＳマトリクスを測定する。
ここでは、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の各コネクタには測定ケーブルが正常に接続されていて、外さないとする。そして、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５の各コネクタにおいて、接続ケーブルを外して接続を変更するとする。なお、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５のいずれにも接続されていない接続ケーブルの記載を省略する。
測定１（図３（ａ））では、左図に示すように、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４のコネクタに接続された接続ケーブルを、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ４のコネクタに取り付けて、Ｓマトリクスを測定する。なお、ＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタは、ＮＡ６のいずれの接続ケーブルにも取り付けられていない。
この測定１において、４×４のＳマトリクスが得られる。このＳマトリクスは、目的Ｓマトリクスと異なっている。ここでは、４ポートのＮＡ６によって測定されるＳマトリクスを測定Ｓマトリクスと表記する。なお、測定ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の番号に対応する。一方、目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５の番号に対応する。
よって、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における右図には、測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを表記し、測定ＳマトリクスのＳパラメータと目的ＳマトリクスのＳパラメータとの対応関係を示している。
この測定１において、４×４のＳマトリクスが得られる。このＳマトリクスは、目的Ｓマトリクスと異なっている。ここでは、４ポートのＮＡ６によって測定されるＳマトリクスを測定Ｓマトリクスと表記する。なお、測定ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の番号に対応する。一方、目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１１の１、１など）は、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５の番号に対応する。
よって、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における右図には、測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを表記し、測定ＳマトリクスのＳパラメータと目的ＳマトリクスのＳパラメータとの対応関係を示している。
測定１では、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ４の番号１〜４は、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４の番号１〜４と一致している。よって、破線で囲って示すように、測定１による測定ＳマトリクスのＳ１１〜Ｓ４４は、目的Ｓマトリクスにおける４×４のＳ１１〜Ｓ４４に対応する。
すなわち、測定１により、目的Ｓマトリクスにおける一部のＳパラメータが得られる。
すなわち、測定１により、目的Ｓマトリクスにおける一部のＳパラメータが得られる。
測定２（図３（ｂ））では、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４のコネクタから接続ケーブルを取り外す。そして、ポートＤ３、Ｄ４のコネクタに終端素子ＴＲ（Ｔｅｒｍｉｎａｌ Ｒｅｓｉｔｏｒ）を取り付ける。そして、ポートＤ５のコネクタに、ＮＡ６のポートＮ３に接続された接続ケーブルを取り付ける。
この場合、３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。
測定２では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２の番号１、２は、ＮＡ６のポートＮ１、Ｎ２の番号１、２と一致している。よって、破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２が、目的ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２に対応する。また、ＤＵＴ１のポートＤ５が、ＮＡ６のポートＮ３に接続されているので、測定Ｓマトリクスにおける番号３が、目的Ｓマトリクスの番号５に対応する。よって、一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ２３が、目的ＳマトリクスのＳ１５、Ｓ２５にそれぞれ対応し、二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ３２が、目的ＳマトリクスのＳ５１、Ｓ５２にそれぞれ対応する。さらに、点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
このようにして、測定２（図３（ｂ））において、測定１（図３（ａ））で得られなかった目的Ｓマトリクスの一部のＳパラメータが得られる。
なお、終端素子ＴＲは、終端抵抗とも呼ばれ、一般的なネットワークアナライザでは５０Ωである。
この場合、３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。
測定２では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２の番号１、２は、ＮＡ６のポートＮ１、Ｎ２の番号１、２と一致している。よって、破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２が、目的ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２に対応する。また、ＤＵＴ１のポートＤ５が、ＮＡ６のポートＮ３に接続されているので、測定Ｓマトリクスにおける番号３が、目的Ｓマトリクスの番号５に対応する。よって、一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ２３が、目的ＳマトリクスのＳ１５、Ｓ２５にそれぞれ対応し、二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ３２が、目的ＳマトリクスのＳ５１、Ｓ５２にそれぞれ対応する。さらに、点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
このようにして、測定２（図３（ｂ））において、測定１（図３（ａ））で得られなかった目的Ｓマトリクスの一部のＳパラメータが得られる。
なお、終端素子ＴＲは、終端抵抗とも呼ばれ、一般的なネットワークアナライザでは５０Ωである。
そして、測定３（図３（ｃ））では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２、Ｄ５のコネクタから接続ケーブルを取り外し、ポートＤ３、Ｄ４のコネクタから終端素子ＴＲを取り外す。そして、ポートＤ１、Ｄ２のコネクタに終端素子ＴＲを取り付ける。さらに、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４のコネクタに、ＮＡ６のポートＮ３、Ｎ４のそれぞれのコネクタに接続された接続ケーブルを取り付け、ポートＤ５のコネクタに、ＮＡ６のポートＮ１に接続されたケーブルを取り付ける。
この場合、３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。
測定３では、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４の番号３、４は、ＮＡ６のポートＮ３、Ｎ４の番号３、４と一致している。よって、破線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４が、目的ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４にそれぞれ対応する。また、ＤＵＴ１のポートＤ５が、ＮＡ６のポートＮ１に接続されているので、測定Ｓマトリクスにおける番号１が、目的Ｓマトリクスの番号５に対応する。よって、一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ４１が、目的ＳマトリクスのＳ３５、Ｓ４５にそれぞれ対応し、二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ１４が、目的ＳマトリクスのＳ５３、Ｓ５４にそれぞれ対応する。さらに、点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
この場合、３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。
測定３では、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４の番号３、４は、ＮＡ６のポートＮ３、Ｎ４の番号３、４と一致している。よって、破線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４が、目的ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４にそれぞれ対応する。また、ＤＵＴ１のポートＤ５が、ＮＡ６のポートＮ１に接続されているので、測定Ｓマトリクスにおける番号１が、目的Ｓマトリクスの番号５に対応する。よって、一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ４１が、目的ＳマトリクスのＳ３５、Ｓ４５にそれぞれ対応し、二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ１４が、目的ＳマトリクスのＳ５３、Ｓ５４にそれぞれ対応する。さらに、点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
以上説明したように、測定１〜測定３の３回の測定により、目的Ｓマトリクスの５×５のすべてのＳパラメータを求める（取得する）ことができる。
さて、５ポートのＤＵＴ１を４ポートのＮＡ６で測定する場合、上述したように、測定１〜３において、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との間の接続が変更される。この接続の変更は、ＤＵＴ１のそれぞれのポートにおけるコネクタから接続ケーブルを取り外して、ＤＵＴ１の他のポートのコネクタに取り付け直したり、ＤＵＴ１のポートにおけるコネクタに終端素子ＴＲを取り付けたりすることで行われる。
この場合、ＤＵＴ１の各ポートのコネクタに対する測定ケーブルや終端素子ＴＲの緩みや誤接続などの接続ミスによる測定ミスや測定誤差が発生する恐れがある。このため、測定された結果（測定値）の確度（精度）を判断するために、測定１〜測定３の一連の測定を複数回繰り返し、測定値にばらつきがあるか否かにより判断していた。しかし、この方法は、煩雑であるとともに、時間を要していた。
この場合、ＤＵＴ１の各ポートのコネクタに対する測定ケーブルや終端素子ＴＲの緩みや誤接続などの接続ミスによる測定ミスや測定誤差が発生する恐れがある。このため、測定された結果（測定値）の確度（精度）を判断するために、測定１〜測定３の一連の測定を複数回繰り返し、測定値にばらつきがあるか否かにより判断していた。しかし、この方法は、煩雑であるとともに、時間を要していた。
そこで、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示した測定１〜測定３の一連の測定によって得られるＳパラメータを用いて、得られた測定値の確度を判断することとした。
測定２（図３（ｂ））及び測定３（図３（ｃ））において、ともにＳ５５が測定されている。測定２において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタに接続されていた接続ケーブルが、測定３では、ＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタから取り外され、ＮＡ６のポートＮ１のコネクタに接続されていた接続ケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに取り付け直されている。よって、測定２のＳ５５と測定３のＳ５５とを比較することにより、測定２及び測定３におけるＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに対する接続ケーブルの接続ミスが検出できる。
測定２（図３（ｂ））及び測定３（図３（ｃ））において、ともにＳ５５が測定されている。測定２において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタに接続されていた接続ケーブルが、測定３では、ＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタから取り外され、ＮＡ６のポートＮ１のコネクタに接続されていた接続ケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに取り付け直されている。よって、測定２のＳ５５と測定３のＳ５５とを比較することにより、測定２及び測定３におけるＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに対する接続ケーブルの接続ミスが検出できる。
また、測定１（図３（ａ））及び測定２（図３（ｂ））において、ともにＳ２１が測定されている。測定１において、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４のコネクタは、ＮＡ６のポートＮ３、Ｎ４のそれぞれのコネクタに接続された接続ケーブルに取り付けられていたが、測定２では、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４のコネクタは、接続ケーブルが取り外され、ともに終端素子ＴＲに取り付け直されている。また、測定１において、ＤＵＴ１のポートＤ５は、ＮＡ６のいずれのポートにも接続されていなかったが、測定２では、ＮＡ６のポートＮ３に接続されている。よって、測定１のＳ２１と測定２のＳ２１とを比較することにより、測定２におけるＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタへの測定ケーブルの接続ミス、ＤＵＴ１のポートＤ３、Ｄ４のコネクタへの終端素子ＴＲの接続ミスが検知できる。
さらに、測定１（図３（ａ））及び測定３（図３（ｃ））において、ともにＳ４３が測定されている。測定１及び測定２において、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２は、ＮＡ６のポートＮ１、Ｎ２に接続されていたが、測定３では、測定ケーブルが取り外されてともに終端素子ＴＲに取り付け直されている。そして、測定２において、ＤＵＴ１のポートＤ５は、ＮＡ６のポートＮ３に接続されていたが、測定３では、ＮＡ６のポートＮ１に接続し直されている。よって、測定１のＳ４３と測定３のＳ４３とを比較することにより、ＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタへの測定ケーブルの接続ミス、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２のコネクタへの終端素子ＴＲの接続ミスが検知できる。
ここでは、Ｓ５５、Ｓ２１、Ｓ４３を比較するとした。Ｓ５５、Ｓ２１、Ｓ４３にはＤＵＴ１のすべてのポートＤ１〜Ｄ５の番号が含まれている。よって、ＤＵＴ１のすべてのポートＤ１〜Ｄ５における接続ミスが検知できる。
なお、Ｓ５５、Ｓ２１、Ｓ４３のように、測定１〜測定３において、重複して測定されるＳパラメータから、ＤＵＴ１のすべてのポートＤ１〜Ｄ５を含むＳパラメータを選択して、互いを比較することにより測定１〜３における接続ミスが検知できる。
なお、Ｓ５５、Ｓ２１、Ｓ４３のように、測定１〜測定３において、重複して測定されるＳパラメータから、ＤＵＴ１のすべてのポートＤ１〜Ｄ５を含むＳパラメータを選択して、互いを比較することにより測定１〜３における接続ミスが検知できる。
図４は、接続ミスがない場合におけるＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）を比較した例である。図４（ａ）は｜Ｓ５５｜、図４（ｂ）は｜Ｓ２１｜、図４（ｃ）は｜Ｓ４３｜である。図４（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、上側の図（上図）は、｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜を示している。ここでは、測定１〜測定３において重複して測定された２個のＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）を重ねて示している。横軸が周波数（ＧＨｚ）、縦軸が測定されたＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）（ｄＢ）である。下側の図（下図）は、重複して測定された２個のＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）の差を示している。横軸が周波数（ＧＨｚ）、縦軸がＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）の差（ｄＢ）である。なお、ここでは、周波数１ＭＨｚ〜１ＧＨｚの範囲において、１０６１ポイント（１０６１個の周波数）を設定し、それぞれのポイント（周波数）におけるＳパラメータを示している。
そして、｜Ｓ５５｜では、例えば、±１ｄＢを予め定められた閾値とし、重複して測定された｜Ｓ５５｜の差（差分）が±１ｄＢ以内（閾値内）にあるポイント数が９０％以上であれば、接続ミスがない（ＯＫ）と判断する。図４（ａ）の下図に示すように、｜Ｓ５５｜の差が±１ｄＢ以内にあるポイント数は９２．９５％である。よって、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
次に、｜Ｓ２１｜では、例えば、±３ｄＢを予め定められた閾値とし、重複して測定された｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内（閾値内）にあるポイント数が９０％以上であれば、接続ミスがない（ＯＫ）と判断する。図４（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は９９．５０％である。よって、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
さらに、｜Ｓ４３｜では、例えば、±３ｄＢを予め定められた閾値とし、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内（閾値内）にあるポイント数が９０％以上であれば、接続ミスがない（ＯＫ）と判断する。図４（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は９９．６９％である。よって、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
次に、｜Ｓ２１｜では、例えば、±３ｄＢを予め定められた閾値とし、重複して測定された｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内（閾値内）にあるポイント数が９０％以上であれば、接続ミスがない（ＯＫ）と判断する。図４（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は９９．５０％である。よって、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
さらに、｜Ｓ４３｜では、例えば、±３ｄＢを予め定められた閾値とし、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内（閾値内）にあるポイント数が９０％以上であれば、接続ミスがない（ＯＫ）と判断する。図４（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は９９．６９％である。よって、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
なお、図４は、接続ミスがないとした場合の例である。それにも拘わらず、上記の閾値内のポイント数が１００％未満になるのは、図４（ｂ）の上図に示すように、周波数０．４ＧＨｚ付近において、｜Ｓ２１｜が小さいため、周波数０．４ＧＨｚ付近において重複して測定された｜Ｓ２１｜の差が大きく表れるためである。
このように、重複して測定されたＳパラメータの差を、予め設定した閾値及び接続ミスがない（ＯＫ）と判断する基準（閾値内のポイント数の割合（％））により、接続ミスの検出ができる。これにより、測定１〜３の一連の測定（ステップ）を繰り返すことを要しないとともに、測定値の確度（精度）が確認できる。
なお、図４（ａ）、（ｂ）、（ｃ）におけるそれぞれの上図において、重複して測定されたＳパラメータの値はほぼ重なっている。これからも、測定の確度（精度）がよいと判断できる。
このように、重複して測定されたＳパラメータの差を、予め設定した閾値及び接続ミスがない（ＯＫ）と判断する基準（閾値内のポイント数の割合（％））により、接続ミスの検出ができる。これにより、測定１〜３の一連の測定（ステップ）を繰り返すことを要しないとともに、測定値の確度（精度）が確認できる。
なお、図４（ａ）、（ｂ）、（ｃ）におけるそれぞれの上図において、重複して測定されたＳパラメータの値はほぼ重なっている。これからも、測定の確度（精度）がよいと判断できる。
図５は、接続ミスがある場合におけるＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）を比較した例である。図５（ａ）は｜Ｓ５５｜、図５（ｂ）は｜Ｓ２１｜、図５（ｃ）は｜Ｓ４３｜である。測定２（図３（ｂ））において、ＮＡ６のポートＮ３に接続された接続ケーブルが、ＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに緩く接続されていた場合である。
図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における表記及び｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のそれぞれに対する閾値及び接続ミスがあるか否かを判断する閾値内のポイント数の割合（％）は、図４の接続ミスがない場合と同じである。
図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における表記及び｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のそれぞれに対する閾値及び接続ミスがあるか否かを判断する閾値内のポイント数の割合（％）は、図４の接続ミスがない場合と同じである。
図５（ａ）の下図に示すように、｜Ｓ５５｜の差が±１ｄＢ以内にあるポイント数は、８４．８３％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
そして、図５（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９９．８１％と９０％以上であるので、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
さらに、図５（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９９．６９％と９０％以上であるので、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
すなわち、測定２（図３（ｂ））において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタからのケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに対して緩く接続されていた場合には、ポートＤ５に関連する“５”を含む要素である｜Ｓ５５｜にその影響が表れる。
このように、測定１〜測定３の一連の測定（ステップ）を繰り返すことを要せずに、ＤＵＴ１のポートＤ５に接続ミスがあったことが検知できる。よって、測定２を再度行って測定した｜Ｓ５５｜と、前に行った測定３の｜Ｓ５５｜と比較すればよい。これでも、｜Ｓ５５｜の差が閾値内のポイント数の割合（％）が予め設定された値以上とならない場合には、測定３に接続ミスがあったと分かる。よって、測定３を再度行えばよい。
図５に示した例は、測定２（図３（ｂ））において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタに接続された接続ケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに緩く接続されていた場合であるので、測定２を再度行えばよいことになる。
そして、図５（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９９．８１％と９０％以上であるので、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
さらに、図５（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９９．６９％と９０％以上であるので、接続ミスがない（ＯＫ）と判断される。
すなわち、測定２（図３（ｂ））において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタからのケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに対して緩く接続されていた場合には、ポートＤ５に関連する“５”を含む要素である｜Ｓ５５｜にその影響が表れる。
このように、測定１〜測定３の一連の測定（ステップ）を繰り返すことを要せずに、ＤＵＴ１のポートＤ５に接続ミスがあったことが検知できる。よって、測定２を再度行って測定した｜Ｓ５５｜と、前に行った測定３の｜Ｓ５５｜と比較すればよい。これでも、｜Ｓ５５｜の差が閾値内のポイント数の割合（％）が予め設定された値以上とならない場合には、測定３に接続ミスがあったと分かる。よって、測定３を再度行えばよい。
図５に示した例は、測定２（図３（ｂ））において、ＮＡ６のポートＮ３のコネクタに接続された接続ケーブルがＤＵＴ１のポートＤ５のコネクタに緩く接続されていた場合であるので、測定２を再度行えばよいことになる。
図６は、接続ミスがある他の場合におけるＳパラメータ（｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜）を比較した例である。図６（ａ）は｜Ｓ５５｜、図６（ｂ）は｜Ｓ２１｜、図６（ｃ）は｜Ｓ４３｜である。測定２（図３（ｂ））と測定３（図３（ｃ））とを入れ替えて行った場合を示している。
図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における表記及び｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のそれぞれに対する閾値及び接続ミスがあるか否かを判断する閾値内のポイント数の割合（％）は、図４の接続ミスがない場合と同じである。
図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）における表記及び｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のそれぞれに対する閾値及び接続ミスがあるか否かを判断する閾値内のポイント数の割合（％）は、図４の接続ミスがない場合と同じである。
図６（ａ）の下図に示すように、｜Ｓ５５｜の差が±１ｄＢ以内にあるポイント数は、５４．２４％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
そして、図６（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９．７９％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
さらに、図６（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９．４２％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
すなわち、｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のいずれからも接続ミスがある（ＮＧ）と判断されたことから、測定１〜測定３において、測定の順序が間違っていたと判断できる。
なお、図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）におけるそれぞれの上図において、重複して測定されたＳパラメータの値が大きくずれている。これからも、測定の順序が間違っていたと判断できる。
そして、図６（ｂ）の下図に示すように、｜Ｓ２１｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９．７９％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
さらに、図６（ｃ）の下図に示すように、｜Ｓ４３｜の差が±３ｄＢ以内にあるポイント数は、９．４２％と９０％未満であるので、接続ミスがある（ＮＧ）と判断される。
すなわち、｜Ｓ５５｜、｜Ｓ２１｜、｜Ｓ４３｜のいずれからも接続ミスがある（ＮＧ）と判断されたことから、測定１〜測定３において、測定の順序が間違っていたと判断できる。
なお、図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）におけるそれぞれの上図において、重複して測定されたＳパラメータの値が大きくずれている。これからも、測定の順序が間違っていたと判断できる。
以上説明したように、５ポートのＤＵＴ１のＳマトリクスを４ポートのＮＡ６にて測定する場合、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を変更しつつ、複数回の測定（ステップ）（測定１〜３）を行うことが必要になる。しかし、測定１〜３において、重複して測定されるＳパラメータを比較し、予め設定した閾値及び閾値内（閾値以下）のポイント数の割合（％）から、接続ミスを検知することができる。よって、５ポートのＤＵＴ１のＳマトリクスを４ポートのＮＡ６にて測定する場合であっても、接続ミスの検知により、測定の回数が増加することを抑制しつつ、確度の高い測定値が得られる。
なお、ここではポイント数の割合を用いたが、面積の割合などを用いてもよい。
なお、ここではポイント数の割合を用いたが、面積の割合などを用いてもよい。
さらに、設定された閾値内のポイント数は、測定されたＳパラメータから、コンピュータにより容易に算出できる。よって、例えば、図４、図５、図６の上図における２個のＳパラメータを測定者が目視によって比較する場合に比べ、迅速且つ客観的に判断できる。
［第２の実施の形態］
第１の実施の形態では、図２（ｂ）に示したＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを、図３おける測定１（図３（ａ））、測定２（図３（ｂ））、測定３（図３（ｃ））のそれぞれの接続図に示した接続関係によって測定した。しかし、他の接続関係を用いて行ってもよい。
第２の実施の形態では、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４とを、図３に示した接続関係と異なる他の接続関係で、ＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを測定する。
第１の実施の形態では、図２（ｂ）に示したＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを、図３おける測定１（図３（ａ））、測定２（図３（ｂ））、測定３（図３（ｃ））のそれぞれの接続図に示した接続関係によって測定した。しかし、他の接続関係を用いて行ってもよい。
第２の実施の形態では、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４とを、図３に示した接続関係と異なる他の接続関係で、ＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを測定する。
（Ｓパラメータの測定方法）
図７は、第２の実施の形態における５ポートのＤＵＴの目的Ｓマトリクスを４ポートのＮＡで測定する場合の接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図７（ａ）が図３（ａ）の測定１、図７（ｂ）が図３（ｂ）の測定２、図７（ｃ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。図７（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、左側（左図）に接続図、右側（右図）に測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示している。
目的Ｓマトリクスは、図２（ｂ）と同じである。
図７は、第２の実施の形態における５ポートのＤＵＴの目的Ｓマトリクスを４ポートのＮＡで測定する場合の接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図７（ａ）が図３（ａ）の測定１、図７（ｂ）が図３（ｂ）の測定２、図７（ｃ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。図７（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、左側（左図）に接続図、右側（右図）に測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示している。
目的Ｓマトリクスは、図２（ｂ）と同じである。
図７（ａ）、（ｂ）、（ｃ）のそれぞれの接続図と、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の接続図とを比較すると、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５は同じであるが、ＮＡ６のポートＮ２とポートＮ３とが入れ替わっている。よって、図７（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すように、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の測定Ｓマトリクス及び目的ＳマトリクスのＳパラメータにおいて、添え字の“２”と“３”とを入れ替えればよい。
これ以外は、第１の実施の形態と同じであるので、説明を省略する。
このように、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を変更しても、目的Ｓマトリクスを求めることができる。
これ以外は、第１の実施の形態と同じであるので、説明を省略する。
このように、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を変更しても、目的Ｓマトリクスを求めることができる。
［第３の実施の形態］
第１の実施の形態及び第２の実施の形態では、図２（ａ）の接続図に示したＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５の接続関係を前提にして、図２（ｂ）の目的Ｓマトリクスを求めた。第３の実施の形態は、図２（ａ）の接続図に示した接続関係以外の接続関係を用いて、目的Ｓマトリクスを求める。
第１の実施の形態及び第２の実施の形態では、図２（ａ）の接続図に示したＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５の接続関係を前提にして、図２（ｂ）の目的Ｓマトリクスを求めた。第３の実施の形態は、図２（ａ）の接続図に示した接続関係以外の接続関係を用いて、目的Ｓマトリクスを求める。
（Ｓパラメータの測定方法）
図８は、第３の実施の形態において、５ポートのＤＵＴ１を５ポートのＮＡ５に接続したとした場合の接続図、目的Ｓマトリクスを示す図である。図８（ａ）が接続図、図８（ｂ）が目的Ｓマトリクスである。
図２（ａ）と図８（ａ）とを比較すると、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５において、ポートＤ２及びポートＤ３が入れ替わっている。しかし、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５との接続は、同じ番号のポート間で接続されている。よって、図８（ｂ）に示す目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１２の“１”、“２”）は、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５に対応し、ＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５にも一致する。
図８は、第３の実施の形態において、５ポートのＤＵＴ１を５ポートのＮＡ５に接続したとした場合の接続図、目的Ｓマトリクスを示す図である。図８（ａ）が接続図、図８（ｂ）が目的Ｓマトリクスである。
図２（ａ）と図８（ａ）とを比較すると、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５において、ポートＤ２及びポートＤ３が入れ替わっている。しかし、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５との接続は、同じ番号のポート間で接続されている。よって、図８（ｂ）に示す目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字（Ｓ１２の“１”、“２”）は、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５に対応し、ＮＡ５のポートＮ１〜Ｎ５にも一致する。
図９は、第３の実施の形態における５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクスを４ポートのＮＡ６で測定する場合の接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図９（ａ）が図３（ａ）の測定１、図９（ｂ）が図３（ｂ）の測定２、図９（ｃ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。図９（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、左側（左図）に接続図、右側（右図）に測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示す。
測定１（図９（ａ））では、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ４がＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４にそれぞれ接続されている。これにより、右図に示す４×４の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスにおけるＳ１１〜Ｓ４４は、目的ＳマトリクスのＳ１１〜Ｓ４４に対応する。
測定２（図９（ｂ））では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ３は、ＮＡ６のポートＮ１、Ｎ３に接続され、ポートＤ２、Ｄ４は、終端素子ＴＲに接続され、ポートＤ５がＮＡ６のポートＮ２に接続されている。これにより、右図に示す３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１３、Ｓ３１、Ｓ３３が、目的ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１３、Ｓ３１、Ｓ３３に対応する。一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ２１、Ｓ２３が、目的ＳマトリクスのＳ５１、Ｓ５３にそれぞれ対応する。二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１２、Ｓ３２が、目的ＳマトリクスのＳ１５、Ｓ３５にそれぞれ対応する。点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ２２が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
そして、測定３（図９（ｃ））では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ３は、終端素子ＴＲに接続され、ＤＵＴ１のポートＤ２、Ｄ４は、ＮＡ６のポートＮ２、Ｎ４に接続され、ポートＤ５がＮＡ６のポートＮ１に接続されている。これにより、右図に示す３×３の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ２２、Ｓ２４、Ｓ４２、Ｓ４４が、目的ＳマトリクスのＳ２２、Ｓ２４、Ｓ４２、Ｓ４４にそれぞれ対応する。一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ２１、Ｓ４１が、目的ＳマトリクスのＳ２５、Ｓ４５にそれぞれ対応する。二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１２、Ｓ１４が、目的ＳマトリクスのＳ５２、Ｓ５４にそれぞれ対応する。点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１が、目的ＳマトリクスのＳ５５に対応する。
第３の実施の形態に示したように、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を設定しても、測定１〜３の３回の測定（ステップ）により、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５に対する目的Ｓマトリクスを得ることができる。
なお、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を、第１の実施の形態から第３の実施の形態に示した以外に設定してもよい。
そして、第１の実施の形態において説明したように、測定１〜測定３において、重複して測定されるＳパラメータを比較することにより、接続ミスを検知することができる。よって、５ポートのＤＵＴ１のＳマトリクスを４ポートのＮＡ６にて測定する場合であっても、接続ミスの検知により、測定の回数が増加することを抑制しつつ、確度の高い測定値を得ることができる。
なお、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ５とＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４との接続関係を、第１の実施の形態から第３の実施の形態に示した以外に設定してもよい。
そして、第１の実施の形態において説明したように、測定１〜測定３において、重複して測定されるＳパラメータを比較することにより、接続ミスを検知することができる。よって、５ポートのＤＵＴ１のＳマトリクスを４ポートのＮＡ６にて測定する場合であっても、接続ミスの検知により、測定の回数が増加することを抑制しつつ、確度の高い測定値を得ることができる。
［第４の実施の形態］
第１の実施の形態から第３の実施の形態では、図１に示したように、電流クランプ２０は、差動ケーブル１０に対して、予め定められた一か所に設定されていた。
しかし、差動ケーブル１０は、ノイズが加えられる位置（電流クランプ２０の位置）によって、特性が変わることが考えられる。
第１の実施の形態から第３の実施の形態では、図１に示したように、電流クランプ２０は、差動ケーブル１０に対して、予め定められた一か所に設定されていた。
しかし、差動ケーブル１０は、ノイズが加えられる位置（電流クランプ２０の位置）によって、特性が変わることが考えられる。
図１０は、差動ケーブル１０に対して電流クランプ２０を異なる位置に設けた場合のＤＵＴ１を示す図である。図１０（ａ）は、電流クランプ２０を設ける位置を示す図、図１０（ｂ）は、電流クランプ２０を送信部２に近い位置（差動ケーブル１０の左側、図では＃Ｌと表記する。）に設けた場合と電流クランプ２０を受信部３に近い位置（差動ケーブル１０の右側、図では＃Ｒと表記する。）に設けた場合を示す図である。
ここでは、図１０（ａ）に示すように、電流クランプ２０を差動ケーブル１０の左側（送信部側）及び右側（受信部側）に配置した場合に加え、電流クランプ２０を差動ケーブル１０において中央の位置（中央部、図では＃Ｃと表記する。）に設けた場合を考える。
ここでは、電流クランプ２０を、差動ケーブル１０の左側に設けた場合を電流クランプ２０Ｌ、右側に設けた場合を電流クランプ２０Ｒ、中央部に設けた場合を電流クランプ２０Ｃと表記する。そして、電流クランプ２０Ｌに対してポートＤ５Ｌ、電流クランプ２０Ｒに対してポートＤ５Ｒ、電流クランプ２０Ｃに対してポートＤ５Ｃが設けられているとする。
ここでは、図１０（ａ）に示すように、電流クランプ２０を差動ケーブル１０の左側（送信部側）及び右側（受信部側）に配置した場合に加え、電流クランプ２０を差動ケーブル１０において中央の位置（中央部、図では＃Ｃと表記する。）に設けた場合を考える。
ここでは、電流クランプ２０を、差動ケーブル１０の左側に設けた場合を電流クランプ２０Ｌ、右側に設けた場合を電流クランプ２０Ｒ、中央部に設けた場合を電流クランプ２０Ｃと表記する。そして、電流クランプ２０Ｌに対してポートＤ５Ｌ、電流クランプ２０Ｒに対してポートＤ５Ｒ、電流クランプ２０Ｃに対してポートＤ５Ｃが設けられているとする。
なお、図１０（ａ）では、電流クランプ２０Ｌ、２０Ｒ、２０Ｃを、個別に設けているが、一つの電流クランプ２０を上記の位置（＃Ｌ、＃Ｃ、＃Ｒ）に移動させて用いてもよい。個別に設ける場合と、１個の電流クランプ２０を移動させる場合との違いについては、後述する。
まず、差動ケーブル１０が、図１０（ａ）の紙面において左右対称である場合、すなわち、差動ケーブル１０が、送信部２と受信部３とを入れ替えても同じ特性を示す場合を説明する。
この場合、図１０（ｂ）の左側の図に示す電流クランプ２０Ｌに対して得られる目的Ｓマトリクスと、図１０（ｂ）の右側の図に示す電流クランプ２０Ｒに対して得られる目的Ｓマトリクスとは同じになる。
この場合、図１０（ｂ）の左側の図に示す電流クランプ２０Ｌに対して得られる目的Ｓマトリクスと、図１０（ｂ）の右側の図に示す電流クランプ２０Ｒに対して得られる目的Ｓマトリクスとは同じになる。
よって、差動ケーブル１０に対して電流クランプ２０の位置による影響を調べるために求める目的Ｓマトリクスは、電流クランプ２０Ｌ又は電流クランプ２０Ｒに対して測定した目的Ｓマトリクス（Ｌ又はＲ）と、電流クランプ２０Ｃに対して測定した目的Ｓマトリクス（Ｃ）となる。
次に、差動ケーブル１０が、図１０（ａ）の紙面において左右対称でない場合、すなわち、送信部２と受信部３とを入れ替えると異なる特性となる場合を説明する。
図１１は、差動ケーブル１０に対して電流クランプ２０を異なる位置に設けた他の場合のＤＵＴ１を示す図である。図１１（ａ）は、電流クランプ２０を設ける位置を示す図、図１１（ｂ）は、電流クランプ２０を送信部２に近い位置（差動ケーブル１０の左側、＃Ｌ）に設けた場合と電流クランプ２０を受信部３に近い位置（差動ケーブル１０の右側、＃Ｒ）に設けた場合を示す図である。
ここでも、図１１（ａ）に示すように、電流クランプ２０を差動ケーブル１０の左側及び右側に配置した場合に加え、電流クランプ２０を差動ケーブル１０において中央の位置（中央部、＃Ｃ）に設けた場合を考える。
図１１は、差動ケーブル１０に対して電流クランプ２０を異なる位置に設けた他の場合のＤＵＴ１を示す図である。図１１（ａ）は、電流クランプ２０を設ける位置を示す図、図１１（ｂ）は、電流クランプ２０を送信部２に近い位置（差動ケーブル１０の左側、＃Ｌ）に設けた場合と電流クランプ２０を受信部３に近い位置（差動ケーブル１０の右側、＃Ｒ）に設けた場合を示す図である。
ここでも、図１１（ａ）に示すように、電流クランプ２０を差動ケーブル１０の左側及び右側に配置した場合に加え、電流クランプ２０を差動ケーブル１０において中央の位置（中央部、＃Ｃ）に設けた場合を考える。
図１１では、差動ケーブル１０の送信部２側に、フィルタ１４が設けられている。フィルタ１４は、例えば、信号線１１、１２と電気的に結合し、信号線１１、１２を伝送する信号の同相成分をキャンセルし、差動成分を透過する。
この場合、図１１（ｂ）の左側の図に示す電流クランプ２０Ｌに対する目的Ｓマトリクス（Ｌ）と、右側の図に示す電流クランプ２０Ｒに対する目的Ｓマトリクス（Ｒ）とは異なる。
この場合、図１１（ｂ）の左側の図に示す電流クランプ２０Ｌに対する目的Ｓマトリクス（Ｌ）と、右側の図に示す電流クランプ２０Ｒに対する目的Ｓマトリクス（Ｒ）とは異なる。
よって、差動ケーブル１０が、フィルタ１４などを含むことにより、図１１（ａ）の紙面において左右対称でない場合には、電流クランプ２０Ｌに対する目的Ｓマトリクス（Ｌ）、電流クランプ２０Ｒに対する目的Ｓマトリクス（Ｒ）、電流クランプ２０Ｃに対する目的Ｓマトリクス（Ｃ）を測定することが必要になる。
（Ｓパラメータの測定方法）
図１２は、差動ケーブル１０が左右対称でない場合において、５ポートのＮＡ５により目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定するとした場合の接続図及び目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を示す図である。図１２（ａ）は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）を測定する場合、図１２（ｂ）は、目的Ｓマトリクス（Ｃ）を測定する場合、図１２（ｃ）は、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合である。
図１２（ａ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｌ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｌの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌに対して、目的Ｓマトリクス（Ｌ）が測定される。なお、ポートに“Ｌ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｌ”と表記している。
図１２（ｂ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｃ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｃの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｃに対して、目的Ｓマトリクス（Ｃ）が測定される。なお、ポートに“Ｃ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｃ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｃ”と表記している。
図１２（ｃ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｒの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｒに対して、目的Ｓマトリクス（Ｒ）が測定される。なお、ポートに“Ｒ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｒ”と表記している。
図１２は、差動ケーブル１０が左右対称でない場合において、５ポートのＮＡ５により目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定するとした場合の接続図及び目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を示す図である。図１２（ａ）は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）を測定する場合、図１２（ｂ）は、目的Ｓマトリクス（Ｃ）を測定する場合、図１２（ｃ）は、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合である。
図１２（ａ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｌ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｌの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌに対して、目的Ｓマトリクス（Ｌ）が測定される。なお、ポートに“Ｌ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｌ”と表記している。
図１２（ｂ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｃ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｃの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｃに対して、目的Ｓマトリクス（Ｃ）が測定される。なお、ポートに“Ｃ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｃ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｃ”と表記している。
図１２（ｃ）に示す目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合は、電流クランプ２０Ｒの場合であって、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｒに対して、目的Ｓマトリクス（Ｒ）が測定される。なお、ポートに“Ｒ”を付記したので、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳパラメータにおける添え字を“５Ｒ”と表記している。
上記のように、５ポートのＤＵＴ１を５ポートのＮＡ５で目的Ｓマトリクスを測定すれば、測定の回数は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）をそれぞれ測定する３回となる。
しかし、第１の実施の形態で説明したように、５ポートのＤＵＴ１に対して４ポートのＮＡ５で目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のそれぞれに対して、第１の実施の形態で説明した測定１〜３を行うことになるため、９回の測定が必要になることになる。
しかし、図３（ａ）に示した測定１は、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に対して行なわれる。すなわち、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）は、それぞれＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒに対する測定により求められるが、測定１では、ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒと無関係である。よって、測定１は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のいずれか１つの測定において行えばよく、他の測定では省略できる。よって、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ５で求める場合、７回の測定を行えばよい。
しかし、第１の実施の形態で説明したように、５ポートのＤＵＴ１に対して４ポートのＮＡ５で目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定する場合、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のそれぞれに対して、第１の実施の形態で説明した測定１〜３を行うことになるため、９回の測定が必要になることになる。
しかし、図３（ａ）に示した測定１は、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に対して行なわれる。すなわち、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）は、それぞれＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒに対する測定により求められるが、測定１では、ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒと無関係である。よって、測定１は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のいずれか１つの測定において行えばよく、他の測定では省略できる。よって、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ５で求める場合、７回の測定を行えばよい。
図１３は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）を４ポートのＮＡ５で測定する場合における接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクス（Ｌ）を示す図である。図１３（ａ）が図３（ａ）の測定１、図１３（ｂ）が図３（ｂ）の測定２、図１３（ｃ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。そして、図１３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）において、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクス（Ｌ）を示している。
図１３（ａ）の接続図に示すように、測定１では、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ（ポートＤ５Ｃ、Ｄ５Ｒでも同じ）は、ＮＡ６のポートＮ１、Ｎ２、Ｎ３のいずれにも接続されない。よって、測定される測定Ｓマトリクスは、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）に共通である。よって、目的Ｓマトリクス（Ｌ、Ｃ、Ｒ）と表記し、目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字を“５ｘ”と表記している。
なお、測定ＳマトリクスのＳパラメータと、目的Ｓマトリクス（Ｌ）（目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）でも同じ）のＳパラメータとの対応は、図３（ａ）に示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
なお、測定ＳマトリクスのＳパラメータと、目的Ｓマトリクス（Ｌ）（目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）でも同じ）のＳパラメータとの対応は、図３（ａ）に示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
図１３（ｂ）に示す測定２は、図３（ｂ）に示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
また、図１３（ｃ）に示す測定３は、図３（ｃ）に示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
なお、図１３（ｂ）、１３（ｃ）では、目的Ｓマトリクス（Ｌ）におけるＳパラメータの添え字“５”を“５Ｌ”としている。
また、図１３（ｃ）に示す測定３は、図３（ｃ）に示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
なお、図１３（ｂ）、１３（ｃ）では、目的Ｓマトリクス（Ｌ）におけるＳパラメータの添え字“５”を“５Ｌ”としている。
図１４は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｃ）を４ポートのＮＡ５で測定する場合における接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクス（Ｃ）を示す図である。図１４（ａ）が図３（ｂ）の測定２、図１４（ｂ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。なお、前述したように、測定１は省略できる。そして、図１４（ａ）、（ｂ）においても、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクス（Ｃ）を示している。
測定ＳマトリクスのＳパラメータと目的Ｓマトリクス（Ｃ）のＳパラメータとの対応は、図３（ｂ）、（ｃ）に示したと同様であるので説明を省略する。なお、図１４（ｂ）、１４（ｃ）では、目的Ｓマトリクス（Ｃ）におけるＳパラメータの添え字“５”を“５Ｃ”としている。
図１５は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ５で測定する場合における接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を示す図である。図１５（ａ）が図３（ｂ）の測定２、図１５（ｂ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。なお、前述したように、測定１は省略できる。そして、図１５（ａ）、（ｂ）においても、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）を示している。
測定ＳマトリクスのＳパラメータと目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳパラメータとの対応は、図３（ｂ）、（ｃ）に示したと同様であるので説明を省略する。なお、図１５（ａ）、１５（ｂ）では、目的ＳマトリクスにおけるＳパラメータの添え字“５”を“５Ｒ”としている。
上記したように、差動ケーブル１０が送信部２側と受信部３側とで対称でない場合には、差動ケーブル１０に対して電流クランプ２０の位置を異ならせて、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を求めることが必要である。このとき、ＤＵＴ１が５ポート回路となるため、４ポートのＮＡ５で目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を測定するためには、複数回の測定が必要になる。
上述したように、７回の測定により、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）が求められる。
なお、図１３、１４、１５に示したように、電流クランプ２０Ｌ、電流クランプ２０Ｃ、電流クランプ２０Ｒ毎に測定を行うので、１個の電流クランプ２０を、差動ケーブル１０に対する位置を移動させて測定を行うことができる。
上述したように、７回の測定により、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）が求められる。
なお、図１３、１４、１５に示したように、電流クランプ２０Ｌ、電流クランプ２０Ｃ、電流クランプ２０Ｒ毎に測定を行うので、１個の電流クランプ２０を、差動ケーブル１０に対する位置を移動させて測定を行うことができる。
［第５の実施の形態］
第４の実施の形態では、７回の測定により、電流クランプ２０Ｌ、電流クランプ２０Ｃ、電流クランプ２０Ｒのそれぞれに対して、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を求めた。しかし、図１３（ｂ）、（ｃ）、図１４（ａ）、（ｂ）、図１５（ａ）、（ｂ）では、ＮＡ６において、接続されていないポートが存在する。
そこで、第５の実施の形態では、複数の電流クランプ２０をＮＡ６の接続されていなかったポートに接続することで、測定の回数を減らしている。
この場合、電流クランプ２０Ｌ、２０Ｃ、２０Ｒのうち、同時に接続される少なくとも２個が必要となる。
第４の実施の形態では、７回の測定により、電流クランプ２０Ｌ、電流クランプ２０Ｃ、電流クランプ２０Ｒのそれぞれに対して、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を求めた。しかし、図１３（ｂ）、（ｃ）、図１４（ａ）、（ｂ）、図１５（ａ）、（ｂ）では、ＮＡ６において、接続されていないポートが存在する。
そこで、第５の実施の形態では、複数の電流クランプ２０をＮＡ６の接続されていなかったポートに接続することで、測定の回数を減らしている。
この場合、電流クランプ２０Ｌ、２０Ｃ、２０Ｒのうち、同時に接続される少なくとも２個が必要となる。
（Ｓパラメータの測定方法）
図１６は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ６で測定する場合において、図３（ａ）の測定１に対応する接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図１６において、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示している。測定１は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）に共通である。よって、目的Ｓマトリクス（Ｌ、Ｃ、Ｒ）と表記し、目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字を“５ｘ”と表記している。
図１６は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ６で測定する場合において、図３（ａ）の測定１に対応する接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図１６において、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示している。測定１は、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）に共通である。よって、目的Ｓマトリクス（Ｌ、Ｃ、Ｒ）と表記し、目的ＳマトリクスのＳパラメータの添え字を“５ｘ”と表記している。
第４の実施の形態で説明したように、測定１では、ＤＵＴ１のポートＤ１〜Ｄ４が、ＮＡ６のポートＮ１〜Ｎ４に接続されている。すなわち、ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒと無関係である。
なお、この測定１は、第４の実施の形態において、図１３（ａ）と同じであるので、説明を省略する。
なお、この測定１は、第４の実施の形態において、図１３（ａ）と同じであるので、説明を省略する。
図１７は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を４ポートのＮＡ６で測定する場合において、図３（ｂ）、（ｃ）の測定２及び測定３に対応する接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクスを示す図である。図１７（ａ）が図３（ｂ）の測定２、図１７（ｂ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。なお、測定１は、省略されている。図１７（ａ）、（ｂ）において、左側に接続図を、右側に対応する測定Ｓマトリクス及び目的Ｓマトリクスを示している。
図１７（ａ）の接続図に示すように、測定２では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２がＮＡ６のポートＮ１、Ｎ２に接続され、ポートＤ３、Ｄ４が終端素子ＴＲに接続されている。そして、ＤＵＴ１のポートＤ５ＬがＮＡ６のポートＮ３に接続され、ＤＵＴ１のポートＤ５ＲがＮＡ５のポートＮ４に接続されている。
この測定２において、４×４の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２に対応する。
一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ２３が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ１５Ｌ、Ｓ２５Ｌにそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ１４、Ｓ２４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ１５Ｒ、Ｓ２５Ｒにそれぞれ対応する。
二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ３２が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ１、Ｓ５Ｌ２にそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ４１、Ｓ４２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ１、Ｓ５Ｒ２にそれぞれ対応する。
点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ５Ｌに対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ４４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ５Ｒに対応する。
この測定２において、４×４の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２に対応する。
一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ２３が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ１５Ｌ、Ｓ２５Ｌにそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ１４、Ｓ２４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ１５Ｒ、Ｓ２５Ｒにそれぞれ対応する。
二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ３２が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ１、Ｓ５Ｌ２にそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ４１、Ｓ４２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ１、Ｓ５Ｒ２にそれぞれ対応する。
点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ５Ｌに対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ４４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ５Ｒに対応する。
図１７（ｂ）の接続図に示すように、測定３では、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ２が終端素子ＴＲに接続され、ポートＤ３、Ｄ４がＮＡ６のポートＮ３、Ｎ４に接続されている。そして、ＤＵＴ１のポートＤ５ＬがＮＡ６のポートＮ１に接続され、ＤＵＴ１のポートＤ５ＲがＮＡ６のポートＮ２に接続されている。
この測定３において、４×４の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４に対応する。
一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ１４が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ３、Ｓ５Ｌ４にそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ２３、Ｓ２４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ３、Ｓ５Ｒ４にそれぞれ対応する。
二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ４１が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ３５Ｌ、Ｓ４５Ｌにそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ３２、Ｓ４２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ３５Ｒ、Ｓ４５Ｒにそれぞれ対応する。
点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ５Ｌに対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ２２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ５Ｒに対応する。
このように、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｒを同時にＮＡ６のポートに接続し、測定２、測定３を行うことで、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）を同時に求めることができる。
この測定３において、４×４の測定Ｓマトリクスが得られる。破線で囲って示すように、測定ＳマトリクスのＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ３３、Ｓ３４、Ｓ４３、Ｓ４４に対応する。
一点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１３、Ｓ１４が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ３、Ｓ５Ｌ４にそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ２３、Ｓ２４が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ３、Ｓ５Ｒ４にそれぞれ対応する。
二点鎖線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ３１、Ｓ４１が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ３５Ｌ、Ｓ４５Ｌにそれぞれ対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ３２、Ｓ４２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ３５Ｒ、Ｓ４５Ｒにそれぞれ対応する。
点線で囲んで示すように、測定ＳマトリクスのＳ１１が、目的Ｓマトリクス（Ｌ）のＳ５Ｌ５Ｌに対応する。また、測定ＳマトリクスのＳ２２が、目的Ｓマトリクス（Ｒ）のＳ５Ｒ５Ｒに対応する。
このように、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｒを同時にＮＡ６のポートに接続し、測定２、測定３を行うことで、目的Ｓマトリクス（Ｌ）及び目的Ｓマトリクス（Ｒ）を同時に求めることができる。
図１８は、５ポートのＤＵＴ１の目的Ｓマトリクス（Ｃ）を４ポートのＮＡ６で測定する場合における接続図、測定Ｓマトリクス、目的Ｓマトリクス（Ｃ）を示す図である。図１８（ａ）が図３（ｂ）の測定２、図１８（ｂ）が図３（ｃ）の測定３に対応する。なお、前述したように、測定１は省略できる。そして、図１８は、図１４と同じである。よって、説明を省略する。
以上説明したように、第５の実施の形態では、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）を求める測定の回数は、共通に適用できる測定１、目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）に対する測定２、測定３、測定Ｓマトリクス（Ｃ）に対する測定２、測定３の５回となる。
すなわち、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒのうちの２個を同時にＮＡ６のポートに接続してＳマトリクスを測定することにより、測定の回数を抑制することができる。
すなわち、ＤＵＴ１のポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒのうちの２個を同時にＮＡ６のポートに接続してＳマトリクスを測定することにより、測定の回数を抑制することができる。
（差動ケーブル１０の評価例）
次に、上記の第４の実施の形態及び第５の実施の形態で説明した測定方法を適用して、２種類の差動ケーブル１０（ケーブルＡ、ケーブルＢ）を評価した一例を説明する。
ここでは、差動ケーブル１０（ケーブルＡ、ケーブルＢ）に対して測定された目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）におけるＳ５１とＳ５３とを評価した。
Ｓ５１は、ＤＵＴ１のポートＤ１からポートＤ５（ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒ）への伝達特性を示すＳパラメータである。すなわち、送信部２側における差動ケーブル１０の特性が評価できる。
一方、Ｓ５３は、ＤＵＴ１のポートＤ３からポートＤ５（ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒ）への伝達特性を示すＳパラメータである。すなわち、受信部３側における差動ケーブル１０の特性が評価できる。
次に、上記の第４の実施の形態及び第５の実施の形態で説明した測定方法を適用して、２種類の差動ケーブル１０（ケーブルＡ、ケーブルＢ）を評価した一例を説明する。
ここでは、差動ケーブル１０（ケーブルＡ、ケーブルＢ）に対して測定された目的Ｓマトリクス（Ｌ）、目的Ｓマトリクス（Ｃ）、目的Ｓマトリクス（Ｒ）におけるＳ５１とＳ５３とを評価した。
Ｓ５１は、ＤＵＴ１のポートＤ１からポートＤ５（ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒ）への伝達特性を示すＳパラメータである。すなわち、送信部２側における差動ケーブル１０の特性が評価できる。
一方、Ｓ５３は、ＤＵＴ１のポートＤ３からポートＤ５（ポートＤ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒ）への伝達特性を示すＳパラメータである。すなわち、受信部３側における差動ケーブル１０の特性が評価できる。
図１９は、ケーブルＡにおけるＳ５１及びＳ５３を示した図である。図１９（ａ）はＳ５１を、図１９（ｂ）はＳ５３を示している。横軸は、周波数（ＧＨｚ）、縦軸は図１９（ａ）が｜Ｓ５１｜（ｄＢ）、図１９（ｂ）が｜Ｓ５３｜（ｄＢ）である。なお、図１９（ａ）、（ｂ）において示すＳ５１及びＳ５３は、ケーブルＡに対して、電流クランプ２０が左側（電流クランプ２０Ｌ）、中央部（電流クランプ２０Ｃ）、右側（電流クランプ２０Ｒ）に配置された場合における実測値と近似直線とを示している。
なお、Ｓ５１及びＳ５３は、値が小さいほど（絶対値が大きいほど）、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ３がポートＤ５の影響を受けにくいことを示す。
なお、Ｓ５１及びＳ５３は、値が小さいほど（絶対値が大きいほど）、ＤＵＴ１のポートＤ１、Ｄ３がポートＤ５の影響を受けにくいことを示す。
送信部２側の特性を示すＳ５１は、図１９（ａ）に示すように、電流クランプ２０がケーブルＡの中央部に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、電流クランプ２０が右側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
一方、受信部３側の特性を示すＳ５３は、図１９（ｂ）に示すように、電流クランプ２０が左側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、中央部に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
一方、受信部３側の特性を示すＳ５３は、図１９（ｂ）に示すように、電流クランプ２０が左側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、中央部に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
図２０は、ケーブルＢにおけるＳ５１及びＳ５３を示した図である。図２０（ａ）はＳ５１を、図２０（ｂ）はＳ５３を示している。横軸は、周波数（ＧＨｚ）、縦軸は図２０（ａ）が｜Ｓ５１｜（ｄＢ）、図２０（ｂ）が｜Ｓ５３｜（ｄＢ）である。なお、図２０（ａ）、（ｂ）において示すＳ５１及びＳ５３は、ケーブルＢに対して、電流クランプ２０が左側（電流クランプ２０Ｌ）、中央部（電流クランプ２０Ｃ）、右側（電流クランプ２０Ｒ）に配置された場合における実測値と平均値とを示している。
送信部２側の特性を示すＳ５１は、図２０（ａ）に示すように、電流クランプ２０がケーブルＢの中央部に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、電流クランプ２０がケーブルＢの左側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
一方、受信部３側の特性を示すＳ５３は、図２０（ｂ）に示すように、電流クランプ２０がケーブルＢの右側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、電流クランプ２０が左側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
表１は、ケーブルＡ及びケーブルＢに対するＳ５１及びＳ５３の平均値である。数値が最も大きい欄を二重線で囲っている。
一方、受信部３側の特性を示すＳ５３は、図２０（ｂ）に示すように、電流クランプ２０がケーブルＢの右側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も大きく、電流クランプ２０が左側に配置された場合に、近似直線の傾きと平均値とが最も小さい。
表１は、ケーブルＡ及びケーブルＢに対するＳ５１及びＳ５３の平均値である。数値が最も大きい欄を二重線で囲っている。
表１に示すように、差動ケーブル１０の特性は、差動ケーブル１０の種類（ケーブルＡ、ケーブルＢ）によって異なるとともに、電流クランプ２０の位置（電流クランプ２０Ｌ、２０Ｃ、２０Ｒ）によっても異なることが分かる。
すなわち、差動ケーブル１０は、図１に示した差動ケーブル１０の送信部２側のポートＤ１、Ｄ２と受信部３側のポートＤ３、Ｄ４との関係を求めるのみでは、評価が不十分であることが分かる。差動ケーブル１０は、外部から入るノイズなどの影響を含めて評価することが必要である。
このため、差動ケーブル１０を含むＤＵＴ１は、４ポート回路から少なくとも５ポート回路となる。このとき、前述した測定方法を使用することにより、４ポートのネットワークアナライザを用いても、測定の回数を抑制して、より効率よくＳマトリクス（目的Ｓマトリクス）を求めることができる。
すなわち、差動ケーブル１０は、図１に示した差動ケーブル１０の送信部２側のポートＤ１、Ｄ２と受信部３側のポートＤ３、Ｄ４との関係を求めるのみでは、評価が不十分であることが分かる。差動ケーブル１０は、外部から入るノイズなどの影響を含めて評価することが必要である。
このため、差動ケーブル１０を含むＤＵＴ１は、４ポート回路から少なくとも５ポート回路となる。このとき、前述した測定方法を使用することにより、４ポートのネットワークアナライザを用いても、測定の回数を抑制して、より効率よくＳマトリクス（目的Ｓマトリクス）を求めることができる。
なお、上記においては、差動ケーブル１０としたが、回路基板上に設けられた配線などにも適用できる。
１…被測定物（ＤＵＴ）、２…送信部、３…受信部、４…ノイズ発生源、５、６…ネットワークアナライザ（ＮＡ）、１０…差動ケーブル、１１、１２…信号線、１３…被覆部、１４…フィルタ、２０、２０Ｌ、２０Ｃ、２０Ｒ…電流クランプ、Ｄ１〜Ｄ５、Ｄ５Ｌ、Ｄ５Ｃ、Ｄ５Ｒ、Ｎ１〜Ｎ５…ポート、ＴＲ…終端素子
Claims (5)
- 一対の信号線を有する差動ケーブルと、当該差動ケーブルの外側に配置されて当該差動ケーブルと相互作用させる測定子と、を含み、複数のポートを備える被測定物に対して、当該被測定物の当該複数のポート数より少ないポート数を有するネットワークアナライザにて、当該差動ケーブルを評価する差動ケーブルの評価方法であって、
前記被測定物の複数のポートから、前記ネットワークアナライザのポート数以下のポートを選択して、Ｓパラメータを測定するステップと、
測定の確度を評価するステップと、を含み、
前記被測定物の前記複数のポートのうち、選択されなかったポートがなくなるまでポートの組み合わせを変更しつつ、前記Ｓパラメータを測定するステップを繰り返して当該被測定物の当該複数のポートの全てに対するＳパラメータを取得するとともに、
前記Ｓパラメータを測定するステップの繰り返しにおいて、前記被測定物の全てのポートの番号を添え字として含む複数のＳパラメータを重複して測定し、
前記測定の確度を評価するステップにおいて、重複して測定した前記Ｓパラメータの差が、予め定められた閾値以下である割合により、測定の確度を評価する
ことを特徴とする差動ケーブルの評価方法。 - 前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートと前記測定子の１ポートである場合に、ポート数が４の前記ネットワークアナライザにより、当該被測定物のＳパラメータの測定を、当該一対の信号線の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、当該測定子の１ポートを含めて選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項１に記載の差動ケーブルの評価方法。
- 前記差動ケーブルにおいて、当該差動ケーブルの信号が伝達される方向における複数の位置に前記測定子を配置し、その位置ごとに、前記Ｓパラメータを測定するステップを繰り返すことにより、前記被測定物のＳパラメータを測定することを特徴とする請求項１又は２に記載の差動ケーブルの評価方法。
- 繰り返される前記Ｓパラメータを測定するステップには、前記差動ケーブルの前記複数の位置に複数の測定子を配置し、当該複数の測定子のうち少なくとも２つの測定子を含むようにポートを選択した当該Ｓパラメータを測定するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の差動ケーブルの評価方法。
- 前記被測定物が前記一対の信号線の４ポートであって、前記差動ケーブルに信号を送信する送信部側、当該差動ケーブルから信号を受信する受信部側、当該差動ケーブルの中央部のそれぞれに設置した複数の測定子に対して、４ポートの前記ネットワークアナライザにて、当該被測定物のＳパラメータを測定する場合において、
前記被測定物の４ポートを選択した前記Ｓパラメータを測定するステップと、前記複数の測定子のうち２つの測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップと、当該複数の測定子のうち選択されなかった測定子を含むように選択した２回の当該Ｓパラメータを測定するステップとで行うことを特徴とする請求項４に記載の差動ケーブルの評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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| JP2015224994A JP2015224994A (ja) | 2015-12-14 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP6405707B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6540610B2 (ja) * | 2016-06-13 | 2019-07-10 | 株式会社村田製作所 | 伝送特性測定方法及び伝送特性測定装置 |
| CN110554255B (zh) * | 2018-05-30 | 2022-04-22 | 华为数字能源技术有限公司 | 变压器测试方法以及相关装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6997753B2 (en) * | 2003-10-22 | 2006-02-14 | Gore Enterprise Holdings, Inc. | Apparatus, system and method for improved calibration and measurement of differential devices |
| JP4462979B2 (ja) * | 2004-03-26 | 2010-05-12 | 株式会社アドバンテスト | ネットワークアナライザ、伝送トラッキング測定方法、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体 |
| DE102004047308A1 (de) * | 2004-09-29 | 2006-03-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Verifikation der Kalibrierung eines Mehrtor-Netzwerkanalysators und Kalibriereinheit hierfür |
| WO2008146622A1 (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 電子機器のノイズ測定方法 |
| JP2011106859A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | シールド性能評価回路、シールド性能評価方法、およびシールドケース |
-
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- 2014-05-28 JP JP2014110681A patent/JP6405707B2/ja active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2015224994A (ja) | 2015-12-14 |
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