TWI503556B - Detection and operation of detection system - Google Patents

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TWI503556B TW102149315A TW102149315A TWI503556B TW I503556 B TWI503556 B TW I503556B TW 102149315 A TW102149315 A TW 102149315A TW 102149315 A TW102149315 A TW 102149315A TW I503556 B TWI503556 B TW I503556B
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Description

檢測系統的校正與運作方法
本發明係與電性檢測有關;特別是指一種檢測系統的校正與運作方法。
按,隨著電子產品發展日漸蓬勃,為確保電子產品出廠時的品質,製造、組裝及出廠前,通常都會透過檢測系統檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實。
而為使檢測能更加準確,檢測系統測試前,大多會先將檢測系統之探針接抵於一校正片上,進行檢測數值的補償(如歸零)。然而,此種校正方法係一次對檢測系統的整體電路進行補償,而無法準確地分辨各構件組裝或老化的狀況。換言之,當該校正檢測發現系統故障時,並無法即刻地知悉係機台故障還是探針故障,而必須拆解該檢測系統之各構件逐一進行檢測,才能找出該檢測系統故障之處,而導致除錯的工作過於攏長,進而造成維修該檢測系統的效率不佳。
有鑑於此,本發明之目的用於提供一種檢測系統的校正與運作方法,可準確地了解各主要構件當下的狀況,而可快速地找出故障處。
緣以達成上述目的,本發明提供有一種檢測系 統的校正與運作方法;該檢測系統具有一檢測機、一傳導線組、一校正模組以及一探針模組;該校正與運作方法包含有下列步驟:A.電性連接該檢測機與該傳導線組;B.電性連接該傳導線組與該校正模組;C.該檢測機輸出電訊號至該校正模組,以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測其中之一者,並依據量測所得之數值進行對應之補償以校正該檢測系統;D.電性分離該傳導線組與該校正模組;E.電性連接該傳導線組與該探針模組;F.將該探針模組與一待測物接抵,且該檢測機輸出電訊號至該探針模組,以對該待測物進行電性檢測。
藉此,透過上述之設計,該檢測系統便可準確地了解各檢測機與探針模組當下的各自狀況,而使得故障發生時,可快速地找出故障處。
10‧‧‧檢測機
20‧‧‧傳導線組
21‧‧‧第一接頭
30‧‧‧探針模組
31‧‧‧第二接頭
40‧‧‧校正模組
41~44‧‧‧第二接頭
100‧‧‧待測物
圖1為檢測系統之架構圖。
圖2為本發明之校正及運作方法的流程圖。
為能更清楚地說明本發明,茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1所示,檢測系統包含有依序電性連接之一檢測機10、一傳導線組20、一探針模組30 以及一校正模組40,該傳導線組20一端設有一以導體製成的第一接頭21。該探針模組30上則設有一以導體製成且與該第一接頭21對應的第二接頭31。該校正模組40上同樣設有四個以導體製成且與該第一接頭21對應的第二接頭41~44,且該等第二接頭41~44分別電性連接短路量測、50歐姆阻抗量測、75歐姆阻抗量測以及斷路量測所對應之元件(圖未示)。於本實施例中,該第一接頭21為公接頭,而各該第二接頭31、41~44為母接頭,但不以此為限,在其他實施態樣中,除使用可重覆插拔的公母接頭之設計外,亦可透過如夾具或其它可進行重覆結合與分離之結構設計來達到連接之目的。
藉此,請參閱圖2,當該檢測系統運作時,便可執行以下校正與運作方法來確保檢測時的準確度,而該方法包含有下列步驟:
A.電性連接該檢測機10與該傳導線組20,使檢測機10可透過該傳導線組20傳輸電訊號。
B.連接該傳導線組20上之公接頭21與該校正模組40上其中一母接頭41~44,使該傳導線組20與該校正模組電性連接。
C.控制該檢測機10輸出電訊號至該校正模組40,以進行短路量測、斷路量測或是阻抗量測(依據步驟B所連接不同的母接頭41~44而對應進行不同量測),並依據量測所得之數值進行對應之數值校正(如歸零、數值偏移補償等),以達到校正該檢測系統之目的。
D.將該傳導線組20上之公接頭21與步驟B所連接之母接頭41~44分離,藉以電性分離該傳導線組20與該校正模組40。值得一提的是,當本步驟結束後,更可依據檢測需求,再重覆執行預定次數之步驟B至步驟D,且再 次執行步驟B時,該第一接頭21連接之第二接頭41~44將不同於前一次所連接之第二接頭41~44,以使步驟C所執行之校正量測不同於前一次所執行之校正量測。舉例來說,當第一次係與短路量測之第二接頭41連接時,第二次則可選擇連接50歐姆阻抗量測之第二接頭42,第三次則選擇連接75歐姆阻抗量測之第二接頭43,而第四次則選擇連接斷路量測之第二接頭44。如此一來,便可取得較多檢測數據,而使得校正結果更加地準確。另外,利用上述之阻抗由小逐漸至大(0至50至75至∞)之順序量測,更可使數據以升冪方式依序變化,而使校正能更加地精準,進而可更有效提升校正之準確度。當然,在實際實施上,亦可透過由大阻抗逐漸至小阻抗之降冪量測順序來達到相同之效果。如此一來,校正完成後,便可知悉校正時之數據,進而推得檢測機10或其線路是否有故障或老化之情形。
E.連接該傳導線組20上之公接頭21與該探針模組30上之母接頭31,使該傳導線組20與該探針模組30電性連接。而後,將該探針模組30之針尖分次接抵於一校正片(圖未示)的短路接點、斷路接點以及阻抗接點上,藉以進行對應短路量測、斷路量測以及阻抗量測,並依據量測所得之數值進行對應之數值校正(如歸零、數值偏移補償等),藉以再次校正該檢測系統。如此一來,除可使量測更加精準外,更可透過校正時之數據,推得該探針模組是否有故障或老化之情形。
F.校正完成後,便可將該探針模組30與一待測物100接抵,且該檢測機10輸出電訊號至該探針模組30,而電訊號輸出至該待測物100後,再回傳至該探針模組30,並透過該傳導線組20回傳至該檢測機10而形成一訊號迴路,該檢測機10便可依據回傳的電訊號判定該待測物100 之電氣特性是否正常,進而達到對該待測物100進行電性檢測之目的
藉此,透過上述之設計,該檢測系統便可準確地了解該檢測機10與該探針模組30當下的狀況,且故障發生時,電性分離該傳導線組20與該探針模組30後,重新執行步驟B至D,便可快速地分辨係該檢測機10故障還是該探針模組30故障。
另外,在實際實施上,該探針模組30初始的設定通常都是符合標準的,而使得上述之步驟E中所提及之校正檢測,亦可在步驟F執行一段時間後,並當檢測出之良率持續過低時,再進行該探針模組30的校正檢測即可。
再者,以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已,舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化,理應包含在本發明之專利範圍內。

Claims (10)

  1. 一種檢測系統的校正與運作方法,該檢測系統具有一檢測機、一傳導線組、一校正模組以及一探針模組;該校正與運作方法包含有下列步驟:A.電性連接該檢測機與該傳導線組;B.電性連接該傳導線組與該校正模組;C.該檢測機輸出電訊號至該校正模組,以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測其中之一者,並依據量測所得之數值進行對應之補償以校正該檢測系統;D.電性分離該傳導線組與該校正模組;E.電性連接該傳導線組與該探針模組;F.將該探針模組與一待測物接抵,且該檢測機輸出電訊號至該探針模組,以對該待測物進行電性檢測。
  2. 如請求項1所述檢測系統的校正與運作方法,其中於步驟E之後,將該探針模組接抵於一校正片上,且該檢測機輸出電訊號至該探針模組以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測其中之一者,並依據量測所得之數值進行對應之補償以校正該檢測系統。
  3. 如請求項2所述檢測系統的校正與運作方法,係於步驟F之前,將該探針模組接抵於該校正片上。
  4. 如請求項2所述檢測系統的校正與運作方法,係於步驟F之後,將該探針模組接抵於該校正片上。
  5. 如請求項1所述檢測系統的運作方法,其中,該傳導線組一端具有一第一接頭,而該探針模組上具有一對應之第二接頭;於步驟E中,係連接該第一接頭與該第二接頭,使該傳導線組與該探針模組電性連接。
  6. 如請求項1所述檢測系統的運作方法,其中該傳導線組一端具有一第一接頭,而該校正模組上具有至少一對應之第二接頭;於步驟B中,係連接該第一接頭與該第二接頭,使該傳導線組與該校正模組電性連接;且於步驟D中,係分離該第一接頭與該第二接頭,使該傳導線組與該校正模組電性分離。
  7. 如請求項6所述檢測系統的運作方法,其中該校正模組上之第二接頭的數量為三個以上,且該等第二接頭分別與短路量測、斷路量測以及阻抗量測所對應之元件電性連接;於步驟B中,係連接該第一接頭與至少其中一該第二接頭,以於步驟C中,進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測至少其中之一者。
  8. 如請求項7所述檢測系統的運作方法,其中步驟D執行後,重覆執行預定次數之步驟B至步驟D,再執行步驟E。
  9. 如請求項8所述檢測系統的運作方法,再次執行步驟B時,該第一接頭連接之第二接頭係不同於前一次所連接之第二接頭,以使步驟C所執行之校正量測不同於前一次所執行之校正量測。
  10. 如請求項1所述檢測系統的運作方法,步驟F執行後,更包含有一步驟,係電性分離該傳導線組與該探針模組後,並重新執行步驟B至D。
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