JP6300048B2 - 電気回路網のsパラメータ導出方法 - Google Patents
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- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
- G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
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Description
[測定器] E5071C(アジレント社)
[測定ポート数] 基準治具:2ポート、試験治具:3ポート
[測定周波数] 60MHz〜6GHz
[測定ポイント数]1601点
[中間周波数] 1kHz
[DUT] 自作基板(50Ωのマイクロストリップライン)
8 仮想第2の回路網
10 基準治具
11,12 同軸コネクタ
20 試験治具
21,22,23 同軸コネクタ
52 第1の回路網
54 仮想第1の回路網
56 回路網全体
58 仮想回路網全体
60 第1の回路網
62 仮想第1の回路網
66 回路網全体
68 仮想回路網全体
70 第1の回路網
72 仮想第1の回路網
76 回路網全体
78 仮想回路網全体
Claims (2)
- 入力ポートと接続ポートとを有する第1の回路網の第1Sパラメータ又は第1Tパラメータを用意する第1のステップと、
第2の回路網の第2Sパラメータを測定する第2のステップと、
前記第1のステップで用意した前記第1Sパラメータ又は前記第1Tパラメータと前記第2のステップで測定した前記第2Sパラメータとを用いて、前記第1の回路網の前記接続ポートに前記第2の回路網が接続された回路網全体のSパラメータを計算する第3のステップと、
を備えた電気回路網のSパラメータ導出方法において、
前記第1の回路網は、前記入力ポートの数が前記接続ポートの数より少ない非対称回路網であり、
前記第3のステップにおいて、前記回路網全体の前記Sパラメータとして、前記第1の回路網の前記入力ポート側にダミーポートを追加して前記第1の回路網を対称回路網に変換した仮想第1の回路網を想定したうえで、前記仮想第1の回路網の仮想Tパラメータのうち前記ダミーポートに対応するパラメータを未知の値として用いて、前記仮想第1の回路網の前記接続ポートに前記第2の回路網が接続された仮想回路網全体の仮想Sパラメータのうち前記入力ポートに対応する前記仮想回路網全体のSパラメータを計算することを特徴とする、電気回路網のSパラメータ導出方法。 - 入力ポートと接続ポートとを有する第1の回路網の第1Sパラメータ又は第1Tパラメータを用意する第1のステップと、
第2の回路網の第2Sパラメータを測定する第2のステップと、
前記第1のステップで用意した前記第1Sパラメータ又は前記第1Tパラメータと前記第2のステップで測定した前記第2の回路網の前記第2Sパラメータとを用いて、前記第1の回路網の前記接続ポートに前記第2の回路網が接続された回路網全体のSパラメータを計算する第3のステップと、
を備えた電気回路網のSパラメータ導出方法において、
前記第1の回路網は、前記入力ポートの数が前記接続ポートの数より多い非対称回路網であり、
前記第3のステップにおいて、前記回路網全体の前記Sパラメータとして、前記第1の回路網の前記接続ポート側に第1のダミーポートを追加して前記第1の回路網を対称回路網に変換した仮想第1の回路網と、前記第2の回路網に前記第1のダミーポートと接続される第2のダミーポートが追加された仮想第2の回路網とを想定したうえで、前記仮想第1の回路網の仮想Tパラメータを未知の値として用い、かつ、前記仮想第2の回路網の仮想Sパラメータのうち前記第2のダミーポートに対応するパラメータをゼロと置いて、前記仮想第1の回路網の前記接続ポート及び前記第1のダミーポートに前記仮想第2の回路網が接続された仮想回路網全体の仮想Sパラメータのうち前記入力ポートに対応する前記仮想回路網全体のSパラメータを計算することを特徴とする、電気回路網のSパラメータ導出方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014041165 | 2014-03-04 | ||
JP2014041165 | 2014-03-04 | ||
PCT/JP2015/054338 WO2015133266A1 (ja) | 2014-03-04 | 2015-02-17 | 電気回路網のsパラメータ導出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015133266A1 JPWO2015133266A1 (ja) | 2017-04-06 |
JP6300048B2 true JP6300048B2 (ja) | 2018-03-28 |
Family
ID=54055076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016506411A Active JP6300048B2 (ja) | 2014-03-04 | 2015-02-17 | 電気回路網のsパラメータ導出方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10175279B2 (ja) |
JP (1) | JP6300048B2 (ja) |
KR (1) | KR101946252B1 (ja) |
CN (1) | CN106062572B (ja) |
WO (1) | WO2015133266A1 (ja) |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19606986C2 (de) * | 1996-02-24 | 1999-03-04 | Rohde & Schwarz | Verfahren zum Messen der Eintor- bzw. Mehrtor-Parameter eines Meßobjektes mittels eines Netzwerkanalysators |
US6665628B2 (en) | 2002-01-15 | 2003-12-16 | Anritsu Company | Methods for embedding and de-embedding balanced networks |
US6744262B2 (en) * | 2002-03-14 | 2004-06-01 | Agilent Technologies, Inc. | Method, apparatus, and article of manufacture for characterizing a device and predicting electrical behavior of the device in a circuit |
JP3558086B1 (ja) | 2003-03-05 | 2004-08-25 | 株式会社村田製作所 | 測定誤差の補正方法および電子部品特性測定装置 |
US7034548B2 (en) * | 2003-04-11 | 2006-04-25 | Agilent Technologies, Inc. | Balanced device characterization including test system calibration |
JP2004354145A (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-16 | Agilent Technol Inc | 高周波デバイスの測定方法及び高周波デバイスの測定装置 |
WO2005116669A1 (ja) | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 |
CN101046492B (zh) * | 2006-03-28 | 2010-05-12 | 华为技术有限公司 | 一种双端口网络参数测试方法 |
DE102007057393A1 (de) * | 2006-11-27 | 2008-05-29 | Suss Microtec Test Systems Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators mit definierter Anzahl von Messstellen |
US7876121B2 (en) * | 2007-09-14 | 2011-01-25 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | Link analysis compliance and calibration verification for automated printed wiring board test systems |
KR101152046B1 (ko) | 2008-02-05 | 2012-07-03 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 측정오차의 보정방법 및 전자부품특성 측정장치 |
JP2009236675A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Tdk Corp | 電磁特性測定装置及び電磁特性測定方法 |
JP5573868B2 (ja) * | 2012-03-07 | 2014-08-20 | 株式会社村田製作所 | 等価回路作成方法、等価回路作成プログラム及び等価回路作成装置 |
-
2015
- 2015-02-17 JP JP2016506411A patent/JP6300048B2/ja active Active
- 2015-02-17 CN CN201580011672.5A patent/CN106062572B/zh active Active
- 2015-02-17 KR KR1020167023862A patent/KR101946252B1/ko active IP Right Grant
- 2015-02-17 WO PCT/JP2015/054338 patent/WO2015133266A1/ja active Application Filing
-
2016
- 2016-09-02 US US15/255,544 patent/US10175279B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160114699A (ko) | 2016-10-05 |
WO2015133266A1 (ja) | 2015-09-11 |
CN106062572B (zh) | 2018-10-30 |
CN106062572A (zh) | 2016-10-26 |
US20160370412A1 (en) | 2016-12-22 |
KR101946252B1 (ko) | 2019-02-11 |
US10175279B2 (en) | 2019-01-08 |
JPWO2015133266A1 (ja) | 2017-04-06 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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